材料研究方法

1、 3材料争辩方法王培铭，许乾慰其次章光学显微分析什么是贝克线？此移动规律如何？有什么作用？贝克线：在轮廓四周可以看到一条比较光明的细线，当升降镜筒时，亮线发生移动，这条较亮的细线称为贝克线。提升镜筒，贝克线向折射率大的介质移动。可以比较相邻两晶体折射率的相对大小什么是晶体的糙面、突起、闪突起？打算晶体糙面和突起等级的因素是什么？在但偏光镜下观看晶体外表时，可觉察某些晶体外表较为光滑，某些晶体外表显得粗糙 起；双折射率很大的晶体，在单偏光镜下，旋转物台，突起凹凸发生明显变化，这种现象称为闪突起因素是四周树胶折射率的不同引起的什么叫干预色？影响晶体干预色的因素有那些？是有白光干预而成。第一是光程差

2、 其次是光片厚度 第三是双折射率的大小11 如何提高光学显微镜分析的区分力量？第一：波长更短的照明光源其次：选用折射率大的材料阐述光学显微分析用光片制备方法取样：取样应当具有代表性，不仅包括争辩的对象而且包括争辩的特别条件镶嵌：对于一些外形特别或尺寸细小而不宜握持的样品，需进展样品镶嵌。磨光：去除取样时引入的样品表层损伤，获得平坦光滑的样品外表抛光：去除细磨痕，以获得平滑无疵的镜面并去除样品表层，得以观看样品的显微组织浸蚀：清楚的看到样品的显微构造分析近场光学显微分析的原理及与传统光学显微分析技术的异同号，再借助计算机才能把来自样品各点的局域光信号勾画出样品的图像。可以用肉眼或成像仪器直接观看

3、或放大了的物体图像光源逐点网络状照明样品然后由光电接收器承受这些信号点的局域光信号勾画出样品的图像。X1XXX。答：X 射线是一种波长介于紫外线和射线之间的电磁波。首先，X 射线具有很强的传透力量，可以穿透黑纸及很多对于可见光不透亮的物质。其次，X 射线沿直线传播，几时存在电场和磁场，也不能使其传播方向发生偏转。再次，X 射线肉眼观看不到，但可以是照相底片感光。最终，XX碰撞时间不行能全都，一次产生的电磁辐射也各不一样从而形成了各种波长的连续X 射线。特点强度大。特征 X续谱线的强度并可叠加于连续谱线上。3 X答：X 射线作为一电磁波投射到晶体中时，会受到晶体中原子的散射，而散射波就好似是从

4、向上，只有在特定方向上消灭散射射线加强而存在衍射斑点，其余方向则无衍射斑点。2dSin= 式中 n，角称为布拉格角，又称半衍射角。X中产生衍射，其入射角,晶面间距d必需满足布拉格方程。b(cos-cos)=K c(cos-cos)=L式中：H,K,L 均为整数，a,b,c5XX 射线粉末衍射法物相定性分析就是依据X 射线对不同种晶体衍射而获得的衍射角、衍射强度数据，对晶体物相进展鉴定的方法。过程：1首先用粉末照相法或粉末衍射仪法猎取被测试样物相的衍射图样。 2通过对衍射图样饿的分析和计算，获得各衍射线条的2 日，d 及相对强度大小I/I1使用检索手册，查寻物相PDF 卡片号。假设是多物相分析，

5、则在第3 步完成后，对剩余的衍射线重依据相对强度排序，重3留意的问题一般在对试样分析前，尽可能具体了解样品的来源、化学成分、工艺状况，认真观看其外形颜色等性质，为其物相分析的检索工作供给线索尽可依据试样各种性能，在允许条件下将其分别成单一物相后进展衍射分析试样为多相化合物，尽可能避开衍射线重叠，应提高粉末照相或衍射仪的区分率对于数据d 值，由于检索主要利用该数据，因此处理时要求精度高，且在检索时，只允许在小数点其次位才能消灭偏差特别要重视低角度区的衍射试验数据在进展多物相混合试样检验时，应急躁细致的进展检索，力求全部数据多能合理物相定性分析过程中，尽可能地与其他相分析试验手段结合起来，相互协作

6、，相互印证6X答：11X答 1.对粉末样品要求其颗粒平均粒径把握在5Um防止由于外加物理或化学因素而影响试样原有的性质试样板在压制试样时，留意不能造成样哦外表区域产生择优取向，以防止衍射线相对强度的变化而造成误差XX试述布拉格方程的含义及应用：如何利用德拜照相法对立方晶系物相经行分析：第四章电子显微分析1、如何提高显微镜区分本领，电子透镜的区分本领受哪些条件的限制？ 镜的区分本领。光学透镜：d0=0.061/nsin0.061/NA，式中：是照明束波长；nnsinNA在物方介质为空气的状况下，NA 值小于 1。即使承受油浸透镜(n=1.5；一般为 7075)， NA1.35。所以 d01/2

7、。因此，要显著地提高显微镜的区分本领，必需使用波长比可见光短得多的照明源。实际上，透镜的区分本领除了与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关球差。 2、透射电子显微镜的成像原理是什么，为什么必需小孔径成像？答：成像原理：质厚和衍射衬度。物镜的背焦平面上放一称为物镜光阑的小孔径的光阑来到达这个目的与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关球差。球差范围内距高斯像平面 3/4Zs处的散射圆斑的半径最小，只有 Rs/4。习惯上称它为最小截面圆。在试样上相应的两个物点间距为：rs=Rs/M=Cs3高斯平面rs=1/4Cs3 最小截面圆所在平面式中，Cs为电磁透镜的球差系数，rs或rs与球差系数Cs 成正比，

8、与孔径半角的立方成正比，随着的增大，区分本领也急剧地下降。 所以选择小孔径成像相对光学显微镜和投射电子显微镜，扫描电镜各有哪些特点？答：相对光学显微镜：景深较小，可直接用肉眼通过目镜观看，样品制备较简洁。透射电镜特点：区分本领高。 可直接观看大块试样。为什么透射电镜的样品要求格外薄，而扫描电镜无此要求？ 用穿过样品。X答：电子探针X能谱仪的特点：所用的Si(LiXX用率高，可达 10000 脉冲/s10-9A;而波谱仪仅几十到几百脉冲/s10-9A。能谱仪在低束流下(10-1010-12A)工作，仍能到达适当的计数率，束斑尺寸小，最少可达0.1m3，而1m3。23 分钟内完成元素定性全分析。能

9、谱仪不受聚焦圆的限制，样品的位置可起伏23mm。工作束流小，对样品的污染作用小。能进展低倍X 射线扫描成象，得到大视域的元素分布图。150eV10eV)。1001000。Si(Li)探测器必需在液氮温度(77K)下使用，维护费用高。10X答：电子探针仪的工作原理：莫塞莱(Moseley)定律=K/(Z-)2K 为常数 为屏蔽系数ZXX 射线的波长，就可确定相应元素的原子序数。又由于某种元素的特征X 射线强度与该元素X量。X布拉格方程：2dSin=11X，尤其透射电镜中的电子衍射的特点是什么？答：1.透射电镜常用双聚光镜照明系统，束斑直径为 12m，经过双聚光镜的照明束相干性较好。2500mm10005000mm。3统一起来，到达样品微区形貌分析和原位晶体学性质测定的目的。1、投射电镜主要由几大系统构成？各系统之间关系如何？答：四大系统:电子光学系统,真空系统,供电把握系统,附加仪器系统。 其中电子光学系统是其核心。其他系统为关心系统2.透射电镜中有哪