SPCTraining统计技术的培训

1、Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustryFoxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry統計過程管制統計過程管制Statistical Process Control主講單位主講單位:TRM2/SQEFoxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry大大 綱綱A什麼是SPC A持續改進及統計過程管制概述A計量型數據管制圖A計數型管制圖A過程測量系統分析A過程能力分析Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Indus

2、tryStatistical ( (統計統計 ):):收集、整理與分收集、整理與分析資料析資料并據以得出結論或予以推廣并據以得出結論或予以推廣. .Process( (過程過程):):過程包括供應者、生過程包括供應者、生產者、機器設備、材料、方法、環境產者、機器設備、材料、方法、環境及輸出行為的集合。是參數的輸入與及輸出行為的集合。是參數的輸入與結果輸出的過程結果輸出的過程. . Control( (管制管制) ) : :按著既定的模式或界按著既定的模式或界限去運作限去運作. .第一章第一章 什麼是什麼是SPC Foxconn ProprietariesHon Hai Precision In

3、dustrySPC定義定義 SPC是使用統計手法，並借用各是使用統計手法，並借用各種圖表以協助產品設計與品質管種圖表以協助產品設計與品質管理，它對依計畫收集的資料資料理，它對依計畫收集的資料資料進行各種統計分析，在過程管制進行各種統計分析，在過程管制系統中提供客觀之績效報告，以系統中提供客觀之績效報告，以達成預先防止避免造成浪費的管達成預先防止避免造成浪費的管制要求。制要求。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC要點要點 1SPC是過程現狀特徵值與原過程能力的特徵是過程現狀特徵值與原過程能力的特徵 值進行比較，以判定過程是否出現異常

4、。值進行比較，以判定過程是否出現異常。 2SPC是預防為主的行動，其目的是為了有效是預防為主的行動，其目的是為了有效 的使用資源採取改善行動。的使用資源採取改善行動。 3SPC是套預防性技術，它不只是進行檢驗還是套預防性技術，它不只是進行檢驗還 要對收集的資料進行統計分析和維護，以要對收集的資料進行統計分析和維護，以 提供過程能力許值及過程發展預測的依提供過程能力許值及過程發展預測的依 據。據。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC主要內容主要內容管制圖的基本技術管制圖的基本技術 抽樣計劃抽樣計劃 品質計劃與設計品質計劃與設計Fox

5、conn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC的发展方向的发展方向 SPC將成為全員應知應會的方法，工程管理人員將成為全員應知應會的方法，工程管理人員的共同語言；的共同語言； 因應專業領域的需求，自動化因應專業領域的需求，自動化/即時化的資料收集即時化的資料收集及分析將得到廣泛利用；及分析將得到廣泛利用； 最重要的還是持續不斷的改善觀念、態度、行動最重要的還是持續不斷的改善觀念、態度、行動、習慣的養成。習慣的養成。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC的用途的用途 1.使用使用SPC

6、通過減少制程變異達成更好通過減少制程變異達成更好 的品質。的品質。 2.SPC能夠及早發現及減少制程變異而提能夠及早發現及減少制程變異而提 升制程能力升制程能力 3.SPC有助于制程管制有助于制程管制維護其穩定性維護其穩定性Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC的用途的用途 4.SPC可以提高產品長期的可靠性及穩定可以提高產品長期的可靠性及穩定 性性 5.縮短產品市周期縮短產品市周期以應競爭之需以應競爭之需 6.做除高品質的產品支援競爭做除高品質的產品支援競爭 7.持續性高品質原材料供應。持續性高品質原材料供應。Foxconn Pr

7、oprietariesHon Hai Precision IndustrySPC推行步驟推行步驟 A.統一意識推行統一意識推行SPC a.經營管理層積極倡導經營管理層積極倡導全力參與全力參與 b.教育訓練營造基礎。教育訓練營造基礎。 B.成立成立SPC推行專案組織推行專案組織 a.決定專案負責人決定專案負責人 b.各單位指派各單位指派1人人 c.推行作業之初步檢討推行作業之初步檢討。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC推行步驟推行步驟 C.推行計划之確定推行計划之確定 a.產品特性之研究產品特性之研究 b.統計技朮與公司系統融合

8、之研究統計技朮與公司系統融合之研究 c.規划與推動策略研究。規划與推動策略研究。 D.應用管制圖進行管制應用管制圖進行管制 a.制程解析制程解析 b.管制計划確定管制計划確定 c.SPC現場選作現場選作 d.制程能力分析制程能力分析 e.制程異常分析與改善。制程異常分析與改善。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC推行步驟推行步驟 E.推行狀況檢討推行狀況檢討 a.專案運作狀況檢討專案運作狀況檢討 b.管制計划檢討管制計划檢討 c.制程改善狀況檢討制程改善狀況檢討 d.教育訓練的持續進行。教育訓練的持續進行。Foxconn Prop

9、rietariesHon Hai Precision IndustrySPC實施作業流程實施作業流程明確目的選定管制項目4M的標准化標准作業實施數據收集分析12Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustrySPC實施作業流程實施作業流程( (續續 ) )計算制程能力制程是否在管制狀態下?是否Cpk1?是繼續管制確認制程能力是否適當定期統計制程異常連絡單再設定減少的目標推展改善活動否追究原因(先掌握機械的能力及量測能力是否足夠)原因不明且無法采取經濟技朮性措施調節制程管制再次檢討規格修正檢驗等。制訂標准化防止事態再發找出異常原因采取措施并將對策及效

10、果記錄在管制圖上12Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第二章第二章 持續改進及統計過程管制概述持續改進及統計過程管制概述收集數據并用統計方法來解釋不是最終目的收集數據并用統計方法來解釋不是最終目的研究變異和應用統計方法來改進性能適合任何研究變異和應用統計方法來改進性能適合任何領域領域當產生輸出的過程成為我們工作的重點當產生輸出的過程成為我們工作的重點SPC等統計技朮才能改善品質等統計技朮才能改善品質提高生產效率提高生產效率降降低成本上發揮作用低成本上發揮作用學習學習SPC應聯系實際應聯系實際量測系統對合適的數據分析的作用。量測系統對合

11、適的數據分析的作用。注意點注意點Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一.預防與檢測檢測檢測-容忍浪費容忍浪費預防預防-避免浪費避免浪費 一種在第一步就可以避免生一種在第一步就可以避免生產無用的輸出產無用的輸出從而避免浪費的從而避免浪費的更有效的方法更有效的方法 預防預防Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二.過程管制系統統計過程管制是一類反饋系統統計過程管制是一類反饋系統1.過程過程 所謂所謂過程過程指的是共同工作以產生輸出指的是共同工作以產生輸出的供方的供方生產者生產者人人設備

12、設備輸入材料輸入材料方法和環境以及使用輸出行為客戶之方法和環境以及使用輸出行為客戶之集合集合。 過程性能過程性能取決于供方和客戶間的溝通取決于供方和客戶間的溝通過程設計及實施的方式過程設計及實施的方式以及運作和以及運作和管理的方式。管理的方式。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二二. .過程管制系統過程管制系統2.2.有關性能的信息有關性能的信息 與性能有關最有用的信息是以研究過程與性能有關最有用的信息是以研究過程本質以及其內在的變化性中得到的。根據信本質以及其內在的變化性中得到的。根據信息采取措施來矯正過程或剛產生的輸出息采取措施來

13、矯正過程或剛產生的輸出必必須及時和准確。須及時和准確。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二二. .過程管制系統過程管制系統3.對過程采取措施對過程采取措施 對重要的特性對重要的特性( (過程或輸出過程或輸出) )采取措采取措施從而避免他們偏離目標值太遠。施從而避免他們偏離目標值太遠。 應監視采取措施后的效果應監視采取措施后的效果必要時必要時還應進一步分析并采取措施。還應進一步分析并采取措施。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry二二. .過程管制系統過程管制系統4.對輸出采取措施

14、對輸出采取措施 只對輸出檢測并糾正不符合規范的產只對輸出檢測并糾正不符合規范的產品品而沒分析過程中的根本原因而沒分析過程中的根本原因這是不這是不經濟或不適合的。經濟或不適合的。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry三.變異的普通及特殊原因1.變異變異 沒有兩件產品或特性是完全相同的沒有兩件產品或特性是完全相同的因為因為任何過程都存在許多引起變異的原因。任何過程都存在許多引起變異的原因。2.分布分布 一個分布可按位置一個分布可按位置(典型值典型值)分布寬度分布寬度(最最大值與最小值之間的距離大值與最小值之間的距離)和形狀和形狀(是否對稱是否

15、對稱偏斜等偏斜等)來區別。來區別。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision IndustryFoxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry三三. .變異的普通及特殊原因變異的普通及特殊原因4.變異的普通原因和特殊原因變異的普通原因和特殊原因 A.普通原因普通原因是指造成隨著時間的推移具是指造成隨著時間的推移具有穩定的且可重復的分布中的許多變異的有穩定的且可重復的分布中的許多變異的原因。原因。 普通原因表現為一個穩定系統的偶然原普通原因表現為一個穩定系統的偶然原因。只有變異的普通原因存在且不改變時因。只有變異的普

16、通原因存在且不改變時過程的輸出才是可預測的。過程的輸出才是可預測的。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry三三. .變異的普通及特殊原因變異的普通及特殊原因B.特殊原因特殊原因指的是造成不是始終作用于過指的是造成不是始終作用于過程的變異的原因程的變異的原因即它們出現時將造成即它們出現時將造成(整整個個)過程的分布改變。過程的分布改變。 特殊原因造成過程分布的改變不一定都是特殊原因造成過程分布的改變不一定都是有害的有害的有些有利。有些有利。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry四四.

17、 .局部措施和對系統采取措施局部措施和對系統采取措施1.局部措施局部措施通常用來消除變異的特殊原因通常用來消除變異的特殊原因通常由與過程直接相關的人員實施通常由與過程直接相關的人員實施通常可矯正大約通常可矯正大約15%的過程問題。的過程問題。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry四四. .局部措施和對系統采取措施局部措施和對系統采取措施2.對系統采取措施對系統采取措施 通常用來消除變異的普通原因几乎總是要求管理措施以便矯正大約可消除85%的過程問題。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Indus

18、try五五. .過程管制和過程能力過程管制和過程能力f過程管制系統的目標是對影響過程的措施過程管制系統的目標是對影響過程的措施( (管制過度與管制不足管制過度與管制不足) )作出經濟合理的決作出經濟合理的決定。定。f首先通過檢查并消除變異的特殊原因使過首先通過檢查并消除變異的特殊原因使過程處于受統計管制狀態程處于受統計管制狀態那么其性能是可那么其性能是可預測的預測的就可評定其滿足客戶期望的能力就可評定其滿足客戶期望的能力Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry五五. .過程管制和過程能力過程管制和過程能力每個過程可以根據其能力和是否受控分為

19、4類。滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類控制控制Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry五五. .過程管制和過程能力過程管制和過程能力J一個可接受的過程必須是處于受統計管制一個可接受的過程必須是處于受統計管制狀態的且其固有變異狀態的且其固有變異( (能力能力) )必須小于圖紙必須小于圖紙公差。公差。J一個過程在被証明處于統計管制狀態后才一個過程在被証明處于統計管制狀態后才計算其過程能力。計算其過程能力。J過程能力是作為從過程中得到的統計數據過程能力是作為從過程中得到的統計數據來進行過程性能預測的基礎。來進行過程性能預測的基礎。

20、Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry五五. .過程管制和過程能力過程管制和過程能力能力指數可分為長期的和短期的。能力指數可分為長期的和短期的。 短期能力研究短期能力研究可用來計算短期能力指數和可用來計算短期能力指數和機器能力研究機器能力研究 長期能力研究長期能力研究用來描述一個過程在很長一用來描述一個過程在很長一個時期內包括很多可能變異原因出現后能個時期內包括很多可能變異原因出現后能否滿足客戶要求的能力。否滿足客戶要求的能力。(CpCpk)Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry六六

21、. .過程改進循環及過程管制過程改進循環及過程管制過程改進循環過程改進循環計划計划計划計划實施實施實施措施研究研究研究措施措施123Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry六六. .過程改進循環及過程管制過程改進循環及過程管制1.分析過程分析過程本過程應做些什么本過程應做些什么?會出現什么錯誤會出現什么錯誤?本過程正在做什么本過程正在做什么?達到統計管制狀態達到統計管制狀態?確定能力確定能力2.維護過程維護過程監控過程性能監控過程性能查找變異的特殊原因并查找變異的特殊原因并 采取措施采取措施3.改進過程改進過程改變過程從而更好的理改變過程從

22、而更好的理 解普通原因變異解普通原因變異減少普通原因變異減少普通原因變異Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry七七. .管制圖管制圖-過程管制的工具過程管制的工具管制上限管制上限管制下限管制下限中心線中心線Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry七七. .管制圖管制圖-過程管制的工具過程管制的工具管制圖使用步驟管制圖使用步驟1.收集收集 收集數據并畫在圖上收集數據并畫在圖上2.管制管制根據過程數據計算實驗管制界限根據過程數據計算實驗管制界限識別變異的特殊原因并采取措施識別變異的特殊原因

23、并采取措施3.分析改進分析改進確定普通原因變異的大小并采取減小它的措施。確定普通原因變異的大小并采取減小它的措施。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry八.管制圖的益處合理使用管制圖能合理使用管制圖能 供正在進行過程管制的操作者使用供正在進行過程管制的操作者使用 有助于在品質上會和成本上能持續地有助于在品質上會和成本上能持續地可預測地保持下去可預測地保持下去 使過程達到使過程達到更高的品質更高的品質更低的單件成本更低的單件成本更高的有效能力更高的有效能力 為檢討過程的性能提供共同的語言為檢討過程的性能提供共同的語言 區分變異的特殊原因和普

24、通原因區分變異的特殊原因和普通原因作為采取局部措施或對作為采取局部措施或對系統采取措施的指南系統采取措施的指南Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry確定要制定管制圖的特性是計量型數據嗎?關心的是不良率嗎?樣本容量是否恆定?使用p圖否是使用np或p否關心的是不良數嗎?是否是樣本容量是否恆定?否使用u圖使用c或u是性質上是否均勻或不能按子組取樣?子組均值是否能很方便的計算?否使用中位數圖否使用單值圖X-MR是是子組容量是否大于或等于9?使用Xbar-R圖否是是否能方便地計算每個子組的S值?否使用Xbar-R圖使用Xbar-s圖是管制圖選用程序

25、Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry第三章第三章 計量型數據管制圖計量型數據管制圖常用的計量型數據管制圖常用的計量型數據管制圖*平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)*平均值標准差管制圖平均值標准差管制圖(Xbar-Schart)*中位數全距管制圖中位數全距管制圖(X-Rchart)*單值單值移動全距管制圖移動全距管制圖(X-Mrchart) Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry為什么使用計量性數據管制圖為什么使用計量性數據管制圖? ? 1.大多過程和其輸出具

26、有可量測性大多過程和其輸出具有可量測性其潛在應用很廣其潛在應用很廣 2.量化的值比簡單的是量化的值比簡單的是/否陳述包含更多的信息否陳述包含更多的信息 3.為了獲得更多的過程的信息而需要檢查的件數較少為了獲得更多的過程的信息而需要檢查的件數較少 4.由于檢查的件數較少由于檢查的件數較少可以縮短零件生產和采取矯可以縮短零件生產和采取矯 正措施之間的時間間隔正措施之間的時間間隔 5.用計量型數據用計量型數據可以分析一個過程的性能可以分析一個過程的性能可以量可以量 化所做的改進。化所做的改進。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全

27、距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)1.使用使用Xbar-Rchart之前的准備工作之前的准備工作 建立適合于實施的環境建立適合于實施的環境 定義過程定義過程 確定管制特性確定管制特性客戶的需求客戶的需求與生產關系密切的特性與生產關系密切的特性經常發生問題的特性經常發生問題的特性關鍵制程的特性關鍵制程的特性可量測的特性。可量測的特性。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)1定義量測系統定義量測系統1使不必要的變異最小化使不必要的變異最小化1.收集數據收集數據 數

28、據是以樣本容量恆定的小子組的形式報數據是以樣本容量恆定的小子組的形式報出出這種子組通常包括這種子組通常包括25件連續的產品件連續的產品并周期性地抽取子組。應制訂一個數據收并周期性地抽取子組。應制訂一個數據收集的計划作為收集集的計划作為收集記錄及將數據畫在管記錄及將數據畫在管制圖上的依據。制圖上的依據。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)A.選擇子組大小選擇子組大小頻率和數據頻率和數據 a.子組大小子組大小 選擇子組應使得一個字組內在該單元中的各樣本之選擇子組應使得一個字組內

29、在該單元中的各樣本之間出現變異的機會小間出現變異的機會小子組一般由子組一般由45件連續生產的產品件連續生產的產品的組合。的組合。 b.子組頻率子組頻率 在過程初期研究中在過程初期研究中通常是連續進行分組或很短時通常是連續進行分組或很短時間間隔進行分組。在過程穩定后間間隔進行分組。在過程穩定后子組間的時間間隔可以子組間的時間間隔可以增加。每班兩次增加。每班兩次每小時一次或其他可行頻率。每小時一次或其他可行頻率。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) c.子組數的大小子組數的大小

30、 收集越多的子組可以確保變異的主要收集越多的子組可以確保變異的主要原因有機會出現。在一般情況下原因有機會出現。在一般情況下包含包含100或更多單值讀數的或更多個子組或更多單值讀數的或更多個子組可以很好可以很好地用來檢驗穩定性地用來檢驗穩定性如果過程已穩定如果過程已穩定則則可以得到過程位置和分布寬度的有效的估可以得到過程位置和分布寬度的有效的估計值。計值。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) B.建立管制圖及記錄原始數據建立管制圖及記錄原始數據 C.計算每個子組的均值計算每個

31、子組的均值(Xbar)和全距和全距(R) Xbar=(X1+X2+Xn)/n R =Xmax-Xmin Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) D.選擇管制圖的刻度選擇管制圖的刻度 對于對于Xbar圖圖坐標上的刻度值的最大值坐標上的刻度值的最大值 與最小值之差應至少為子組均值與最小值之差應至少為子組均值(Xbar)的最的最 大值與最小值差的大值與最小值差的2倍。對于倍。對于R圖圖刻度值應刻度值應 從從0開始到最大值之間的差值為初始階段所開始到最大值之間的差值為初始階段所 遇到

32、的最大全距遇到的最大全距( R)的的2倍。倍。 注注可將可將R圖的刻度值設置為均值圖的刻度值的圖的刻度值設置為均值圖的刻度值的2倍。倍。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) E.將均值和全距畫到管制圖上將均值和全距畫到管制圖上 將均值和全距分別畫在其各自的圖上。并將均值和全距分別畫在其各自的圖上。并確認計算及畫圖是否正確。應確保所畫確認計算及畫圖是否正確。應確保所畫Xbar和和R點在縱向是對應的。點在縱向是對應的。 如是沒有計算管制界限的初期操作管制圖如是沒有計算管制界限的

33、初期操作管制圖應清楚注明應清楚注明“初始研究初始研究”字樣。字樣。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)2.計算管制界限計算管制界限 A.計算平均全距計算平均全距(R )及過程平均值及過程平均值(X) R=(R1+R2+Rk)/k X=(X1+X2+Xk)/k B.計算管制界限計算管制界限 CLX = X R CLR = R UCLX= X+A2R UCLR = D4R LCLX= X-A2R LCLR = D3RFoxconn ProprietariesHon Hai Pr

34、ecision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) C.在管制圖上作出平均值和全距管制界在管制圖上作出平均值和全距管制界 限的管制線。限的管制線。3.過程管制判定過程管制判定 管制圖分析目的管制圖分析目的在于識別過程變化性的任在于識別過程變化性的任何証據或過程均值沒有處于恆定的水平的何証據或過程均值沒有處于恆定的水平的証據証據(即其中之一或兩者均不受統計管制即其中之一或兩者均不受統計管制)進而采取適當的措施。進而采取適當的措施。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值

35、全距管制圖(Xbar-Rchart) A.分析全距圖上的數據點分析全距圖上的數據點 a.超出管制界限的點超出管制界限的點 有點超出管制界限說明存在下列之有點超出管制界限說明存在下列之 情情 I. 管制限計算錯誤或描點時描錯管制限計算錯誤或描點時描錯 II. 零件間的變化性或分布的寬度已經增零件間的變化性或分布的寬度已經增 大大種增大可以發生在某個時間點上種增大可以發生在某個時間點上 也可能是整個趨勢的一部分也可能是整個趨勢的一部分 III.量測系統變化量測系統變化(不同的檢驗人員不同的檢驗人員量量)Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一

36、一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) IV.量測系統沒有適當的分辨力。量測系統沒有適當的分辨力。 有一點位于管制限之下有一點位于管制限之下說明存在下列說明存在下列 情況情況 I. 管制限或描點錯誤管制限或描點錯誤 II.分布的寬度變小分布的寬度變小(即變好即變好) III.量測系統已改變量測系統已改變(數據編輯或變數據編輯或變 換換)。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)管制界限內的圖形或變化趨勢管制界限內的圖形或變化趨勢 b.鏈鏈-有下列現象之一

37、表明過程已改變或有下列現象之一表明過程已改變或出現這種趨勢出現這種趨勢 連續連續7點位于平均值的一側點位于平均值的一側 連續連續7點上升點上升(后點等于或大于前點后點等于或大于前點)或或 下降。下降。 高于平均全距或上升鏈說明高于平均全距或上升鏈說明Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 輸出值的分布寬度增加輸出值的分布寬度增加其原因可其原因可 能是無規律的或是由于過程中的某能是無規律的或是由于過程中的某 個要素變化。個要素變化。 量測系統改變。量測系統改變。 低于平均全距或

38、下降鏈說明低于平均全距或下降鏈說明 輸出值分布寬度減小輸出值分布寬度減小 量測系統改變。量測系統改變。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) c.明顯的非隨機圖形明顯的非隨機圖形 總體准則總體准則 各各點與點與R的距離的距離大約大約2/3的描點應落在管制限的中間的描點應落在管制限的中間 1/3的區域內的區域內大約大約1/3的點落在其外的的點落在其外的2/3的區域。的區域。 如果明顯多于如果明顯多于2/3以上的描點落在離以上的描點落在離R很近之處很近之處應調應調查查 管制限或描

39、點已計算錯或描錯管制限或描點已計算錯或描錯 過程或抽樣方法被分層過程或抽樣方法被分層每個子組系統包含了從每個子組系統包含了從 兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的兩個或多個具有完全不同的過程均值的過程流的 測量值。測量值。 數據已經編輯。數據已經編輯。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart)如果明顯少于如果明顯少于2/3以上的描點落在離以上的描點落在離R很近之處很近之處應調查應調查 管制限或描點計算錯或描錯管制限或描點計算錯或描錯 過程或抽樣方法造成連續的分組中包含從兩

40、過程或抽樣方法造成連續的分組中包含從兩 個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的 測量值。測量值。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) B.識別并標注特殊原因識別并標注特殊原因 對于全距數據內每個特殊原因進行標注對于全距數據內每個特殊原因進行標注作一個過程操作分析作一個過程操作分析從而確定原因進行從而確定原因進行改善改善防止它再發。防止它再發。 為了將生產的不合格輸出減到最小以及為了將生產的不合格輸出減到最小以及獲得診斷用的新數據獲得診斷

41、用的新數據及時分析問題及時分析問題是很重是很重要的。要的。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) C.重新計算管制界限重新計算管制界限(全距全距) 在進行初次過程研究或重新評定過程能在進行初次過程研究或重新評定過程能 力時力時失控的原因已被識別和消除或制度化失控的原因已被識別和消除或制度化 應重新計算管制界限應重新計算管制界限以排除失控時期的影以排除失控時期的影 響。響。 由于特殊原因而從由于特殊原因而從R圖中去掉的子組也應圖中去掉的子組也應 從從Xbar圖中去掉。圖中去掉。

42、 排除代表不穩定條件的子組并不僅是排除代表不穩定條件的子組并不僅是“丟丟 棄壞數據棄壞數據”而是排除已知的特殊原因影響的而是排除已知的特殊原因影響的 點。點。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) D.分析均值圖上的數據點分析均值圖上的數據點 當全距受統計管制時當全距受統計管制時則認為過程的分則認為過程的分 布寬度布寬度-子組內的變異子組內的變異-是穩定的。是穩定的。 由于由于Xbar的管制界限取決于全距圖中變異的的管制界限取決于全距圖中變異的 大小大小故如果均值處于統計管制

43、狀態故如果均值處于統計管制狀態其變其變 差便與全距圖中的變異差便與全距圖中的變異-系統的普通原因變系統的普通原因變 差有關。如果均值沒有受控差有關。如果均值沒有受控則存在造成過則存在造成過 程位置不穩定的特殊原因變異。程位置不穩定的特殊原因變異。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) a.超出管制限的點超出管制限的點 出現超出管制限的點就說明在這點出現特殊出現超出管制限的點就說明在這點出現特殊原因。這也說明存在下列原因原因。這也說明存在下列原因 管制限或描點錯誤管制限或描點錯

44、誤 過程已改變或是在當時那一點過程已改變或是在當時那一點(可能是一可能是一 件獨立的事件件獨立的事件)或是一種趨勢的一部分或是一種趨勢的一部分 量測系統發生變化。量測系統發生變化。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) b.鏈鏈-下列每一種情況都表明過程已開始出現下列每一種情況都表明過程已開始出現變化或有變化的趨勢變化或有變化的趨勢 連續連續7點在平均值的一側點在平均值的一側 7點連續上升或下降。點連續上升或下降。 標注這些點標注這些點從該點做一條參考線延伸到鏈的開從該點做

45、一條參考線延伸到鏈的開 始點始點分析時應考慮出現變化趨勢或變化的時間。分析時應考慮出現變化趨勢或變化的時間。 過程均值已改變過程均值已改變-也許還在變化也許還在變化 量測系統已改變量測系統已改變(飄移飄移偏倚偏倚靈敏度等靈敏度等) Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) c.明顯的非隨機圖形明顯的非隨機圖形 判定異常分布寬度的准則判定異常分布寬度的准則(各點與過程平均值各點與過程平均值的距離的距離) JJ 一般情況下一般情況下大約大約2/3的點應落在管制限的點應落在管制限 1

46、/3的中間區域內的中間區域內大約大約1/3的點落在其它的點落在其它 2/3的區域的區域 JJ 1/20的點應落在管制限較近之處。的點應落在管制限較近之處。 JJ 另外存在大約另外存在大約1/150的點落在管制限之外。的點落在管制限之外。 即約即約99.73%的點位于管制限之內。的點位于管制限之內。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 如果大大超過如果大大超過2/3的點的點(約約90%)落在過程平均值落在過程平均值附近附近應注意應注意 * 管制限或描點已計算錯或重新計算錯。

47、管制限或描點已計算錯或重新計算錯。 * 過程或取樣方法分層過程或取樣方法分層每個子組包含從每個子組包含從 兩個或多個具有不同平均值的過程流的兩個或多個具有不同平均值的過程流的 測量值測量值 * 數據已被編輯數據已被編輯。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 如果大大少于如果大大少于2/3的點的點( 40%)落在過程平均落在過程平均值附近值附近應注意應注意 * 管制限或描點已計算錯或重新計算錯。管制限或描點已計算錯或重新計算錯。 * 過程或取樣方法造成連續的子組包含從過程或取

48、樣方法造成連續的子組包含從 兩個或多個具有不同過程流的測量值兩個或多個具有不同過程流的測量值Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) E.識別和標注特殊原因識別和標注特殊原因(平均值圖平均值圖) 對于平均值數據中每一個顯示處于失控對于平均值數據中每一個顯示處于失控狀態的條件進行一次過程操作分析狀態的條件進行一次過程操作分析以確定以確定特殊原因的產生的理由特殊原因的產生的理由矯正該狀態矯正該狀態并且并且防止再現。防止再現。 利用管制圖數據來確定這樣狀態何時開利用管制圖數據來確定這

49、樣狀態何時開始且會持續多久。及時分析也是很重要的。始且會持續多久。及時分析也是很重要的。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) F.重新計算管制限重新計算管制限(平均值圖平均值圖) 當進行首次過程研究或重新評定過程能力當進行首次過程研究或重新評定過程能力時時要排除已發現并解決了的特殊原因的要排除已發現并解決了的特殊原因的任何失控的點任何失控的點重新計算并描畫過程平均重新計算并描畫過程平均值和管制限。值和管制限。 確保當與新的管制限相比時確保當與新的管制限相比時所有的數據所有的

50、數據點看起來都處于受控狀態。點看起來都處于受控狀態。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) G.延長管制限繼續進行管制延長管制限繼續進行管制 子組容量的變化將影響期望的平均全距子組容量的變化將影響期望的平均全距以及平均值圖的管制限。以及平均值圖的管制限。為了調整新的子為了調整新的子組樣本容量對應的中心線和管制限組樣本容量對應的中心線和管制限應采應采取如下措施取如下措施 a.估計過程的標准偏差估計過程的標准偏差(用用表示表示)用現用現有的子組容量計算有的子組容量計算 =R/D2

51、 式式中中R為子組全距的均值為子組全距的均值(在全距受控時期在全距受控時期)D2隨隨 樣本容量變化的常數。樣本容量變化的常數。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) b.按照新的子組容量查表得到系數按照新的子組容量查表得到系數d2D3D4 和和A2,計算新的全距和管制限計算新的全距和管制限 R新新=/d2 UCLX= X+A2R新新 UCLR = D4R新新 LCLX= X-A2R新新 LCLR = D3R新新Foxconn ProprietariesHon Hai Prec

52、ision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) H.有關管制的概念有關管制的概念 在一個生產過程中永遠無法達到一在一個生產過程中永遠無法達到一種完美的管制狀態。過程管制圖的目的不種完美的管制狀態。過程管制圖的目的不是完美的而是完美的而是合理是合理經濟的管制狀態經濟的管制狀態。因。因此此在實踐中在實踐中一個受控的過程不是圖上一個受控的過程不是圖上無任何失控之處的過程。無任何失控之處的過程。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 4.

53、過程能力解釋過程能力解釋 過程能力解釋的几個假設過程能力解釋的几個假設 11 過程處于統計穩定狀態過程處于統計穩定狀態 11 過程的各測量值服從正態分布過程的各測量值服從正態分布 11 工程及其它規范准確地代表客戶的要求工程及其它規范准確地代表客戶的要求 11 設計目標值位于規范的中心設計目標值位于規范的中心 11 測量變異相對較小。測量變異相對較小。 JJ 能力反映普通原因引起的變異能力反映普通原因引起的變異并且几并且几 乎總是要對系統采取管理措施來提高能力。乎總是要對系統采取管理措施來提高能力。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一

54、一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 過程能力的評定過程能力的評定在一般情況下在一般情況下將過程輸出將過程輸出的分布與工程規范相比的分布與工程規范相比看是否始終滿足這些規看是否始終滿足這些規范。范。 注意注意任何能力分析技朮任何能力分析技朮不管它看起來多么精不管它看起來多么精確確也只能得到大概的結果。這是因為也只能得到大概的結果。這是因為 總是存在一些抽樣變異總是存在一些抽樣變異 沒有沒有“完全完全”受統計管制的過程受統計管制的過程 沒有一個實際的輸出沒有一個實際的輸出“准准確”服從正態分布。 Foxconn ProprietariesHon Hai Precisio

55、n Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) A.計算過程的標准偏差計算過程的標准偏差 由于子組內過程的變異性是通過子組的由于子組內過程的變異性是通過子組的全距來反映的全距來反映的所以可以使用平均全距所以可以使用平均全距R來來估計過程的標准准偏差估計過程的標准准偏差。 =R/d2= R/d2 只要過程的全距和平均值兩者都處于統計只要過程的全距和平均值兩者都處于統計管制狀態。則可用估計的過程標准偏差來評管制狀態。則可用估計的過程標准偏差來評價過程的能力。價過程的能力。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Indust

56、ry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) B.計算過程能力 過程能力是指按標准偏差為單位來 描述的過程平均值與規范界限的距離 用Z表示。 對于單邊規格計算如下 Z=(USL-X)/(R/d2) 或 Z=(X-LSL)/(R/d2) 選擇合適的一個Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 對于雙邊規格對于雙邊規格計算如下計算如下 ZUSL=(USL-X)/ (R/d2) ZLSL=(X-LSL)/ (R/d2) Zmin= ZUSL和和 ZLSL的最小

57、值。的最小值。 當當Z值為負值時說明過程平均值超過規范。值為負值時說明過程平均值超過規范。 可使用可使用Z值和標准正態分布表來估計多少值和標准正態分布表來估計多少比例的輸出會超出規格值比例的輸出會超出規格值Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 對于單邊規格對于單邊規格可直接查表可得。可直接查表可得。 對于雙邊規格對于雙邊規格分別計算超過上分別計算超過上 下規格界限的百分比。下規格界限的百分比。 Zmin也可以轉化為能力指數也可以轉化為能力指數Cpk Cpk= Zmin /3

58、=minCPU,CPL Zmin=3的過程的過程其能力指數其能力指數Cpk=1.0如如果果Zmin=4則過程能力指數為則過程能力指數為Cpk=1.33.Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) C.評價過程能力評價過程能力 評價制程能力的基本的目標是對過程性能評價制程能力的基本的目標是對過程性能進行持續改進。進行持續改進。 不論是對未滿足的能力指數值作出響應不論是對未滿足的能力指數值作出響應或是為超過最低能力指數要求對持續改進或是為超過最低能力指數要求對持續改進成本和品質性能作

59、出響應成本和品質性能作出響應所要求的措施所要求的措施是相同的是相同的Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) 通過減少普通原因引起的變異或將過程均值通過減少普通原因引起的變異或將過程均值 調整到接近目標值調整到接近目標值 方法來改進過程性能方法來改進過程性能 這通常意味著要采取措施來改進系統這通常意味著要采取措施來改進系統 對比較緊急的情況對比較緊急的情況可采用以下臨時措施可采用以下臨時措施 對輸出進行篩選對輸出進行篩選根據需要進行報廢或返工根據需要進行報廢或返工 處置處置 改

60、變規范使之與過程性能一致。改變規范使之與過程性能一致。Foxconn ProprietariesHon Hai Precision Industry一一.平均值全距管制圖平均值全距管制圖(Xbar-Rchart) D.提高過程能力提高過程能力 為了提高過程能力為了提高過程能力必須重視減少普通必須重視減少普通原因。必須將注意力直接集中在系統中原因。必須將注意力直接集中在系統中即即造成過程變異性上。造成過程變異性上。 一般來說一般來說矯正這些造成不可接受的過矯正這些造成不可接受的過程能力的系統原因可能會超出操作者或者他程能力的系統原因可能會超出操作者或者他們的現場管理人員的能力。這是可以采取一們的