标准解读

《GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片》这一标准主要针对用于制造太阳能电池的硅单晶切割片的质量和技术要求进行了详细规定。该文件涵盖了硅片的基本参数、外观质量、几何尺寸及其偏差、电学性能等多个方面的要求。

对于基本参数,标准中明确了不同规格硅片的厚度范围、直径大小等关键指标;在外观质量部分,则对硅片表面缺陷如划痕、裂纹等做出了限制性描述,以确保材料的一致性和可靠性。此外,还特别指出了关于边缘完整性的具体要求,防止因边角损伤影响后续加工或使用效果。

几何尺寸及其允许偏差方面,《GB/T 26071-2010》给出了精确数值,并且根据不同应用场景设定了相应等级的标准,便于生产企业根据实际需求选择合适的规格进行生产。同时,考虑到硅片在运输及储存过程中可能遇到的问题,也提出了包装与标识的相关指导原则,保证产品从出厂到最终用户手中的全过程安全无损。

电学性能是评价太阳能电池用硅单晶切割片好坏的重要依据之一,《GB/T 26071-2010》对此也有明确规定,包括但不限于电阻率、少数载流子寿命等关键参数,旨在通过这些物理量来间接反映材料内部结构的纯净度以及潜在光电转换效率。

最后,在检验规则章节里,标准提供了详细的抽样方法和测试程序,确保每一批次的产品都能达到既定的技术规范要求。这不仅有利于提高产品质量控制水平,也为买卖双方提供了公平公正的交易基础。


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  • 2011-01-10 颁布
  • 2011-10-01 实施
©正版授权
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文档简介

ICS29045

H80.

中华人民共和国国家标准

GB/T26071—2010

太阳能电池用硅单晶切割片

Mono-crystallinesiliconascutslicesforphotovoltaicsolarcells

2011-01-10发布2011-10-01实施

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局发布

中国国家标准化管理委员会

GB/T26071—2010

前言

本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会归口

(SAC/TC203/SC2)。

本标准起草单位万向硅峰电子股份有限公司上海九晶电子材料股份有限公司西安隆基硅材料

:、、

股份有限公司洛阳鸿泰半导体有限公司无锡尚德太阳能电力有限公司江西赛维太阳能有限

、、、LDK

公司杭州海纳半导体有限公司

、。

本标准主要起草人楼春兰郑辉蒋建国张群社孙世龙黄笑容王飞尧段育红朱兴萍方强

:、、、、、、、、、、

汪贵发余俊军袁文强金虹

、、、。

GB/T26071—2010

太阳能电池用硅单晶切割片

1范围

本标准规定了太阳能电池用硅单晶切割片简称硅片的技术要求试验方法检验规则和标志包

()、、、

装运输贮存及质量证明书与订货单内容

、、。

本标准适用于直拉法制备的地面太阳能电池用硅单晶切割片

(CZ/MCZ)。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的凡是注日期的引用文件仅注日期的版本适用于本文

。,

件凡是不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于本文件

。,()。

非本征半导体材料导电类型测试方法

GB/T1550

硅锗单晶电阻率测定直排四探针法

GB/T1552、

半导体单晶晶向测定方法

GB/T1555

计数抽样检验程序第部分按接收质量限检索的逐批检验抽样计划

GB/T2828.11:(AQL)

半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定非接触涡流法

GB/T6616

硅片厚度和总厚度变化测试方法

GB/T6618

硅片翘曲度非接触式测试方法

GB/T6620

硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T11073

硅片直径测量方法

GB/T14140

半导体材料术语

GB/T14264

太阳电池用硅单晶

GB/T25076

硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法

GB/T26068

3术语

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T14264。

31

.

线痕sawmarks

在线切割过程中产生于硅片表面的切割痕迹

4要求

41产品分类

.

硅片按导电类型分为型型两种类型按外形可分为准方形和圆形两种

p、n;。

42规格

.

准方形硅片按其边长分为或由供需双方商定规格

125mm×125mm、156mm×156mm,。

圆形硅片按直径或对角线长度尺寸分为ϕ

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