标准解读

《GB/T 13178-2008 金硅面垒型探测器》相比于《GB/T 13178-1991 金硅面垒型探测器》，主要在以下几个方面进行了更新与调整：

  1. 技术指标的修订：新标准对金硅面垒型探测器的技术性能指标进行了详细修订，包括但不限于探测效率、能量分辨率、稳定性和可靠性等方面，以适应近年来技术进步和应用需求的变化。

  2. 测试方法的完善：为确保探测器性能评估的一致性和准确性，2008版标准引入了更具体、更科学的测试方法和程序，对探测器的特性测试、环境适应性评估等环节给出了明确指导。

  3. 材料与制造工艺的要求：鉴于材料科学与制造技术的发展，新版标准对探测器所用材料的纯度、均匀性以及制造工艺流程提出了更高要求，旨在提升探测器的整体性能和使用寿命。

  4. 安全与环保要求：随着对产品安全及环境保护意识的增强，2008版标准增加了关于探测器生产、使用及废弃过程中的安全与环保要求，确保符合国家相关法律法规。

  5. 术语与定义的更新：为了与国际标准接轨并清晰界定专业术语，新标准对部分术语进行了修订或新增，以便于行业内沟通交流和标准的国际对比。

  6. 质量控制与管理体系：强调了生产过程中质量控制的重要性，并推荐采用现代质量管理体系，如ISO 9001，来保证产品的质量和可追溯性。

这些变动反映了自1991年以来金硅面垒型探测器技术的演进趋势，以及对产品性能、安全、环保等方面的更高追求。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2008-07-02 颁布
  • 2009-04-01 实施
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文档简介

犐犆犛２７．１２０

犉８８

中华人民共和国国家标准

犌犅／犜１３１７８—２００８

代替ＧＢ／Ｔ１３１７８—１９９１

金硅面垒型探测器

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２００８０７０２发布２００９０４０１实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

发布

中国国家标准化管理委员会

书

中华人民共和国

国家标准

金硅面垒型探测器

ＧＢ／Ｔ１３１７８—２００８

中国标准出版社出版发行

北京复兴门外三里河北街１６号

邮政编码：１０００４５

网址ｗｗｗ．ｓｐｃ．ｎｅｔ．ｃｎ

电话：６８５２３９４６６８５１７５４８

中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷

各地新华书店经销

开本８８０×１２３０１／１６印张０．７５字数１６千字

２００８年１１月第一版２００８年１１月第一次印刷

书号：１５５０６６·１３３５７７

如有印装差错由本社发行中心调换

版权专有侵权必究

举报电话：（０１０）６８５３３５３３

书

犌犅／犜１３１７８—２００８

前言

本标准参考了ＩＥＣ６０３３３：１９９３《核仪器半导体带电粒子探测器测试程序》。

本标准代替ＧＢ／Ｔ１３１７８—１９９１《金硅面垒型探测器》（以下简称原标准）。

本标准保留ＧＢ／Ｔ１３１７８—１９９１的大部分内容，对其的主要修改如下：

———增加前言；

———引用新的规范性文件；

———产品的外形及结构尺寸仅保留Ａ型，删去原标准的Ｂ型和Ｃ型；

———部分耗尽金硅面垒型探测器的分类仅保留最小耗尽层深度为３００μｍ一类，而主要性能增加

“允许最大噪声”。

本标准由中国核工业集团公司提出。

本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。

本标准起草单位：中核（北京）核仪器厂。

本标准主要起草人：李志勇。

本标准所代替标准的历次版本发布情况为：ＧＢ／Ｔ１３１７８—１９９１。

Ⅰ

书

犌犅／犜１３１７８—２００８

金硅面垒型探测器

１范围

本标准规定了部分耗尽金硅面垒型探测器（简称探测器）的产品分类、技术要求、测试方法、检验规

则等。

本标准适用于部分耗尽金硅面垒型探测器（不包括位置灵敏探测器）。锂漂移金硅面垒型探测器也

可参照执行。

２规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有

的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究

是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

ＧＢ／Ｔ５２０１带电粒子半导体探测器测试方法（ＧＢ／Ｔ５２０１—１９９４，ｎｅｑＩＥＣ６０３３３：１９９３）

ＧＢ／Ｔ１０２５７—２００１核仪器和核辐

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