• 现行
  • 正在执行有效
  • 2019-11-22 颁布
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【正版授权】 IEC 62047-35:2019 EN-FR Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible e_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62047-35:2019 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-微机电器件-第35部分：柔性电子机械器件弯曲变形下电气特性测试方法
  • 英文名称：Semiconductor devices – Micro-electromechanical devices - Part 35: Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electro-mechanical devices
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2019-11-22

文档简介

IEC62047-35:2019EN-FR标准规定了在弯曲变形下柔性电子机械装置的电气特性的测试方法。这个标准适用于微机电系统（MEMS）设备，这些设备通常在柔性材料上制造，具有高度集成和微型化的特性。IEC62047系列标准是一组关于电子机械装置的国际标准，旨在为这些装置的电气性能测试提供一致性和可重复性的方法。

在弯曲变形的情况下测试电气特性是因为MEMS设备可能会受到外部环境的影响，如弯曲变形，因此测试在这种条件下设备的性能是非常重要的。此外，这种测试方法还可以帮助制造商了解设备的耐久性和可靠性，以及优化设备的结构和性能。

这个测试方法包括了一系列步骤，包括设备准备、弯曲变形、电压和电流设置、数据记录和分析等。在进行测试时，需要确保设备在弯曲变形过程中的均匀性和稳定性，以获得准确的测试结果。此外，还需要考虑设备的材料、结构、电路设计和制造工艺等因素对测试结果的影响。

IEC62047-35:2019EN-FR标准为柔性MEMS设备的电气性能测试提供了一个详细和全面的方法，有助于制造商提高产品质量和可靠性，同时也有助于推动MEMS技术的发展和应用。

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