3.4-3.5 氧化、淀积与刻蚀_第1页
3.4-3.5 氧化、淀积与刻蚀_第2页
3.4-3.5 氧化、淀积与刻蚀_第3页
3.4-3.5 氧化、淀积与刻蚀_第4页
3.4-3.5 氧化、淀积与刻蚀_第5页
已阅读5页,还剩1页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

13.1外延生长3.2掩膜制作3.3光刻原理与流程

3.4氧化

3.5淀积与刻蚀3.6掺杂原理与工艺关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK,挖掘工艺潜力。第3章集成电路基本工艺2图3.12

场氧除了作为栅的绝缘材料外,二氧化硅在很多制造工序中可以作为保护层。在器件之间的区域,也可以生成一层称为“场氧”(FOX)的厚SiO2层,使后面的工序可以在其上制作互连线。3.4氧化33.1外延生长3.2掩膜制作3.3光刻原理与流程

3.4氧化

3.5淀积与刻蚀3.6掺杂原理与工艺关心每一步工艺对器件性能的影响,读懂PDK,挖掘工艺潜力。第3章集成电路基本工艺43.5淀积与刻蚀器件的制造需要各种材料的淀积。这些材料包括多晶硅、隔离互连层的绝缘材料以及作为互连的金属层。刻蚀的作用: 制作不同的器件结构,如线条、接触孔、台式晶体管、凸纹、栅等。被刻蚀的材料: 半导体,绝缘体,金属等。刻蚀的两种方法:

湿法和干法5湿法刻蚀首先要用适当(包含有可以分解表面薄层的反应物)的溶液浸润刻蚀面,然后清除被分解的材料.。如SiO2在室温下可被HF酸刻蚀。湿法刻蚀在VLSI制造中的问题:接触孔的面积变得越来越小,抗蚀材料层中的小窗口会由于毛细作用而使得接触孔不能被有效的浸润。是被分解的材料不能被有效的从反应区的小窗口内清除出来。6干法刻蚀

—分为:等离子体刻蚀,反应离子刻蚀RIE等RIE发生在反应炉中,基片(晶圆)被放在一个已被用氮气清洗过的托盘上,然后,托盘被送进刻蚀室中,在那里托盘被接在下方的电极上。刻蚀气体通过左方的喷口进入刻蚀室。RIE的基板是带负电的。正离子受带负电的基板吸引,最终以近乎垂

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论