• 被代替
  • 已被新标准代替
  • 2009-11-25 颁布
©正版授权
注：本标准为国际组织发行的正版标准，下载后为完整内容；本图片为程序生成，仅供参考，介绍内容如有偏差，以实际下载内容为准
【正版授权】 IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV EN-FR Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods_第1页
全文预览已结束

下载本文档

基本信息：

  • 标准号：IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV EN-FR
  • 标准名称：分立半导体设备和集成电路-第5-3部分：光电子器件-测量方法
  • 英文名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
  • 标准状态：被代替
  • 发布日期：2009-11-25

文档简介

IEC60747-5-3:1997+AMD1:2002标准是关于离散半导体设备和集成电路的一部分，特别是光电设备。以下是该标准的主要内容：

1.设备类型和测试方法：IEC60747-5-3标准详细说明了不同类型的离散半导体设备和集成电路，并为每种类型提供了一套特定的测试方法。这些测试包括电气特性测试，机械性能测试，温度性能测试，以及其他可能影响设备性能的因素。

2.光电器件测量方法：IEC60747-5-3标准主要关注光电器件的测量方法。对于光电二极管、LEDs、光敏电阻等设备，标准提供了详细的测量程序和方法，包括设备的亮度、光强、光谱响应、电流-电压特性等方面的测量。

3.测试环境：IEC60747-5-3标准强调了测试环境的控制，包括温度、湿度、气压、光照强度和光谱分布等。这些因素对设备的性能有显著影响，因此必须严格控制。

4.误差分析：IEC60747-5-3标准也包括了对测量结果进行误差分析的方法。这包括识别和量化可能影响测量准确性的各种因素，如设备自身的不均匀性、测试设备的精度、环境条件的变化等。

5.数据记录和报告：IEC60747-5-3标准要求对所有测试结果进行详细记录，并按照规定的格式编写报告。报告应该包括设备的详细信息、测试方法和结果、以及任何可能影响结果准确性的因素。

以上是对IEC60747-5-3:199

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 各类标准

温馨提示

  • 1. 本站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等，侵权必究。
  • 2. 本站所提供的标准均为PDF格式电子版文本（可阅读打印），因数字商品的特殊性，一经售出，不提供退换货服务。
  • 3. 标准文档要求电子版与印刷版保持一致，所以下载的文档中可能包含空白页，非文档质量问题。
  • 4. 下载后请按顺序安装Reader（点击安装）和FileOpen（点击安装）方可打开。详细可查看标准文档下载声明

最新文档

评论

0/150

提交评论