GB/T 5201-2012带电粒子半导体探测器测量方法

ICS27120

F88.

中华人民共和国国家标准

GB/T5201—2012

代替

GB/T5201—1994

带电粒子半导体探测器测量方法

Testproceduresforsemiconductorchargedparticledetectors

(IEC60333:1993Nuclearinstrumentation—Semiconductorchargedparticle

detectors—Testprocedures,NEQ)

2012-06-29发布2012-11-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T5201—2012

前言

本标准按照给出的规则起草

GB/T1.1—2009。

本标准代替带电粒子半导体探测器测试方法本标准与

GB/T5201—1994《》,GB/T5201—1994

以下简称原标准相比主要技术变化如下

(),:

增加了前言

———;

增加了第章规范性引用文件其他章的编号依次后推

———2“”,;

将原标准术语符号改为第章术语和定义并完全引用不再另行

———“、”3“”,GB/T4960.6—2008,

编写

;

删除了原标准符号部分在文中用到符号的地方予以说明

———2.2“”,;

增加了测试的参考条件或标准试验条件代替原标准

———4.1“”3.1;

将原标准和合并为删除了原标准

———3.33.44.3;3.7;

电压电流特性特性增加了反向特性测试

———5.1“-(V-I)”V-I;

将原标准噪声测量前的悬置段改为测量方法和测量系统其他节编号依次

———4.3“”5.3.1“”,

后推

;

将原标准探测器噪声随放大器时间常数的变化增加新内容后改为

———4.3.6“”,5.3.7;

电荷收集时间增加了对快慢探测器的区分标准

———5.4.2“”“”、“”;

第章环境试验完全引用不再另行编写

———7“”GB/T10263—2006,。

本标准使用重新起草法参考核仪器半导体带电粒子探测器试验程序编制

IEC60333:1993《》,

与的一致性程度为非等效

IEC60333:1993。

本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC30)。

本标准起草单位中核北京核仪器厂

:()。

本标准起草人李志勇王军

:、。

Ⅰ

GB/T5201—2012

带电粒子半导体探测器测量方法

1范围

本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验

方法

。

本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器

。

全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行

。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

核科学技术术语第部分核仪器仪表

GB/T4960.6—20086:

核辐射探测器环境条件与试验方法

GB/T10263—2006

金硅面垒型探测器

GB/T13178—2008

3术语和定义

界定的术语和定义适用于本文件

GB/T4960.6—2008。

4一般要求

41测量应在参考条件或标准试验条件见表下进行

.(1)。

表1参考条件或标准试验条件

项目参考条件标准试验条件

环境温度

20℃18℃~22℃

相对湿度

65%50%~75%

大气压强

101.3kPa86kPa~106kPa

交流供电电压UaU

N(1±1.0%)N

交流供电频率b

50Hz(1±1%)×50Hz

交流供电波形正弦波波形总畸变﹤

5%

直流供电电压额定值

±1%

环境γ辐射空气吸收剂量率

()0.1μGy/h<0.25μGy/h

外磁场干扰可忽略