高等研究院购置进口设备需求表

1、高等研究院购置进口设备需求表联系人：周日辉 电话号设备名称配置主要技术参数数量/单位1超高分辨荧光共聚焦系统1.系统功能系统功能时间分辨荧光检测波长范围：300-1050nm；寿命范围100ps-100ms；激光共焦荧光强度成像LCM；荧光寿命成像FLIM，FLIM-FRET成像；荧光波动成像FFS（FCS，FCCS,FLCS），包括交替激发PIE测试；时间分辨发射光谱，光谱范围：300-870nm；光谱测试范围：300-870nm； 激光器耦合器具备4个激光器耦合分配台，自动转换激发波长，自动强度调整，保偏光纤耦合所有同时激光器到系统；*可实现PIE双波长快速交替激

2、发；脉冲激光器405nm （120mW）脉冲和CW连续输出，脉冲频率80MHz-1Hz；满足耦合系统后实现100ps-100ms寿命测试提供4个皮秒脉冲激光波长，488/532/635/785-nm；6ps脉冲宽度；重复率可调10KHz40MHz；每个波长输出平均功率10mW50mW。配置品牌倒置显微镜及必要的目镜、相机、照明光源及物镜4倍 平场复消色差物镜 0.2 NA，WD 22mm20倍 平场复消色差物镜 0.75 NA，WD 1mm60倍 平场复消色差水物镜， 1.2 NA, WD 0.28-0.31mm, F.O.V. 25mm, DIC；100倍 平场复消色差油物镜， 1.4 NA

3、, WD 0.13mm, F.O.V. 25mm, DIC；50倍 超长工作距离平场物镜，SLWD 0.45NA WD 17mm；20倍 超长工作距离平场物镜，SLWD 0.35NA WD 24.00mm；共焦扫描模块*扫描成像：1 x 1 到 4096 x 4096。软件可根据选择的物镜自动更新扫描精度，振镜和自动台都可独立实现扫描成像；镀银高反射率的xy光学振镜扫描系统，扫描频率范围不低于0-5KHz；可控制振镜跟踪到扫描场的任意位置实现光激发及数据采集，驻留时间不限；*振镜扫描控制保证满足优于100ps-100ms寿命范围测试需要；软件控制的物镜z轴闭环伺服马达，分辨率50nm，行进区间

4、依赖于显微镜；实现多种扫描模式以及与时间叠加和外部触发同步的多种数据采集模式：点扫描模式；一维线扫描模式；二维面扫描模式；三维光学切片模式；每个扫描模式可以跟时间推移结合。数据采集可由外部的触发信号（如patch）来启动。时间分辨成像控制模块及数据采集软件DFD数字频域技术的时间标记光子计数模式；满足100ps-100ms寿命采集；*快速数据采集模式（100% duty cycle，死时间1.6ns），数据总采集率可达60Mcps；*荧光寿命只读半圆轨和FLIM寿命读取及显示：图像点原始数据在荧光寿命直读半圆规上的分布，可直接判断寿命的分布变化以及估计寿命数值；可同时在一个荧光寿命直读半圆规上

5、对比并批量处理多个原始寿命图像；提供基于矢量图的能量转移效率计算功能及FLIM-FRET成像；50/50分配APD皮秒光子计数检测器和单色仪（配置PMT），APD暗噪声50cps，响应350-1050nm。FFS成像模块提供了三种数据采集模式：计数模式（photon mode），时间标记模式（time tagged），时间标记的时间分辨模式（time tagged time resolved -TTTR）；采集的数据可做荧光相关（FCS，FCCS）和光子计数柱状图（PCH）分析。微区光谱及时间分辨发射光谱测量要求PMT检测器冷冻温度-20；PMT检测波长范围：230nm-870nm；分辨率1n

6、m；提供微区光谱，微区荧光寿命和微区时间分辨发射光谱测试功能。其他要求FLIM, FFS, Antibunching 数据采集和拟合，包括荧光寿命只读半圆规功能，采用一个软件实现；该软件实现对激光器强度调整，激光器更换、光路准直监控；单光子计数检测通道，采用开放式光路耦合（硬连接）；物镜规格选取，应满足在低温模式下检测及成像需要；提供满足需要的精密光学平台。工作站部分软件实现共焦扫描成像，成像数据处理；及涉及激光器、共焦扫描模块、成像数据采集及数据实时处理模块；可以自动、快速设定扫描参数； 可从已保存图像中快速自动恢复硬件原始参数设定；工作站硬件配置不低于：i7处理器，256Gssd和普通硬盘2T，内存32G，单独显卡，27英寸纯平液晶显示器。1套2.激光器耦合器