(高清版)GBT 6346.24-2021 电子设备用固定电容器 第24部分：分规范 表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器

电子设备用固定电容器第24部分：分规范表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器 国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会 Ⅲ 1 1 11.3规范性引用文件 1 1 2 2 32.1优先特性 32.2优先额定值 3 43.1初始制造阶段 43.2结构类似元件 43.3放行批合格证明记录 43.4鉴定批准程序 53.5质量一致性检验 4试验和测量程序 4.1预先干燥 4.2测量条件 4.4外观和尺寸检查 4.5电气试验 4.6耐焊接热 4.7可焊性 4.8剪切力试验(附着力) 4.9衬底弯曲试验 4.10温度快速变化 4.11气候顺序 4.12稳态湿热 4.13高低温特性 4.15耐久性 4.16元件耐溶剂(要求时) 4.17标志耐溶剂(要求时) 184.18高浪涌电流(要求时) Ⅲ——第2-1部分：空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ(GB/T7333—2012/IEC60384-2-1——第3部分：分规范表面安装MnO₂固体电解质钽固定电容器(GB/T6346.3—2015/——第3-1部分：空白详细规范表面安装MnO₂固体电解质钽固定电容器评定水平EZ(GB/T6346.301—2015/IEC60384-3-1:2——第4-1部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E(GB/T5994—2003/ ——第7-1部分：空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E——第8-1部分：空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平EZ(GB/T5967—2011/——第9部分：分规范2类瓷介固定电容器(GB/T5968—2011/IEC60384-9:2005);——第9-1部分：空白详细规范2类瓷介固定电容器评定水平EZ(GB/T5969—2012/——第11部分：分规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(GB/T6346.11—2015/IEC6038评定水平EZ(GB/T6346.1101—2015/IEC60384-11-1:20 第13部分：分规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(GB/T10188—20137 第15部分：分规范非固体或固体电解质钽电容器(GB/T——第15-1部分：空白详细规范非固体电解质箔电极钽电容器7213—2003/IEC603评定水平E(可供认证用)——第15-2部分：空白详细规范非固体电解质多孔阳极钽电容器评定水平E(可供认证用)评定水平E(GB/T7214———第16部分：分规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器(GB/T10190—2012/IFC60384-16:——第16-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ(GB/T10191—2011/IEC60384-16——第17部分：分规范金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器(GB/T14579—2013/——第17-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和EZ(GB/T14580—2013/IEC60384-17——第18部分：分规范固体(Mn(O₂)与非固体电解质片式铝固定电容器(GB/T —第18-1部分：空白详细规范表面安装固体(MnO₂)电解质铝固定电容器评定水平EZ(GB/T17207—2012/IEC60384-18 —第18-2部分：空白详细规范非固体电解质片式铝固定电容器评定水平——第19部分：分规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(GB/T评定水平EZ(GB/T16467—2013/IEC60384-19-1:——第21部分：分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器(GB/T21041—2007/IEC60384-(GB/T21038—2007/IEC60384-21-1:2004); —第22部分：分规范表面安装用2类多层多层瓷介固定电容器(GB/T21042—2007/IEC——第24部分：分规范表面安装导电聚合物固体电解质钽固定电容器(GB/T6346.24—2021/——第25部分：分规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器(GB/T6346.25—2018/——第25-1部分：空白详细规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ(GB/T6346.2501—2018/IEC60384-25-1:2006——第26-1部分：空白详细规范导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZV(GB/T6346.2601—2018/IEC60384-26本部分使用翻译法等同采用IEC60384-24:2015《电子设备用固定电容器第24部分：分规范表——GB/T——GB/T——GB/T321—2005优先数和优先数系(ISO)3:1973,IDT);2421—2020环境试验概述和指南(IEC60068-1:2013,IDT);2471—1995电阻器和电容器优先数系(idtIEC60063:196 GB/T2693—2001电子设备用固定电容器第1部分：总规范(idtIEC60384-1:1999)本部分起草单位：中国振华(集团)新云电子元器件有限责任公司、中国电子技术标准化研究院、本部分的目的是对这种类型的电容器规定优先额定值和特性，并从IEC60384-1中选择适用的质下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引ISO3优先数和优先数系(Preferrednumbers-seriesofpreferrednumbers)IEC60063电阻器和电容器优先数系(PrefeIEC60068-1:2013环境试验第1部分：概述和指南(Environmentaltesting—Part1:Generaltronicequipment—ParIEC61193-2:2007质量评定体系第2部分：电子元件和包装用抽样方案的选择和使用(Qualityassessmentsystems—Part2:Selectionanduseofsamplingplansforinspectionofelectroniccompo-2GB/T6346.24—2021/IEC60384-2详细规范应规定通常使用时的安装方法。电容器应按正常方法安装。试验和测量时的安装(当有要求时)应符合4.3的规定。详细规范应规定电容器本体上和包装上的标志内容。与1.6有差别应特别说明。按IEC60384-1:2008的2.4,并应符合下列规定。a)引出端的极性(有结构识别的除外);3f)制造年月(或年及周);g)制造厂的名称或商标；b)上限类别温度：105℃和125℃;e)85℃额定温度的上限类别温度应为105℃或125℃;f)105℃额定温度的上限类别温度应为125℃。标称电容量允许偏差的优先值为±20%。 4电容器的类别电压见表1和表2。2.2.5浪涌电压(Ugs或Ucs)浪涌电压应为1.15倍额定电压或类别电压取整后的电压值(取两位有效数字，见表1和表2)。额定温度为85℃或105℃(见表1和表2)。(上限类别温度125℃/额定温度85℃)(上限类别温度125℃/额定温度105℃或上限类别温度105℃/额定温度85℃)5GB/T6346.24—2021/IEC60384-2鉴定批准试验的程序在IEC60384-1:2008的Q.5中给出。在逐批试验和周期试验的基础上进行每个规格中有2只(对于六个规格)或3只(对于四个规格)备用样品，用来替换非制造厂原因造成表3规定了鉴定批准试验的每组或每个分组的样品数及允许不合格品数。表3和表4中规定的全部系列的试验用于详细规范所覆盖电容器的批准试验。每组的各项试验应表3和表4一起构成固定样本大小试验一览表。表3中包括了不同的试验或试验组的抽样和允许不合格品数的细节，表4给出了试验条件和性能要求摘要，并要求在详细规范中选择试验条件和性能固定样本大小试验一览表中的试验条件和性能要求应与详细规范中质量一致性检验中的规定6组别试验项目n允许不合格品数C0高浪涌电流(要求时)电容量损耗角正切等效串联电阻(要求时)备用样品0元件耐溶剂(要求时)0标志耐溶剂(要求时)0203电容量损耗角正切等效串联电阻(要求时)0剪切力试验(附着力)00000“该测量值作为3组试验的初始测量值。不应把电容器安装后发现的不合格品计入不合格品数。这种不合格品应以备用样品替“对于壳号/电压组合，见3.4.2。“按详细规范规定，只能安装在铝基板上的表面安装电容器不适用。备用样品。7条款号和试验项目试验条件“不合格品数(c)性能要求“4.18高浪涌电流(要求时)4.4尺寸(详细)4.5.3损耗角正切(tanδ)见表3≤0.1CRUR或10μA,取大者在规定的偏差范围内电容量电容量4.16元件耐溶剂(要求时)D见JEC60384-1:2008的4.31见表3边缘长度的25%见IEC60384-1:2008的4.311B组4.17标志耐溶剂(要求时)“D见表3的新焊料层，其余5%允许有少量分散的，诸如针孔、空穴、电容量电容量(印制板处于弯折状态)D见表38表4(续)条款号和试验项目“试验条件“样品数(n)和不合格品数(c)性能要求“电容量电容量损耗角正切D见IEC60384-1:2008的4.33见4.5.2.2见4.4.2见4.5.1.2见4.5.2.2见4.5.3.2见4.5.4.2见表34.8剪切力试验(附着力)电容量电容量损耗角正切电容量4.11.4循环湿热、试验Db、4.11.6循环湿热、试验Db,电容量损耗角正切D见4.10.3见4.5.2.2见4.5.1.2见4.5.2.2见4.5.3.2见IEC60384-1:2008的4.21见4.5.2.2见4.11.3见4.11.5见4.11.7见4.4.2见4.5.2.2见4.5.3.2见表3见详细规范△C/C|≤4.10.2测量值见详细规范△C/C|≤4.11.2测量值见详细规范9表4(续)条款号和试验项目“试验条件“样品数(n)和不合格品数(c)电容量电容量D步骤1:20℃电容量步骤2:-55℃(下限类别温度)电容量步骤3:20℃电容量步骤4:85℃电容量漏电流(带UR)电容量步骤6:20℃电容量D的5%的5%表4(续)条款号和试验项目“不合格品数(c)性能要求“电容量电容量D见表3|△C/C|≤4.14,2测量值的10%电容量电容量等效串联电阻(要求时)D见表3≤4.5.1规定值的2倍|△C/C|≤4.15.2测量值的20%≤4.5.3规定值的1.5倍电容量电容量D见表3≤4.5.1规定值的5倍|△C/C|≤4.19.2测量值的10%“试验条款号和性能要求参考第4章。“Cr为标称电容量，单位为微法(μF);UR为额定电压，单位为伏特(V)。3.5.1.1A组和B组检验a)检验批应由结构类似的电容器组成(见3.2)。b)试验的样品应能代表该检验批中所包括的各种规格和尺寸：——任何一种规格至少5只样品。c)假如样本中任何一种规格的数量少于5只，则抽取的样本应由承制方和国家监督检查机构当按IEC60384-1:2008中Q.1空白详细规范中规定的评定水平，应优先从表5和表6中选取。检验分组“ncd0d0d0“检验分组的内容在相关的空白详细规范的第2章中有规定。L为检验水平；n为样品大小；c为允许不合格品数。在生产过程中，通过100%试验去除不合格品后，为了用每百万分之几的不合格品数(×10-⁶)来监测产品出厂质量水平，应进行抽样检验。抽样水平应由制造商制定，优先按照IEC61193-2:2007的附录A进行。如果一价值。按照IEC61193-2:2007中6.2规定的方法，应通过累积检验数据来计算出几的不合格品数(×10-⁴)来体现]。试验样品数：应按照IEC61193-2:2007中4.3.2来确定样品大小。检验分组“pnc600606030C6060“检验分组的内容在相关空白详细规范的第2章中规定。见IEC60384-1:2008中4.3规定。4.5.4等效串联电阻(要求时)见IEC60384-1:2008的4.8.2,并采用下列规定。除非详细规范另有规定，等效串联电阻的测量条件如下：——温度：20℃±2℃;测量误差不应超过要求值的±5%或0.02Ω,取大者。见表4。4.6耐焊接热按IEC60384-1:2008中4.14规定，并采用下列细则。4.6.2初始测量见表4。4.6.3试验条件采用回流焊方法，详细规范应规定回流焊的温度图。恢复期为24h±2h。4.6.5最后检查和要求恢复后，应在正常的光线和放大10倍的条件下对电容器进行外观检查并按表4测量电性能。4.7可焊性按IEC60384-1:2008中4.15规定，并采用下列细则。4.7.2最后检查和要求见表4。4.8剪切力试验(附着力)见IEC60384-1:2008中4.34规定。按IEC60384-1:2008中4.35规定。见表