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文档简介

初、中级无损检测技术资格人员

超声检测培训复习题汇编

夏纪真编广东省机械工程学会无损检测分会2006年7月

目录一.是非判断题(P3-23)二.问答题(P24-36)三.选择题(P37-55)四.计算题(P56-60)五.工艺规范(P61-67)是非判断题(在每题后面括号内打"X"号表示''错误",画''。"表示正确)1.最常用地超声波换能器是利用压电效应发射和接收超声波地(0).在超声波检测中最常用地超声波换能器是利用磁致伸缩效应发射和接收超声波地(X).质点完成五次全振动所需要地时间,可以使超声波在介质中传播五个波长地距离(0).一般地超声波检测仪在有抑制作用地情况下其水平线性必然变坏(X).脉冲宽度大地仪器其频带宽度窄(0).超声波检测时要求声束方向与缺陷取向垂直为宜(0).在同一固体介质中,纵波地传播速度为常数(0).在同一固体介质中,横波地传播速度为常数(0).在同一固体介质中,瑞利波地传播速度为常数(0).在同一固体介质中,兰姆波地传播速度为常数(X).超声波表面波不能在液体表面传播(0).在同一固体材料中,传播纵,横波时地声阻抗相同(X).声阻抗是衡量介质声学特性地重要参数,温度变化对材料地声阻抗也会有影响(0).第二介质中折射地横波其折射角达到90。时地纵波入射角为第二临界角(0).第二介质中折射地横波其折射角达到90。时地纵波入射角为第一临界角(X).第二介质中折射地纵波其折射角达到90。时地纵波入射角为第二临界角(X).第二介质中折射地纵波其折射角达到90。时地纵波入射角为第一临界角(0).第二介质中折射地横波平行于界面时地纵波入射角为第二临界角(0).第二介质中折射地横波平行于界面时地纵波入射角为第一临界角(X).有机玻璃/铝界面地第一临界角大于有机玻璃/钢界面第一临界角,则前者地第二临界角也一定大于后者.(X).只有当第一介质为固体介质时,才会有第三临界角.(0).频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性不如纵波好(X).在水中不仅能传播纵波,也能传播横波(X).有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率半径越小,焦距越大(X).有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率越大,焦距越大(X).吸收衰减和散射衰减是材料对超声能量哀减地主要原因(0).钢中声速最大地波型是纵波(0).钢中声速最大地波型是横波(X).钢中声速最大地波型是兰姆波(X).超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型地声束反射角大于入射角(X).超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型地声束反射角小于入射角(X).商品化斜探头标志地角度是表示声轴线在任何材料中地折射角(X).为在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料地纵波速度应大于被检试件中地纵波速度(X).超声波在介质中地传播速度与波长成正比(X).超声波在铝中传播时,频率越高,波长越短(0).超声波在钢中传播时,频率越低,波长越短(X).超声波在介质中地传播速度等于质点地振动速度(X).在同种固体材料中,纵,横波声速之比为常数(0).声源面积不变时,超声波频率越高,超声场地近场长度越长(X).采用高频探伤可以改善声束指向性,提高探伤灵敏度(0).不同压电晶体地频率常数不一样,故不同压电晶体作成频率相同地晶片其厚度不同(0).兰姆波波速在一定介质中不为常数(0).超声波探头地近场长度近似与晶片直径成正比,与波长成反比(0).超声波探头地半扩散角近似与晶片直径成正比,与波长成反比(X).超声波探头发射超声波利用地是逆压电效应,而接收超声波则是利用地正压电效应(0).超声波束地指向角是在晶片直径一定地情况下,频率越低,指向角越小(X).超声波束地指向角是在晶片直径一定地情况下,频率越高,指向角越小(0).声透镜地曲率越大,焦距越短(0).声透镜地曲率半径越大,焦距越短(X).波长越短,近场长度越短,晶片直径越大,近场长度也越长(0).不同材料有不同地材料弹性和密度,故同一波型地超声波在不同材料中传播速度不同(0).同一波型地超声波在不同材料中地传播速度是相同地(X).超声波纵波在异质界面上发生反射时,反射波中必定会分离出反射纵波与反射横波(X).根据公式:C=kf可知声速C与频率f成正比,因此同一波型地超声波在高频时传播速度比低频时大(X).压电晶片是利用''逆压电效应”地原理产生超声波地(0).压电晶片是利用''逆压电效应”地原理接收超声波地(X).用声透镜对超声波进行聚焦时,必须选用中间厚度小、边缘厚度大地凹形透镜(0).物体在振动过程中,当外力地频率等与振动系统地固有频率时,物体地振幅达到最大值,这种现象称为谐振(0).物体在振动过程中,当外力地频率等与振动系统地固有频率时,物体地振幅达到最大值,这种现象称为共振(0).波在传播过程中遇到远小于波长地障碍物时,就会发生绕射现象(0).超声波探头所选用压电晶片地频率与晶片厚度有密切关系,频率越高,晶片越薄(0).在钢中测定为某个折射角地探头,移放到铝上测定,该折射角将会变小(X).在超声波检测中,窄脉冲地纵向分辨力高,这是因为它地脉冲宽度大(X).一台垂直线性理想地超声波检测仪,其回波高度与探头接收到地声压成正比例(0).一台垂直线性理想地超声波检测仪,其回波高度与探头接收到地声压成反比(X).当激励探头地脉冲幅度增大时,由探头发射地超声波强度也随之增大(0).超声连续波垂直入射至钢/空气界面时,反射波和入射波可在钢中形成驻波.(0).超声波以角入射到水/钢界面时,反射角等于入射角.(0).水地温度升高时,超声波在水中地传播速度则随着降低(X).所有地液体(水除外),其声速都随着温度地升高而增加(X).超声波垂直入射时,界面两侧介质声阻抗相差愈小,声压往复透过率愈高(0).当钢中地气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高将随之降低(X).第一介质为液体介质时,也会有第三临界角(X).超声场地近场长度愈短,声束指向性愈差(0).斜角探伤横波声场中假想声源地面积小于实际声源面积(0).圆晶片斜探头地折射波束上缘折射角大于下缘折射角(X).如斜探头入射点到晶片地距离不变,入射点到假想声源地距离随入射角地增加而增大(X).对空心圆柱体在内圆周面上探伤时,曲底面回波声压比同声程大平面高(0).A型显示探伤仪,利用D.G.S曲线板是不能直观显示缺陷地当量大小和缺陷深度地(X).B型显示探伤仪能够直观显示出缺陷深度(0).压电晶片地压电电压常数大,则说明该晶片发射性能好(X).压电晶片地压电应变常数大,则说明该晶片发射性能好(0).常用地有机玻璃楔探头,当温度升高时,其折射角将变小(X).超声波倾斜入射至缺陷表面时,缺陷反射波高随入射角地增大而减小(0).一般情况下,对于薄层反射体,能得到最大反射信号地厚度为(入/4地奇数倍)(0).一般情况下,对于薄层反射体,能得到最大反射信号地厚度为(入/4地偶数倍)(X).一般情况下,对于薄层反射体,能得到最大反射信号地厚度为(入/2地奇数倍)(X).一般情况下,对于薄层反射体,能得到最大反射信号地厚度为(入/2地偶数倍)(X).为了在工件中得到纯横波,对于斜探头地选择除了合适地入射角以外还应考虑合适地斜楔材料地横波声速(X).为了在工件中得到纯横波,对于斜探头地选择除了合适地入射角以外还应考虑合适地斜楔材料地纵波声速(0).为了在工件中得到纯横波,对于斜探头地选择除了合适地入射角以外还应考虑斜楔材料地纵波声速小于工件中地横波声速(0).为了在工件中得到纯横波,对于斜探头地选择除了合适地入射角以外还应考虑斜楔材料地纵波声速大于工件中地横波声速(X).为了给tgB=2.5地斜探头设计一个适合1:1水平定位法,并使得第一次回波前沿出现在第三格,第二次回波前沿出现在第九格地半圆试块,该试块地半径应是32.3mm(0).超声检测常用压电晶体石英、钛酸领、银酸锂、硫酸锂中接收效率最高地是胃酸锂(X).超声检测常用压电晶体石英、钛酸银、银酸锂、硫酸锂中居里点最高地是硫酸锂(X).超声波检测常用压电晶体石英、钛酸领、银酸锂、硫酸锂中接收效率最高地是硫酸锂(0)96.超声波检测常用地压电晶体石英、钛酸银、锯酸锂、硫酸锂中居里点最高地是银酸锂(0)97.在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中,回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关地是矩形槽(X).在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、U形槽中,回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关地是平底孔(X).在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、U形槽中,回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关地是U形槽(X).在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中,回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关地是横孔(0).在人工反射体平底孔、矩形槽、横孔、V形槽中,回波声压只与声程有关而与探头折射角度无关地是V形槽(X).在超声波试块中,和入射波束角度无关地人工反射体是U型缺口槽(X).在超声波试块中,和入射波束角度无关地人工反射体是V型缺口槽(X).在超声波试块中,和入射波束角度无关地人工反射体是平底孔(X).在超声波试块中,和入射波束角度无关地人工反射体是柱孔(X).在超声波试块中,和入射波束角度无关地人工反射体是横孔(0).在超声波检测中最常用地超声波是有多种频率成分地正弦波叠加而成地机械波(0).在超声波检测中最常用地超声波是单纯地正弦波(X).在超声波检测中最常用地超声波是方波脉冲(X).在超声波检测中最常用地超声波是驻波(X).用sin0=1.22A/D公式计算地指向角是声束边缘声压Pi与声束中心声压P。之比等于0%时地指向角(0).用sin0=1.22A/D公式计算地指向角是声束边缘声压Px与声束中心声压P。之比等于50%时地指向角(X).用sin0=1.22A/D公式计算地指向角是声束边缘声压Pi与声束中心声压P。之比等于10%时地指向角(X).用sin0=1.22A/D公式计算地指向角是声束边缘声压Pi与声束中心声压P。之比等于1%时地指向角(X).水平线性、垂直线性、动态范围属于超声波检测仪地性能指标(0).频带宽度、探测深度、重复频率属于超声波检测仪地性能指标(0).灵敏度余量、盲区、分辨力属于超声波检测仪地性能指标(X).入射点、近场长度、扩散角属于超声波检测仪地性能指标(X).在普通常用地超声波检测仪上,使用''抑制"旋钮地抑制作用,可以减少杂波显示,与此同时也会导致垂直线性变差,动态范围减小(0).在普通常用地超声波检测仪上,使用''抑制"旋钮地抑制作用,可以减少杂波显示,与此同时也会导致其他回波幅度一并下降(0).在普通常用地超声波检测仪上,使用''抑制"旋钮地抑制作用,可以减少杂波显示,与此同时也会导致回波宽度变小(0).超声波通过两种材料地界面时,如果第一种材料地声阻抗较大,但其声速与第二材料相同,则在第二种材料中地折射角大于入射角(X).超声波通过两种材料地界面时,如果第一种材料地声阻抗较大,但其声速与第二材料相同,则在第二种材料中地折射角小于入射角(X).超声波通过两种材料地界面时,如果第一种材料地声阻抗较大,但其声速与第二材料相同,则在第二种材料中地折射角等于入射角(0).超声波通过两种材料地界面时,如果第一种材料地声阻抗较大,但其声速与第二材料相同,则在第二种材料中地折射角等于临界角(X).超声波检测仪在单位时间内产生地脉冲数量叫做脉冲地重复频率(0).超声波检测仪在单位时间内产生地脉冲数量叫做超声波频率(X).如果超声波频率增加而晶片直径不变,则声束扩散角将减小(0).如果超声波频率增加而晶片直径不变,则声束扩散角将增大(X).单位时间内垂直通过单位面积上地声能叫做声强,它与声压地平方成正比(0).单位时间内垂直通过单位面积上地声能叫做声压,它与声强地平方成正比(X).在传播超声波地介质中,由于交变振动产生地附加压强叫做声压(0).在传播超声波地介质中,由于交变振动产生地附加压强叫做声强(X).超声波仪器地B、C型显示都属于二维显示(0).超声波仪器地B、C型显示都属于三维立体显示(X).在超声波检测中,如果使用地探测频率过高,在探测粗晶材料时会出现林状回波(0).为提高分辩力,在满足探伤灵敏度要求情况下,仪器地发射强度应尽量调得高一些(X).超声波检测使用地试块,其功能不仅仅是用于调整检测灵敏度和评估缺陷大小(0).管子超声波探伤必须采用水浸聚焦方法是因为管子曲率对超声波有散射作用(X).焊缝地超声波检测都是采用斜探头进行探伤(X).焊缝地超声波检测不应当采用直探头进行探伤(X).锻件地超声波检测都是采用直探头进行探伤(X).锻件地超声波检测不采用组合双晶探头进行探伤(X).锻件地超声波检测不采用斜探头进行探伤(X).用直探头在轴类锻件地圆周面上进行周向扫查时,如果有游动信号出现,就可以肯定存在径向缺陷(X).用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时,其跨距比同厚度平板小(X).直接用缺陷波高比较缺陷大小,仪器地''抑制"和''深度补偿"旋钮应置于(开)地位置(X)148,直接用缺陷波高比较缺陷大小,仪器地''抑制"和''深度补偿”旋钮应置于(关)地位置(0)149.采用当量法确定地缺陷尺寸一般大于缺陷地实际尺寸(X).只有当工件中缺陷在各个方向地尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度(X).①50x10mm地钢管,如果采用常规斜探头作接触法周向横波探伤将无法扫查到内壁(0).焊缝斜角探伤中,裂纹等危害性缺陷地反射波幅一定会是很高地(X).钢板探伤中,当同时存在底波和伤波时,说明钢板中存在小于声场直径地缺陷(0).钢板探伤中,当同时存在底波和伤波时,说明钢板中存在大于声场直径地缺陷(X).探测工件侧壁附近地缺陷时,探伤灵敏度往往会明显偏低,这是因为有侧壁干扰所致(0).探测工件侧壁附近地缺陷时,探伤灵敏度往往会明显偏高,这是因为有侧壁干扰所致(X).焊缝超声探伤中,由于焊缝加强高地存在,探头一般不放在焊缝上,而是将探头放在钢板上,超声波倾斜射入焊缝进行探伤(0).网格扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(X).锯齿型扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(0).转角扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(0).环绕扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(0).斜平行扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(0).螺旋转圈扫查法是使用单斜探头横波检测焊缝地基本扫查方法之一(X).网格扫查法是使用单直探头纵波检测钢板地基本扫查方法之一(0).厚板上进行焊缝探伤时,如焊缝磨平,为发现焊缝地横向缺陷,应在焊缝上,沿焊缝地纵向探测(0).厚板上进行焊缝探伤时,如焊缝磨平,为发现焊缝地横向缺陷,应在焊缝上,沿焊缝地横向探测(X).超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜(X).在中薄板地直探头多次反射法探伤中,常会发现小缺陷地多次反射回波中第二次要比第一次高,这是由于多次回波之间地叠加作用所致(0).当用双晶直探头在平面上扫查时,应尽可能使探头隔声片地放置方向与探头扫查方向平行(X).当用双晶直探头在平面上扫查时,应尽可能使探头隔声片地放置方向与探头扫查方向垂直(0).超声波检测仪上地衰减器精度用每12dB中地误差表示(0).超声波检测仪上地衰减器精度用每2dB中地误差表示(0).超声波检测仪上地衰减器精度用每6dB中地误差表示(X).超声波检测仪上地衰减器精度用每10dB中地误差表示(X).频率和晶片尺寸相同时,横波声束指向性比纵波好(0).两束频率不同地声波在同一介质中传播时,如果相遇可产生干涉现象(0).两束频率相同但行进方向相反地连续声波地叠加可形成驻波(0).在同一固体介质中,纵波,横波,瑞利波,兰姆波地传播速度均为常数(X).表面波亦可在液体表面传播(X).波地叠加原理说明,几列波在同一介质中传播并相遇时,都可以合成一个波继续传播(0).在同一固体材料中,传播纵,横波时地声阻抗不一样(0).声阻抗是衡量介质声学特性地重要参数,温度变化对材料地声阻抗无任何影响(X).以有机玻璃做声透镜地水浸聚焦探头,其透镜形状为凹透镜(0).以有机玻璃做声透镜地水浸聚焦探头,其透镜形状为凸透镜(X).超声波探伤中所指地衰减仅为材料对声波地吸收作用(X).材料对声波地吸收作用仅是超声波检测中所说地超声波衰减原因之一(0).声源辐射地超声波地能量主要集中在主声束内(0).超声波检测法不能用于混凝土结构材料(X).由于水中只能传播纵波,所以水浸探头只能进行纵波探伤(X).有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率半径越大,焦距越大(0).有机玻璃声透镜水浸聚焦探头,透镜曲率越小,焦距越大(0).材料对超声能量衰减地主要原因是吸收衰减和散射衰减(0).钢中声速最大地波型是表面波(X).超声波在异质界面上倾斜入射时,同一波型地声束反射角等于入射角(0).商品化斜探头标志地角度是表示声轴线在钢中地折射角(0).超声波探伤仪地脉冲重复频率越高,探伤频率也越高(X).完整地说,超声波地材质衰减包括了吸收衰减,扩散衰减和散射衰减(0).超声波在介质中地传播速度即为质点地振动速度(X)199,由于在远场区超声束会扩散,所以探伤应尽可能在近场区进行(X).为了在试件中得到纯横波,斜探头透声斜楔材料地纵波速度应小于被检试件中地纵波速度(0).超声波地频率取决于晶片振动地频率(0).超声波在介质中地传播速度与频率成正比(X).超声波在铝中传播时,频率越低,波长越短(X).超声波在钢中传播时,频率越高,波长越短(0).兰姆波和纵波及横波一样,其波速在一定介质中为常数(X).在同种固体材料中,纵,横波地声速之比不是一个常数(X).超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型地反射角等于折射角(X)208,超声波倾斜入射到异质界面时,同种波型地折射角总大于入射角(X).超声波以10。入射至水/钢界面时,反射角等于10°(0).介质地声阻抗越大,引起地超声波地衰减越严重(X).声源面积不变时,超声波频率越高,超声场地近场长度越短(0).面积相同,频率相同地圆晶片和方晶片,超声场地近场长度一样(X).面积相同,频率相同地圆晶片和方晶片,其声束指向角亦相同(X).低频探伤是为了改善声束指向性,提高探伤灵敏度(X).不同压电晶体地频率常数不一样,因此用不同压电晶体不能作成频率相同地晶片(X).不同压电晶体材料中声速不一样,因此不同压电材料地频率常数也不相同(0).不同压电晶休材料中声速不一样,因此用不同压电晶体不能作成频率相同地晶片(X).压电晶片地压电应变常数大,则说明该晶片接收性能好(X).压电晶片地压电电压常数大,则说明该晶片接收性能好(0).通用AVG曲线采用以近场长度为单位地归一化距离,适用于不同规格地探头(0).在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷地实际声程和当量尺寸.(X).选用越高地频率探测,有利于发现越大地缺陷,而且声衰减越小(X).耦合剂地用途是消除探头与工件之间地空气以利于超声波地透射(0).超声波在介质中传播过程中由于声束地不断扩散,造成单位面积通过地声能减小,称为扩散衰减(0).在探伤中,处在近场区内地缺陷,距离近地有时反而比距离远地反射回波低(0).按照声学地经典理论,在超声波探伤中容易探测出来地缺陷其尺寸一般不应小于波长地一半(0).粗糙地入射表面会导致缺陷回波高度降低(0).超声波检测仪是利用电致伸缩效应发射超声波地(X).最常用地超声波换能器是利用电致伸缩效应发射和接收超声波地(X)230,同一探头在钢中地近场N要比在水中地近场短(0).质点振动一次所需要地时间,可以使超声波在介质中传播一个波长地距离(0).一般地超声波检测仪在有抑制作用地情况下不会影响其垂直线性(X).脉冲窄地仪器其频带宽度大(0).按照经典理论,超声波检测方法所能检测地最小缺陷尺寸大约是(入/2)(0).波型相同地超声波传播于不同地材料中,由于材料弹性和密度地不同,致使传播速度发生差异(0).超声波在异质界面上发生反射时,反射波中必有变型波存在(X).从公式:C=A-f可以看出,声速C与频率f成正比,因此高频时地超声波传播速度比低频时大(X).单位时间内垂直通过单位面积地声能量称为声强(0).声压与质点振动速度之比称为声阻抗(0).瑞利波质点运动地轨迹为椭圆形(0).压电晶片是利用''正压电效应"地原理产生超声波地(X).压电晶片是利用''正压电效应”地原理接收超声波地(0).天然地石英晶体属于单晶体,而钛酸钢、错钛酸铅等压电陶瓷属于多晶体(0).已知钛酸钢地频率常数Nt=2520Hz-m,则振动频率为2MHz地钛酸钏晶片厚度应为0.5mm(X).当激励探头地脉冲幅度增大时,探头发射地超声波必然强度变大、频带变窄(X).用硫酸锂制作地压电晶片,其接收效率比PZT5地错钛酸铅压电晶片高(0).用硫酸锂制作地压电晶片,其接收效率比PZT5地错钛酸铅压电晶片低(X).用声透镜对超声波进行聚焦时,必须选用中间厚度大、边缘厚度小地凸形透镜(X).超声波垂直入射到薄层介质时,薄层厚度为1/2波长时,其反射最强(X).波在传播过程中遇到远大于波长地障碍物时,就会发生绕射现象(X).在物体振动过程中,仅受弹性恢复力作用地振动叫做无阻尼自由振动,它地振动频率叫做固有频率,它地振动周期叫做固有周期(0).表面波是一种只能在固体表面传播地波,在表面波所到范围内质点振动轨迹为椭圆形(0).超声波探头所选用压电晶片地频率与晶片厚度有密切关系,频率越高,晶片越厚(X).在钢中测定为某个折射角地探头,移放到铝上测定,该折射角将会变大(0).在超声波检测中,窄脉冲地纵向分辨力高,这是因为它地脉冲宽度小(0).一台垂直线性理想地超声波检测仪,其回波高度与探头接收到地声压成正比(0).激励探头地脉冲幅度增大时,探头发射地超声波强度也随之增大,而频带范围变小(X).复合钢板地超声波检测可以从基体金属表面或覆盖层表面进行,其先决条件是基体金属和覆盖材料之间地声速应当相同或相近(X).超声波在介质中传播时,声能地传播是由各质点地位移连续变化来传递地.(0).薄板中传播非对称型兰姆波时,上下表面质点振动相位相同.(0).水地温度升高时,超声波在水中地传播速度亦随着增加.(0).所有地液体(水除外),其声速都随着温度地升高而减小.(0).介质中形成驻波时,相邻两波节或波腹之间地距离是一个波长.(X).超声波垂直入射到平界面时,声强反射率与声强透过率之和等于1(0).超声波垂直入射到平界面时,反射波与透过波声压之和等于入射波电压.(X).超声波垂直入射到异质界面时,界面一侧地总声压等于另一侧地总声压(0).超声波垂直入射到地界面时,声压透过率大于1,说明界面有增强声能地作用.(X).超声波垂直入射到异质界面时,声压往复透过率与声强透过率在数值上相等.(0).超声波垂直入射时,界面两侧介质声阻抗相差愈小,声压往复透过率愈低.(X).当钢中地气隙(如裂纹)厚度一定时,超声波频率增加,反射波高也随着增加.(0).横波斜入射至钢/空气界面时,入射角在左右时,横波声压反射率最低.(0).超声波纵波斜入射到端角时,端角反射率总是很高地.(X).介质地声阻抗愈大,引起地超声波地衰减愈严重(X).聚焦探头辐射地声波,在材质中地衰减小(X).超声波平面波不存在材质衰减(X).超声波声场地近场长度愈短,声束指向性愈好(X).超声波声场中不同横截面上地声压分布规律是一致地(X).在超声波声场地未扩散区,可将声源辐射地超声波看成平面波,平均声压不变(0).斜角探伤横波声场中假想声源地面积大于实际声源面积(X).圆晶片斜探头地折射波束上缘折射角小于下缘折射角(0).如斜探头入射点到晶片地距离不变,入射点到假想声源地距离随入射角地增加而减小(0).理想地镜面大平面,对声波产生全反射,随传播距离地增加其回波声压不变(X).球孔地回波声压随距离地变化规律与平底孔相同(0).同声程理想大平面与平底孔回波声压地比值随频率地提高而减小(0).在轴类工件外圆周面上探伤时,曲底面回波声压与同声程理想大平面相同(0).对空心圆柱体在内圆周面上探伤时,曲底面回波声压比同声程大平面低(X).A型显示探伤仪,利用D.G.S曲线板可直观显示缺陷地当量大小和缺陷深度(0)288.B型显示探伤仪不能直观显示出缺陷深度(X).当试件内存在较大地内应力时,将使超声波地传播速度及方向发生变化(0).常用地有机玻璃楔探头,当温度升高时,其折射角将增大(0).超声波倾斜入射至缺陷表面时,缺陷反射波高随入射角地增大而增高(X).超声波声速与介质弹性系数、密度之间地关系式是:CL=[(E/p)(l-a)/(l+a)(l-2a)]1/2(0).超声波声速与介质弹性系数、密度之间地关系式是:Cl=(E/p)i/2(X).一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(入/4地奇数倍)可得到最大反射信号(0)295.一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(一个人地奇数倍)可得到最大反射信号(X)296.一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(入/2地整数倍)可得到最大反射信号(X)297.一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(入/4地偶数倍)可得到最大反射信号(X)298.一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(入/2地奇数倍)可得到最大反射信号(X)299.一般情况下,对于薄层反射体,若其厚度为(入/2地偶数倍)可得到最大反射信号(X)300.2.25MHz,在水中近场长度等于58.6mm地直探头,其半扩散角度大约是3.75。(0)301.把钢中横波折射角为50。地斜探头移至横波声速为2.17xl03m/s地材料上,则折射角约为31°(0)302.2.25MHz,在水中近场长度等于58.6mm地直探头,其半扩散角度大约是7.5。第).把钢中横波折射角为50。地斜探头移至横波声速为2.17xl03m/s地材料上,则折射角约为53°(X).当一平行声束通过液体在轴地圆柱面垂直透入后,该声束将被聚焦(X).当一平行声束通过液体在轴地圆柱面垂直透入后,该声束将被发散(0).当一平行声束通过液体在轴地圆柱面垂直透入后,该声束将仍然保持平行声束状态(X)307.为了给tg(3=2.5地斜探头设计一个适合1:1水平定位法,并使得第一次回波前沿出现在第三格,第二次回波前沿出现在第九格地半圆试块,该试块地半径应是42.3mm(X)308.声压地绝对值P与介质密度p、声速C、质点振动速度V之间地关系是:P-pCV(O)309.声压地绝对值P与介质密度p、声速C、质点振动速度V之间地关系是:P-p2CV(X)310.声压地绝对值P与介质密度p、声速C、质点振动速度V之间地关系是:P^pC2V(X)311.声压地绝对值P与介质密度p、声速C、质点振动速度V之间地关系是:P-p2CV2(X)312.超声波从声阻抗Za地介质透过声阻抗Zb地介质进入声阻抗Zc地介质,若Zb=(Za-Zc)1/2,则透声效果较佳(0).超声波从声阻抗Za地介质透过声阻抗Zb地介质进入声阻抗Zc地介质,若Za=Zc,则透声效果较佳(X).超声波从声阻抗Za地介质透过声阻抗Zb地介质进入声阻抗Zc地介质,若Zc=Za,Zb,则透声效果较佳(X).超声波从声阻抗Za地介质透过声阻抗Zb地介质进入声阻抗Zc地介质,若Za=ZbZc,则透声效果较佳(X).不锈钢比碳钢地声阻抗大1%,由这两种钢材组成地异质界面上,声压反射率为0.5%(0)317.不锈钢比碳钢地声阻抗大1%,由这两种钢材组成地异质界面上,声压反射率为10%(X)318.不锈钢比碳钢地声阻抗大1%,由这两种钢材组成地异质界面上,声压反射率为5%(X)319.不锈钢比碳钢地声阻抗大1%,由这两种钢材组成地异质界面上,声压反射率为1%(X)320.灵敏度余量、盲区、分辨力是用来表示超声波检测仪与探头组合性能地指标(0)321.水平线性、垂直线性、动态范围是用来表示超声波检测仪与探头组合性能地指标(X)322.频带宽度、探测深度、重复频率是用来表示超声波检测仪与探头组合性能地指标(X).入射点、近场长度、扩散角是用来表示超声波检测仪与探头组合性能地指标(X).频带宽度、探测深度、重复频率属于探头地性能指标(X)325.入射点、近场长度、扩散角、频率属于探头地性能指标(0)326.设波长为人,横孔到声源地距离为So,使回波声压与距离平方成反比地横孔长度应小于4(入So)i/2(O)327.设波长为人,横孔到声源地距离为So,使回波声压与距离平方成反比地横孔长度应小于2(入So)”?(X)328.设波长为人,横孔到声源地距离为So,使回波声压与距离平方成反比地横孔长度应小于O.9(A-So)1/2(X)329.设波长为人,横孔到声源地距离为So,使回波声压与距离平方成反比地横孔长度应小于O.8(A-So)1/2(X).超声波在介质中传播时,当遇到尺寸与波长相近似地障碍物时,将产生绕射现象(0).两列频率相同、相位相同或相差一个固定值地超声波束在同一介质中传播时,就有可能产生波地干涉现象(0).在一般情况下,声速决定于介质地种类和波型,但兰姆波地波速还决定于频率与工件厚度地乘积(0).在活塞振子地声场中,就波阵面而言,近声源处可看作是平面波,离声源较远处可看作是球面波(0).超声波地衰减实质就是阻尼振动地一种物理现象(0).所谓振动,就是质点在其平衡位置上所作地往返运动(0).振动在介质中地传播称为波,它是传递能量地一种形式(0).超声波在介质中地衰减类型可以大致地分为扩散、吸收、散乱三种(0).谐振动是质点地振动位移随时间地变化,满足正弦函数关系地一种运动(0).球面波地声压与距离成反比(0).球面波地声压与距离地平方根成反比(X).柱面波地声压与距离成反比(X).柱面波地声压与距离地平方根成反比(0)343.已知Clm=5900米/秒,Q炳=3230米/秒,Q.“机蚓=2700米/秒,Cs“机侬=1460米/秒,若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒地波,则该波就是瑞利波(0)344.已知Cl削=5900米/秒,CS!h=3230Q.“机成期=2700米/秒,Cs行机破埴=1460米/秒,若在有机玻璃/钢界面上出现一列速度近似为2907米/秒地波,则该波就是兰姆波(X).超声波通过一定厚度地薄层介质时,若该薄层介质两侧地物质具有相同地声阻抗,则薄层厚度为四分之一波长地奇数倍时,声压反射率最大(0).超声波通过一定厚度地薄层介质时,若该薄层介质两侧地物质具有相同地声阻抗,则薄层厚度为二分之一波长地整数倍时,声压反射率最大(X).超声波通过一定厚度地薄层介质时,若该薄层介质两侧地物质具有相同地声阻抗,则薄层厚度为四分之一波长地奇数倍时,声压透过率最大(X).超声波通过一定厚度地薄层介质时,若该薄层介质两侧地物质具有相同地声阻抗,则薄层厚度为二分之一波长地整数倍时,声压透过率最大(0).简谐振动方程式y=Asin(3t+W)中,y为振动位移,A表示最大振幅,中表示初位相(0).振动在介质中地传播过程形成波,在波地传播过程中,任意两个相邻地、相位相同地质点之间地距离称为一个波长(0).孔径相同地平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时,其反射波最高地是长横孔(0).孔径相同地平底孔与长横孔在六倍近场长度以外时,其反射波最高地是平底孔(X)353.两个回波高度比为0.1,则它们地分贝差为(-20)dB(0)354.两个回波高度相差12dB,则对应地回波高度比为4:1(0)355.确定探头扫查速度时不必考虑仪器地脉冲重复频率(X)356.特别是在自动化检测中,确定探头扫查速度时必须考虑仪器地脉冲重复频率(0)357.任何探头电缆,只要是高频地,在任何情况下均可互换使用(X)358.调节探伤仪"深度细调"旋钮时,可连续改变扫描线扫描速度(0)359.调节探伤仪"抑制"旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越大(X)360.调节探伤仪"抑制"旋钮时,抑制越大,仪器动态范围越小(0)361.调节探伤仪地"水平"旋钮,将会改变仪器地水平线性(X)362.测定仪器地"动态范围"时,应将仪器地"抑制","深度补偿"旋钮置于"关"地位置(0)363.超声波探伤仪开机通电后立即可以开始正常检测工作(X)364.超声波探伤仪开机通电后应经过一段时间预热后才可以开始正常检测工作(0)365.超声波检测时只需要用一次回波就能调节好时基线(X)366.垂直入射纵波法检测时,找到缺陷地最大回波,则缺陷正好位于直探头中心地正下方(X)367.绝对灵敏度法测长适用于形状不规则地长条形缺陷测长(0)368.半波高度(6dB)法主要适用于形状较规则地长条形缺陷测长(0)369.半波高度(6dB)法可以适用于任何类型地长条形缺陷测长(X)370.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")彳乳始波前沿应落在水平刻度零点地左边(0)371.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")彳乳始波前沿应落在水平刻度零点地右边(X)372.超声波检测作业中,完成时基扫描线校正(俗称"定标")彳机始波前沿应恰好落在水平刻度零点上(X)373.正确调整好时基线后,始波前沿应对准水平刻度地零位(X)374.超声波检测中评定缺陷为e2mm平底孔当量,即意味着该缺陷地实际面积就是①2mm地园面积大小(X)375.超声波检测中评定缺陷为e3mm平底孔当量,即意味着该缺陷地实际面积就是e3mm地园面积大小(X)376.超声波检测中评定缺陷为①2mm平底孔当量,即意味着该缺陷地反射回波与e2mm园面积地反射回波大小相当(0)377.超声波检测中评定缺陷为<D6mm平底孔当量,即意味着该缺陷地反射回波与①6mm园面积地反射回波大小相当(0)378.超声波检测中评定缺陷为①2mm横通孔当量,即意味着该缺陷地反射回波与相同声束截面下地(P2mm横通孔表面积地反射回波大小相当(0)379.超声波检测中评定缺陷为e2mm横通孔当量,即意味着该缺陷地实际大小就是等同于①2mm横通孔表面积大小(X)380.超声波检测中评定缺陷为①2mm横通孔当量,即意味着该缺陷地实际截面形状等同于02mm横通孔地横截面形状(X).采用当量法确定地缺陷尺寸一般小于缺陷地实际尺寸(0).采用当量法确定地缺陷尺寸一般大于缺陷地实际尺寸(X).超声波检测中,幻像波地产生原因是在衰减小地材料中脉冲重复频率选用过高(0).超声波检测中,幻像波地产生原因是在衰减小地材料中脉冲重复频率选用过低(X).超声波检测中,幻像波地产生原因是在衰减小地材料中采用较高地探测频率(X).超声波检测中,幻像波地产生原因是在衰减小地材料中采用较低地探测频率(X).在钢锻件探伤中,脉冲重复频率选择太高是产生幻像波地重要原因之一(0).超声波检测使用地缺陷长度测定方法中,以绝对灵敏度法地灵敏度最高,因此测得地缺陷长度偏大(0).绝对炎敏度法测量缺陷指示长度时,测长灵敏度高,测得地缺陷长度大(0).在役部件超声波检测主要是探测疲劳裂纹和应力腐蚀裂纹(X).在对铸钢件进行超声波检测时,回波低地未必是小缺陷(0).检测板厚较大地焊缝,常采用较小折射角地探头,这是为了缩短声程,减少声路上地声能衰减,提高探测灵敏度(0).对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会降低(X).对复合板进行超声波检测时,如果复合界面有分层时其界面回波会增高(0).钢板探伤中若无底波出现则说明钢板中无缺陷(X).对厚度与波长相当地薄板主要采用横波法检测(X).对厚度与波长相当地薄板主要采用纵波法检测(X).对厚度与波长相当地薄板主要采用瑞利波法检测(X).对厚度与波长相当地薄板主要采用兰姆波法检测(0).厚板与中厚板超声波检测主要采用横波法(X).厚板与中厚板超声波检测主要采用纵波法(0).厚板与中厚板超声波检测主要采用兰姆波法(X).厚板与中厚板超声波检测主要采用表面波法(X).厚板与中厚板超声波检测主要采用爬波法(X).串列式双探头法探伤实质即为一发一收地穿透法(0).焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面后部磨损较大时,其折射角将变小(X).焊缝探伤所用斜探头,当楔块底面前部磨损较大时,其折射角将变小(0).对焊缝中与声束成一定角度地缺陷,探测频率较高时,缺陷回波不易被探头接收(0).焊缝探伤中,依据缺陷地静态波形可准确地判断缺陷性质(X).在超声波检测中,依据缺陷回波地静态波形就已经可以准确判断缺陷地性质(X).在超声波检测中,仅仅依据缺陷回波地静态波形还不可以准确判断缺陷地性质(0).管材和棒材水浸横波检测时,通常利用调整偏心距地方法来调节入射角(0).管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,通常利用调整偏心距来实现入射角地选择(0)414.管材水浸法周面弦向入射横波探伤时,入射角地选择通常是利用调整水距来实现地(X)415.小直径薄壁无缝钢管用水浸点聚焦探头作横波检测时,折射角地调整是通过调节水层距离实现地(X)416.管子壁厚t与外径D之比(t/D)>0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子地内壁(0)417.管子壁厚t与外径D之比(t/D)<0.2,在用纯横波检查纵向缺陷时,中心声束会达不到管子地内壁(X)418.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁地条件是管壁厚与管外径之比大于0.2(X)419.管材纯横波探伤,要保证声束能探查到管内壁地条件是管壁厚与管外径之比小于0.2(0)420.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于纵波垂直法探伤(X)421.小口径钢管采用水浸聚焦探头检验时,属于横波探伤(0)422.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越大(0)423,采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越大,入射角允许范围越小(X)424.采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越小(0).采用斜探头对钢管作周向接触法探伤时,钢管内外径之比越小,入射角允许范围越大(X).钢管作手工接触法周向探伤时,应从顺,逆时针两个方向各探伤一次(0).钢管作手工接触法周向探伤时,只需从一个方向探伤一次即可(X).钢管水浸探伤时,水中加入适量活性剂是为了调节水地声阻抗,改善透声性(X).钢管水浸探伤时,水中加入适量活性剂是为了改善水地润湿性,减少附着在探头和钢管表面地气泡(0).钢管水浸探伤时,如钢管中无缺陷,荧光屏上只有始波和界面波(X).管材超声波检测主要采用横波法(0).管材超声波检测主要采用纵波法(X).管材超声波检测主要采用兰姆波法(X).管材超声波检测主要采用瑞利波法(X).锻件水浸法纵波垂直入射探伤时,对水层距离地要求是使第二次界面回波落在第一次底波之后,并且尽可能利用距离-振幅曲线上地高声压区(0).在锻件地超声波探伤中,有关缺陷地定性定量问题已经解决(X).轴类锻件,一般来说以纵波直探头作径向探测效果最佳(0).轴类锻件,一般来说以斜探头作周面弦向探测效果最佳(X).轴类锻件,一般来说以斜探头作周面轴向探测效果最佳(X).使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,探头应作正反两个方向扫查(0).使用斜探头对轴类锻件作圆柱面轴向探测时,只需作一个方向扫查即可(X).对饼形锻件采用直探头在端面平面上作轴向探测是最常用地探伤方法(0).对饼形锻件采用直探头在侧面圆周面上作径向探测是最常用地探伤方法(X).对饼形锻件采用斜探头在端面平面上作斜入射探测是最常用地探伤方法(X).锻件探伤中,如底波明显下降或消失而不是声接触不良引起时,说明锻件中可能存在较严重地缺陷(0).超声波检测时要求声束方向与缺陷取向平行为宜(X).超声波检测时要求声束方向与缺陷取向垂直为宜(0).所谓超声波地材质衰减包括了吸收衰减,扩散衰减和散射衰减(0).粗糙地入射表面会导致缺陷回波高度降低(0).用修磨斜探头底面地方法可以改变探头地入射角,若探头底面前部修磨量大,则探头地入射角增大(X).用修磨斜探头底面地方法可以改变探头地入射角,若探头底面后部修磨量大,则探头地入射角增大(0).斜探头检测焊缝时,按一定比例调整探伤仪扫描线地目地是为了方便确定缺陷位置(0).斜探头检测焊缝时,按一定比例调整探伤仪扫描线地目地是为了方便确定缺陷大小(X).盲区与始波宽度是同一概念(X).斜探头楔块前部和上部开有消声槽地目地是使声波反射回晶片处,减少声能损失(X).水浸法垂直入射纵波检测时,水距地选择在任何情况下只要保证第二次界面回波落在第一次底面回波之后就可以了(X).工件表面越粗糙,使用地超声检测频率应当越高,耦合剂粘度应当越稀(X).工件表面越粗糙,使用地超声检测频率应当越低,耦合剂粘度应当越稠(0).双晶直探头倾角越大,交点离探测面距离越远,覆盖区越大(X).双晶直探头倾角越小,交点离探测面距离越远,覆盖区越大(0).在通用AVG曲线上,可直接查得缺陷地实际声程和当量尺寸(X).工件表面比较粗糙时,为防止探头磨损和保护晶片,宜选用硬保护膜(X).中心切槽地半圆试块,其反射特点是多次回波总是等距离出现(0).用接触法在试件中产生横波地方法,唯有利用透声斜楔使纵波倾斜入射到界面上(X).曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越大,耦合效果越好(0).曲面工件探伤时,探伤面曲率半径越小,耦合效果越好(X).曲面工件探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果越好(X).曲面工件探伤时,探伤面曲率越小,耦合效果越好(0).只有当工件中缺陷在各个方向地尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度(X).当工件中缺陷在各个方向地尺寸均小于声束截面时,无法采用测长法确定缺陷长度(X)471.对于厚度大于3N(N=D2/4入)地锻件,采用超声波检测法测定材质衰减系数时地基本公式是:X=[20lg(B,B2)]/2s(注:式中N-近场长度,D-探头晶片直径,卜超声波在材料中地波长,Bi和B2分别为第一、二次底波高度,S-工件厚度)(0).对钢板用纵波直探头探伤时,若荧光屏上同时存在底波和伤波,说明钢板中存在小于声束直径地缺陷(0).对钢板用纵波直探头探伤时,通常只根据缺陷波情况判定缺陷(X).钢板探伤时,通常只根据缺陷波情况判别定缺陷(X).用纵波直探头探伤钢板时,不但要根据缺陷波情况,还要视底波变化情况来判定缺陷(0).复合钢板探伤时,可从母材一侧探伤,也可从复合材料一侧探伤(0).焊缝中地裂纹回波信号基本特征是波幅不高,当探头作原位摆动或转动时,波幅无明显变化(X).超声波检测焊缝时,对所发现地缺陷必须测量其指示长度是为了便于评价与返修(0).某钢管规格①83x14mm,可以采用纯横波法检测该管材内外壁缺陷(0).探伤灵敏度越高,检测盲区越小,分辨率越低(X).不能探测到缺陷地范围称为近场区(X).组合双晶探头地焦距大小取决于两个晶片地相对倾角,相对倾角越大,焦距越短(0).组合双晶探头地焦距大小取决于两个晶片地相对倾角,相对倾角越小,焦距越长(0).组合双晶探头地焦距大小取决于两个晶片地相对倾角,相对倾角越大,焦距越长(X).组合双晶探头地焦距大小取决于两个晶片地相对倾角,相对倾角越小,焦距越短(X).为满足较高地近表面分辨率要求,较适宜地方法是选用组合双晶探头(0).缺陷本身地开隙度,取向,表面粗糙度以及内涵物等都会对缺陷回波高度有影响(0).表面波探伤地实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置(0).对薄板进行兰姆波法检测时地实践经验之一是采用触摸法判断缺陷位置(0).超声波检测大锻件时使用地重复频率比管子自动探伤时低(0).超声波仪器地C型显示能展示工件中缺陷在探测方向上地面积投影,但不能展示其深度(0).超声波仪器地C型显示属于二维显示(0).超声波仪器地B型显示属于三维立体显示(X).轴类零件作超声波检测时,若遇到有游动讯号出现,则说明轴地内部存在危险性缺陷(X).当被检材料地晶粒尺寸大于1/10波长时,超声波地散射会影响试验结果(0).在超声波检测中,如果使用地重复频率过高,在探测粗晶材料时会出现林状回波(X).在超声波自动化检测中,必须考虑仪器重复频率对检验速度地影响(0).采用纵波法检查钢板时,探头扫查移动方向以垂直于钢板压延方向较好(0).用直探头探测同一缺陷,探头直径增大时,缺陷波增高,但底波高度不变(X).超声波检测仪地发射脉冲应尽可能宽度大、前沿陡峭(0).超声波检测使用地试块只能用于调整检测灵敏度和评估缺陷大小(X).由于管子曲率对超声波有散射作用,所以管子探伤必须采用水浸聚焦方法(X).根据焊缝地实际情况,有时采用斜探头进行探伤,有时则应当采用直探头进行探伤(0).根据锻件地实际情况,可采用直探头、组合双晶探头、斜探头进行探伤(0).用直探头在轴类锻件地圆周面上进行周向扫查时,只有径向缺陷才会产生游动信号(X).由于铸件中地缺陷主要产生在浇冒口部位,因此在铸件地超声波检测中,检测地重点应放在浇冒口部位,其它部位可以不检查或做一般性检查(X).对焊缝进行超声波检测地时机是焊缝冷却到室温后即可进行超声波检测(X).如果使用带有缺陷自动报警和缺陷自动记录装置地超声波检测仪,在检测过程中探头移动速度就可以不须限制(X).探伤仪中地发射电路亦称为触发电路(X).探伤仪中地发射电路可产生几百伏到上千伏地电脉冲去激励探头晶片振动(0).探伤仪地扫描电路即为控制探头在工件探伤面上扫查地电路(X)512.探伤仪发射电路中地阻尼电阻地阻值愈大,发射强度愈弱(X)513.调节探伤仪“延迟”旋钮时,扫描线上回波信号间地距离也将随之改变(X)514.探头中压电晶片背面加吸收块是为了提高机械品质因素,减少机械损耗(X)515.利用IIW1试块上①50mm孔与两侧面地距离,仅能测定直探头盲区地大致范围(0)516.当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时,荧光屏上地多次反射回波是等距离地(X)517.测定组合灵敏度时,可先调仪器地“抑制”旋钮,使电噪声电平10%,再进行测试(X)518.测定“始波宽度”时,应将仪器地灵敏度调至最大(X).为提高分辩力,在满足探伤灵敏度要求情况下,仪器地发射强度应尽量调得低一些(0).串列式双探头法探伤即为穿透法(X).实际探伤中,为提高扫查速度减少杂波地干扰,应将探伤灵敏度适当降低(X).采用当量法确定地缺陷尺寸一般小于缺陷地实际尺寸(0).厚钢板探伤中,若出现缺陷地多次反射波,说明缺陷地尺寸一定较大(0).e50x10mm地钢管,亦可采用常规斜探头作接触法周向探伤(X).用斜探头对大口径钢管作接触法周向探伤时,其跨距比同厚度平板大(0).焊缝斜角探伤中,裂纹等危害性缺陷地反射波幅总是很高地(X).焊缝斜角探伤时,如采用直射法,可不考虑结构反射、变型波等干扰回波地影响(X).钢板探伤中若出现缺陷地多次反射波,缺陷尺寸未必一定较大(X).钢板探伤中若荧光屏上只有正常波形,仅表示钢板中无当量超过调整起始灵敏度地基准平底孔地缺陷(0).钢板探伤中若无底波时,说明钢板中无缺陷(X).钢板中不允许存在地缺陷尺寸,主要是用当量法测定地(X).即便探头折射角较大,在焊缝一侧用全跨距探伤,可以扫查到整个焊缝截面,但仍然有必要从焊缝两侧探伤(0).与表面光滑地零件相比,表面粗糙地零件作超声波检测时,通常使用频率较高地探头和粘度较高地耦合剂(X).与表面光滑地零件相比,表面粗糙地零件作超声波检测时,通常使用频率较低地探头和粘度较低地耦合剂(X).实践证明,在探测工件侧壁附近地缺陷时,探伤灵敏度往往会明显偏低(0).实践证明,在探测工件侧壁附近地缺陷时,探伤灵敏度往往会明显偏高(X).在中薄板地直探头多次反射法探伤中,常会发现小缺陷地多次反射回波中第二次要比第一次高(0).在中薄板地直探头多次反射法探伤中,小缺陷地多次反射回波中肯定第二次要比第一次低(X).管子地超声波检测除了采用水浸聚焦探伤方法外,还可以采用斜探头接触法(0).钢板探伤时若无底波反射,则说明钢板中无缺陷(X).钢板探伤时无底波,但有多列紊乱地缺陷波,则说明钢板有重皮缺陷,其位置在和探头不接触地那一个表面(X).在探伤过程中,探伤人员如认为某张钢板中有白点缺陷存在,则此钢板应报废(0).下面左图表示A显示方式,中图表示B显示方式,右图表示C显示方式(0).超声波只有在斜射时才能在异质界面发生波型转换,并且至少一侧为固体(0).超声波检测中,采用横轴表示实际声程,纵轴表示规则反射体相对波高地坐标曲线是描述距离、波幅、当量大小之间关系地曲线,又称实用AVG曲线,在调节探伤灵敏度和对缺陷定量中得到了广泛应用(0).超声波地波长由声速与频率求得,而声速则由材质和波地种类决定(0)547.超声波检测中,2.25MHz探头地分辨率比5MHz探头地分辨率差(0)548.当超声波声程大于3N时,如声程相同,若平底孔面积相差一倍,则波高相差6dB(0)549.当超声波声程大于3N时,如声程相同,若长横孔直径相差一倍时,则波高相差3dB(0)550.在超声波检测中,相同地探测灵敏度下,缺陷波幅决定于缺陷地大小、取向与类型(0)551.超过人耳听觉范围地声波称为超声波,它地频率高于20千赫,属于机械波(0)552.根据入=c/f,应用2P20x2060。地探头探测钢时,钢材中超声波地波长是1.6mm(0).纵波、横波和表面波以及兰姆波都可在固体中传播(0),只有纵波可在液体中传播(0).纵波、横波和表面波以及兰姆波都可在液体中传播(X).只有纵波可在液体中传播(0).兰姆波只能在固体中传播(0).超声波传播地条件是有发射声波地声源、有传播声波地弹性介质(0).超声波传播地必要条件是发射声波地声源和传播声波地弹性介质缺一不可(0).超声波传播地条件是必须具有发射声波地声源或传播声波地弹性介质(X).超声波在传播过程中仅有能量地传播,没有物质地迁移(0).超声波在传播过程中不单有能量地传播,而且有物质地迁移(X).超声波地波阵面是指某一瞬间同相位振动地各质点构成地空间曲面(0).介质中质点振动方向和传播方向垂直时,此波称为横波.(0).介质中质点振动方向和波地传播方向平行时,此波称为纵波.(0).横波地声速比纵波地声速慢.(0).焊缝探伤主要用横波(0).超声波在传播过程中产生干涉现象是由于两束以上地波相互作用,引起强度重新分布地结果.(0).超声波在介质中地传播速度就是声能地传播速度(0).一般来说,在频率一定地情况下,在给定地材料中,横波探测缺陷要比纵波灵敏,这是因为横波比纵波地波长短(0).超声波探伤用地横波,具有地特性是质点振动方向垂直于传播方向,传播速度约为纵波速度地1/2(0)571.频率都是2.5MHZ地纵波和横波在探测钢时地波长分别是2.34mm和1.3mm(0)572.频率都是2.5MHZ地纵波和横波在探测铝时地波长分别是2.6mm和1.26mm(0).钢中声速最大地波型是纵波(0).在固体表面能沿园滑过渡地边角传播地超声波称为表面波(0).传播速度略小于横波,不向材料内部传播地超声波是表面波(0).在传播超声波地介质内,由于交变振动产生了压强,这种交变地附加压强就叫做声压(0).在传播超声波地介质内,单位时间内通过超声波传播方向垂直截面单位面积上地声能称为声强(0).在传播超声波地介质内,声强与声压地振幅平方正比.(0).近场区是指邻近探头,声压无规律变化,有极大值和极小值地区域(0).远场区是指远离探头,随着距探头地距离增加,声压单调下降地区域(0).邻近压电晶片,声压分布不均匀地超声场为近场,此区长度在频率给定时,随晶片直径变小而缩短.用公式Lo=(d2-*)汽人表示(0).设晶片表面地平均入射声压为Po则理想园平面小缺陷地反射声压Pf=PoAs-S/A2X2,反射波地声压与缺陷面积S成正比,同时与缺陷距离X地平方成反比而减少.面积为As地晶片近场距离为N,当距离在L6N以外时,这个算式可以认为基本上是成立地.(0).设超声波地入射声压为Po,则大平底面而产生地反射波声压Pf=PoAJ2AX,反射波地声压与晶片面积成正比而增大,与距离成反比而减少.这个算式对晶片面积为As,距离在1.6N以外地声场基本上适用.(0).超声波投射到界面上,在同一介质中改变其传播方向地现象叫做反射(0).超声波从一种介质进入另一种不同介质而改变传播方向地现象叫做折射(0).超声波从一种介质进入另一介质后,其声束轴线与界面法线所成地夹角称为折射角(0).同一介质中,同一波型地超声波反射角等于入射角(0).超声波到达两个不同材料地界面上,可能发生反射、折射、波型转换(0).超声波从一种介质进入另一介质,入射声束轴线与界面法线所成地夹角称为入射角(0)590.在离晶片地一定距离外,超声波按一定角度扩散.在超音波检测中,这个角度是以声压在理论上是零点地位置作为基准地,即说指向角8o=7O入/D(0)591.公式sirA/Ci=sin%/C2叫做折射定律(0)592.使一种波产生90。折射地入射角叫做临界角(0)593.超声波垂直入射至异质界面时,反射波和透射波地波型不变(0)594.为使经折射透入第二介质地超声波只有横波,纵波在第一介质地入射角应在第一和第二临界角之间(0)595.有一个5P20x1045。地探头,有机玻璃楔块内声速为2730m/s,被检材料(碳钢)中地声速为3230m/s,求入射角。地公式为Q=SinT(3230/2730)Sin45。(0)596.超声波从水中以5。角入射到钢内,此时地横波折射角小于纵波折射角(0)597.在水/钢界面上,水中入射角为7。,在钢中将是纵波、横波同时存在(0)598.用入射角为30。地有机玻璃斜探头探测钢时,折射横波地折射角是36。.要使钢中折射横波地折射角是45。,纵波在水中地入射角应是19.17。.(0)599.超声波以一定角度入射在不同介质地界面上,第二介质中声波折射角地大小是由两个介质中声速决定地(0)600.超声波在介质中传播时,任一点地声压和该点振动速度之比称为声阻抗,它常用介质密度和声速地乘积来表示(0)601.超声波纵波从水中倾斜入射到金属材料中时,折射角主要取决于水与金属地相对声速及声波入射角(0)602.超声波通过一定厚度地薄层介质时,若介质两侧面地物质声阻抗相等,则薄层厚度为1/2波长地整倍数时,将有最大地声压透过率(0)603.探头前保护膜地声阻抗公式,(2=声阻抗)应是2所尸«血)2工件)1/2(0)604.超声波通过两种材料地界面时,如果第一介质地声阻抗比较大,但声速与第二介质相同,则折射角与入射角相同(0)605.超声波从材料1进入材料2,随声阻抗比Z1/Z2地增大,而透过声压减小(0)606,表征材料声学特性地材质衰减,主要是由散射和吸收所引起地(0)607.当超声波地波长与金属晶粒相比,数值相近,或小于晶粒时,衰减显著、穿透能力减弱,同时由于晶粒反射,出现杂乱回波,不易检出缺陷.(0)608.为减小超声波通过介质时地衰减和避免林状回波,宜采用较低频率和纵波进行探伤.(0)609.因工件表面粗糙使超声波束产生地漫射叫做散射(0)610.缺陷反射能量地大小取决于缺陷地尺寸、方位、类型(0)611.晶片厚度和探头频率是相关地,晶片越厚则频率越低(0)612.一般地说,如果频率相同,则在粗晶材料中,穿透力强地波型是纵波(0)613.一般地说,如果频率相同,则在粗晶材料中,穿透力强地波型是横波(X)614.在小工件中,声波到达底面之前,由于声束扩散,在试件侧面可能会有波型转换产生(0)615.发射探头发射地超声波经试件后再由另一接收探头接收,这种检验方法称为穿透法(0)616.兰姆波可用于检查薄板(0)617.晶片与探测面平行,使超声波垂直于探测面而进入被检材料地检验方法称为垂直法(0)618.靠近探头地缺陷不一定都能探测到,因为超声波检测仪器存在有仪器阻塞效应(0)619.超声波探伤中常用地换能器是利用压电原理(0)620.把某些材料所具有地,能使电能与机械能相互转换地特性称为压电效应(0)621.声程大于3N时,声程增加一倍,大平底地反射声压为原来地1/2倍(0)622.声程大于3N时,声程增加一倍,平底孔地反射声压为原来地1/4倍(0)623.声程大于3N时,声程增加一倍,横通孔地反射声压为原来地1/2.8倍(0)624.声程大于3N时,声程增加一倍,球孔地反射声压为原来地1/4倍.(0)625.声程大于3N时,若声程相同,孔径增加一倍,平底孔反射声压为原来地4倍(0)626.声程大于3N时,若声程相同,孔径增加一倍,横通孔地反射声压为原来地1.42倍(0)627.声程大于3N时,若声程相同,孔径增加一倍,球孔地反射声压为原来地2倍(0)628.一般地说,在远场区,同一深度地平底孔,直径增大一倍,其回波高度提高12dB(0)629.大平底地反射声压公式Pf=PoAJ2入X(A$-晶片面积)(0)63cl.平底孔地反射声压公式为Pf=PoAsS/*-x2(S-平底孔面积)(0)631.球孔地反射声压公式为Pf=PoAsP/4AX?(d-球孔直径)(0)632.长横通孔地反射公式为PF=[PoAs/2(2)1/2-A]-(d/X3)1/2(d-横通孔直径)(0)633.在远场区,同直径地平底孔,声程从100mm增大到300mm,若不计材质衰减,则声压减小19dB(0)634.在远场,同声程地长横通孔,直径从2mm增大到8mm时,其回波声压提高6dB(0)635.在远场,同直径长横通孔,声程增大1倍,不计材质衰减,则声压减小9dB(0)636.晶片发射地超声波声压,在L6N以外,与晶片面积S成正比,与波长成反比,因此频率越高,声压也越大(0)637.声程大于3N且声程相同时,若孔径差1倍,平底孔回波高度差12dB,横通孔地回波高度差3dB,球孔回波高度差6dB.(0)638.声程大于3N且声程相同时,若孔径相同,声程差一倍,平底孔回波高度差12dB,横通孔地回波高度差9dB,球孔回波高度差12dB.(0)639.当某些晶体受到拉力或压力时产生形变,从而晶体地表面上出现电荷,这种现象称为压电效应,这一效应是可逆地(0)640.压电晶片是具有压电效应地晶体材料,用于超声波探伤地压电晶体材料,如石英、硫酸锂、碘酸锂等是单晶体,而钛酸领、错钛酸铅是多晶体,也称压电陶瓷(0)641.把电能转变成超声声能地器件叫做换能器(0)642.超声波检测常用地探头种类有直探头、斜探头、组合双晶探头、水浸探头.(0)643.液浸聚焦探头设计中,声透镜地声速为Ci,液体中地声速为C2,若Ci>C2,声透镜应加工成平凹形.若Ci<C2,声透镜应加工成平凸形.若Ci=C2,声透镜不产生聚焦(0)644.水浸法比直接接触法优越,主要是由于不受工件表面光洁度影响,还可以实现声束聚焦地缘故(0)645.为实现钢管地横波探伤,要求入射角在第一临界角和第二临界角之间(0)646.当横波入射到平面缺陷时,在一定条件下,就会产生波型转换,这种现象与横波入射角有关(0)647.超声波声速与介质弹性系数、密度之间地关系式是Cl=[(E/p)(1-o)/(1+o)(1-2o)]1/2(0)648.共振式超声波仪器主要采用连续纵波(0)649.为了在工件中得到纯横波,不但要选择合适地入射角,而且要给斜探头选择合适地斜楔材料,应满足斜楔材料地纵波声速大于工件中地横波声速(X)650.粗晶材料地探伤可选用较低频率地探头(0)651.由于工件表面粗糙,而造成声波传播地损耗,其表面补偿dB值应用实验方法测定(0)652.用纵波水浸法探测钢材时,为防止在第一次底面回波前面出现二次界面回波,水层厚度为25mm时,能探测钢材地最大厚度为100mm(0)653.直探头探测厚250mm及500mm地两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者地底面回波调至示波屏满幅度地80%,则后者地底面回波应为满幅度地20%(0)654.管子地槽形参考标准,应把槽加工在管子地内外表面(0)655.超声波探伤试块地作用是检验仪器和探头地组合性能、确定灵敏度、缺陷定位、缺陷定量(0)656.组成直探头地元件有压电晶片、吸收块、高频接线和地线、保护膜、外壳等,其中压电晶片是主要元件,其功能是将电能转变成声能,并且可逆(0)657.超声波探头中地吸收块所起地作用是抑制不需要地振动和吸收杂波,常用环氧树脂粉加鸽粉制成(0)658.超声波探头中地匹配吸收块(即阻尼块),其作用是阻尼晶片地振动使脉冲便窄,限制从晶片背面发射地声波,以防止出现杂波.探头若不加阻尼块,始脉冲应会变宽,盲区变大,分辩力降低(0)659.斜探头地楔块应采用纵波声速比被检工件横波声速小地材料制成,它地功能是将纵波按给定地入射角斜射到工件表面,在界面发生折射,形成横波或瑞利波或兰姆波在工件中传播(0)660.联合双直探头有两块压电晶片,在电路上和声路上彼此分离,晶片前装有延迟块,此种探头有盲区小,有助于近表面缺陷地检出(0)661.频率高地探头容易产生宽度窄地脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择高频率地探头.(0)662.超声波探伤仪最重要地性能指标有分辨力、动态范围、水平线性、垂直线性、灵敏度、信噪比.(0)663.波束中心入射到试件探测面地一点叫入射点,此点到探头楔块前端地一段距离叫探头地前沿距离,入射点变化时,此段距离也变化.(0)664.如果仪器采用锯齿扫描发生器,其扫描锯齿波形地好坏程度,决定了扫描水平线性地好坏.(0)665.使用AVG曲线法定量时,仪器调节中,不应该使用“深度补偿”和“抑制”(0)666.调节''抑制"旋钮,会影响仪器地垂直线性和动态范围(0)667.超声波检测仪中,以荧光屏纵轴显示超声波信号强度,以横轴显示超声波传播时间或反射体深度地脉冲显示法叫做A扫描显示(0)668.利用阴极发射地电子束在荧光屏上显示图象地电子管叫做阴极射线管(0)669.超声波检验中,脉冲地持续时间称为脉冲宽度(0)670.一个垂直线性好地仪器,在荧光屏上波幅从80%处降至5%时,应衰减24dB(0)671.在A型扫描显示中,电子束在阴极射线管地荧光屏上均匀重复移动,所形成地水平线叫做扫描线(0)672.超声波检测仪中,产生高压电脉冲以激发探头工作地电路单元称为脉冲发生器(0)673.被放大地信号幅度与缺陷地反射面积成正比关系,放大器这一非饱合地放大区域称为线性范围(0)674.能将两个相邻缺陷在示波屏上区分开地能力叫分辨力(0)675.探伤仪发射电路部分地功用是发射电脉冲(0)676.仪器地盲区,除了与探头特性有关外,主要还决定于接收放大器在强信号冲击下地阻塞时间.(0)677.国际焊接学会地IIW试块可用来测定超声波检测仪和探头地组合性能指标,其中包括:水平线性、垂直线性、灵敏度、分辨力、盲区、声程定标、入射点、折射角(0)678.国际焊接学会地nW试块其厚度为25mm,宽度为100mm,长度为300mm,凹槽上地85mm及槽两侧地91mm和100mm可用于测定探头地分辨力(0)679.钢板探伤中,当同时存在底波和伤波时,说明钢板中存在小于声场直径地缺陷.(0)680.当第一次和第二次底波之间出现伤波时,钢板中可能存在尺寸很大地缺陷,也可能存在尺寸很小地缺陷,可以用6dB法测量缺陷地边界位置(0)681.当板材厚度为加,水层厚度为色时,要求采用四次重合法探伤.其条件分别为一次重合法时6si=5b/4,二次重合法时6s2=6b/2>三次重合法时6s3=35b/4,四次重合法时说4=金(0)682.管件探伤地入射角公式为(CLi/CL2)4sina4(r7R>(CLi/Cs2),式中:R一管子外径,r-管子内径(0)683.管子超声波探伤中,超声波在耦合介质中聚焦点地内半角公式为0=tg-i(D/2F)式中:D-晶片直径;F-焦距(0)684.已选定某一聚焦探头对管材作水浸聚焦探伤,如果聚焦点不能调整到被检管件地中心轴线上,而是偏离中心轴线一定距离,在管壁内将出现无底波反射(0)685.采用大平底反射波探测锻件,在计算缺陷当量大小时,要注意缺陷是否在3倍近场长度以外(0)686.采用大平底反射波探测锻件时,一定注意底面地平直度(0)687.在单探头扫查法中,分为①锯齿型扫查法、②转角扫查法、③环绕扫查法、④斜平行扫查法、⑤沿焊缝两侧平行扫查法(0)688.厚板上进行焊缝探伤时,如焊缝不磨平,应从工件地内表面和外表面,在焊缝两侧,共四个探测面探伤.(0)689.与表面光滑地零件相比,表面粗糙地零件作超声波检测时,通常使用频率较低地探头和粘度较高地耦合剂(0)690.超声波检测用地探头中,置于压电晶片背面地阻尼块有三个基本作用,第一是用于固定晶片位置,第二是用于吸收晶片背面地超声波,第三是用于减少晶片持续振动时间,从而使得脉冲宽

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