SPC培训大纲1.doc

SPC培訓教材(第一期)一、 基本的統計常識1. 數學性的統計方法. 1.1. 算術平均數 () X1+X2+ +Xn X = n 1.2 . 最大值(XMAX ): 為一組數值中的最大值. 1.3. 最小值 (XMIN) : 為一組數值中的最小值.S3 1.4. 全距 (Range) : 一組數值中的最大值減去最小值,為全距,即 S1S2 R = XMAX - XMIN 1.5. 均方根差 (S ). d12 + d22 + dn2 S = n 圖1 S1S2S3 1.6. 隨机誤差 (Random): 任意檢測時,檢測到的數值與實際值之間的差值. 1.7 標準差值 ( s ) : 正態分布圖中的一項重要參數,反映一群數據的分布範圍. ( X1-X)2+(X2-X)2+ (Xn-X)2 n s = 1.8 3 s与6s 3s、6s是制程控制中兩項重要的參數,理想的正態分布,在3s範圍內,應分布99.73%的數據,在 6s範圍內應分布99.9997%的數據.2. 實例: 2.1 恒宇Model: #692200鍋中心溫度与LCD顯示溫度差值的數據統計分析.(加熱10分鐘).3. 應用. 3.1. 以上所列的統計方法可應用於恆宇探熱針、溫/濕度計等產品的工程能力評估及 IQC對來料的品質控制上.二、SPC的起源與發展及制程能力指標1. SPC的起源.2. SPC的發展.3. SPC的觀念與應用.3.1 相關詞語的闡述.3.1.1. 品質.3.1.2. 變异.3.1.3. 變异的特殊原因.3.1.4. 變异的共同原因. 3.2. 應用SPC的目的: 預防問題的發生,減少浪費. 3.3. SPC的應用場合. 生產、開發、設計、來料等一系列活動的過程控制.4. SPC使用的統計方法. 柏拉圖分析. 特性要因圖. 直方圖. 管制圖. 層別法,. 抽樣檢驗. 檢定與推定. 相關分析. 抽樣方法. 實驗計劃.5. 影響品質活動的六個要因,簡稱6M:. Material (材料). Machine (機器). Man (人). Method (方法).Measure (測量).Manufacter (制造).6. 制程能力指標:欲判斷一個群體品質好壞有三個主要數據: 一、為平均數代表集中趨勢 (Ca),二、為標準差代表離中趨勢 (Cp),三、為超出規格的不良率.6.1. 制程精密度指數 (Cp):Cp = Tolerance / 6s6.2. 制程能力指數 (Cpk). Cpk = (USL-X ) / 3s 或 ( - LSL) / 3s USL : Upper Specification Limit. LSL : Lower Specification Limit.6.3. 工程準確度指數 (Ca): 實際中心值 規格中心值 (X - U ) Ca = 100 % = 100% 規格許容差 T/2 T (規格公差) = 規格上限 規格下限 為實際中心值,U為規格中心值.三、制程管制圖的原理與功能 1. 何謂管制圖 推移圖的主要功能是能夠看出數據隨著時間不同而發生變化的情形,從折線的高低就 可知道品質之狀況,在推移圖上加上中心線及3s的上、下管制界線即成為管制圖.2. 管制圖的种類: 2.1. 計量型管制圖:所依據之數據為量具實際量測而得, 如:長度、重量、成份等特 性為連續性者,最常用有以下四種: 2.1.1. - R Chart (平均值與全距管制圖). 2.1.2. - s Chart (平均值與標準差管制圖). 2.1.3. -R Chart (中位值與全距管制圖) 2.1.4. -Rm Chart (個別值與移動全距管制圖) 2.2. 計數型管制圖: 所依據之數據為單位計數者,如:不良數、缺點數等間斷性數據類, 最常用有以下四种. 2.2.1. P Chart (不良率管制圖) 2.2.2. Pn Chart (不良數管制圖) 2.2.3. C Chart (缺點數管制圖) 2.2.4. U Chart (平均缺點數管制圖) 3. 管制圖的原理 3.1. 管制圖是以3s為基礎,換言之只要群體是常態分配從群体抽樣時每1000次約有3 次超出3s範圍,在平均值(U)加減3s範圍以外之机會非常少,即千分之三,也就是所 謂的機遇原因,不予檢討. 3.2. UKs在內之或然率在外之或然率U0.67s50.00%50.00%U1.00s68.26%31.74%U1.96s95.00%5.00%U2.00s95.45%4.55%U3.00s99.73%0.27% 3.3. 常態分配圖4. 管制圖的建立 縱座標代表某一統計量的分度,橫座標代表制造時間或生產順序,在統計量分配的平均 值上下K倍s處各劃一水平線,通過平均值的水平線稱為中心線,通過平均值Ks處的 水平線,分稱為上、下管制界限,上、下管制界限間的距離為產品品質特性允許的變動範 圍,自制程中依一定的順序,抽取一定大小之樣本測定或檢驗,然後計算所要的統計量,將 結果依次點入圖中,再將相鄰兩點用直線連接起來,即建立成管制圖. 4.1. 在管制狀態. 4.2. 非良好管制狀態.四、管制圖的應用1. 計數型管制圖.1.1. 不良率管制圖 (P Chart) 不良品個數 dP = = 檢驗數 n A . P Chart建立步驟: . 選擇管制項目. . 搜集數據. . 分組. B. P Chart公式 d . CL = P = n P ( 1- P) . UCLP = P + 3 n P ( 1- P) LCLP = P - 3 n *以上P以小數表示 d . CL = P = 100% n P (100-P) . UCLP = P + 3 n P (100-P) LCLP = P - 3 n * 以上P為百分比. 1.2 缺點數管制圖 (C Chart):A. C Chart公式. C . CLC = = C (K為件數) K . UCLC = C + 3 C LCLc = C - 3 C 2. 計量型管制圖2.1. (-R Chart) 平均值與全距管制圖A. -R建立步驟:. 搜集25組以上的數據(依測定時間順序或群体數據依序排列). 把26個(一般采用45)個數據分為一組. 把數據記入數據表. 計算各組平均值. 計算各組的全距R. X. 計算總平均. X = ( K= 組數 ) K R. 計算全距平均 R = (K = 組數 ) K. 計算管制界限.X Chart : CLX = X UCLX = X + A2R LCLX = X - A2R R Chart : CLR = R UCLR = D4R LCLR = D3R2.2. 平均值與標準差管制圖 (-s Chart)當每組的樣本數超過10以上時,使用-RChart已不夠準確,須改用s取代 R.A、 建立步驟同 -R Chart.B、 X -s Chart公式. . X Chart : . s Chart X sCLX = X = ( ) (K = 組數) CLs = s = ( ) (K = 組數) K K UCLX = X + A1s UCLs = B4 s UCLX = X - A1s LCLs = B3 s 2.3. 個別值與移動全距管制圖 ( X Rm Chart ):A. 管制界線計算. XX = ( K為數據個數) Rm = Xi X (i+1)