• 现行
  • 正在执行有效
  • 2009-01-26 颁布
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【正版授权】 IEC 62007-2:2009 EN-FR Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62007-2:2009 EN-FR
  • 标准名称：光纤系统应用的半导体光电子器件——第2部分：测量方法
  • 英文名称：Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications - Part 2: Measuring methods
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2009-01-26

文档简介

测量方法标准内容非常详细地规定了半导体光电子器件的测量方法。它涵盖了各种类型的半导体光电子器件，包括发光二极管、激光器、光探测器等。标准详细说明了如何设计和实施测试系统，以确保测试的准确性和可靠性。具体来说，标准包括以下内容：

1.测试设备的选择和校准：标准详细说明了所需的测试设备，包括光源、光检测器、放大器、电源等，并规定了它们的校准要求。

2.测试环境的控制：标准要求测试环境应保持恒定，温度、湿度、气压等参数应符合规定要求，以确保测试结果的准确性。

3.测试参数的设定：标准规定了测试过程中需要测量的参数，如光谱分布、光功率、响应时间等，并规定了这些参数的测量方法和精度要求。

4.测试流程：标准详细描述了测试流程，包括样品准备、测试系统连接、参数设定、数据采集和分析等步骤，以确保测试过程的准确性和可靠性。

5.误差分析和修正：标准考虑了测试过程中的误差来源，如光源稳定性、环境因素等，并提供了误差分析和修正的方法，以确保测试结果的准确性。

IEC62007-2:2009EN-FR标准为半导体光电子器件的测量提供了详细的指导，确保了测试过程的准

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