X线头影测量分析

X线头影测量分析

CephalometricsAnalysis

X线头影测量分析第1页介绍1934年HofrathandBroadbent提出

我国于20世纪60年代初利用于临床CompanyLogoX线头影测量分析第2页经过测量X线头颅定位摄影所得影像,对牙颌、颅面各标志点描绘出一定线角进行测量分析,从而了解牙颌、颅面软硬组织结构,使对牙颌、颅面检验诊疗由表面形态深入到内部骨骼结构中去,它是正畸临床诊疗及治疗设计一个主要伎俩.

X线头影测量分析

简言之：经过对X片进行分析、测量，从而了解牙颌、颅面骨骼及软组织发育情况及相互关系

。CompanyLogoX线头影测量分析第3页一、主要应用研究颅面生长发育牙颌、颅面畸形诊疗分析确定错牙合畸形矫治计划研究矫治中，矫治后改变外科正畸诊疗和矫治设计下颌功效分析CompanyLogoX线头影测量分析第4页1.研究颅面生长发育

不一样个体同一年纪段—横向研究颅面发育同一个体各年纪段---纵向研究颅面发育明确了颅面生长发育机制，快速生长久年纪、及对颅面生长发育预测。

---“颅面生长发育”章节CompanyLogoX线头影测量分析第5页经过X线对正常牙合人颅面结构进行分析得出正常牙合各项测量参考标准作为诊疗分析基础2.牙颌、颅面畸形诊疗分析

CompanyLogoX线头影测量分析第6页3.确定错牙合畸形矫治计划对比分析犯错牙合畸形机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位理想位置，制订可行矫治方案CompanyLogoX线头影测量分析第7页4.研究矫治中及矫治后牙颌、颅面改变

治疗前正畸治疗治疗中,矫治后对比CompanyLogoX线头影测量分析第8页5.外科正畸诊疗和矫治设计

经过X线对颅面畸形患者进行分析得出畸形机制确定手术部位、方法及需要移动或切除部位CompanyLogoX线头影测量分析第9页不足标识点定位都是相对标识时存在个体差异存在种族、性别差异CompanyLogoX线头影测量分析第10页1.头颅定位X线要求：头颅定位关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者组成一与地面平行恒定平面。定位CompanyLogoX线头影测量分析第11页2.头影图描绘X线头影图像上，因头颅本身厚度或个体两侧结构不完全对称而出现左右影像不完全重合按其平均中点来作描绘CompanyLogoX线头影测量分析第12页传统X线片数字化X线片CompanyLogoX线头影测量分析第13页

传统手描图

数字化描图CompanyLogoX线头影测量分析第14页惯用头影测量标志点标志点：用来组成一些平面及测量内容点1.解剖，真正代表颅骨解剖结构2.引伸，如两测量平面相交一个标志点定点准确才能取得对应准确头影测量分析结果！CompanyLogoX线头影测量分析第15页标志点

硬组织测量标志点软组织测量标志点CompanyLogoX线头影测量分析第16页硬组织测量标志点颅部 蝶鞍点（S） 鼻根点（N） 机械耳点(P)上颌骨 前鼻棘(ANS)

上齿槽座点（A） 上中切牙点（U1）下颌骨 下齿槽座点（B） 下中切牙点（L1） 颏前点（Pg） 颏下点(Me)

颏顶点(Gn)

CompanyLogoX线头影测量分析第17页额点（G）鼻小柱点（Cm）鼻下点（Sn）上唇缘点（UL）下唇缘点（LL）软组织颏前点(Pgs)软组织颏下点(Mes)颈点（C）软组织测量标志点CompanyLogoX线头影测量分析第18页Landmark（定点）CompanyLogoX线头影测量分析第19页1.颅部标志点CompanyLogoX线头影测量分析第20页定点S(Sella蝶鞍中心点)CompanyLogoX线头影测量分析第21页定点N(Nasion鼻根点)：鼻额缝最前点CompanyLogoX线头影测量分析第22页定点P(Porion耳点）：机械耳点CompanyLogoX线头影测量分析第23页定点颅底点(Ba,basion）枕骨大孔前缘中点CompanyLogoX线头影测量分析第24页定点Bolton点：枕骨髁突后切迹最凹点CompanyLogoX线头影测量分析第25页2.上颌标志点CompanyLogoX线头影测量分析第26页－定点Or(orbitale眶点)CompanyLogoX线头影测量分析第27页翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓最下点CompanyLogoX线头影测量分析第28页前鼻棘（ANS）：前鼻棘之尖CompanyLogoX线头影测量分析第29页A(Subspinale上齿槽座点)CompanyLogoX线头影测量分析第30页－定点UI(Upperincisor上中切牙切端)

CompanyLogoX线头影测量分析第31页3.下颌标志点CompanyLogoX线头影测量分析第32页－定点髁顶点(Co):髁突最上点CompanyLogoX线头影测量分析第33页－定点关节点（Ar):颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点CompanyLogoX线头影测量分析第34页－定点Go(Gonion下颌角点)：下颌支平面与下颌角平面交角之分角线与下颌角交点CompanyLogoX线头影测量分析第35页B(Supramental下齿槽座点)CompanyLogoX线头影测量分析第36页LI(Lowerincisor下中切牙切端)

CompanyLogoX线头影测量分析第37页－定点Po(Pogonion颏前点)：颏部最突点CompanyLogoX线头影测量分析第38页－定点Me(Menton颏下点)CompanyLogoX线头影测量分析第39页Gn(Gnathion颏顶点)

:颏前点与颏下点之中点CompanyLogoX线头影测量分析第40页D点:下颌体骨性联合部之中心点CompanyLogoX线头影测量分析第41页第二次试验CompanyLogoX线头影测量分析第42页头影测量平面CompanyLogoX线头影测量分析第43页1.基准平面(Referenceline)：头影测量中相对稳定平面CompanyLogoX线头影测量分析第44页SN平面－前颅底平面FH平面－Frankfort平面Bolton平面–Bolton点与鼻根点连线1.基准平面CompanyLogoX线头影测量分析第45页－基准平面SNplane前颅底平面CompanyLogoX线头影测量分析第46页－基准平面FHplane眶耳平面CompanyLogoX线头影测量分析第47页－基准平面Bolton平面CompanyLogoX线头影测量分析第48页

基准平面

CompanyLogoX线头影测量分析第49页测量平面CompanyLogoX线头影测量分析第50页－测量平面腭平面(ANS-PNS)CompanyLogoX线头影测量分析第51页－测量平面全颅底平面（Ba-N):颅底点与鼻根点连线CompanyLogoX线头影测量分析第52页全颅底平面CompanyLogoX线头影测量分析第53页－测量平面牙合平面(OP)1:第一磨牙咬合中点于上下切牙间中点连线。2:功效牙合平面：第一恒磨牙及第一乳磨牙或第一前磨牙牙合接触点CompanyLogoX线头影测量分析第54页－测量平面下颌平面（MP）1:经过颏下点于下颌角下缘相切线CompanyLogoX线头影测量分析第55页－测量平面下颌平面（MP）2:下颌下缘最低点切线CompanyLogoX线头影测量分析第56页－测量平面下颌平面（MP）3:下颌角点与下颌颏顶点间连线CompanyLogoX线头影测量分析第57页－测量平面下颌支平面(RP):下颌升支及髁突后缘切线CompanyLogoX线头影测量分析第58页－测量平面面平面（NP)：鼻根点与颏前点连线CompanyLogoX线头影测量分析第59页－测量平面Y轴：蝶鞍中心与颏顶点连线CompanyLogoX线头影测量分析第60页惯用硬组织测量项目CompanyLogoX线头影测量分析第61页X线头影测量惯用于临床对错牙合畸形机制进行分析明确牙齿、牙弓、颌骨、颅面间关系不调测量上、下颌各自形态、大小和相互间位置关系及牙齿位置或倾斜度得出对应诊疗CompanyLogoX线头影测量分析第62页经过X线对正常牙合人颅面结构进行分析得出正常牙合各项测量参考标准作为诊疗分析基础前提：正常值确实定CompanyLogoX线头影测量分析第63页头影测量分析目标:对比分析犯错牙合畸形机制正常牙颌颅面关系个体牙颌颅面结构确定牙和颌位理想位置，制订可行矫治方案CompanyLogoX线头影测量分析第64页每一个项目有特定意义说明对应结构特征或生长改变趋势！必须综合评价各项测量指标，才能明确畸形机制，作出正确诊疗!颅面牙齿、牙弓颌骨

相互不调，产生牙颌畸形相互赔偿产生正常颅面形态CompanyLogoX线头影测量分析第65页

上下颌骨惯用测量项目CompanyLogoX线头影测量分析第66页－测量内容SNAangle：反应上颌相对颅骨前后位置CompanyLogoX线头影测量分析第67页－测量内容SNBangle：反应上颌相对颅骨前后位置CompanyLogoX线头影测量分析第68页－测量内容ANBangle：反应上颌相对颅骨前后位置CompanyLogoX线头影测量分析第69页－基准平面NP－FH（面角）:反应下颌突缩程度。此角越大则下颌？相对突度越大CompanyLogoX线头影测量分析第70页－测量内容NA－PA(颌凸角)：反应上颌相对整个侧面关系此角越大则上颌？相对突度越大CompanyLogoX线头影测量分析第71页－测量内容Y轴角:反应颏部突缩，也代表面部生长发育方向此角越大则颏部？生长发育方向?颏部后缩垂直生长型CompanyLogoX线头影测量分析第72页－测量内容MP－FH下颌平面角：反应1.下颌体陡度2.下颌角大小

3.面高度：短面型/长面型CompanyLogoX线头影测量分析第73页

测量内容ANS-Ptm（上颌长）CompanyLogoX线头影测量分析第74页

测量内容S-Ptm（上颌位置）CompanyLogoX线头影测量分析第75页

测量内容Co-Pog（下颌长）CompanyLogoX线头影测量分析第76页

测量内容S-Co（下颌位置）CompanyLogoX线头影测量分析第77页上下前牙惯用测量项目CompanyLogoX线头影测量分析第78页－测量内容UI－SNangleCompanyLogoX线头影测量分析第79页－测量内容LI－MPangle此角越大则下前牙？唇倾度大CompanyLogoX线头影测量分析第80页－测量内容U1－NA:上切牙对于前颅底相对倾斜度CompanyLogoX线头影测量分析第81页－测量内容U1－NAdistance(U1-NA距)CompanyLogoX线头影测量分析第82页－测量内容L1－NBangleCompanyLogoX线头影测量分析第83页－测量内容L1－NBdistanceCompanyLogoX线头影测量分析第84页－测量内容U1－L1angle：反应上下前部牙弓突度。CompanyLogoX线头影测量分析第85页－测量内容MP－SNangle：与下颌平面角类似CompanyLogoX线头影测量分析第86页头影测量分析方法很多针对不一样种族、人群研究课题各测量项目均依据不一样分析内容而定。CompanyLogoX线头影测量分析第87页华西医科大学头影测量分析法头影测量分析表头影测量项目Specificity不一样个体Adults成人Female女Male男

Children儿童Female女Male男CompanyLogoX线头影测量分析第88页头影测量项目Specificity个体AdultsFemaleMaleSNA83

84SNB80 80ANB34MP-FH28 29PP-FH5 5Yaxis64 65Npg-FH8385U1-SN75 73L1-MP95 100U1-L1127 121Ptm-A42

44Ptm-S17

18S-Go69

71Go-Co51

52Go-Pg68

68N-ANS50

51ANS-Me57

58U1-PP26

27U6-PP19

19L1-MP38

38L6-MP30

30CompanyLogoX线头影测量分析第89页－测量内容SNAangle：反应上颌相对颅骨前后位置CompanyLogoX线头影测量分析第90页－测量内容SNBangleCompanyLogoX线头影测量分析第91页－测量内容ANBangleCompanyLogoX线头影测量分析第92页－测量内容MP－FHangle（下颌平面角）CompanyLogoX线头影测量分析第93页

测量内容PP－FHCompanyLogoX线头影测量分析第94页－测量内容Y轴角:反应颏部突缩，也代表面部生长发育方向CompanyLogoX线头影测量分析第95页

测量内容Npg-FH(面角)CompanyLogoX线头影测量分析第96页－测量内容U1－SNangleCompanyLogoX线头影测量分析第97页－测量内容L1－MPangleCompanyLogoX线头影测量分析第98页－测量内容U1－L1angle：反应上下前部牙弓突度。CompanyLogoX线头影测量分析第99页

测量内容Ptm-A（上颌长）CompanyLogoX线头影测量分析第100页

测量内容Ptm-S（上颌位置）CompanyLogoX线头影测量分析第101页

测量内容S-Go后面高CompanyLogoX线头影测量分析第102页

测量内容Go-Co下颌支长CompanyLogoX线头影测量分析第103页

测量内容Go-Pg（下颌体长）CompanyLogoX线头影测量分析第104页

测量内容N-ANS上面高CompanyLogoX线头影测量分析第105页

测量内容ANS-Me下面高CompanyLogoX线头影测量分析第106页测量内容U1－PP距CompanyLogoX线头影测量分析第107页测量内容U6－PP距CompanyLogoX线头影测量分析第108页测量内容L1－MPdistanseCompanyLogoX线头影测量分析第109页测量内容L6－MPdistanseCompanyLogoX线头影测量分析第110页Wits分析法BOAOBOAOCompanyLogoX线头影测量分析第111页Tweed三角（FMA,IMPA,FMIA）FMAFMAFMIAFMIAIMPAFMIATweed应用此三角分析得出美国白种正常牙合儿童，FMIA均值为65º，此角是建立良好面型良好条件。CompanyLogoX线头影测量分析第112页ThankYou!TheEndX线头影测量分析第113页Landmark（定点）Referenceline（基准平面）Cephalometricmeasurement（测量内容）CompanyLogoX线头影测量分析第114页惯用分析方法DownsanalysisTweedanalysisSteineranalysisWylieanalysisRickettesanalysisNJMUanalysisCompanyLogoX线头影测量分析第115页惯用平面眶耳平面（FH）前颅底平面（SN）审美平面（EP）下颌平面（MP）CompanyLogoX线头影测量分析第116页惯用角度颅底-上齿槽座角（SNA）：

上颌对颅底位置关系

82°±1颅底-下齿槽座角（SNB）：

下颌对颅底位置关系

79°±1上下齿槽座角（ANB）：

上下颌位置关系

3°±1

……CompanyLogoX线头影测量分析第117页惯用线距全方面高（N－Me）上面高（N－ANS）下面高（ANS－Me）上面高/全方面高下面高/全方面高……CompanyLogoX线头影测量分析第118页－测量平面下颌支平面(RP):下颌升支及髁突后缘切线CompanyLogoX线头影测量分析第119页ContentsClicktoaddTitle1ClicktoaddTitle2ClicktoaddTitle3ClicktoaddTitle4CompanyLogoX线头影测量分析第120页HotTipHowdoIincorporatemylogotoaslidethatwillapplytoalltheotherslides?Onthe[View]menu,pointto[Master],andthenclick[SlideMaster]or[NotesMaster].Changeimagestotheoneyoulike,thenitwillapplytoalltheotherslides.CompanyLogoX线头影测量分析第121页DiagramThemeGallery

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