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1、再质材料对X光吸收能力的探究俞颉翔0519067问题的提岀不同材料对X光的吸收能力是不同的。仅仅用实验书第4个实验（测量铝对X射线 的吸收验证朗伯定律）的测量方法，即直 接照射材料，不能有效测量X射线对对材料 的透射。朗伯定律不能精确描述材料对X光的吸收能 力。衰减系数Lambert定律衰减系数卩，能够表征某些材料吸收x射线 的能力。吸收截面吸收系数：cr = /-r 质量吸收系数：am =P吸收截面:A经验公式(35100pm s » q):rcm2 '<6-19ANa究血+ 0.2 p cl实验装置与参数 X射线实验仪：钥靶X光管，GM计数管 测量方法：布拉格衍射靶

2、材：靶材为NaCl单晶，晶面间距为0.283nm扫描角度：4.0。9.0°对应X光波长：39.3pm88.2pm才料对;究 HV二32.0kV;I二 1.00A HV二350kV;I=1.00AA (pm)2200-2000-1800-1600-1400-1200-1000-800-600400-200-0*408580605550究45Al Z=13 (d=0.050cm)Cu Z=29 (d=0.007cm)Fe Z=26 (d=0.050cm)In Z=49 (d=0.036cm)Mo Z=42 (d=0.010cm)Zr Z=40 (d=0.005cm)Ag Z=47 (d=

3、0.005cm)04E9实验结果吸收截面(Fe)(Mo),(Zr)(Ag)807570656055504540A (pm)究11001000900800700500300可以看到部分材料的衰减系数与原子序数 成一定的线性关系。Y = A + BXA = -7.79 (0.245)Cu B = 0.662 (0.007)N = 4R = 0.9998815<6-19E 筲10实验结论单质材料对X射线衰减系数|1与原子序数Z并 不是单一的函数形式。与吸收截面q中的K壳层吸收边入K有关。与X射线本身的特征谱有关。总体来说，随着原子序数的上升，衰减系 数大致呈线性上升趋势。问题与思考短波限与1、2级衍射角对实验结果的影响 HV二32.0kV vm=38.8pm 0:3.9°

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