• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-03-12 颁布
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【正版授权】 IEC 61967-1:2002 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions,150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 61967-1:2002 EN-FR
  • 标准名称：集成电路-电磁辐射测量-150 kHz至1 GHz-第1部分：一般条件和定义
  • 英文名称：Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 1: General conditions and definitions
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-03-12

文档简介

一般条件和定义的内容非常广泛，涵盖了电磁辐射测量的各个方面。以下是该标准的详细解释：

标准概述：

IEC61967-1:2002标准是关于集成电路中电磁辐射测量的国际标准，它规定了电磁辐射测量的通用条件和定义。该标准适用于各种集成电路，包括但不限于微处理器、微控制器、功率半导体等。

标准范围：

该标准涵盖了从150kHz到1GHz的电磁辐射测量，包括各种频率范围内的辐射功率、场强和噪声等参数。它适用于各种应用场景，包括但不限于消费电子产品、通信设备、工业控制设备等。

测量方法：

该标准规定了各种测量方法，包括直接测量、积分测量、统计测量等。这些方法旨在确保测量结果的准确性和可靠性。此外，该标准还规定了测量设备的精度要求和校准方法。

测量环境：

该标准规定了测量环境的条件，包括温度、湿度、气压、电磁干扰等。这些条件对测量结果的影响需要进行考虑，以确保测量结果的准确性和可靠性。

测量仪器：

该标准规定了用于电磁辐射测量的仪器，包括接收器、前置放大器、滤波器等。这些仪器需要符合一定的性能指标和精度要求，以确保测量结果的准确性和可靠性。

数据保护：

该标准还涉及到数据保护的问题，包括测量数据的存储和处理。测量数据可能包含敏感信息，因此需要采取适当的措施来保护这些数据，以避免未经授权的访问和滥用。

IEC61967-1:2002标准规定了电磁辐射测量的通用条件和定义，涵盖了从150kHz到1GHz的电磁辐射测量各个方面。该标准对于确保集成电

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