标准解读
《GB/T 6284-2006 化工产品中水分测定的通用方法 干燥减量法》与《GB/T 6284-1986 化工产品中水分含量测定的通用方法 重量法》相比,在多个方面进行了更新和改进。首先,新版标准对适用范围进行了明确,适用于通过干燥减量法测定化工产品中的水分含量,这包括了有机和无机化学品。其次,在术语定义部分增加了“干燥减量”的明确定义,即样品在规定条件下烘干后质量减少的部分,这部分通常认为是样品中所含有的水分。
对于实验条件,新标准给出了更详细的指导原则,比如推荐使用的天平精度、干燥器类型以及温度控制的具体要求等。此外,《GB/T 6284-2006》还引入了更加严格的误差分析及数据处理方法,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,该版本强调了实验室环境的重要性,建议保持相对稳定的温湿度条件以避免外界因素干扰测试结果。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2006-12-29 颁布
- 2007-06-01 实施
文档简介
ICS71.040.40G10中华人民共和国国家标准GB/T6284-2006代替GB/T6284—1986化工产品中水分测定的通用方法干燥减量法Chemicalproductsforindustrialuse--Generalmethodfordeterminationofwatercontent-Thelossofmassondryingmethod2006-12-29发布2007-06-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局爱布中国国家标准化管理委员会
GB/T6284-2006本标准修改采用日本标准JISK0068:2001《化学制品的水分测定方法干燥减量法》日文版)本标准根据日本标准JISK0068:2001《化学制品的水分测定方法干燥减量法》重新起草。在采用JSK0068:2001时,本标准做了一些修改,有关技术性差异编入正文中.以下给出了这些技术性差异。附录A中给出了结构性差异的一览表以供参考。-规定了所使用的电热恒温干燥箱的性能(本标准的3.2.2);增加了对干燥器的要求(本标准的3.2.3)规定称量瓶应放在温度计水银球的周围(本标准的3.4)对特殊性质的产品测定水分进行了规定(本标准的3.4)。本标准代替GB/T6284-1986。本标准与GB/T6284—1986的主要技术差异如下:标准名称的修改;范围中取消了“湿存水”.适用范围叙述改为“加热稳定的固体化工产品”(1986年版第1章,本版第1章):增加了术语和定义(本版第2章)规定了称量瓶的容量(本版3.2.1)增加了试样处理(本版3.3);干燥温度改为(105±2)C(1986年版第5章.本版3.4);对特殊性质的产品测定水分进行了完善(1986年版第5章,本版3.4);修改了根据水分确定称样量的条款.规定了称样量为10g(1986年版5.1.本版3.4);修改了干燥时间及冷却时间(1986年版5.2.本版3.4);-对恒重概念重新定义(1986年版5.2,本版2.3)。本标准的附录A为资料性附录本标准由中国石油和化学工业协会提出本标准由全国化学标准化技术委员会无机化工分会(SAC/TC63/SC1)归口本标准主要起草单位:天津出人境检验检疫局、山东出人境检验检疫局、天津化工研究设计院。本标准主要起草人:赵祖亮、刘绍从、孙书军、陆思伟。本标准所代替的标准的历次发布情况:GB/T6284—1986
GB/T6284—2006化工产品中水分测定的通用方法干燥减量法范围本标准规定了固体化工产品中水分测定的通用方法干燥减量法本方法适用于加热稳定的固体化工产品中水分的测定术语和定义下列术语和定义适用于本标准2干燥减量法thelossoFmassondryingmethod通过加热使固体产品中包括水分在内的挥发性物质挥发尽从而使固体物质的质量减少的方法注:采用干燥减量法测定产品中真实的水分时.应满足如下三个条件:D挥发的只是水分;)不发生化学变化,或虽然发生了化学变化.但不伴随有质量变化:图水分可以完全除去。实际上.完全满足上述三个条件在多数情况下是很园难的.所以干燥减量法测定水分时.同时也将水分以外的挥发性物质或在加热过程的化学变化中产生的挥发性物质视为了水分22加热稳定heatingtostabilization样品在加热过程中,水分以外的挥发性物质或发生化学变化所产生的挥发性物质在允许的范围之内,也就是说产生的挥发性物质不影响水分测定结果的准确性。2.3恒重Constantweight进行重复干燥后,直到两次称量值的质量差大于0.0003g时,视为恒重3试验方法3.1方法提要将试料在(105±2)℃下加热烘干至恒重.计算干燥后试料减少的质量3.2仪器、设备3.2.1称量瓶:扁形带盏,容量为加入试样后.试样厚度小于5mm;3.2.2电热恒温干燥箱:温度能控制在105℃.精度士1C;3.2.3干燥器:内盛适当的干燥剂(如变色硅胶、五氧化二磷等);3.2.4天平:光电分析天平或电子天平,分度伯为0.1mg.3.3试样处理如试样为块状或大的结品,应粉碎至粒径小于2mm以下,充分混匀。。操作中应避免试样中水分损失或从空气中吸收水分。3.4分析步骠将电热恒
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