SMT实装电路板可测性的设计

1、SMT实装电路板可测性的设计SMT实装电路板可测性的设计参考对电路板可测性的要求：SMT的基板测试设计要求比传统元件的 要求更加严格。其缘故如下：被动零件的体积太小，且无引线。SMT的半导体用大量的50mil(甚至更小)的IC引脚代替100mil 。单位面积内的零件密度增加，使零件放置得更紧密，且大量地采纳两 面贴着零件。缺乏可提供测试的途径。SMT的基板测试不如传统的生产方式那样方 便，能自动地在焊接面(SOLDER SIDE)直截了当提供测试。因此在电路板设计未完成之前，应该考虑到可测性(TESTABILITY ) 和可生产性(PRODUCTABILITY)。可测性必须在产品进展早期时期就

2、考虑到如按照可测试性的要求，电路将保证其测试性。但偏移了设计参考的 指引或没有考虑到可测试性，虽可不能阻碍生产，但一定会造成如下情形：增加故障修理的时刻。提供不准确的测试结果。测试效率较低或测试应用较差。使用令人不中意的替代方法。最后的结果是增加生产费用，产生效益较低。但增加的成本不能转嫁 到消费者身上，否则公司的竞争力将会衰退。此设计参考目的是：提供讯息给基板设计者；同时也可用到表面 贴着技术上的治具制作。期望提供对测试性的保证及 FUNCTIONAL或IN- CIRCUIT 测试方法之最小限度的规则。对可测试性的考虑，可分为两个方向讨论：探测性的考虑（PROBING）电气设计的考虑（ELE

3、CTRICAL ）A.探测性的考虑（Probing Consideration）在下列的第一项参考中，所讲明的是阻碍探针与待测物（Device Unde rTest） DUT实际接触的最大可能因素。误插的分析尺寸是单点探针（ pear Head）、探针与贴着处（Mounting）之间的最严峻情形、有关于 DUT 放置排列上的误差、及测试点的直径。然而，没有考虑统计分析接触上的错误，因为在作任何测试点上的接 触错失所形成的误差是不被同意及造成测试无效。在较大的PC板中，下列的错误差将比小的基板更不容易操纵。距离误差直截了当地增加以达到与小基板相同，可靠的接触探针。提供精确的定位孔A,由 DUT

4、DATUM 至 TEST PAD 的误差应在士 0.05 mm 内。定位PIN的位置要严格要求，且每个固定PIN皆要求减小此项误差，如 果基板是整片的制造后再分开，DATUM孔就必需设定在主板及各块单独 的基板上。DATUM孔至少要两个，要精确的设定在主板上，用以提供生 产的精确度及随后的测试与可能的熏工（REWORK）。如果有空间考虑， 则可将DATUM孔放在可分离的Tabs上以提供制造的组立工作及 DUT的 测试。在装配零件、放置基板测试上，一定要采纳相同的DATUM孔以证探针的准确性。B .至少在DUT上放置二个以上的定位孔，距离越远越好，每个孔的 误差应在士 0.05 mm。定位孔最好

5、在相对的对角线上，以取得最好的探测精度，同时必 须在第一时期的钻孔作业中执行。定位孔不能够基板的边缘定位，因为基 板外型的距离通常是无精确的操纵以取得精确的 DATUM。定位应该至少为3.1mm的直径孔，使治具能稳固的坚持及校正基板。 如果需要用到双面治具的方式时，定位孔必须够长，以穿过治具的压板。C.定位孔的直径误差必须在+ 0.08mm和-0.01mm以内。最好采纳非金属的定位孔（不镀锡或金）以减少因焊锡的增厚而不能 达到的公差要求。喷锡或镀金的贯穿孔是专门难操纵的。PC B图一定位的误差示意图参考二测试点的直径不可小于 0.89/1.00mm。采纳参考一的误差范畴，此为保证探针接触性的最

6、小测点的直径。 阻碍测试点的因素有：定位的精确性、基板制造程序、基板大小的物理性。 如采纳较小的基板（12IN平方内），那用较小的测试点（0.61mm）是可能的, 但设计者最好确认一下治具的价格及设计规格的公差。图二显示Pad-to-Pad最小限度的距离要求.035 ”(0.89mm).015 SEPARATION(0.38mm)圈二最小的黑占位置要求DUT探测侧的零件高度不可超过 6.4mm基板测试侧的高零件，能够针对治具、挖孔或排架。尽管如此能 够适用，但特别处理所产生的成本、及减少治具强度的缺失要考虑，治具 挖孔也会限制测度探针的放置性。治具挖孔最好将测试点放在零件周围 5.0mm外，以

7、防止偏差c参考四 在DUT边缘3.2mm范畴内不可放置零件或测试点。如此能够保证零件可不能干涉治具及探金十。通常在输送带式的生 产设备，SMT设备也同样要求可使用的边缘关系。参考五 在每个测试点环状周围0.46mm内，不可有零件或其他障 碍物这是在防止当最坏的误差产生且探针不是使用单尖针的头时，会 将零件或测试点短路，这是假设没有超过 6.4mm高度的零件。如果有高的 零件在测试点5.1mm范畴内时，应该幸免有放置探针座的空间存在。请参 考图三及图四。当零件大于0.250IN高度时，测试点的自由空间COMPONENTHEIGHT0.04.255”0.24(6.4mm)FREE AREAheig

8、ht.200 ”(5.08mm)m0.2.200 (5.08mm)TALL COMPONENTFREE AREA.图三高零件与测试点的位置关系（高度大于0.255 ）SIDEVIEW当零件没有大于0.25IN高度时PADVITOPVIEWPAD0.18.018”图四TESTPAD与其他布线的关系.018”(0.46mm)(0.46mm)COMPONENT FREE AREA零件面的测试点边缘至少0.1mm范畴内不能有任何零件这是幸免撞击零件，造成探针或零件的被破坏。参考七所有探测范畴最好镀锡或是相等且可不能氧化的传导物锡点是被证实为最好的探测原料，锡点的氧化物较轻且易贯穿, 能够提供好的探测接

9、触，也可关心延长探针尖端的寿命。参考八测试点不可被防焊或油墨覆盖如果测试点份被防焊或文字油墨覆盖，则此区可使用的接触点将(参考被缩小。对采纳较大接触头的探针，如锯齿或皇冠状，将防碍接触。 图五A及五B),ACTUAL PROBE AREA LESS THAN.035 ”ll / /SOLDER RESISTSOLDER RESIST*.035”今 (.89mm)图五A PAD与防焊情况PROBE TIP SOLDER RESIST.035”(.89mm)SOLDER PAD图五B探针与防焊情况参考九所有贯穿孔，应该被填满 压床式之治具不在此限填满所有的孔，可减少真空式治具空气的外泄，且预防单尖

10、型的 探针刺入空的小孔。如不填满这些孔，也会助长探针断续的接触，因为当 空气由这些未填满的小孔（VIAS）外泄时，探针可能会污损且造成断续的接 触。没有填满的孔在组立测试时，需用橡皮垫子或其他替代物覆盖。 如此能够保证真空的密封性及治具的操作，如此可能会阻碍治具修改或测 试侦错时的测试工作。如采纳回流焊锡方式，在基板的空间承诺下，能够依不同需求区 分，将VISA用防焊覆盖上，以锡覆盖测试点。参考十在定位孔的环状周围3.2mm内，不可有零件或测试点这是用以预防从治具上移开或放置基板时，对零件的损害。十一幸免在零件或零件脚上探测，应探测测试点或VIAS探针接触的压力可能引起 OPEN,或使冷焊接合

11、处变为好的。零件贴着位置的变化，也可能造成探针目标不准，造成治具引起的短路或探 针的损坏。参考十二 幸免在两侧探测，尽可能利用VIAS将测试置于同一边（以 非零件侧为佳 SOLDER SIDE）最好将基板设计成只需用非零件面测试，如此可使用较简单廉价 更可靠的治具，双面治具的制作、故障排除，有许多的限制性困难。参考十三探针点间距（中心距离）最好在2.54mm以上，最好不要小于 1.27mm。距离测试点中心较宽的测试点，能够使用较低成本（可信任的探 针）。同时钻孔及治具的绕线费用也较廉价。配合 1.27mm空间的较小探针 较贵、较不可信任，且易受损。参考十四 若以Visa为TEST PAD时两面

12、要开防焊。以Visa为TEST PAD时，上下两面要开防焊，测试侧开防焊是防 止油墨覆盖上，另一侧开防焊则为防止油墨，经由贯穿孔流到测试侧而阻 碍测试。B .电气设计的考虑（Electrical Design Considerations）除了上述的探测外，如再加上电气的参考，可使可测性更为提升。参考一每个电气节点都必须有一个测试点1.节点的定义：指二个或二个以上，Analog或Digital零件的连接点包 括：IC、CONNECTOR脚这些不被使用的部份。而测试点也提供所有的I/O、POWER、GROUND 及信号(Return Signal)。每个IC也必须有POWER及GROUND的测试

13、点，且尽可能接近此零 件。当治具有更多的POWER及GROUND时，就可附加一些测试点。一样而言，POWERN及GROUND最好在距离IC 2.54mm范畴内。当测试频率超过 5MHz 时，将需要在每个IC上放置POWER及GROUND,以便取得更佳的电源。注意：Jumpers(0Q电阻)、保险丝、Switches被当作两端元件，由二个 电气节点连接，因此每个接点皆须有测试点。参考二 不要依靠EDGE CONNECTOR或电路的TRACE为测试点在EDGE CONNECTOR的接脚处或电路的TRACE上探测，会产生差 和不可依靠的接触性.金手指也专门容易被探针损害。最好的途径是采纳分离的焊锡式

14、测试点。 如必须直截了当探测TRACE 时，可把要导通点的TRACE放大到40mil宽。参考三 将TEST PADS均衡地分布在 PC BOARD上如果探针没有均衡的分布在压板上或集中在一区域时，高的压力会使DUT或治具变弯曲。如此会造成部份探针不能接触到测试点，结果可能产生真空密封的咨询题或基板破旧。因此要尽量将探针均匀地分布在治 具上。不要把IC的操纵线直截了当以COMMON RESISTOR接于 GROUND 或 VCC 上在CPU的部分，至少有三种要紧型态的点要考虑到：(1)External instruction access pin(EA)(2)Initialize pin(3)u

15、tputs enable pin在基板设计的时候，能够考虑将操纵端OPEN串接防止NOISE用的电 阻，不要对造些信号线采纳COMMON电阻方式，尽可能使用Pull-Down或 Pull-Up 的电阻隔离。2-1Probing 的考量NO.DESCRIPTIONSPECIFICATION一提供精确的定位孔(TOOLING HOLES)A由DUT DATUK TEST PAD间的误差0.05mmB在DUTM置两个TOOLING HOLES两者距 离越远越好且不同边0.05mmC TOOLING HOLE!勺直径误差+0.89/-1.00mm二PROBE PADS 直径+0.89/-1.00mm三

16、在PROBE SIDE勺所有零件高度不口超出6.4mm四在DU硒边缘不可有零件或TEST PADS3.2mm五在每彳固TEST PAD勺环状周围不可有零件及其他 遮挡物0.46mm六在零件面的TESTPADSi边缘需与零件保持距离1.0mm七所有PROBING）区域应该SOLDECOATED相等之传导物，表面不口氧化八TEST PADSb nJ防空早或被铭宇油墨覆盖九所有THROUGH-HOLES满真空式治具适用十在TOOLING HOLES勺环状周有零件与 TEST PADS3.2mm一PROBE TEST PADS引线，不可在零件或零件脚 上十二幸免在雨侧PROBING利用弓I线将TEST POINT 引至另一边（SOLDERS最佳）S十三各PROBE PADS的距离最小不要小于1.27mm2.54mm以上最佳2-2电路测试的考虑NODESCRIPTION在每个电路节点都需要有