• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-04-30 颁布
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【正版授权】 IEC 61967-4:2002 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions,1 ohm/150 ohm direct_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-4:2002 EN-FR
  • 标准名称：集成电路-电磁辐射测量-150kHz到1GHz-第4部分：传导辐射的测量-1欧/150欧直接耦合方法
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Measurement of conducted emissions, 1 ohm/150 ohm direct coupling method
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-04-30

文档简介

IEC61967-4是关于集成电路电磁辐射测量的标准，范围涵盖了150kHz到1GHz的频率范围。该标准规定了测量传导辐射的方法，其中直接耦合方法（DCM）是最常用的方法之一。IEC61967-4:2002EN-FR版本是这个标准的主要版本。

在直接耦合方法中，电路或设备被连接到测量设备上，并通过一个电阻器（通常是1ohm或150ohm）与测试探头相连。测试探头将接收到的电磁辐射转换为电压，该电压随后被送到测量设备进行测量和分析。这种方法要求在电路或设备周围建立一个适当的测试环境，以确保测试结果的准确性和可靠性。

在执行此方法时，需要注意一些关键点，包括：

*测试环境的建立和维持：需要确保测试环境中的电磁干扰（EMI）水平保持在最低限度，以避免对测试结果产生干扰。

*电阻器的选择：电阻器的选择应该根据电路或设备的阻抗进行，以确保最佳的信号传输和减少反射。

*测试探头的质量：测试探头应该具有高质量的材料和设计，以确保准确捕获电磁辐射并对其进行转换。

*测量设备的精度：测量设备应该具有高精度和分辨率，以确保准确测量电磁辐射的水平。

IEC61967-4:2002EN-FRIEC标准提供了关于测量传导辐射的详细指导，包括直接耦合方法的使用。该标准对于电子设备和系统制造商、测试实验室和相关行业来说非常重要，因为它

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