- 现行
- 正在执行有效
- 2011-08-11 颁布
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基本信息：
- 标准号：IEC 61967-8:2011 EN-FR
- 标准名称：集成电路-电磁辐射测量-第8部分：辐射发射测量-IC带状线方法
- 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
- 标准状态：现行
- 发布日期：2011-08-11
文档简介
IEC61967-8:2011EN-FR是关于集成电路电磁辐射测量标准的一部分，它专门针对ICstripline方法进行了详细的规定。该标准主要涵盖了以下几个方面：
1.测试设备：该标准规定了用于测量ICstripline辐射发射的测试设备应具备的性能和配置。这些设备包括信号发生器、功率计、接收器和其他必要的测量设备。
2.测试环境：该标准规定了测试环境的要求，包括测试室的屏蔽性能、测试设备的接地、测试室的温度和湿度等。这些因素对测试结果有重要影响。
3.测试方法：该标准详细规定了ICstripline辐射发射的测量方法，包括测试信号的频率范围、测试信号的幅度和相位、测试时间、数据处理和分析等。这些方法确保了测试结果的准确性和可靠性。
4.测量范围：该标准规定了测试设备的测量范围，以确保测试结果符合集成电路的实际辐射发射水平。
5.标准偏差：该标准还规定了测试结果的准确性和重复性，以确保测试结果的可比性和可靠性。
IEC61967-8:2011EN-FR是一个非常重要的标准，它规定了ICstripline辐射发射测量的要求和方法，以确保集成电路的电磁辐射符合相关法规和标准的要求。在设计和制造集
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