SPC培訓教程ppt课件

1、SPC培训教程一、继续改良及统计过程控制概述二、SPC根底三、计数型数据控制图产质量量动摇及其统计描画产质量量特性定性定量延续离散计量值计数值计件值计数值变 异误差 =X-X0偶尔性误差：误差大小和方向的变化是随机的。系统性误差：误差大小和方向的变化坚持不变或按一定规律变化。过程控制中常用精度这个概念来反映质量的动摇变异程度。精 度精度又可分为：准确度(Accuracy)：反映系统误差的影响程度；精细度(Precision)：反映偶尔误差的影响程度；准确度(Uncertainty)：反映系统误差和偶尔误差综合的影响程度精度的概念准确度好精细度好系统误差小偶尔误差小准确度差精细度高系统误差大偶尔

2、误差小准确度高精细度差系统误差小偶尔误差大准确度差精细度差系统误差大偶尔误差大继续改良及统计过程控制概述预防与检测过程控制系统变差：普通缘由及特殊缘由部分措施和对系统采取措施过程控制和过程才干过程改良循环及过程控制控制图：过程控制工具控制图的益处继续改良及统计过程控制概述之一检测与预防过程控制的需求检测容忍浪费预防防止浪费继续改良及统计过程控制概述之二过程控制系统我们任务的方式资源的交融产品或效力顾客识别不断变化的需求和期望顾客的声音 人 设备 资料 方法 环境 输入过程/系统输出过程的声音统计方法有反响的过程控制系统模型继续改良及统计过程控制概述之三变差的普通缘由及特殊缘由SPC根底SPC

3、(Statistical Process Control) 统计过程控制：利用统计技术对过程中的各个阶段进展监控，从而得到保证产质量量的目的。二十世纪二十年代美国休哈特(W.A.Shewhart)首创过程控制(Process Control)实际极其监控过程的工具控制图(Control Chart)构成SPC的根底，后扩展到任何可以运用的数理统计方法。控制图(Control Chart)：对过程质量特性记录评价，以监察过程能否处于受控形状的一种统计方法图。1924年5月6日休哈特提出的不合格样品率P控制图为世界第一张控制图。产质量量的统计观念一产质量量具有变异性 影响产质量量的要素有6M Ma

4、n: 人 Machine: 机 Material: 料 Method: 法 Mother-nature: 环 Measurement: 测无论人类社会如何提高开展，产质量量不能够坚持绝对恒定，一定具有变异性。产质量量的统计观念二产质量量的变异具有统计规律性 确定性景象，确定性规律：在一定条件下，必然发生或不能够发生的事情。如一个大气压760mm汞柱下，H2O的变化规律。 温度 0固体形状 温度 0 t 25)计算每个子组的不合格率p记录每个子组的以下值被检工程的数量n发现的不合格工程np计算不合格率p=np/p选择控制图的坐标刻度1.52倍将不合格品率描画在控制图上不合格率的p图计算控制界限计

5、算过程平均不合格品率P=计算上、下控制界限UCL、LCLUCL=p+3LCL=p-画线并标注过程平均程度实线控制线路UCL、LCL程度虚线、变化表示图时间特性值不变倾向性变化、变化表示图时间特性值不变无规律变化、变化表示图时间特性值规律性变化不变、变化表示图时间特性值无规律变化不变、变化表示图时间特性值无规律变化无规律变化X-R控制图计量值最常用、重要的控制图适用范围广：X图：X正态X正态X非正态近似正态中心极限定理中心极限定理使得X图广为运用。R图经过计算机上的模拟实验证明：只需X不是非常不对称，那么R的分布无大的变化。X-R控制图灵敏度高X图：X经过平均R图：无此优点偶因至少可以部分抵消偶

6、因反映在上异因不变灵敏度高异因突出X图的控制线设过程正常，xN(，2)那么可证明 XN(，2/n)，n为样本大小假设、知，那么X图的控制线为UCL=CLLCL假设、未知，那么需对其进展估计，即A.搜集数据A1 选择子组大小、频率和数据A2 建立控制图及记录原始数据A3 计算每个子组的均值X和极差RA4 选择控制图的刻度A5 将均值和极差画到控制图上A1选择子组大小、频率和数据子组大小使各样本之间出现变差的时机小在过程的初期研讨中，子组普通由45件延续消费的产品的组合，仅代表一个单一的过程流。子组频率在过程的初期研讨中，通常是延续进展分组或很短的时间间隔进展分组过程稳定后，子组间的时间间隔可以添

7、加。子组数的大小普通100个单值读数，25个子组A2建立控制图及记录原始数据X-R 图通常是将X图画在R图之上方，下面再接一个数据栏。X和R的值为纵坐标，按时间先后的子组为横坐标。数据值以及极差和均值点应纵向对齐。数据栏应包括每个读数的空间。同时还应包括记录读数的和、均值X、极差R以及日期/时间或其他识别子组的代码的空间。A3计算每个子组的极差和均值画在控制图上的特性量是每个子组的样本均值X和样本极差R，合在一同后它们分别反映整个过程的均值及其变差。对每个子组，计算：式中：X1，X2为子组内的每个丈量值。N为子组的样本容量。A4选择控制图的刻度两个控制图的纵坐标分别用于X和R的丈量值。X图：坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值勤X的最大值与最小值差的2倍。R图：刻度值应从最低值为0开场到最大值之间的差值为初始阶段所遇到的最大极差R的2倍。A5将均值和极差画到控制图上将均值和极差分别画在其各自的