标准解读

《GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法》是中国国家标准之一，该标准规定了用于测量电子元器件中结构陶瓷材料体积电阻率的方法。体积电阻率是衡量材料导电能力的一个重要参数，在电子工业中对于选择合适的绝缘材料具有重要意义。

根据此标准，测试应在特定条件下进行，包括温度和湿度控制等环境因素，以确保结果的一致性和可比性。测试前需对样品进行预处理，比如清洁表面去除油污或其他杂质，这有助于减少外部因素对测量结果的影响。此外，标准还详细描述了如何制备试样以及推荐的尺寸范围，确保不同实验室之间能够采用相同或相似条件下的样本进行比较研究。

测量过程中使用的是两电极法或者四电极法。其中，四电极法被认为更加准确可靠，因为它可以有效消除接触电阻带来的误差。在施加一定电压后，通过精密仪器记录下通过样品的电流值，再利用欧姆定律计算出电阻值。最后，结合已知的试样几何尺寸（长度、横截面积），即可得出体积电阻率的具体数值。

整个实验流程强调了操作规范性和数据处理准确性的重要性，并提供了详细的步骤指导和技术要求，旨在为相关领域的研究人员和技术人员提供一个统一的标准参考框架。


如需获取更多详尽信息，请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

查看全部

  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1985-11-27 颁布
  • 1986-12-01 实施
©正版授权
GB/T 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法_第1页
GB/T 5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法_第2页
免费预览已结束，剩余6页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

UDC621.315.612：621.382/.387：620.1中华人民共和国国家标准GB5594.5-85电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforvolumeresistivity1985-11-27发布1986-12-01实施：标淮国同家批准

中华人民共和国国家标准电子元器件结构陶瓷材料UDC621.315.612：621.382性能测试方法1.387:620.1GB5594.5-85体积电阻率测试方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodforvolumeresistivity本标准适用于电子元器件结构陶瓷在室温至500℃范围体积电阻率的测定。测试原理陶瓷材料的体积电阻率是表征其绝缘性能的参数，其值为试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比。当试样面积为4，试样厚度为，其体积电阻值为R，，则体积电阻率“为：·····…···…···（1）陶瓷材料一般具有负的电阻温度系数，其电阻率随温度的升高而下降。2试样制备2.11按GB5593一85《电子元器件结构陶瓷材料》的要求选取试样。2.2将试样进行清洗、下燥处理。2.3在试样的两平面上按GB5593一85表2和本标准图1所示烧渗层银电极。4-525±0.5一620±0.5635±1图1测试样品示意图一测电极；2一绝缘间距

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。

最新文档

评论

0/150

提交评论