近代电子测量技术噪声系数分析仪演示文稿

近代电子测量技术噪声系数分析仪演示文稿现在是1页\一共有57页\编辑于星期六（优选）近代电子测量技术噪声系数分析仪现在是2页\一共有57页\编辑于星期六3噪声系数测试的基本概念现在是3页\一共有57页\编辑于星期六4器件性能对信号质量的影响（一）现在是4页\一共有57页\编辑于星期六5器件性能对信号质量的影响（二）现在是5页\一共有57页\编辑于星期六6噪声的来源

现在是6页\一共有57页\编辑于星期六7噪声的分类热噪声(ThermalNoise/JohnsonNoise)散粒噪声（ShotNoise）闪烁噪声1/f噪声（Flicker）现在是7页\一共有57页\编辑于星期六8热噪声

它是由于导体中自由电子的无规则热运动形成的噪声。因为导体具有一定的温度，导体中每个自由电子的热运动方向和速度不规则地变化，因而在导体中形成了起伏噪声电流，在导体两端呈现起伏电压。电阻产生的起伏噪声电压均方值：

式中：k为玻耳兹曼常数,k=1.3810-23J/K；T为电阻温度,

以绝对温度(K)计量,对于室温17℃,R为电阻的阻值；Bn为测试设备的通频带。电阻热噪声的功率谱密度是与频率无关的常数。通常把功率谱密度为常数的噪声称为“白噪声”，电阻热噪声在无线电频率范围内就是白噪声的一个典型例子。

现在是8页\一共有57页\编辑于星期六9电阻的噪声等效电路现在是9页\一共有57页\编辑于星期六10散粒噪声由有源电路或器件中的存在的随机电流引起，它与热噪声类似其值与频率无关，因此也是一种白噪声，其噪声电流的均方根值为：其中q为电子电量（1.6×10-19C）,不难发现其大小与随机电流的大小成正比。现在是10页\一共有57页\编辑于星期六11闪烁噪声

1/f噪声因其大小与频率成反比例关系而得名。1/f噪声的主要参数是拐点频率fa，该点的1/f噪声等于热噪声功率。半导体器件内的1/f噪声的分布特性取决于其工艺。比如BiCMOS器件的fa大约为4～8kHz；MOSEFT器件的fa大约为1MHz。1/f噪声的幅度分布不是高斯分布。现在是11页\一共有57页\编辑于星期六12噪声系数（一）

噪声总是伴随着信号出现。信号与噪声的功率比值S/N简称“信噪比”。决定检测能力的是接收机输出端的信噪比。噪声系数的定义是：接收机输入端信号噪声比与输出端信号噪声比的比值。

噪声系数F有明确的物理意义：它表示由于接收机内部噪声的影响，使接收机输出端的信噪比相对其输入端的信噪比变坏的倍数。

定义1现在是12页\一共有57页\编辑于星期六13噪声系数还可表示为：为接收机的额定功率增益是输入端噪声通过“理想接收机”后，在输出端呈现的额定噪声功率定义2噪声系数（二）

现在是13页\一共有57页\编辑于星期六14实际接收机的输出额定噪声功率由两部分组成:接收机内部噪声在输出端所呈现的额定噪声功率实际接收机总会有内部噪声因此F＞1．只有当接收机是“理想接收机”时，才会有F＝1。

噪声系数（三）

现在是14页\一共有57页\编辑于星期六15对噪声系数的两点说明1）噪声系数只适用于的线性电路和准线性电路。

2）噪声系数F是没有量纲的数值，通常用分贝表示：F(dB)＝10lgF(dB)3)噪声系数是接收机本身固有的特性，与输入信号、噪声的功率无关。现在是15页\一共有57页\编辑于星期六16等效噪声温度（一）

为了更直观地比较内部噪声与外部噪声的大小，可以把接收机内部噪声在输出端呈现的额定噪声功率等效到输入端来计算。等效噪声温度”或简称“噪声温度”，此时接收机就变成没有内部噪声的“理想接收机”

现在是16页\一共有57页\编辑于星期六17等效噪声温度（二）

现在是17页\一共有57页\编辑于星期六18F(倍数)11.051.11.525810F(dB)00.210.411.763.016.999.0310(K)014.529145290116020302610对于低噪声接收机和低噪声器件，常用噪声温度来表示其噪声性能。等效噪声温度（三）

现在是18页\一共有57页\编辑于星期六19系统噪声系数指标的规划

现在是19页\一共有57页\编辑于星期六20级联电路的噪声系数（一）

先考虑两个单元电路级联的情况现在是20页\一共有57页\编辑于星期六21级联电路的噪声系数（二）

n级电路级联时接收机总噪声系数为若接收机的噪声性能用等效噪声温度表示，则它与各级噪声温度之间的关系为：现在是21页\一共有57页\编辑于星期六22结论：为了使接收机的总噪声系数小，要求各级的嗓声系数小、额定功率增益高。而各级内部噪声的影响并不相同，级数越靠前，对单噪声系数的影响越大。所以总噪声系数主要取决于最前面几级，这就是接收机要采用高增益低噪声高放的主要原因。级联电路的噪声系数（三）

现在是22页\一共有57页\编辑于星期六23级联电路的噪声系数（四）

级连线路噪声系数计算举例：

现在是23页\一共有57页\编辑于星期六24噪声系数测试原理现在是24页\一共有57页\编辑于星期六25Y值法（一）一种较为普遍地测试噪声系数的方法（也是最为精确的方法，即Y值法）已知输出噪声的计算公式：现在是25页\一共有57页\编辑于星期六26如果我们令

现在是26页\一共有57页\编辑于星期六27Y值法（二）

其含义是噪声源超过标准噪声温度T0（290K）热噪声的倍数。反应了噪声源输出噪声功率的能力。ENR（ExcessNoiseRatio）超噪比现在是27页\一共有57页\编辑于星期六28Y值法（三）调节衰减器对噪声源接通和断开提供相同的输出，这样所调节衰减值就是Y，这种方法的测试精度通常可达0.1dB。在具体的测试中，当噪声源确定时ENR为一个常数。公式中唯一的变量是Y，Y为测试情况下（有噪声源接在输入端）器件的输出功率与器件在输入严格地限制在290K时，输出功率之比。现在是28页\一共有57页\编辑于星期六29基于Y值法的噪声系数分析仪现在是29页\一共有57页\编辑于星期六30AgilentN897X噪声系数测试仪

现在是30页\一共有57页\编辑于星期六31现在是31页\一共有57页\编辑于星期六32噪声源（一）

测量噪声指数的方法，是根据注入接收机的已知噪声来观察接收机的输出响应。这个噪声源通常大多数是白噪声它也是热噪声。热噪声是电子随机运动的结果。这种噪声在领域内是等能分布，因而它就具有标形或高斯平稳分布的常数功率密度。噪声源必须能够产生—个有效的噪声功率，大于被测量元件的噪声功率。有几种常用的噪声源，它们是正向偏压半导体二极管、限温二极管、气体放电管和热／冷电阻源。现在是32页\一共有57页\编辑于星期六33噪声源（二）雪崩二级管（AvalancheDiode）产生噪声激励信号的等效电路（匹配网络的存在是考虑到DUT的接入可能会改变噪声源的阻抗！）。最常用的噪声源是：二极管和气体放电管，它们分别可达到几百MHz和几十GHz。例如，气体放电管和饱和二极管噪声源的等效输出噪声温度通常为10000～20000K，用ENR(dB)表示为l5.2～l8.3dB。现在是33页\一共有57页\编辑于星期六34任何宽带噪声的产生都只可能是类白噪声的而不可能是理想的，所以噪声源在出厂时会配有一个ENR表反映噪声源的特性，以便在有同频段测量时用于精确地计算和校正！噪声源（三）现在是34页\一共有57页\编辑于星期六35几种噪声源的主要指标ENR范围注：15dB的ENR更适用于通常测量，可以测量达30dB的噪声系数，而6dB的ENR适用于极低噪声系数的测量（噪声检波器可以有较好的线性度）。工作频段：噪声源（四）现在是35页\一共有57页\编辑于星期六36ENR精度

现在是36页\一共有57页\编辑于星期六37典型器件的噪声系数测试现在是37页\一共有57页\编辑于星期六38可分析的器件或系统现在是38页\一共有57页\编辑于星期六39基本测量模式放大器（无频率转换）的噪声系数和增益测量流程开机（欲获得更高的精确性，建议等候NFA预热至少一小时）输入超噪比ENR数据设置测量频率设置带宽和平均校准分析仪显示测量结果现在是39页\一共有57页\编辑于星期六40输入超噪比ENR

数据（一）第一种类型例如Agilent346B是一种正常的噪声源，这些噪声源的ENR数据需要使用以前存储在磁盘上的ENR数据或者使用小键盘以手动方式输入；另一种类型例如AgilentN4000A是智能噪声源SNS可以自动或经请求上载数据。现在是40页\一共有57页\编辑于星期六41输入超噪比ENR数据（二）现在是41页\一共有57页\编辑于星期六42设置测量频率

在设置您希望测量的频率之前您需要选择一个频率模式共有三种频率模式可供使用：Sweep扫描在扫描频率模式中设置进行扫描的起始和终止频率或等值中心和范围频率，您还需要设置测量点数这些测量点在频率范围中均匀分布，最大点数为401，默认点数为11。所选频率点数越大测量所需的时间越长）List清单

清单频率模式允许您在进行测量的位置输入频率点，这将允许您在覆盖范围小于扫描模式中覆盖范围的相关区域指定测量点可允许非均匀分布的测量点。频率单限制为401个条目。Fixed固定

在单一固定频率进行频率测量现在是42页\一共有57页\编辑于星期六43设置带宽和平均带宽和平均对速度抖动和测量准确性的影响抖动是测量噪声时产生的一种自然现象，欲降低抖动必须增加平均值数目或测量带宽。如果带宽降低则需要增加平均值数目以保持相同的误差。所选的平均值数目越多，测量越准确，因为这样会降低测量的抖动。但是必须与完成测量所需的时间进行对照，因此应当在测量的速度和准确性误差之间作出权衡和选择。现在是43页\一共有57页\编辑于星期六44校准分析仪（一）NFA测量的噪声系数实际上是包括了DUT与噪声系数测试仪前端整个链路的噪声系数，即。现在是44页\一共有57页\编辑于星期六45校准分析仪（二）现在是45页\一共有57页\编辑于星期六46校准分析仪（三）现在是46页\一共有57页\编辑于星期六47显示测量结果（一）现在是47页\一共有57页\编辑于星期六48显示测量结果（二）现在是48页\一共有57页\编辑于星期六49扩展频率测量模式（一）

系统下变频器模式DUT是一台非变频装置例如放大器或滤波器其频率超出NFA的测量范围测量系统内要求下变频用DUT外接混频器将相关信号变换为NFA频率范围内的频率。现在是49页\一共有57页\编辑于星期六50下变频DUT模式在该模式中DUT包含一台下变频装置例如混频器或接收器。共有两种模式可供选择1.可变频率LO和固定IF在进行此项测量时NFA锁定在一个频率LO执行扫描2.固定频率LO和可变IF在进行此项测量时LO锁定在一个频率NFA执行扫描说明：在两种模式中进行单边带测量时需要执行过滤以便移除无用边带。理想的情况是这些滤波器应当包含在校准路径和测量路径中，但是如果未包含在路径中，可以输入损耗补偿以解释所有其他错误。扩展频率测量模式（二）

现在是50页\一共有57页\编辑于星期六51下变频DUT模式扩展频率测量模式（三）

现在是51页\一共有57页\编辑于星期六52扩展频率测量模式（四）

下变频DUT模式现在是52页\一共有57页\编辑于星期六53上变频DUT模式

在该模式中DUT包含一个上变频装置例如发射机共有两种模式可供选择：1.可