• 现行
  • 正在执行有效
  • 2006-01-19 颁布
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【正版授权】 IEC 62132-1:2006 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity,150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62132-1:2006 EN-FR
  • 标准名称：集成电路-电磁抗扰度测量，150 kHz至1 GHz-第1部分：一般条件和定义
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2006-01-19

文档简介

IEC62132-1:2006标准是关于集成电路（IC）在电磁干扰（EMI）环境中的抗干扰能力的测量标准。这个标准主要关注在频率为150kHz到1GHz的电磁波环境中的电磁抗干扰性能。

该标准的主要内容包括：

1.定义了电磁兼容性（EMC）的基本概念和术语，如电磁干扰（EMI）、电磁敏感性（ESD）、抗扰度（ISL）等。

2.提供了各种电磁环境的描述，包括静态电磁场、动态电磁场、脉冲电磁场、射频电磁场等。

3.为实验室测试和现场测试制定了具体的方法和步骤，包括测试设备、测试环境、测试程序等。

4.定义了一系列相关的性能参数，如瞬态响应、频谱响应、耐电压强度等，并给出了测试方法和要求。

5.为测量不确定度给出了标准差、偏差、扩展不确定度等概念和计算方法。

IEC62132-1:2006标准是集成电路行业的重要标准之一，它为集成电路的电磁抗干扰性能提供了重要的测试方法和标准，有助于提高集成电路的可靠性和稳定性。

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