材料微区测试平台 文档

1、材料微区分析平台平台目前拥有的仪器有：冷场发射扫描电镜（CFSEM）、热场发射扫描电镜（TFSEM）、S-520扫描电镜（SEM）、电子探针（EPMA）、X射线粉末衍射仪（XRD）、X射线单晶衍射仪（SXRD）、微区X射线荧光光谱仪（- XRF）、以及冷冻干燥仪、临界点干燥仪等配套的扫描电镜制样设备。可以进行各类材料表面形貌、微区结构和元素成分及材料的物相和结构分析等。平台人员专业技术力量强，实力雄厚，在材料微区形貌结构、成分分析和物相、结构分析及其各类电镜的维修等方面都具有丰富的经验；平台学术气氛浓厚，承担了国家自然科学基金和广东省自然科学基金多项；平台人员精诚合作，改革创新，竭诚为校内外提

2、供优质的服务。 人员具体情况如下：姓名职务/职称工作职责联系电话电子邮箱赵文霞平台主任/   副研究员主持平台全面工作/ 电子探针84115809zhaowx李阳研究员单晶数据处理 84110195liyang223 许瑞梅实验师冷场发射扫描电镜、S-520扫描电镜84110783pusxrm程小宁实验师热场发射扫描电镜、S-520扫描电镜84110783chengxn7徐 艳高级工程师X射线粉末衍射仪、微区X射线荧光光谱仪84110782xuyan冯小龙工程师X射线单晶衍射仪、微区X射线荧光光谱仪84110782pusfxl梁超伦实

3、验师透射电镜84110195liangchl黄烘工程师透射电镜84110195huangh27张浩助理实验师透射电镜84110195zhhao26  热场扫描电镜/能谱/背散射 型 号：Quanta 400/INCA/HKL热场发射扫描电镜/ X-射线能谱仪/电子背散射衍射系统 (Thermal FE Environment Scanning Electron Microscope/ Energy Dispersive X-RAY Spectrometer，EDS/ Electron Backscatter Diffraction，EBSD) 生产厂家：荷兰飞利浦FEI公司

4、/ Oxford (英国牛津公司) / HKL (丹麦HKL公司，现属于英国牛津公司) 主要技术指标：1、电镜的分辨率：2 nm 放大倍数：7 500,0002、扫描电镜分辨率：30kV高真空、低真空: 2.0nm；3kV低真空: 3.5nm 3、30kV透射扫描（STEM）分辨率：1.5nm；环境真空模式下30kV时，分辨率2.0nm4、能谱元素分析范围：5B92U 5、EBSD空间分辨率(Al, 20kV): 0.1 m FEG SEM；角度分辨率优于0.5度6、相鉴定功能：包括七大晶系，具有最大的相鉴定数据库  应用范围：Quanta 400 FEG场发射扫描电子显微

5、镜是表面分析重要的表征工具之一，具有灵活先进的自动化操作系统。具有三种成像真空模式-高真空模式、低真空模式和ESEMTM模式，可以观察分析各种类型的样品。它可以对处理过的样品和未处理的原始样品提供微米、纳米级表面特征的图像和微观分析数据。在生物学、地质、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、考古以及其他领域中得到日益广泛的应用。本仪器还配有INCA X-射线能谱仪和EBSD背散射电子衍射系统，元素分析范围为4Be92U，同时可进行晶体结构和取向分析。该仪器上是集多领域手段于一体的显微形貌、显微成分、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。 样品要求：各种类型的尺寸小于5cm×

6、;5cm×5cm（尺寸毫米级为宜）的干燥固体样品  联系方式：020-84110783300kV 透射电子显微镜 型 号：Tecnai G2 F30 300 kV 透射电子显微镜 生产厂家：美国FEI公司主要技术指标：1、加速电压 200 kV300 kV  2、点分辨率（nm）0.203、线分辨率（nm）0.1024、信息限度（nm）0.145、TEM放大倍数范围 60 -1，000kx6、相机长度（mm）80 - 4，5007、最大衍射角度 ±128、STEM HAADF分辨率（nm）0.199、ST

7、EM放大倍数范围 150 -230Mx10、能谱分辨率   136 eV11、能量过滤器分辨率: 0.9 eV应用范围：FEI公司Tecnai G2 F30场发射透射电子显微镜是一个真正多功能，多用户环境的300 kV场发射透射电子显微镜，它将各种透射电镜技术，包括CTEM, SAED, STEM, EDX, EELS有机组合，形成强大的分析功能，可在原子尺度上提供纳米材料的内部结构、电子结构及化学环境等信息，同时可对材料组成元素进行线分布和面分布分析，获得高空间分辨率的定性、定量信息。 样品要求：样品厚度需低于200 nm。微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴

8、样。由于该仪器是高分辨分析型电镜，为确保仪器高空间分辨率的特性，目前主要接受材料领域的样品，暂不接受磁性样品、易挥发、有毒及带有辐射性样品。 联系方式#160; 梁超伦 老师(锐影)X射线衍射仪型 号：Empyrean X射线衍射仪生产厂家：荷兰帕纳科公司生产的Empyrean（锐影）X射线衍射仪广泛用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、K1射线数据测量以及其它参数测定。       主要技术

9、指标：1、功率3 kW2、最小扫描步长0.0001°3、2q线性±0.01°4、角度重现性0.0001°5、测角范围(2) 0.1°140°。 应用范围：广泛用于无机物、有机物（部分）、高分子、药物及矿物等多晶样品的分析。可进行物相定性、晶粒度测定、纳米材料颗粒分布、长周期测定、取向度测定、晶型鉴别、K1射线数据测量以及其它参数测定。 样品要求：送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。粉末样品需要量约为0.5 g（视其密度和衍射能力而定）；块状样品要求具有一个面积小于1.8 cm X1.8 cm

10、的近似平面；薄膜样品要求有一定的厚度，面积小于1.8cm×1.8 cm。               联系方式#160;冯小龙 老师120kV 透射电子显微镜型 号：Tecnai G2 Spirit 生产厂家：美国FEI公司主要技术指标：1、加速电压20 kV120 kV 2、点分辨率 TWIN 0.34 nm，3、线分辨率 TWIN 0.20 nm ，4、最大全对中倾角 TWIN +/- 70o

11、，5、TEM放大倍数 TWIN 18.5倍 650,000倍。应用范围：加速电压20 kV120 kV 属于轻元素生物体研究的理想范围，最大程度地减少了对脆弱生物结构的射束损坏；可自动执行众多常规操作程序，操作简单；侧面和底部都安装有嵌入式 CCD 相机，能瞬间生成高品质图像。样品要求：除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄法（包括离子和双喷减薄等）和超薄切片法。一般情况下，物理减薄法的样品制备过程须由用户自己完成，不具备此制样条件的院系，可预先与本仪器室联系；超薄切片样品的制备周期较长，需一个月左右。联系方式#16

12、0; 张浩 老师微区X射线荧光光谱仪 型 号：Eagle III XXL µProbe微区能量色散X射线荧光光谱仪生产厂家：美国EDAX公司主要技术指标：1、可检测元素 11Na - 92U2、光斑直径100µm，300µm3、浓度范围在ppm级至100%的范围4、可以在真空下或大气压下进行检测5、超大型样品室700mm×700mm×700mm；可以进行面扫描与线扫描元素分布分析 应用范围：主要用于金属材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品质量控制、宝玉石鉴定、考古和文物鉴定、公安刑侦物证元素分析等。优势在于可以对上述样品局部进行最

13、小到100微米局部范围内元素定性和半定量无损分析。联系方式：84110782 冯小龙老师X-射线单晶衍射仪型 号：Smart 1000 CCD X-射线单晶衍射仪（Single Crystal Diffractometer） 型号：Smart 1000 CCD 生产厂家：德国Bruker公司   主要技术指标：1、功率 3kW2、Mo 靶 应用范围： 用于测定各种无机物、有机物的晶体结构。可以获得样品的晶胞参数、键长、键角、构象、氢键、分子间堆积作用等信息。 样品要求：1、送检样品必须为单晶2、选择晶体时

14、要注意所选晶体表面光洁、颜色和透明度一致3、不附着小晶体，没有缺损重叠、解理破坏、裂缝等缺陷4、晶体长、宽、高的尺寸均为0.1 0.4mm ，即晶体对角线长度不超过0.5 mm（大晶体可用切割方法取样，小晶体则要考虑其衍射能力） 联系方式 场扫描电镜型 号：JSM-6330F 冷场发射扫描电子显微镜 （Field Emission Scanning Eletron Microscope） 生产厂家：日本电子株式会社主要技术指标：1、分辨率：1.5nm2、放大倍数：x10 x500,0003、样品尺寸：< 8 mm x 5 mm4、最大尺寸：

15、< 100 mm x 6 mm 应用范围：广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品生产质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定及公安刑侦物证分析。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。该仪器的最大特点是具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像，并能即时打印或存盘输出，是纳米材料粒径测试和形貌观察最有效仪器。也是研究材料结构与性能关系所不可缺少的重要工具。 样品要求：1、送检样品必须为干燥固体、块状、片状、纤维状及粉末状均可2、应有一定的化学、物理稳定性

16、，在真空中及电子束轰击下不会挥发或变形；无磁性、放射性和腐蚀性3、含水分较多的生物软组织的样品制备，要求用户自己进行临界点干燥之前的固定、清洗、脱水及用醋酸（异）戊酯置换等处理，最后由本室进行临界点干燥处理4、观察图像样品应预先喷金膜。一般情况下，样品尽量小块些（ 10 x 10 x 5 mm较方便）5、粉末样品每个需1克左右6、纳米样品一般需超声波分散，并镀铂金膜 送样须知：送样检测请先到测试中心业务办公室登记。需自己上机观察者，请与电镜室预约机时。技术问题可直接与电镜室联系。扫描观察样品和用滴样法制备透射观察样品，请提前半天到电镜室制样。按中心规定，请在办理缴费手续后取结果。未经

17、同意，三个月以上未结帐的用户，将会影响该单位用机预约安排。 联系方式子探针 型 号：JXA-8800R电子探针（Electron Probe Micro-analyzer） 生产厂家：日本电子株式会社  主要技术参数：1、元素范围： 5 B 92 U2、波长范围： 0.087 nm 9.3 nm3、分 辨 率： 6 nm（(二次电子像）4、样品尺寸：< 8 mm x 5 mm5、最大尺寸： < 25 mm x 10 mm6、薄片样品： 50 x 25 x 1 mm 应用范围：  

18、60;    电子探针可以对试样中微小区域（微米级）的化学组成进行定性或定量分析；可以进行点、线扫描（得到层成分分布信息）、面扫描分析（得到成分面分布图像）；还能全自动进行批量（预置9999测试点）定量分析。由于电子探针技术具有操作迅速简便（相对复杂的化学分析方法而言）、实验结果的解释直截了当、分析过程不损坏样品、测量准确度较高等优点，故在冶金、地质、电子材料、生物、医学、考古以及其它领域中得到日益广泛地应用，是矿物测试分析和样品成分分析的重要工具。 样品要求:1、定量分析的样品必须磨平抛光、清洗干净，如样品不能进行表面磨平抛光（将影响分析精度

19、）处理应事先说明2、为测试方便和节约机时，样品应先切成小薄片，不能切割制样，必须先与测试人员商量3、应先标记好分析面上的测试点，无标记测试位置时，测试时只选有代表性、较平整位置测试4、液体样必须先浓缩干燥5、分析的样品必须是在高能电子轰击下物理和化学性能稳定的固体、不分解、不爆炸、不挥发、无放射性、无磁性6、送样时最好注明样品可能包含什么元素7、样品必须喷涂一层碳膜送样须知：送样检测请先到测试中心业务办公室登记。需自己上机观察者，请与电镜室预约机时。技术问题可直接与电镜室联系。扫描观察样品和用滴样法制备透射观察样品，请提前半天到电镜室制样。按中心规定，请在办理缴费手续后取结果。未经同意，三个月

20、以上未结帐的用户，将会影响该单位用机预约安排。联系电话-520 扫描电镜/能谱 型 号：S-520 / ISIS-300扫描电子显微镜/ X-射线能谱仪（Scanning Electron Microscope/Energy Dispersive X-ray Spectrometer)    生产厂家：Hitachi/Oxford 主要技术指标：1、分辨率：6 nm 2、放大倍数：20 200,000 3、样品尺寸：< 8 mm x 5 mm 4、最大尺寸：< 100 mm x 6 mm

21、0;5、元素范围：11 Na 92 U 6、含量一般要求大于0.5% 应用范围：扫描电子显微镜/X-射线能谱联用仪，是一种多功能、多用途、超显微、形貌与成份分析相结合的现代显微分析仪器。广泛用于生物学、医学、金属材料、高分子材料、化工原料、地质矿物、商品检验、产品质量控制、宝石鉴定、考古和文物鉴定、公安刑侦物证分析等。可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、亚微米局部范围内的表面特征和微米区域成份的定性和半定量分析。 样品要求：1、送检样品必须为干燥固体，块状、片状、纤维状、颗粒或粉末状均可2、应有一定的化学、物理稳定性，在真空中及电子束轰击下不会挥发

22、或变形；无磁性、放射性和腐蚀性3、对含水份较多的生物软组织样品，要求用户预先进行临界点干燥前的固定、清洗、脱水及用醋酸（异）戊酯置换等处理。最后再由本室进行临界点干燥处理4、图像观察样品应预先镀金膜，成份分析样品必需镀碳膜5、一般情况下 ,样品体积不宜太大（ 5 x 5 x 2 mm 较适合） 送样须知：送样检测请先到测试中心业务办公室登记。需自己上机观察者，请与电镜室预约机时。技术问题可直接与电镜室联系。扫描观察样品和用滴样法制备透射观察样品，请提前半天到电镜室制样。按中心规定，请在办理缴费手续后取结果。未经同意，三个月以上未结帐的用户，将会影响该单位用机预约安排。 联系方式： 020-84110783200kV 透射电子显微镜 型 号：JEM-