标准解读

《GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法》是一项国家标准，旨在规定用于测定电子元器件中结构陶瓷材料平均线膨胀系数的方法。该标准适用于评估在不同温度范围内这些材料随温度变化而发生的体积或长度变化情况，对于确保电子元件在各种环境条件下稳定工作具有重要意义。

根据此标准，测试过程主要包括样品准备、仪器校准、实验条件设定以及数据处理等步骤。首先，需要按照要求制备合适尺寸与形状的试样，并保证其表面平整光滑无缺陷；然后，在特定型号的热膨胀仪上进行测量前，需对设备进行全面检查并完成必要的校正工作；接下来，依据所选温度范围调整加热速率和冷却方式，并记录下整个过程中试样的长度变化值；最后，利用公式计算出给定温区内的平均线膨胀系数，并以一定格式报告结果。


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  • 1985-11-27 颁布
  • 1986-12-01 实施
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UDC621.315.612：621.382/.387：620.1中华人民共和国国家标准GB5594.3-85电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientoflinearexpansion1985-11-27发布1986-12-01实施：标淮国同家批准

中华人民共和国国家标准电子元器件结构陶瓷材料性性能测试方法平均线膨胀系数测试方法GB5594.3-85中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码：100045电话：63787337、637874471986年7月第一版2005年12月电子版制作书号：1550661-24319版权专有(权必究举报电话：(010)68533533

中华人民共和国国家标准电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法1.387:620.1GB5594.3-85TestmethodsforpropertiesofstructureceramicusedinelectroniccomponentsTestmethodformeancoefficientorlinearexpansicn本标准适用于测量室湿至800℃各个阶设中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数1定义在指定温度范围内，陶瓷在单位温度下相对伸长量的中均值四平均线膨胀系数。式中：平均线膨胀系数，C！室温至所测温度的伸长量，mr；室温至所测温度的温度差，（；试样在室温下的长度，mm.2测试设备2.1线膨胀系数测试仪，具有±0.15×10°/C的精确度。2.22通用热电偶，具有±1C的精确度，热端应放在试样中部，冷端应放在保温瓶中.武样制备3.11根据膨胀仪的类形、确定两种试样尺寸，见GB5593一85《电子元器件结构陶瓷材料》。3.22试梓不应有影响测试结果的缺障，如裂纹、境曲和气孔等。4测试方法4.1用精度为0.05mm的卡尺酒量试样长度L4.22试样装人（英套管中，应保持直和稳定，并和石英传递杆接触良好、4.3接通电源、加热并乌勾升温。百径3.5±0.1mm的试样升温速度不大子5C/min，m7±1mm的试样升温谋度不大）3（/min。4记录各点温度和伸长值L，直至瓣试到所需温度为止。4.55测量结果按下列公

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