ICT测试分析程序制作.ppt

1、VayoPro-Test Expert （测试专家）,上海望友信息科技有限公司,Vayo (Shanghai) Technology Co., Ltd.,全球合作总监: Howard Liu 邮箱: HowardL,望友公司简介,公司成立于2005年1月份 公司位于上海浦东先进制造技术创业园区（到浦东国际机场约20分钟车程） 望友是一家专注于电子制造业的专业软件公司，目前已拥有7个自主版权软件产品 望友的工程师主要来自全球性的领先电子制造企业，有着丰富的专业知识及行业背景 曾于2009年获得政府创新基金奖励支持,VayoPro系列产品,VayoPro NPI信息化协同系统 新产品导入过程管理&

2、协同工作平台 VayoPro 新产品导入过程必要应用软件 VayoPro-DFM Expert: (可制造性分析) VayoPro-SMT Expert: (各种贴片机程序快速制作及转换、数据校验) Vayo-Flexa加速器: (Fuji Flexa编程加速器) VayoPro-Test Expert: (快速DFT分析、ICT/FP/AOI/X-Ray编程) VayoPro-Document Expert: (工位作业指导书制作) VayoPro-View Expert: (Test/SMT/QA/PE/IE等PCB板信息快速查询) VayoPro-AI Expert: (自动插件设备快速

3、编程),* VayoPro系列软件兼容Windows 7.,部分参考客户,全球范围代理与合作,代理伙伴: 12 欧洲: 4, 东南亚及南亚: 3, 中国: 4, 美国:1 设备或软件合作伙伴: 7 Agilent, ViTrox, Fuji, Takaya, SinicTek, Panasonic, Eastwell,代理伙伴,合作伙伴,飞针测试程序快速制作,VayoPro-Test Expert DFT分析、ICT/FP/AOI/X-ray快速编程,PCB CAD数据源,AOI/X-Ray快速编程,支持20种CAD 智能识别类型 数据校验,版本比较,PCB版本差异 验证ECO/ECN 测试夹

4、具再利用,DFT/测试覆盖率分析,丰富的选针规则 优化的测试覆盖率 几秒钟产生DFT报告,丰富的可测率报告,强大的拼板功能 可与机器Library集成 可扩展的输出,测试类型自动分类 测试夹具数据分析 优化的输出结果,ICT测试程序快速制作,全面的测试信息 优化的测试输出 几分钟产生结果,Nets/Part/Pin报告 并联元器件报告 其他报告,BOM分析处理,支持多种格式 CAD/BOM校验 智能提取值/误差,数据源分析,1,CAD导入,2,BOM分析处理,3,版本比较,支持20种CAD Cadence, Zuken, Altium/Protel, Mentor, PowerPCB, Vis

5、cadif, Orcad, P-cad, IPC-D-356, FATF, GenCam, ODB+, Gencad. 智能识别CAD文件类型,数据源分析：PCB CAD导入,支持多种BOM格式 Excel, text BOM/CAD融合校对 元器件数量不匹配 重复的料号 在BOM但不在CAD元器件 智能提取值/误差等数据 减少人工录入时间及错误,Excel格式BOM数据源,解析规则,解析报告,数据源分析：BOM分析处理,比较CAD版本差异 元器件差异报告 网络差异报告 测试点差异报告 验证ECN/ECO 最大化共用测试夹具,数据源分析：版本比较,数据源分析：软件界面,展现真实PCB 流程化操

6、作导引 易学易用 交互化信息显示 查询和定位 高亮/闪烁,DFT/测试覆盖率分析,4,测试选针规则,5,结果查询及分析,6,强大的报告,优先级规则 正反面规则 测试点及过孔规则 测试针数量规则 100/75/50 mil测试针 强制/条件下针规则 安全距离规则,灵活的规则设定：,DFT/测试覆盖率分析: 测试选针规则,DFT/测试覆盖率分析：测试针准确性验证 阻焊层Gerber数据融合检查,Signal Layer,Mask Layer,Signal + Mask,NO Access,New Test Point,现状：PCB裸板制造工艺原因导致部分测试位置被阻焊层覆盖 测试点自动检查：铜箔是

7、否暴露 自动建议新测试点位置：添加测试点 (支持Agilent ABPT),*.目前业界仅望友软件提供此功能。,CAD数据,Gerber数据,DFT/测试覆盖率分析：网络优化 (Net Link),多个网络融合为一个网络 融合条件：0欧姆电阻、开关、保险丝 益处：提升测试覆盖率、减少测试针数量,R5: 0ohm,Net 1,C1.1,TP1.1,R5.1,Net 2,C9.1,R5.2,NetLink_Net 1,C1.1,TP1.1,R5.1,C9.1,R5.2,DFT/测试覆盖率分析：结果查询及分析,Auto link,测试选针结果查询 查询方式 按未选针原因 按网络名/编号 按测试针号

8、未选针原因分类 铜箔暴露过小 靠近元器件 靠近板边 靠近定位孔 与Layout交互显示位置,统计分析报告 网络/元器件/引脚分析报告,DFT/测试覆盖率分析：丰富的报告输出,未测试网络/元件分析报告 并联分析报告 Excel、html等格式输出,DFT/测试覆盖率分析：丰富的报告输出,Layout与原理图互动查询,板故障快速诊断及维修,原理图交互查询,Interactive,7,ICT测试程序,8,飞针测试程序,9,AOI/X-Ray检测程序,测试程序快速制作,测试程序快速制作：ICT/MDA,ICT/MDA Tester: Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TR

9、I, Checksum, MTS, JET, Hioki, IFR, SRC, ,测试夹具数据分析 测试类型定义自动分类 多种测试选针策略 智能提取值/误差等数据 计算并联元器件,智能提取值/误差,节省30%50%在线Debug时间,ICT/MDA Tester: Agilent, Teradyne/GenRad, Spea, TRI, Checksum, MTS, JET, Hioki, IFR, SRC, ,测试夹具数据分析 测试类型定义自动分类 多种测试选针策略 智能提取值/误差等数据 计算并联元器件,测试针胶片图优化 针号显示间隔 针号绕线路径 区域分布视图,夹具数据输出 Nails数

10、据 CNC钻孔数据 DXF针位图 Parts数据 载板数据,ICT测试程序快速制作：夹具数据分析,ICT快速编程：测试类型自动分类,Apply,元器件名称自动分类 自动匹配测试模式 支持用户自定义设置 支持多客户/多设备设置并存 自动防错校验,测试程序快速制作：飞针测试,飞针设备：TAKAYA, SPEA, HIOKI, SEICA, Acculogic, ,支持各种测试模式 可配置输出结果 Outline/pin/sensor偏移设置 计算并联值 优化的测试程序/结果,节省80%程序制作时间,飞针测试编程：Outline/Pin/Sensor偏移设置,Outline/Pin/Sensor偏移微调 测试针位置自动偏移 自动产生open-check sensor位置数据,节省50%在线Debug时间,测试程序快速制作：AOI/X-ray,X-Ray & AOI: Agilent 5DX/SJ50, ViTrox V810 &V510, Omron, VI Technology, Orbotech, Viscom, TRI, Landrex, ,强大的拼板功能 可与设备Library集成 可扩展的输出,节省30%60%程序制作时间,AOI/X-ray快速编程：拼板,子母拼板 矩阵拼板 多角度拼板 阴阳拼板 不同产品拼板,方便，快捷,