单片机原理及应用实验指导书

单片机原理及应用试验指导书单片机试验指导书一、试验系统简介试验承受天祥电子公司的GTXTX-1D单片机试验箱。试验板上单片机承受的是STC公司的STC89C52单片机作为主控模块，完全兼进展综合试验。STC89C52可以在线编程，不需要频繁插拔，通过USBPC机相连。KeilC仿真编译系统，可进展编程以及程序编译，生成.OBJ以及.HEX目标文件编译完成的.HEX文件通过USB接口写入到试验板上的单片机中，即编程，并直接运行。二、试验简要步骤1、启动运行环境正确连接试验系统，确认各个开关处于正确位置，翻开试验机电源。2、编程KeilCSTC89C52〔如库中无STCMCU，可选AT89C5，编写源程序，并添加到工程中，然后进展编译。3、进展试验件，选择欲加载的.HEX文件，点击下载，将程序写入到单片机中，当写入完成后即自动运行。2步，修改源程序。三、用户手册,电路原理图,工具软件等试验一、读程序存储器及简洁I/O试验一、试验要求：1、P1口作输出口，接8只发光二极管，程序存储器的0500H～0509H单元依次存放着0～9ASCIIRAM30H～39H单元，并同P1口输出显示。2、P1口作输出口，接8只发光二极管，编写程序，使发光二极管循环点亮。二、试验目的1、生疏试验系统的使用及调试方法。280C51汇编语言程序编写。3P1口的使用方法。4、学习延时子程序的编写和使用。三、试验电路及连线P1.0-P1.774HC573接发光二极管D1-D8P2.574HC573LE四、试验说明10时点亮，1时熄灭。2、为了使发光二极管显示的ASCII码〔1〕以及循环点亮〔试验2〕明确看清，可承受多重循环的软件延时。3、74HC573的规律功能表如下所示：LE1时，Q=D；LE0时，锁存。五、试验报告要求列出试验步骤，写出试验的汇编程序，记录试验结果。试验二、定时器/计数器试验一、试验要求：使用STC89C5201160.05秒P1.0～P1.78个发光二极管。要求编写程序模拟一时序掌握装置。D4，D5D3，D6D2，D7亮，第四秒D3，D6D4，D5D1，D2，D3，D4D5，D6，D7，D8亮，第十秒全亮，第十一秒全灭。然后再从头循环。02S2作为计〔最低位〕0~9。二、试验目的180C51内部定时/计数器的使用和编程方法。2、学习中断处理程序的编程方法。三、试验电路及连线P1.0-P1.7D1-D8S2T0〔P3.4，按下时，T00。P2.7分别为段选及位选锁存器的锁存掌握端〔LE1，Q=D；LE0，锁存。四、试验说明关于内部计数器的编程主要是定时常数的设置和有关掌握存放器的设置。11.0592MHz，所以定时常数的设置可按以下方法计算：定时常数〕*1.0857μS=50mS定时常数＝4C00H以在置数前要先关对应的中断，置数完之后再翻开相应的中断。2T0S2溢出，申请中断，在中断效劳程序内查表输出中断次数。5〕七段数码管为共阴极，位选信号为0，段选信号为1时，对应的数码管亮，数字编码为五、试验报告要求画汇编程序流程图，并记录试验的汇编程序。主程序：1、设置初始常数2、开中断3、等待中断中断效劳程序1、保护现场2、置计数常数3147。4、查表5、显示数据6、调整表格指针7、恢复现场8、中断返回试验三、外部中断试验一、试验要求：AT89S5201160.05T0溢出P1P1.0～P1.78个发光二极管。要求编写程序模拟一时序掌握D4，D5D3，D6D2，D7亮，第四亮，第五秒亮，第六秒亮，第七秒亮，第八秒D2，D3，D4D5，D6，D7，D8亮，第十秒全亮，第十一秒全灭。然后再从头循环。S14生成外部中断信号，当S14键按下时，为外部中断恳求信号，此时发光二极2秒。二、试验目的180C51内部定时器的使用和编程方法。2、学习外部中断的使用和编程方法。三、试验电路及连线蜂鸣器电路键盘电路P1.0-P1.7D1-DP2.3S14INT〔P3.2T〔P3.4。四、试验说明S14按下时，INT0引脚输入低电平，T0〔P3.4〕0。P2.3输出为低电寻常，蜂鸣器发声。外部中断0〔高级〕与定时器0〔低级〕形成两级中断嵌套。外部中断时的2秒延时可以承受软件延时或使用定时器1。五、试验报告要求1、画出试验电路原理图。2、画汇编程序流程图，并记录试验的汇编程序。3、列出试验步骤，记录试验结果。主程序：T0，T1初始常数234T0计数5、等待中断T0中断效劳程序1、保护现场2、置计数常数3147。4、查表，显示数据5、调整表格指针6、恢复现场7、中断返回INT0中断效劳程序1、保护现场2、显示数据3T04、置T1计数常数，启动T1计数 注：T1承受查询方式，也可承受中断嵌套526；否，等待。6、停顿T1计数 注：步骤4-6可由软件延时代替7T0计数，恢复现场8、中断返回试验四PC机串行通信试验一、试验要求1，8UART方式，允许接收，9600bpsPC机上运行串口调试软件。编程实现，单片机接收PC机发送的数据并回送给PC机显示，并同时送发光二极管显示；11RAM30H1，并PC机显示。二、试验目的180C51串行通信口的编程方法。三、试验线路D1-D8。RS-232PC机。四、试验说明1、本次试验为两个程序。2PC9600bps，无奇偶校验位。3AT89S52串行通信程序。4、观看并验证明验结果。五、试验报告要求画程序流程图，附上完整的程序代码一、试验要求P3口与行列式键盘接口，分别定义8个按键，每个按键对应一个发光二极管，编写0~7；当没有定义的其它按键按下时，二极管及数码管全灭。二、试验目的学习在单片机系统中扩展行列式键盘的方法。学习扫描键盘的实现方法。三、试验电路及连线P3.0-P3.3P3.4-P3.7D1-D8。〔1，Q=D0，锁存。七段数码管为共阴极，位选信号为0，段选信号为1时，对应的数码管亮，数字编码为四、试验说明编写键盘扫描程序，下载程序，并运行。五、试验报告画出电气原理图；附上完整的程序代码；画出程序流程；试验六I2C串行总线存储器读写试验一、试验要求11124LC040001H1，显示。二、试验目的1、进一步把握定时器和外部中断的使用方法。I2C串行总线器件的接口方法。I2C总线的编程方法。三、试验线路键盘及数码管电路见前述，AT24C02的接口电路图如下所示。SDAP2.0，SCLP2.1，A0、A1、A2接地四、试验说明1RAM30H124C02中。200001H。424C02送七段数码管显示。五、试验报告要求画程序流程图，说明24C02读写方法，记录试验的汇编程序。六、参考程序流程主程序略，参考试验三。T1中断效劳程序1、保护现场2、置计数常数3146。4、30H1524C02子程序6、恢复现场7、中断返回INT0中断效劳程序1、保护现场2T1计数324C02子程序4、读出的数据〔A中〕送数码管显示5T1计数6、恢复现场7、中断返回24C02T1定时误差，此处无视不计。24C02子程序1210100000B34530H内容67824C02随便地址子程序1210100000B3456710100001B89ACC10、11、12、

发送停顿位返回AD/DA转换试验一、试验要求拧动ADC0804旁边的电位器，会在数码管的前两位显示0-FF之间的数值。通过用单片机掌握DAC0832输出锯齿波，让开发板上发光二极管D12由暗到亮变化，循环下去。二、试验目的学习如何用单片机掌握ADC0804芯片进展数模转换，把握数码管动态扫描显示的原理。学会用单片机掌握数模转换芯片DAC0832。三、试验电路及连线ADC0804接口电路图，P1DB0~DB7，P3.7RD，P3.6WR，P0.774HC573CSDAC0832接口电路，P0DI0~7，P3.6WR1〔其它掌握引脚为常通〕，P3.2CS四、试验说明五、试验报告画出程序流程图，附上完整的程序代码；一、试验要求利用试验系统供给的功能模块，进展组合，完成硬件电路和软件程序的设计调试。二、试验目的180C51单片机系统的设计和开发技术。2、进一步生疏把握单片机内部功能单元及应用接口的编程。3、提高并检验学生学问与实践的融合力量。三、试验内容〔供选择〕1、定时器+串行通信。1RAM30H1PC机显示器上；将PC机键盘输入的数据〔00-FF〕2+数码管+串行通信试验要求：在键盘上定义8个键，当键按下时最左侧的数码管显示键码〔1~8，并送PC机显示；当按下其他键时，数码管及PC03、外部中断+串行通信试验要求：以S14键盘输入产生中断信号，每按键一次，内部计数器加1，并将按键次数同时送最右侧数码管〔0~9〕PC机显示。4、I2C+串行通信试验要求：每124C020002H1S14键作为外部中断输入信号，0002HPC机显示。5、AD/DA转换+串行通信拧动ADC0804旁边的电位器，在数码管的前两位显示00-FF之间的数