标准解读
《GB/T 5965-2000 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第一篇 双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范》是一份国家标准,旨在为双极型单片数字集成电路门电路提供一个空白详细规范框架。该标准适用于除自由逻辑阵列之外的双极型单片数字集成电路门电路产品。
在内容上,这份文件定义了对于这类集成电路的基本要求,包括但不限于电气特性、工作条件范围以及测试方法等。通过设定一系列的技术参数与性能指标,如电源电压范围、输入输出电平标准、开关时间限制等,确保了不同制造商生产的产品之间具有一定的互换性和兼容性。此外,还涵盖了可靠性试验项目及条件,以评估和保证产品的长期稳定运行能力。
本标准为设计者、生产商以及用户提供了统一的参考依据,有助于提高产品质量,促进技术交流与发展。同时,也为采购方或第三方检测机构进行质量控制提供了明确指导。
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- 现行
- 正在执行有效
- 2000-01-03 颁布
- 2000-07-01 实施
文档简介
ICS31.200L56中华人民共和国国家标准GB/T5965-2000idtIEc748-2-1:1991QC790132半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范Semiconductordevices-ntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone--BlankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgatesCexcludinguncommittedlogicarrays)2000-01-03发布2000-07-01实施国家质量技术监督局发布
GB/T5965-2000前本标准等同采用国际电工委员会标准IEC748-2-1:1991《半导体器件:集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)空白详细规范》.以促进我国该类产品的国际贸易、技术和经济交流。本标准与下列国家标准一起使用:GB/T4937—1995《半导体器件机械和气候试验方法》idtIEC749:1984及修改单1:1991)GB/T16464—1996《半导体器件集成电路第1部分:总则》(idtIEC748-1:1984)GB/T17574-1998《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》idtIEC748-2:1985及修改单1:1991)本标准由中华人民共和国信息产业部提出。本标准由全国集成电路标准化分技术委员会归口。本标准起草单位:电子工业部标准化研究所。本标准主要起草人:李燕荣
GB/T5965-2000IEC前言1)IEC(国际电工委员会)在技术问题上的正式决议或协议,是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的技术委员会制定的.对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。2)这些决议或协议,以推荐标准的形式供国际上使用,并在此意义上为各国家委员会所认可3)为了促进国际上的统一,IEC希望各国家委员会在本国条件许可的情况下,采用IEC标准的文本作为其国家标准。IEC标准与相应国家标准之间的差异,应尽可能在国家标准中指明。本标准由IEC/TC47(半导体器件)的SC47A(集成电路)制定。本标准是双极型单片数字电路门电路空白详细规范。本标准文本以下列文件为依据:六个月法表决报告二个月程序表决报告47/47A(CO)47/47A(CO)47A(CO)21247A(CO)239987/1511033/165.1033A/165A表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。本标准封面上的QC编号是IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)的规范号。本标准引用下列IEC标准:68-2-17(1978)环境试验第2部分:试验式试验Q密封617-12(1991)图形符号第12部分:二进制逻辑单元747-10(1984)半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范748-1(1984)半导体器件集成电路第1部分:总则华导体器件748-2(1985)集成电路第1部分:数字集成电路修改单1(1991)748-11(1990)半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)749(1984)半导体器件机械和气候试验方法修改单1(1991)QC001002(1986)IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)程序规购
中华人民共和国国家标准半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列)GB/T5965--2000idtIEc748-2-1:1991空白详细规范QC790132代替GB/5965-1986Semiconductordevices-lntegratedcircuitsPart2:Digitalintegratedcircuits-Sectionone-Blankdetailspecificationforbipolarmonolithicdigitalintegratedcircuitgates(excludinguncommittedlogicarrays)IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程,并在IEC授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一.并且与下列标准一起使用。IEC747-10/QC700000半导体器件第10部分:分立器件和集成电路总规范要求的资料本页和下页括号内的数字与下列各项要求的资料相对应.这些资料应填写在相应的栏中。详细规范的识别【1授权发布详细规范的国家标准化机构名称【2详细规范的IECQ编号。【37总规范、分规范的编号及版本号。(4详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的其他资料器件的识别「57主要功能和型号,【6典型结构(材料、主要工艺)和封装资料如果器件具有若干种派生产品,则应指出其差别,例如用对照表列出特性差异如果器件属静电敏感型,应在详细规范中注明注意事项[门外形图、引出端识别、
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