标准解读
《GB/T 18791-2002 电子和电气陶瓷性能试验方法》作为一项国家标准,详细规定了电子和电气陶瓷材料的各种性能测试方法。然而,您提供的对比参照标准未明确给出,因此直接对比变更内容无法完成。但可以一般性地说明,当一个标准更新或替代前一版本时,常见的变更可能包括:
- 测试方法的优化与更新:新标准可能会引入更精确、更高效的测试技术,以适应行业技术进步和测量精度提升的需求。
- 新增测试项目:随着电子和电气陶瓷应用领域的扩展,可能需要对新材料特性进行评估,从而在新标准中增加相应的测试项目。
- 限值或指标调整:基于新材料性能数据和实际应用反馈,标准可能会调整某些性能指标的最低或最高要求,以更好地反映当前技术水平和使用需求。
- 术语和定义的修订:为保持与国际标准的一致性或更准确地描述测试内容,标准中涉及的专业术语和定义可能会被修订或补充。
- 采样和试样制备方法改进:为了确保测试结果的可靠性和重复性,新标准可能会对样品的选取、处理及试样的制备过程提出新的要求。
- 环境条件和测试设备的规范:考虑到测试环境对结果的影响,标准可能会更新对测试环境(如温度、湿度)和测试设备的要求。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2002-07-18 颁布
- 2002-12-01 实施
文档简介
ICS31-030L90中华人民共和国国家标准GB/T18791—2002电子和电气陶瓷性能试验方法Testmethodsforceramicpropertiesforelectronicandelectricalapplication2002-07-18发布2002-12-01实施中华人民共和发布国家质量监督检验检疫总局
GB/T18791-2002本标准参照美国材料试验学会标准ASTMD116—86(1994年重新确认)电气用玻质陶瓷材料试验方法》制定。该标准所引用的测试方法标准中,有些已被制定出我国国家标准.并被广大的陶瓷研究、生产、使用单位所采用.因此·编写本标准时.对已有国家标准的测试方法,一般采取直接引用,以避免重复;根据ASTMD116标准所述内容及我国实际情况·编辑时将原文中气孔率的部分内容独立出来.并作为透液性测试方法进行表述,此方法与GB/T5594.7—1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测定方法》相比较,增加了常压下透液性的检测内容,使其应用更为实用。其他部分条款的内容依据我国实情也做了部分修改。由于电子陶瓷应用面很广,陶瓷材料种类繁多。各种陶瓷材料除了一些共同的基本性能外,又有-些特有的性能要求,因此,本标准只列出了各种陶瓷材料共有的基本参数测试方法,这些基本参数包括电、热和机械等方面。本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国电子陶瓷标准化技术委员会归口本标准起草单位:信息产业部电子标准化研究所、北京真空电子技术研究所本标准主要起草人:李晓英、王玉功、曾桂生、孙清池。
中华人民共和国国家标准电子和电气陶瓷性能试验方法GB/T18791—2002Testmethodsforceramicpropertiesforelectronicandelectricalapplication围本标准规定了电子和电气陶瓷材料的体积密度、显气孔率、透液性、抗压强度、抗折强度、杨氏弹性模量、泊松比、导热系数、抗热震性、平均线膨胀系数、绝缘强度、介电常数和损耗角正切值、体积电阻率等性能的测试方法本标准适用于电子和电气陶瓷材料通用性能的测试2引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效·所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性GB/T1966—1996多孔陶瓷显气孔率、容重试验方法GB/T2413—1980压电陶瓷材料体积密度测量方法GB/T2421—1999电工电子产品基本环境试验第1部分:总则(idtIEC60068-1:1988)GB/T5593—1996电子元器件结构陶瓷材料GB/T5594.2—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法,杨氏弹性模量、泊松比测试方法GB/T5594.3—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法GB/T5594.4-1985,电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法GB/T5594.5—1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法GB/T5597—1999固体电介质微波复介电常数的测试方法GB/T5598—1985氧化皱瓷导热系数测定方法GB/T6569-1986S工程陶瓷弯曲强度试验方法GB/T7265.1—1987固体电介质微波复介电常数的测试方法微微批法GB/T8489—1987工程陶瓷抗压缩强度试验方法GB/T9530—1988电子陶瓷名词术语GB/T11311—1989压电陶瓷材料性能测试方法泊松比的测试GB/T11387-1989压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法(neqISO12370:1980)GJB1201.1-1991固体材料高
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