- 现行
- 正在执行有效
- 2015-10-29 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 62132-1:2015 EN-FR
- 标准名称：集成电路 - 电磁辐射抗扰度测量 - 第1部分：一般条件和定义
- 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 1: General conditions and definitions
- 标准状态：现行
- 发布日期：2015-10-29
文档简介
一般条件和定义”是针对电子设备的电磁兼容性测试标准。它提供了评估设备在各种电磁环境中的性能和抗干扰能力的通用准则。以下是对该标准的详细解释：
1.**标准范围**：该标准适用于所有类型的电子设备，包括微处理器、微控制器、数字电路、模拟电路等。
2.**电磁环境**：标准中描述了设备在各种电磁环境下可能遇到的辐射和传导干扰。包括电场、磁场、射频辐射、电流变化等。
3.**电磁敏感性**：标准强调了电子设备对电磁干扰的敏感性，包括对信号的干扰、噪声的干扰等。
4.**测试方法**：IEC62132-1:2015规定了测试方法，包括测试设备的选择、测试环境的设置、测试信号的生成和测量方法等。
5.**设备分类**：根据设备的类型和功能，标准将设备分为不同的类别，并为每个类别规定了不同的测试要求。
6.**定义**：标准提供了许多与电磁兼容性相关的术语和定义，帮助理解和执行测试。
7.**合规性**：如果产品打算在欧洲市场销售，那么该产品必须符合IEC62132-1:2015的要求，否则可能会面临法律问题。
IEC62132-1:2015EN-FR标准为电子设备的电磁兼容性测试提供了详细的指南和要求，以确保设备
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