• 现行
  • 正在执行有效
  • 2018-06-07 颁布
  • 2019-01-01 实施
©正版授权
GB/T 36359-2018半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范_第1页
GB/T 36359-2018半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范_第2页
GB/T 36359-2018半导体光电子器件小功率发光二极管空白详细规范_第3页
免费预览已结束,剩余13页可下载查看

下载本文档

免费下载试读页

文档简介

ICS31260

L53.

中华人民共和国国家标准

GB/T36359—2018

半导体光电子器件

小功率发光二极管空白详细规范

Semiconductoroptoelectronicdevices—

Blankdetailspecificationforlowerpowerlight-emittingdiodes

2018-06-07发布2019-01-01实施

国家市场监督管理总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T36359—2018

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任

。。

本标准由中华人民共和国工业和信息化部电子归口

()。

本标准起草单位中国电子科技集团公司第十三研究所国家半导体器件质量监督检验中心中国

:、、

电子技术标准化研究院

本标准主要起草人张瑞霞赵敏黄杰彭浩赵英刘秀娟张晨朝刘东月

:、、、、、、、。

GB/T36359—2018

半导体光电子器件

小功率发光二极管空白详细规范

引言

本空白详细规范是半导体光电子器件的一系列空白详细规范之一

相关文件

:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验低温

GB/T2423.1—20082:A:

环境试验第部分试验方法试验恒定湿热试验

GB/T2423.3—20162:Cab:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验交变湿热

GB/T2423.4—20082:Db:(12h+

循环

12h)

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验和导则冲击

GB/T2423.5—19952:Ea:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验振动正弦

GB/T2423.10—20082:Fc:()

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验和导则稳态加

GB/T2423.15—20082:Ga:

速度

环境试验第部分试验方法试验温度变化

GB/T2423.22—20122:N:

环境试验第部分试验方法试验密封

GB/T2423.23—20132:Q:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验锡焊

GB/T2423.28—20052:T:

电工电子产品环境试验第部分试验方法试验引出端及整体安

GB/T2423.60—20082:U:

装件强度

电工电子产品环境试验模拟贮存影响的环境试验导则

GB/T2424.19—2005

半导体器件第部分分立器件和集成电路总规范

GB/T4589.1—200610:

半导体器件光电子器件分规范

GB/T12565—1990

半导体发光二极管测试方法

SJ/T11394—2009

半导体器件的机械标准化第部分尺寸规格

IEC60191-2-DB-20122:(Mechanicalstandardization

ofsemiconductordevices—Part2:Dimensions)

半导体器件机械和气候试验方法第部分可焊性

IEC60749-21:201121:(Semiconductorde-

vices—Mechanicalandclimatictestsmethods—Part21:Solderability)

要求资料

下列所要求的各项内容应列入规定的相应空栏中

,。

详细规范的识别

:

授权发布详细规范的国家标准化机构名称

[1]。

详细规范号

[2]IECQ。

总规范和分规范的版本号和标准号

[3]。

详细规范的国家编号发布日期及国家标准体系要求的任何更详细的资料

[4]、。

器件的识别

:

主要功能和型号

[5]。

典型结构材料主要工艺和封装的资料如果一种器件有几种派生的产品那些不同点应

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题。

评论

0/150

提交评论