《固化型银导体浆料》

1固化型银导体浆料本文件规定了固化型银导体浆料的分类和标记、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及随行文件和订货单内容。本文件适用于膜片开关用银导体浆料、碳膜电位器用银导体浆料及微电子封装用导电银胶等低温固化型银导体浆料（以下简称银浆）。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T6739色漆和清漆铅笔法测定漆膜硬度GB/T17473.2微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定GB/T17473.3微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定GB/T17473.4微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定GB/T17473.5微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定GB/T19445贵金属及其合金产品的包装、标志、运输、贮存3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3.1固化型银导体浆料curedconductivesliverpaste由片状银粉、超细银粉、无机添加物、有机添加物组成的一种可丝网漏印或涂敷，并在一定温度下固化形成功能作用的浆状物或膏状物。3.2快干系列膜片开关用低温银浆rapidcuringconductivesliverpaste固化时间为1min～2min的固化型银导体浆料。3.3单组分导电银胶one-componentelectricallyconductiveadhesive由含银导电填料、有机载体以及固化剂组成，并用于微电子行业封装用的固化型银导体浆料。3.4双组分导电银胶two-componentelectricallyconductiveadhesive由有机载体与含银导电填料混合部分作为组分A，固化剂作为组分B，保存时A、B组分分开存放，使用时需要将A、B组分按照一定比例混合起来用于微电子行业封装用的固化型银导体浆料。3.5细度fineness银浆中颗粒物的分散程度。3.6方阻sheetresistance银浆经固化后，为了比较浆料的导电性，统一折算成长宽相等且厚度为25.4μm时的固化膜层的方阻R，单位为mΩ/。=(Rs·A·T）/（L×25.4） 2T——固化膜层的膜厚，单位为微米(μm）；图1固化膜层示意图3.7附着力adhesion银浆固化膜层同基片的结合能力。3.8粘度viscosityofpastes银浆流体内阻碍一层流体与另一层流体作相对运动的特性的度量。4分类和标记4.1产品分类银浆按产品的用途分为膜片开关用低温银浆(M）、快干系列膜片开关用低温银浆(MK)、碳膜电位器用银浆(T)、单组分导电银胶(AS)、双组分导电银胶(AD)。4.2银浆的标记方法银浆型号按产品名称、工艺类型、金属相成分和产品用途进行标记。 。用化学元素符号表示金属名称。 使用工艺类型。固化型浆料用C表示。贵金属浆料。用大写的英文字母P表示贵金属浆料。5技术要求5.1性能5.1.1银浆的细度、粘度应符合表1的规定。表1银浆的细度、粘度性能表35.1.2银浆固化后的主要性能应符合表2的规定。表2银浆固化后的主要性能表mΩ/ ——5.2外观银浆为色泽均匀的浆状或膏状物。6试验方法6.1银浆细度的测定按GB/T17473.2的规定进行。6.2银浆粘度的测定按GB/T17473.5的规定进行。粘度测试条件为剪切速率10s-1，温度25℃±6.3银浆固化膜层方阻的测定按GB/T17473.3的规定进行。6.4导电银胶固化膜层体积电阻率的测定按附录A的规定进行。6.5银浆固化膜层附着力的测定按GB/T17473.4的规定进行。6.6银浆固化膜层硬度的测定按GB/T6739的规定进行。6.7银浆固化膜层抗挠折性的测定按附录B的规定进行。6.8银浆的外观采用目视检查。7检验规则7.1检查与验收7.1.1银浆应由供方技术监督部门进行检验，保证产品质量符合本文件或订货单内容的规定，并填写质量证明书。7.1.2需方应对收到的产品按本文件的规定进行复验。若复验结果与本文件或订货单内容的规定不符时，应在收到产品之日起一个月内向供方提出，由供需双方协商解决。如需仲裁，仲裁取样应由供需双方共同进行。7.2组批银浆应成批提交验收，每批应由同一批投料生产出的同一型号的浆料组成，批重不限。7.3检验项目每批银浆应进行细度、粘度、方阻、体积电阻率、附着力、硬度、抗挠折性及外观的检验。其他检验要求应在订货单中注明。检验项目及取样要求按照表3要求确定。需方提出的其它检验项目，由供需双方协商确定。4表3检验项目及取样要求表机抽取一瓶未开封的产品作为检验样品，搅拌均匀，取样2g～20g；每批产品在100瓶以上时，每时以100瓶计）检验样品 银浆固化膜层的制备—7.4检验结果的判定7.4.1当试验结果中有除外观外的不合格项目时，应从该批产品中另取双倍数量的试样进行不合格项目的重复试验。重复试验结果全部合格时，判该批产品合格。若重复试验结果仍有不合格项目，判该批产品不合格。7.4.2外观检验逐瓶进行，检验结果不合格时，判该瓶产品不合格。8标志、包装、运输、贮存及随行文件8.1标志在检验合格的产品上应贴上标签，标签上注明：a）供方名称；b）产品类型；c）产品标记；d）批号；e）产品净质量、瓶重；f）保质期；g）生产日期。8.2包装、运输和贮存8.2.1包装瓶应耐银浆腐蚀，不易破损。瓶口应用胶带缠绕密封，然后装入包装箱中，包装瓶四周应充填缓冲物料。外包装按GB/T19445的规定进行。8.2.2运输应防污染、防火、防潮、防热。有特殊需求时，在订货单中注明。8.2.3银浆一般应在5℃~25℃贮存，保质期限为3至6个月，对于特殊要求银浆的运输及贮存条件需双方协商，并在订货单中注明。8.3随行文件每批产品应附有随行文件，其中除应包括供方信息、产品信息、本文件编号、出厂日期或包装日期外，还宜包括：a）产品检验报告单，内容如下：·检验项目及其结果或检验结论；·检验员签名或签章；b）产品使用说明书，内容如下：c）其他9订货单内容本文件所列银浆的订货单内应包括下列内容：a）产品类型；b）产品标记；c）产品净质量；d）本文件编号；e）双方协商内容；f）其他。6 L=10cm L=10cm附录A（规范性）微电子封装用导电银胶体积电阻率的测定A.1原理把微电子封装用导电银胶按一定长度（L）、宽度（W）刮涂于玻璃基片上，经固化形成一定厚度（h）的导电线条，测量线条端电阻值R,通过公式计算得出微电子封装用导电银胶的体积电阻率ρ。A.2仪器设备及材料A.2.1数字欧姆表或万用电表：电阻测量精确度±0.1Ω。A.2.2直尺：测量精确度±0.01mm。A.2.3测厚仪：测量精确度±0.001mm。A.2.4塑料胶粘带：厚0.125mm×宽24mm。A.3试验步骤A.3.1样品制备用塑料胶粘带在平整光洁的玻璃基片上按长（L）为10cm、宽（W）为0.5cm粘贴成空白线条图案，将待测微电子封装用导电银胶搅拌均匀后，用刮板刮涂于空白线条内，使形成平整涂层，剥去塑料胶带，在一定温度下固化，制得长（L）为10cm、宽（W）为0.5cm的测试样品。试样示例图如图A.1所示：图A.1试样电阻测量示例图W=0.5cmA.3.2测定用数字欧姆表或万用电表测量试样端电阻值R，用测厚仪测量试样膜层厚度h。A.4结果计算微电子封装用导电银胶体积电阻率ρ按公式（A.1）计算：ρ=R×W×h/L…………(A.1)式中：p——体积电阻率，单位为欧姆厘米(Ω·cmR——测得的试样线条端电阻值，单位为欧姆(Ω);W——试样宽度，单位为厘米（cmh——试样厚度，单位为厘米（cmL——试样长度，单位为厘米（cm）。7（规范性）膜片开关用低温银浆抗挠折性测定B.1原理通过测量一定线宽及长度的银浆导电线条弯折前后的电阻变化值，来判定银浆产品固化后的抗挠折性能。B.2仪器设备及材料B.2.1标准线条印刷网版：丝网孔径48μm～75μm。光刻掩膜标准线条尺寸：线宽(0.4mm)×线长B.2.2刮板：聚氨脂刮板。B.2.3基板：PET或PC材质塑料薄膜，厚度0.075mm。B.2.4自动或半自动丝网印刷机。B.2.5烘箱：控温精度±0.1℃。B.2.62kg重标准砝码。B.2.7计时钟。B.2.8数字欧姆表或万用电表：电阻测量精确度±1Ω。B.3样品制备将待测银浆搅拌均匀后，采用标准线条网版，按丝网漏印工艺印刷在清洁的PET或PC材质塑料薄膜基片上，按工艺要求经干燥及固化后制得试样。试样示例图如图B.1所示：图B.1银浆抗挠折性测定试样示例图B.4检测B.4.1用数字欧姆表或万用电表测量标准线条两端电阻，得到初始电阻值R0。B.4.2如图B.2所示，先外后内弯折180°,并用2kg重砝码压于折线处，保持1分钟，打开膜片，再内向外弯折，并用2kg重砝码压于折线处，保持1分钟，此过程为一次，按双方协商次数进行反复弯折，用数字欧姆表或万用电表测量标准线条两端电阻值，得到弯折后电阻值RC，按公式(B.1)计算得出弯折前后的电阻变化值：△RC=(RC－R0)/R0×100％……………(B.1)式中：△RC——弯折前后的电阻变化率；RC——弯折C次后的电阻值，单位