- 现行
- 正在执行有效
- 2015-05-27 颁布
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基本信息：
- 标准号：ISO/IEC 11695-1:2015 EN
- 标准名称：身份证 光学存储卡 全息记录方法 第1部分：物理特性
- 英文名称：Identification cards — Optical memory cards — Holographic recording method — Part 1: Physical characteristics
- 标准状态：现行
- 发布日期：2015-05-27
文档简介
ISO/IEC11695-1:2015标准主要涉及的是光学记忆卡中的全息记录方法。它主要关注的是物理特性，包括卡片的结构、记录层、反射层、读取光路等。以下是对该标准的详细解释：
**光学记忆卡的物理特性**
ISO/IEC11695-1:2015标准规定了光学记忆卡的物理特性，包括卡片的大小、形状和材料等。它规定了卡片必须满足一定的尺寸和厚度要求，以及特定的材料要求，以确保卡片的质量和稳定性。
**记录层**
标准中详细描述了记录层的物理特性，包括记录介质、记录密度、记录层厚度等。它规定了如何使用全息记录方法在光学记忆卡上创建全息图，以存储数据。记录层必须能够抵抗恶劣的环境条件，如高温、湿度和化学物质，以确保数据的长期保存。
**反射层**
标准中还规定了反射层的物理特性，包括反射层的材料、厚度和反射率等。反射层的作用是确保读取光束能够正确地反射回读取器，以便读取数据。反射层必须具有稳定的物理特性和化学性质，以防止数据损坏和读取问题。
**读取光路**
标准还规定了读取光路的物理特性，包括光束的强度、聚焦和偏振等。它规定了如何使用适当的读取设备和方法来读取光学记忆卡上的数据。读取光路必须能够正确地聚焦和偏振光束，以准确地读取数据并解码全息图。
ISO/IEC11695-1:2015标准详细规定了光学记忆卡的物理特性，包括卡片的结构、记录层、反射层和读取光路等，以确保数据的长期保存
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