X线头影测量学培训课件

X线头影测量学定义

X线头影测量是对标准化定位的X线片所得的软硬组织影像进行定量的测量分析，从而了解牙合颅面软硬组织的结构，使对牙合颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。2X线头影测量学应用研究颅面生长发育牙合颅面畸形的诊断分析确定错合畸形的矫治设计研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态结构变化外科正畸预测手术及矫治效果下颌功能分析3X线头影测量学4X线头影测量学X线头颅定位照相和头影图的描绘5X线头影测量学1.头颅定位X线照相

头颅定位仪左、右耳塞及眶点指针构成与地面平行的平面自然头位法

6X线头影测量学

X线照相投照距离

X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm患者正中矢状面至胶片约10cmX线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线

7X线头影测量学8X线头影测量学9X线头影测量学患者体位：ICP位，唇自然放松

10X线头影测量学2.头影图的描绘

描图工具：观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐的铅笔等注意：当左右影像不完全重合时，应取其平均中点来做描绘11X线头影测量学12X线头影测量学常用标志点及测量平面13X线头影测量学一.颅部标志点（5个）鼻根点（N）：鼻额缝的最前点蝶鞍点（S）：蝶鞍影像的中心点14X线头影测量学颅部标志点（5个）耳点（Po）：机械耳点---定位仪耳塞影像的最上点解剖耳点---骨性外耳道影像的最上点颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘中点Bolton点（Bo）：枕骨髁突后切迹之最凹点15X线头影测量学16X线头影测量学二.上颌标志点（6个）眶点（Or）：眶下缘最下点翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像的最下点前鼻棘点（ANS）：前鼻棘的尖端17X线头影测量学上颌标志点（6个）后鼻棘点（PNS）：硬腭后部骨棘之尖上齿槽坐点（A）：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点上中切牙点（U1）：上中切牙切缘之最前点18X线头影测量学注意：由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难19X线头影测量学上颌标志点20X线头影测量学三.下颌标志点（7个）髁顶点（Co）：髁突影像最上点下颌角点（Go）：下颌角后下点颏下点（Me）：颏部之最下点21X线头影测量学下颌标志点（7个）颏前点（Pog）：颏部之最前点颏顶点（Gn）：颏下点与颏前点之中点下齿槽座点（B）：颏前点与下齿槽缘之间的凹点下中切牙点（L1）：下中切牙切缘之最前点22X线头影测量学下颌标志点23X线头影测量学四.常用测量平面1.基准平面：相对稳定前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的连线组成眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组成

Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连线组成24X线头影测量学常用基准平面前颅底平面（SN）眶耳平面（FH）Bolton平面25X线头影测量学2.测量平面：

腭平面（PP）:由前鼻棘点与后鼻棘点的连线组成面平面（N-Pog）：由鼻根点与颏前点的连线组成Y轴（S-Gn）：蝶鞍点与颏顶点的连线组成26X线头影测量学合平面合平面（OP）:解剖合平面

功能合平面27X线头影测量学下颌平面（MP）：颏下点与下颌角下缘的切线通过下颌骨下缘最低点的切线下颌角点与颏顶点的连线（Go-Gn）28X线头影测量学常用测量项目29X线头影测量学常用的角度测量值上齿槽座角（SNA）：前颅底平面与鼻根点和上齿槽座点连线所形成的后下交角下齿槽座角（SNB）：前颅底平面与鼻根点和下齿槽座点连线所形成的后下交角上下齿槽座角（ANB）：SNA与SNB之差30X线头影测量学下颌平面角（MP-FH）:下颌平面与FH平面的交角Y轴角：蝶鞍中心点与颏顶点连线与眶耳平面之前下交角面角（NPog-FH）：面平面与眶耳平面相交的后下交角31X线头影测量学常用的面部高度测量值上前面高（N-ANS）：以FH为参照，N点和ANS点两点间的垂直距离下前面高（ANS-ME）：以FH为参照，ANS点和ME点两点间的垂直距离全面高（N-ME）：从前鼻棘至颏下点的距离33X线头影测量学常用的头影测量分析法34X线头影测量学Tweed测量分析法华西医大测量分析法Downs测量分析法Wylie测量分析法35X线头影测量学Tweed分析法：

测量由眶耳平面（FH）、下颌平面（MP）、下中切牙长轴延长线所组成的代表面部形态结构的颌面三角形36X线头影测量学

正常值

成都

白人眶耳平面－下颌平面角（FMA）28°25°下中切牙－眶耳平面角（FMIA）54°65°下中切牙－下颌平面角（IMPA）98°90°37X线头影测量学意义：FMIA为54°是建立良好面形的重要条件正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成以下颌分析为依据38X线头影测量学常用软组织测量标志39X线头影测量学额点（G）：额部之最前点软组织鼻根点（Ns）：软组织侧面上相应之鼻根点鼻尖点（Prn）：鼻尖之最前突点鼻下点（Sn）：鼻小柱与上唇之连接点软组织颏前点（Pog`）：软组织颏部之最前点H线：软组织颏前点与上唇间切线审美平面（E线）:通过鼻尖与颏部最凸点的切线40X线头影测量学常用计测点41X线头影测量学E线（审美平面）42X线头影测量学43X线头影测量学44X线头影测量学THANKS!45X线头影测量学X线头影测量学定义

X线头影测量是对标准化定位的X线片所得的软硬组织影像进行定量的测量分析，从而了解牙合颅面软硬组织的结构，使对牙合颅面的检查诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。47X线头影测量学应用研究颅面生长发育牙合颅面畸形的诊断分析确定错合畸形的矫治设计研究矫治过程中及矫治后的牙合颅面形态结构变化外科正畸预测手术及矫治效果下颌功能分析48X线头影测量学49X线头影测量学X线头颅定位照相和头影图的描绘50X线头影测量学1.头颅定位X线照相

头颅定位仪左、右耳塞及眶点指针构成与地面平行的平面自然头位法

51X线头影测量学

X线照相投照距离

X线球管至患者正中矢状面应不小于150cm患者正中矢状面至胶片约10cmX线中心线与头颅定位仪左右耳塞成一直线

52X线头影测量学53X线头影测量学54X线头影测量学患者体位：ICP位，唇自然放松

55X线头影测量学2.头影图的描绘

描图工具：观片灯、硫酸纸、毫米尺、半圆仪及硬质尖锐的铅笔等注意：当左右影像不完全重合时，应取其平均中点来做描绘56X线头影测量学57X线头影测量学常用标志点及测量平面58X线头影测量学一.颅部标志点（5个）鼻根点（N）：鼻额缝的最前点蝶鞍点（S）：蝶鞍影像的中心点59X线头影测量学颅部标志点（5个）耳点（Po）：机械耳点---定位仪耳塞影像的最上点解剖耳点---骨性外耳道影像的最上点颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘中点Bolton点（Bo）：枕骨髁突后切迹之最凹点60X线头影测量学61X线头影测量学二.上颌标志点（6个）眶点（Or）：眶下缘最下点翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂影像的最下点前鼻棘点（ANS）：前鼻棘的尖端62X线头影测量学上颌标志点（6个）后鼻棘点（PNS）：硬腭后部骨棘之尖上齿槽坐点（A）：前鼻棘与上齿槽缘间的最凹点上中切牙点（U1）：上中切牙切缘之最前点63X线头影测量学注意：由于骨密度较低，ANS点和A点的定位较困难64X线头影测量学上颌标志点65X线头影测量学三.下颌标志点（7个）髁顶点（Co）：髁突影像最上点下颌角点（Go）：下颌角后下点颏下点（Me）：颏部之最下点66X线头影测量学下颌标志点（7个）颏前点（Pog）：颏部之最前点颏顶点（Gn）：颏下点与颏前点之中点下齿槽座点（B）：颏前点与下齿槽缘之间的凹点下中切牙点（L1）：下中切牙切缘之最前点67X线头影测量学下颌标志点68X线头影测量学四.常用测量平面1.基准平面：相对稳定前颅底平面（SN）:由蝶鞍点与鼻根点的连线组成眶耳平面（FH）:由耳点与眶点的连线组成

Bolton平面:由Bolton点与鼻根点的连线组成69X线头影测量学常用基准平面前颅底平面（SN）眶耳平面（FH）Bolton平面70X线头影测量学2.测量平面：

腭平面（PP）:由前鼻棘点与后鼻棘点的连线组成面平面（N-Pog）：由鼻根点与颏前点的连线组成Y轴（S-Gn）：蝶鞍点与颏顶点的连线组成71X线头影测量学合平面合平面（OP）:解剖合平面

功能合平面72X线头影测量学下颌平面（MP）：颏下点与下颌角下缘的切线通过下颌骨下缘最低点的切线下颌角点与颏顶点的连线（Go-Gn）73X线头影测量学常用测量项目74X线头影测量学常用的角度测量值上齿槽座角（SNA）：前颅底平面与鼻根点和上齿槽座点连线所形成的后下交角下齿槽座角（SNB）：前颅底平面与鼻根点和下齿槽座点连线所形成的后下交角上下齿槽座角（ANB）：SNA与SNB之差75X线头影测量学下颌平面角（MP-FH）:下颌平面与FH平面的交角Y轴角：蝶鞍中心点与颏顶点连线与眶耳平面之前下交角面角（NPog-FH）：面平面与眶耳平面相交的后下交角76X线头影测量学常用的面部高度测量值上前面高（N-ANS）：以FH为参照，N点和ANS点两点间的垂直距离下前面高（ANS-ME）：以FH为参照，ANS点和ME点两点间的垂直距离全面高（N-ME）：从前鼻棘至颏下点的距离78X线头影测量学常用的头影测量分析法79X线头影测量学Tweed测量分析法华西医大测量分析法Downs测量分析法Wylie测量分析法80X线头影测量学Tweed分析法：

测量由眶耳平面（FH）、下颌平面（MP）、下中切牙长轴延长线所组成的代表面部形态结构的颌面三角形81X线头影测量学

正常值

成都

白人眶耳平面－下颌平面角（FMA）28°25°下中切牙－眶耳平面角（FMIA）54°65°下中切牙－下颌平面角（IMPA）98°90°82X线头影测量学意义：FMIA为54°是建立良好面形的重要条件正畸治疗主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成以下颌分析为依据83X