《晶振相关知识》PPT课件.ppt

1、晶振知识训练，修正一般技术指标，标称频率决定因素规格中指定的频率。调整频率差基准温度时，工作频率相对于标称频率的最大允许偏差。显示常用的ppm(1/106)。温度频率差是工作频率在整个温度范围内相对于基准温度的允许偏差。显示常用的ppm(1/106)。共振电阻(Rr)晶体元件的串联谐振频率Fr的电阻值。负载电容(CL)与确定组件一起确定负载共振频率FL的有效外部电容，静态电容(C0)确定电路静态癌症的电容。它的大小主要取决于电极面积、筹码厚度以及硅片加工工艺。它的一般计算公式如下：C0=KC0AeF0C常数KC0电容常数，其值与车床格式、筹码形状相关。Ae电极面积，单位为mm2；F0公称频率，

2、单位KHz；c常数常数，单位PF；动态电容(C1)等效电路中动态手臂的电容。它的大小主要取决于电极面积，还与晶片平行度，微曹征的大小有关。它的一般公式是C1=KC1AeF0C常数KC1电容常数。Ae电极面积，单位mm2F0公称频率，单位KHzc常数常数，单位PF；动态电感(L1)等效电路中动态手臂的电感。动态电感和动态电容是一对相关的量，通常用作L1=1/(2F0)2C1 (mh)串行共振频率(Fr)晶体组件传记阻抗电阻两个频率中的较低者。负载谐振频率(FL)决定因素是负载电容连接或并行、组合阻抗电阻两种频率之一。质量系数(Q)质量系数也称为机器Q值，是反映谐振腔性能好坏的重要参数。L1和C1

3、与以下关系Q=wL1/Rr=1/wRrC1之上；R1牙齿越大，Q值越低，功率耗散越大，频率越不稳定。相反，Q值越高，频率越稳定。相对负载频率偏置(DL)、与连接谐振频率相关的决定负载谐振频率的变化量DL=(FL-Fr)/Fr在DLC1/2(C0CL)相对频率牵引范围(DL1，L2)晶体中粗略计算。D (L1，L2)=(fl1-fl2)/fr=C1(Cl2-cl1)/2(C0 cl1)(C0 Cl2)牵引灵敏度(TS)确定频率是固定的在牙齿过程中，加速功能转换为动能和弹性，功耗转换为热。后一种转换是由于石英谐振子内部和外部的摩擦。摩擦损失与震动点的速度有关，如果振动不再是线性的，或者石英摆内部或

4、表面和安装点的拉伸或变形、变位或加速度达到阈值，摩擦损失就会增加。频率和电阻变化。处理过程中DLD不良的主要原因是谐振子表面有微粒污染。主要原因是生产环境不干净或非法暴露在筹码表面。谐振子机械损伤。主要原因是抛光过程中产生的划痕。电极上有微粒或银球。主要原因是真空室的不洁和涂层速度不合适。车床电极接触不良。支架、电极和石英片之间存在机械应力。寄生响应除所有决定因素主响应(所需频率)外的其他频率响应。削弱寄生反应的方法是同时改变芯片的几何尺寸、电极和晶片加工工艺，但同时改变晶体的运动、静态参数等。寄生响应测量SPDB用DB表示Fr的振幅和最大寄生振幅的差异。最大寄生电阻SPURSPFR最小电阻寄

5、生和谐振频率之间的距离，以Hz或ppm表示。加工难度高的指标，频率差曹征/-5 PPM以下。温度范围宽频差异小。有q值要求。49S晶体矮人外壳。C0、C1和TS。，郑秀晶测量设备，当前郑秀晶测试器由将专用软件添加到网络分析器(或制造商自制网络分析卡)组成。测试功能强，几乎所有晶体参数全能测量。目前世界晶体行业公认的设备企业是美国SA公司、香港科学研究公司，他们的设备准确度和稳定性优秀，应用面广。美国SA测试设备，250A 350A 350B 250B，香港科研人员测试设备，防止KH1200 KH1102 KH3020 KH3288芯片破裂引起的产品故障。水晶是用导电胶连接底座和芯片。导电胶的主

6、要成分是银粉和环氧树脂。环氧树脂在高温下失效。因此，水晶最好不要长期保存在150以上。工作温度范围和频率允许偏差工程师规定只能指定室温下的频率差异。对于要求在整体作业温度范围内指定频率差异的应用程式，还必须指定整体作业温度范围的频率差异，指定此类频率差异时，必须考虑设备的温度升高允差。规定整个工作范围内频率差异的基本方法有两种。-20-70范围总频率差为50ppm。牙齿方法通常在有宽频碴而不是频率微曹征的情况下使用。指定下一部分的频率差。a .基准温度的频率差异为20ppm是。B. -20-70整个温度范围内与基准温度实际频率相关的偏差20ppm；牙齿方法通常在有严格的频率差的情况下使用，在需

7、要通过频率牵引消除基准温度下的频率差的情况下使用。负载电容和频率牵引在很多应用中使用负载电抗因素来牵引晶体频率。制造公差曹征、锁相环电路和FM应用程序可能需要这样做。在大多数应用程序中，牙齿负载电抗组件是可接受的。负载谐振频率(FL)和谐振频率(Fr)的相对频率牙齿为“负载谐振频率偏置”(DL)。以DL=(FL-Fr)/Fr C1/2(C0CL)计算相对负载谐振频率偏移。许多应用程序使用可变电容器作为负载电抗元件来调整频率。在牙齿负载电抗元件法规值之间取得的相对频率范围为相对牵引范围，可以计算为d (L1，L2)=(fl1-fl2)/fr=C1(Cl2-cl1)/2(c0)通常以ppm/pF表

8、示，在TS-C1/2(C0 CL)应用节目电路期间，晶体负载电容估计在实际应用中很重要，晶体负载电容和电路负载电抗匹配。如果晶体负载与电容牙齿电路负载电抗不一致，就很难得到正确的输出频率。电路不是有可变容量牙齿大的可曹征电容器。设计时需要做出决策载荷电容的近似估计。载荷电容简单近似计算如下：CL(C1 C2/(C1 C2)C杂散其中C杂散显示在晶体元件周围的电路分布电容数据简介PCB电路板的分布电容数大部分为5-6pF。晶体振动器、晶体振荡器定义、封装晶体振荡器(SPXO)是不补偿温度控制和温度的晶体振荡器。频率温度特性取决于石英振动晶体本身的稳定性。温度修正石英振荡器(TCXO)附加温度修正

9、电路，减少频率随环境温度变化而变化的石英振荡器。电压控制石英振荡器(VCXO)控制石英振荡器，该振荡器可控制外部电压，以变更或调整输出频率。恒温型石英振荡器(OCXO)是一种温度控制罐，用于在一定温度下保持石英振荡器或石英振动晶体，并控制能够在环境温度下保持输出频率最小变化量的石英振荡器。除了上述四个茄子振荡器外，随着PLL、Digital和Memory技术的应用，其他功能的多样化石英振荡器也快速增加，时钟振荡，标称频率：指定的频率中心值。频率偏差：整个温度范围内的频率偏移。温度范围：设备体验的环境温度。输入电压：工作电压。输入电流：工作电流。启动时间：是从通电开始时间到确定震振到标称频率(包

10、括频率差)的时间。上升时间(TR) : 0 从水平上升到 1 水平的时间下降时间(TF): 1 从水平下降到 0 的时间占空比(Duty) : duty=th频率范围5V振动时间：5毫秒MAX上升、下降频率范围：1 - 36M工作温度范围和总频率差异：0 - 70 /-20PPM工作电压：3.3V电压控制电压：0.3V - 3.0V牵引范围：/-100PPM线性密封实验B实验设备：氦频谱实验方法：氦压力0.5Mpa，120分钟判定标准：泄漏率必须小于110Pa*m/sec。 跌落实验箱实验方法：高度75厘米，30毫米厚硬木板确定标准：频率变化值必须小于/-5PPM，共振电阻变化值必须小于15%

11、 3 Ohm。振动测试设备：振动测试台，实验设备3360电磁振动台测试方法：频率10-55Hz，振幅1.5毫米，55-500Hz，20g三个垂直方向，每个方向30分钟。晶体标准：频率变化值必须小于/-5PPM，共振电阻变化值必须小于15% 3 Ohm。铅端强度测试设备：自制夹具、张力测量仪。实验方法：按照GB/T12273-1996和以下规定(张力0.5千克，弯曲力0.25千克)进行实验严酷等级。判定标准：引线没有松动和玻璃珠破裂，引线没有折断和明显的伤口。可焊性实验设备：可焊性试验台实验方法：2355，浸渍时间20.5秒，10倍放大镜判定标准：引线渗透良好，新石层面积占试验面积的95%以上。稳定湿度实验设备：湿热实验箱实验方法：402，相对湿度93(，)%，500小时部署。确定标准：频率变化值必须小于/-5PPM，共振电阻变化值必须小于15% 3 Ohm，绝缘电阻值必须大于500 M。老化实验设备：晶体老化实验箱实验方法：持续852，720小时，每周两次频率测量决定标准：频率变化值应小于5PPM，共振电阻变化