EN 584.1-2006无损检测 工业射线胶片 第1部分 工业射线胶片系统的分类

1、欧洲标准EN584-1:2006无损检测工业射线胶片欧洲标准EN584-1:2006第1部分工业射线胶片系统的分类1.范围本标准的目的是确定胶片系统的特性。本标准用于和规定的铅增感屏和工业射线照相（无损检测）配套使用的胶片系统的分类。本标准用于保证底片的影像质量一当其被胶片系统影响时一和欧洲标准的要求如EN444、EN1435和EN12681一致。本欧洲标准不用于使用荧光增感屏的胶片的分类。本标准的胶片系统的测量限定于某一选定的射线品质以简化程序。胶片的性质将随射源能量改变但不影响胶片系统品质的等级（排序）。额外的评定照相工艺的方法于EN584-2中描述，通过这些可以在给定的工业条件下控制胶片

2、系统的特性。.规范性参考下述参考文献是本文件使用时不可缺少的。对于注明日期的文献，只有该版本可行。对于未注明日期的文献，最新版（包括任何修正）适用。EN584-2无损检测一一工业射线照相胶片一一第2部分：通过参考值控制胶片冲洗ENISO/IEC17025检测和校准实验室能力的通用要求（ISO/IEC17025:2005）.术语和定义基于本标准的目的，使用下述术语和定义：胶片系统结合胶片和按照胶片生产厂商和/或冲洗用化学品的厂商的建议进行的胶片处理。胶片梯度G对于特定的光学密度D的胶片特性曲线的斜率。颗粒度D胶片上黑度的随机波动，叠加在工件的影像上。注：本标准的限制值相关于确定的射源能量和制定的

3、增感屏。特性曲线显示曝光度的常用对数logK和光学密度D的关系的曲线。镜面密度光通过显微光密度计的光学器件传播到胶片时的黑度（光学密度）的定量测量。漫射光密度使用黑度计确定的底片黑度（光学密度）的定量测量。它是进入胶片后半球的所有传播和散射光的总和。信噪比在工业射线照像中，局部底片密度与颗粒度D在该密度等级下的比率。它与梯度-噪声比有关。CEN速度S胶片处理时达到的特定的漫射光传播密度D时剂量Ks的倒数值（单位：戈瑞（Gray）：(i)1Ks(i)胶片系统等级考虑表1中给出的限值的分类。梯度/噪声比梯度G和颗粒度D的比，它直接相关于信噪比。所有决定该信号进一步的参数都应被认为是常量，如调制传输

4、函数或射源能量。.取样和存储对产品技术条件来说，重要的是对被评试样要提供由使用者测得的平均结果。这就要求在本标准规定的条件下，定期评定几个不同的批号。在评定前，试样应按制造者的建议存贮一段时间，以模拟产品正常使用时的平均老化程度。在选择和贮存上述试样中，基本目标是保证胶片特性能代表顾客在使用期内获得的特性。.检测方法准备胶片试样应使用钨靶射线管产生的X射线曝光。管子的固有滤波加上尽可能接近管靶的铜滤板，应提供相当于厚（8mm土0.05mm）铜的滤波效果。加在X射线管上的电压应调整到用厚3.5土0.2mm铜所获得的半值吸收。一般约220kV的管电压能满足这一要求。胶片系统应包括前后铅屏各0.02

5、-0.04mm.。若使用单面涂布的胶片，感光乳剂表面应面向射线管。胶片与屏的接触应确保良好。应多次练习以确保胶片试样不包含曝光设备引起的密度改变（如不统一的滤波板或损坏，或者有缺陷的铅屏）或（暗室）处理系统。在曝光中和曝光后、（暗室）处理前，保持胶片试样处于235的温度以及5020%的湿度下。确定梯度和颗粒度的胶片处理化学品和程序应保持一致。并且他们应该完全按照说明来使用和描述。在特定的浸入时间和显影温度下，使用厂商确认的依据EN584-2的胶片检测带来检测指定的显像系统。速度指标Sx应在厂商证书值的5%范围内。显影温度可以在证书值上浮动土1以调整Sx在证书值的土5%范围内。获得的Sx和使用的

6、显像温度应记录在检测报告中。该检测应每天执行，在统一的显影温度和浸入时间下，在需要分级的被曝光胶片显像前和显像后。如果没有有效的厂商合格证，胶片检测带应该根据EN584-2由用户制造和校准。梯度G的测量梯度G相关于一个D和log10K的曲线。在本标准的范围内，在本标准范围内，G可由D-K曲线在黑度（D-D0）处的斜率dD/dk求出。也就是dDKdDG=（2）dlogKlogedK1010这里：K：是黑度达到（D-D0）时的剂量值，单位戈瑞；D0：未曝光的胶片经冲洗后测出的光学密度（灰雾加片基密度）。D-K曲线可用三阶多项式拟合。为获得可靠的曲线，对同样的胶片试样要作一系列曝光，在D0以上，黑度

7、1.0与4.5之间获得至少12个均匀分布的测量点。多项式的近似值应该包含所有的1.04.5中的测量值，对于数字近似值（适合程序），不包含零点。至少六次梯度测量是在不同胶片试样上，以确定平均梯度值G。使用的显微密度计应该定期校准，可测量的散射密度DN4.8。校准时，使用特定的胶片阶梯表，这应该使用C3或更高（C1或C2）的双面X射线胶片。注：显微密度计可能在D4时测量精度有限，且需要在整个量程内小心的校准。由于多项式近似值的方式的特性，D4时黑度值的小的背离对D-D0=4时G的精度有相当大的影响。G2平均梯度值的最大偏差为土5%，G4为7%，置信度95%。确定胶片系统的测量实验室应定期参加一个熟

8、练度测试。对于所有的参加的实验室以及每次定期测试，应使用依据本标准曝光的一种新胶片。颗粒度oD的测量颗拉度用显微光密度计对底片上某一恒定的漫射光学密度作直线或圆形扫描测出。乳剂层两面均应记录，这也意味着测显微密度计的聚焦深度必须包括乳剂层上下两面。颗粒度的值应该确定为漫射密度的方式。如果光学密度测量为镜面单相（即走向反射）光密度，应通过漫射密度-镜面密度曲线图上的颗粒度胶片试样的平均密度值转换为漫射光密度。每一阶的漫射密度应该通过校准过的显微密度计测量。确定该曲线使用一种具备阶梯密度序列的胶片，使用和之前胶片颗粒度试样制备时同样类型的胶片、曝光和暗室处理技术。试样胶片使用同样的显微密度计设置扫

9、查，一个有限的黑度范围可以通过给定的显微密度计增益设置模版式测量，密度的阶梯序列应该处于该范围内。校准通过至少5个值在1.52.8之间的漫射密度（包括灰雾度和本底）够在记录（漫射密度）-记录（镜面密度）图的线状衰减分析的基础上进行。到漫射密度值的转换上。的漫射-镜面密度图做出，这个转换能确定的系数应该用在镜面密度值转换D由下式计算:o=DNN-1N(D-D)2ii的漫射-镜面密度图做出，这个转换能确定的系数应该用在镜面密度值转换D由下式计算:o=DNN-1N(D-D)2ii=1(3)被测胶片的漫射光学密度应该为灰雾和本底之上的D=2.000.05。D的值的确定应该在该胶片的灰雾和本底上的散射平

10、均密度D的基础上修正。修正的D值应该通过下式计算:o=o飞(2/D)D一corrD（4）另外一种方法，可以测量三张或更多的在1.802.20之间的不同密度等级胶片试样，且在本底加灰雾的散射密度2.00时的颗粒度值应该从颗粒度的线状衰减分析图上得到，作为灰雾和本底之上的平方英寸的漫射密度的函数。射线胶片上的测量长度至少为116mm。圆形测量时显微光密度计的光圈直径应该为（1005）m。方形的88.6X88.6m的光圈与圆形100m直径有相同的面积，且认为二者的测量颗粒度等效。确定的o值应该在圆形光圈的实际（测量）光圈A.（单位m）基础上修正。修正后的D值由下式计算:D-corrdDo=o（A/1

11、00）D-corr-aD-corrd如果显微光密度计使用了方形光圈，修正的D值由下式计算:（5a）o=oD-corr-bD-corr(4A/(兀10000)1a（5b）这里Aa光圈面积单位为m2。显微光密度计的路径可以为线状或圆形。如果为圆形，路径的半径应不小于16mm。另外一种情形，总扫查长度不小于116mm。为了限制数据的低频噪声，使用显微光密度计的测量应该在转换为漫射密度后使用高通滤波器滤波，分离点空间频率为每毫米0.1线对（3dB）。这应该通过测量扫描值减去平滑的测量扫描值的减少下完成。平滑应该通过宽6.0mm（0.1mm间隔的61个值）的方形窗口函数卷积进行，此时扫查阶梯宽度应为10

12、0m。扫查的最初和最后30个数据点不应用于滤波后D的进一步计算。滤波基于下式：D滤波=D平均0D平均ii61i+jj=-30(6)扫查中考虑到测量数据的误差因素，胶片中的假象的结果如灰尘和其他失真源引起的结果，滤波扫查应被分成1.9mm长（0.1mm间隔的20个值）的n组，且每组间隔0.1mm。DgI应该每组确定，且至少使用55组。DgI的计算值通过他们的大小重新排列，中心值（也就是55组中第28个值）是所有组的中值。该中值DM应乘以1.0179以得到无偏中值估值D。注1k是每组内连续观察的序号，而C是a=0.5及k-1自由度时的X2分布的临界值。对于D估值，中值DM应该乘以（kk1）/C。2

13、0个观察值时中值DM应该乘以统计修正1.0179。注2数据点和组的数量增加导致更好（更低）的结果偏差。重要的一点是不改变1.9mm的组长（加上0.1mm的组间距）以及统计修正一如果使用1.0179的修正值的话。组内扫查数据的细分，DgI的确定和中值程序有一个固有的滤波效应，等效于扫查数据的上述高通滤波。因此，当应用中值程序时，高通滤波可以忽略。确定的颗粒度的差异不大于1.5%。应至少在不同试样上做六次测量，以估算颗粒度的平均值。确定的颗粒度平均值不超过土10%偏差，置信度95%。检定胶片系统的测量实验室应参加一个周期性的熟练度测试。一种新的胶片根据本标准曝光时，应该在所有参与实验室和每个周期检

14、测中使用。CEN速度S的测量CEN速度S在灰雾和本底D0之上根据散射光密度D-D0=2确定。CEN速度根据表2给出。其他设备和程序除了上述描述的其他测量设备，也可用于分类，仅需设备和对应规程提供相同结果：G2梯度的偏差小于5%和确信度95%,G4梯度的偏差小于7%和置信度95%,颗粒度小于10%及置信度95%。这应该根据ENISO/IEC17025来比较5.15.4中胶片系统的分类。分类的限定值胶片系统根据限定值分类，它们根据条款5来确定。为了分配胶片系统的等级，胶片系统的决定应根据表1,确定参数满足所有的梯度、颗粒度和梯度-噪声比的限定值。对于胶片系统的分类，下述程序应采用：所有在D-D0=

15、2和4时确定的G的平均值应该大于或等于根据表1的系统等级的最小值。如果平均值（G/D）min在D-D0=2时不小于表1的最小值时，D-D0=2和4时G的平均值的降低不大于5%。1nm如果平均值（G/D）min在D0之上D=2时不小于表1的最小值时，测量的颗粒度的平均值可以超过表1值10%以计算测量偏差。1nm注1在D-D0=2处（G/D）min的值决定观片灯上底片显示的裂纹的人员识别能力。增加的G值可以补偿颗粒度，反过来说，降低的颗粒度可以补偿特定范围的低G值。而且，表1中D-D0=2时的（G/D）min在总大于G/D值。注2由于D-D0=2和4时的G值和D的改变，显影剂活性的改变将引起系统性

16、误差。不过，显影剂的效应不影响D-D0=2时的G/D值以及D-D0=2和4时的G值和D。因此D-D0=2时，G/D的不确定度小于D的不确定度。表1梯度、梯度-噪声比和颗粒度的限值胶片系统等级最小梯度Gmin,在最小梯度-噪声比（G/D）minD=2,D0之上最大颗粒度DmaxD=2,D0之上D=2,D0之上D=4,D0之上C14.57.53000.018C24.37.42300.020C34.16.81800.023C44.16.81500.028C53.86.41200.032C63.55.01000.039这个分类仅对完整的胶片系统有效。整体上来说，5.1中描述的对于X射线分类能够转化到其他辐射能量、金属屏类型、没有增感屏的胶片和单覆盖层胶片。证书应包含下述信息：本标准的参考；日期；灰雾度和本底之上的D=2和D=4时的梯度测量：灰雾度和本底之上的D=2的颗粒度度测量：灰雾度和本底之上的D=2时的Dd的计算值；灰雾度和本底之上的D=2时的剂量Ks；处理条件：手工或自动；化学品类型；显影剂浸入时间；显影剂温度；基于表1的分类。表2从D0之上的胶片黑度D=2时需要的剂量Ks（单位：戈瑞）确定的CEN速度S10g1KsCEN速度S从到-3.05-2.961000-2.95-2.86800-2.85-2.76640-2