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UDC539.1.074.5F88中华人民共和国国家标准GB/T13178-91金硅面垒型探测器Partiallydepletedgoldsiliconsurfacebarrierdetectors1991-04-11发布1992-05-01实施国家技术监督局发布
(京)新登字023号中华人民共和国国家标准金硅面垫型探测器GB/T13178-91中国标准出版社出版发行北京西城区复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045htp//电话:63787337、637874471992年6月第一版2004年12月电子版制作书号:155066·1-8721版权专有浸权必究举报电话:(010)68533533
中华人民共和国国家标准专硅面垒型探测器金CB/T13178-91Partiallydepletedgoldsiliconsurfacebarrierdetectors主题内客与适用范摩本标准规定了部分耗尽金硅面全型探测器(简称探测器)的分类、技术要求、测试方法、检验规则等。本标准适用于部分耗尽金硅面全型探测器(不包括位置灵敏探测器)。锂源移金硅面全型探测器也可参照执行、2引用标准GB5201带电粒子半导体探测器测试方法GB10257核仪器与核辐射探测器质量检验规则术语、符号、代号3.1术语3.1.1面垒型半导体探测器surfacebarriersemiconductordetector由表面上的反型层产生的结形成势垒的半导体探测器。3.1.2耗尽层(灵敏层)depletionlanyer半导体探测器中构成灵敏体积的一层半导体材料,粒子在其中损耗能量的绝大部分对输出信号均有贡献3.1.3部分耗尽partialdepletion耗尽层深度小于半导体材料基片的厚度,3.1.4灵敏面积8ensitivearea探测器中辐射最易进入耗尽层的那部分面积。3.1.5半高宽(FwHM)fullwidthathalfmaximum在仅由单峰构成的分布曲线上,峰值一半处两点的横坐标之间的距离。3.1.6能量分辨率energyresolution深测器对能谱高度分布FWHM的贡献(包括探测器漏电流噪声)以能量单位表示.3.2符号、代号3.2.1Q对"Am源5.486MeV的粒子,使用标准电子学设备,成形时间常数为0.5rs时,表示整个系统的分辨率(keV)。3.2.2B在3.2.1同样条件下,表示由脉冲产生器信号峰的半高宽(FWHM)近似的
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