标准解读

《GB/T 5597-1999 固体电介质微波复介电常数的测试方法》是一项国家标准，旨在规范固体电介质材料在微波频段下复介电常数（包括实部和虚部）的测量方法。该标准适用于频率范围为300 MHz至30 GHz之间的固体电介质材料，通过定义具体的实验条件、仪器要求以及数据处理方式来确保测试结果的一致性和可靠性。

根据此标准，测量过程中需采用谐振腔法或传输线技术等方法之一进行。其中，谐振腔法利用填充有被测样品后的空腔谐振器来测定其品质因数及谐振频率的变化，进而计算出材料的复介电常数；而传输线法则基于电磁波沿导波结构传播时相位速度与衰减特性的改变来进行分析。无论采用哪种技术手段，都必须严格遵守标准中关于温度控制、湿度调节以及其他环境因素的规定以减少外界干扰对最终结果的影响。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 1999-05-19 颁布
  • 1999-12-01 实施
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GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法_第1页
GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法_第2页
GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法_第3页
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文档简介

ICS31.030L90中华人民共和国国家标准GB/T5597—1999固体电介质微波复介电常数的测试方法Testmethodforcomplexpermittivityofsoliddielectricmaterialsatmicrowavefreguencies1999-05-19发布1999-12-01实施国家质量技术监督局发布

GB/T5597-1999本标准是对GB/T5597—1985《固体电介质微波复介电常数的测试方法》的修订。本标准对原标准GB/T5597-—1985做了如下修订：信号源由扫频信号源改为频综信号源，使测试系统大为简化由于改窄带反射速调管扫频工作点，指示器用4六位普通数字电压表代替原采用的双综示波器;测试误益分析由原来采用各误差源的“贡献”绝对值求和改为方和根的误差综合，因而测试误差大幅下降,e/由原来的1.5%降至1.0%，Atan8.由原来15%tan8.十1.0×10-降至3%tan8.十3.0×10-;并将tane,的测试范围下限由2×10-4改为1×10-。本标准自实施之日起同时代替GB/T5597一1985.本标准的附录A、附录B、附录C都是提示的附录。本标准由中华人民共和国电子工业部提出。本标准由电子工业部标准化研究所归口。本标准起草单位：中国电子技术标准化研究所、电子科技大学。本标准主要起草人：张其、王玉功、李晓英。

中华人民共和国国家标准固体电介质微波复介电常数的GB/T5597-1999测方代替GB/T5597-1985Testmethodforcomplexpermittivityofsoliddielectricmaterialsatmicrowavefrequencies1范园本标准规定了均匀的、各向同性的固体电介质材料微波复介电常数的测试方法。本标准适用于频率范围为2GH2～18GHz内复介电常数的测定。推荐测试频率为9.5GH2。其测定范围：相对介电常数实部为2～20，介质电损耗角正切tano.为1×10～5×10-。2定义复数介电常数为：式中：6一一复数相对介电常数：-真空介电常数，其值为8.854×10-F/m。本标准所述及的复数介电常数实际上均指相对介电常数，并以相对介电常数的实部。和介电损耗角正切tane.一e"/e表征之。3测试原理在一确定频率下圆柱型了E。模式高品质因数测试腔的谐振长度为。,固有品质因数为Q。，如图1（a)所示。当此测试腔中放入厚度为的盘状试样后，如图1<b)所示,将发生两方面的变化：1）由于介质试样的介电常数大于1,因此填充有试样介质的那段波导的相位常数将增大，在原频率上产生谐振的腔体长度将缩短为；2）由于介质试样将引入附加的介质损耗，导致测试腔的固有品质因数下降为图1根据测试腔在放入介质试样前后，其谱振长度变化量S（S－。一.)和品质因数的改变量，可以

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