抗硫化厚膜片式固定电阻器（征求意见稿）

1T/ZEIIA05—2024抗硫化厚膜片式固定电阻器详细规范本文件规定了抗硫化厚膜片式固定电阻器的术语和定义、型号规格、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输及贮存。本文件适用于抗硫化厚膜片式固定电阻器（以下简称抗硫化电阻）的生产。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T2423.17-2008电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Ka：盐雾GB/T2828.1计数抽样检验程序第1部分:按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T2829周期检验计数抽样程序及表（适用于对过程稳定性的检验）GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器第1部分：总规范GB/T9546.8-2015电子设备用固定电阻器第8部分：分规范表面安装固定电阻器IEC60068-2-58:2015表面贴装器件(SMD)的可焊性及所镀金属的抗熔解性和抗焊接热的测试方法3术语和定义GB/T5729-2003界定的以及下列术语和定义适用于本文件。3.1抗硫化型常规型电阻Anti-SulruratedGeneralThickFilmChipFixedResistor以具有优越的防硫化、抗腐蚀性能为特点，能在含硫的环境正常稳定工作的厚膜片式固定电阻器。3.2抗硫化功率型电阻Anti-SulruratedHighPowerThickFilmChipFixedResistor以额定功率大且具有优越的防硫化、抗腐蚀性能为特点，能在含硫的环境正常稳定工作的厚膜片式固定电阻器。3.3抗硫化抗浪涌型电阻Anti-SulruratedAnti-SurgeThickFilmChipFixedResistor以具有优越耐瞬时脉冲和抗浪涌能力，以及具有优越的防硫化、抗腐蚀性能为特点，能在含硫的环境正常稳定工作的厚膜片式固定电阻器。3.4抗硫化高压型电阻Anti-SulruratedHighVoltagePowerThickFilmChipFixedResistor以高于常规型电阻的最大工作电压，以及具有优越的防硫化、抗腐蚀性能为特点，能在含硫的环境正常稳定工作的厚膜片式固定电阻器。4型号规格4.1型号规格表示格式①②③④⑤⑥⑦⑧①表示产品系列代号，见4.2。②表示产品分类代号，见4.3。③表示额定功率代号，见4.4。④表示型号代号，见4.5。2T/ZEIIA05—2024⑤表示电阻温度系数代号，见4.6。⑥表示阻值代号，见4.7。⑦表示电阻值误差精度代号，见4.8。⑧表示包装代号，见4.9。4.2产品系列代号“R”表示厚膜片式固定电阻器。4.3产品分类代号产品分类代号如表1所示，复合型系列产品用2位代号组合。表1分类代号H///4.4额定功率代号4.4.1对于抗硫化常规型，用“C”表示常规功率系列，“S”表示提升功率系列。4.4.2对于抗硫化抗浪涌型、抗硫化高压型、抗硫化功率型，如表2所示。表2功率代号ABCDEFGHJKLMNQRTXYW1234.5型号代号型号代号如表3所示：表3型号代号4.6电阻温度系数代号电阻温度系数（TCR）代号如表4所示：表4电阻温度系数代号UBLWUBWK3T/ZEIIA05—2024表4电阻温度系数代号（续）MUWKTYSQMUBLWK抗硫化高压型UBWKMUWKYSQMUBLWK4.7电阻值代号E24系列（0.01Ω≤R≤500MΩ)电阻值代号用三位数字（0.1Ω≤R≤500MΩ)或四位数字（0.01Ω≤R＜0.1Ω)表示；E96系列（1Ω≤R≤500MΩ)电阻值代号用四位数字表示，非标（非E24、非E96）阻值的电阻值代号表示参照E24、E96系列的表示方法，0Ω＜R＜1Ω电阻值代号用三位或四位数字表示，阻值单位为欧姆时用R表示小数点，阻值单位为毫欧姆时用M表示小数点。跨接电阻的电阻值代号用000表示。4.8电阻值误差精度代号电阻值误差精度代号如表5所示：表5电阻值误差精度代号%FGJDFGHJKM4T/ZEIIA05—20244.9包装方式代号“T”表示编带包装，“C”表示塑料袋包装。5技术要求5.1外观要求无可见损伤，标记清楚。5.2外形尺寸产品外形示意图见图1，外形尺寸应符合表6的规定。表6外形尺寸LWtab5.3额定值5.3.1抗硫化常规型的额定值如表7和表8所示。表7额定值WVVA流A 1 1 1224 1336---24585T/ZEIIA05—2024表7额定值（续）---255---265---2651---265表8电阻温度系数----------------------------5.3.2抗硫化功率型、抗硫化抗浪涌型的额定值，如表9所示表9额定值WVV10-6/℃26T/ZEIIA05—20245.3.3抗硫化高压型的额定值如表10所示表10高压型产品的额定值WVV10-6/℃15.4降功耗曲线本标准中的抗硫化厚膜片式固定电阻器安装在规定的基片（1.6mm厚环氧玻璃层压印制电路板或0.6mm±0.1mm厚的96%氧化铝陶瓷基板）上，当环境温度超过70℃时，其额定负荷、额定功率、额定电流（跨接电阻）应按图2、图3所示降功耗曲线。图2降功耗曲线图图3降功耗曲线图注：适用于抗硫化常规型、抗硫化抗浪涌型、抗硫化高压型、抗硫化功率型的0201、0402、065.5电阻值阻值应符合标称阻值，偏差应符合表5的规定。5.6可焊性7T/ZEIIA05—2024上锡面积应不小于95%。5.7耐焊接热外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值要求如表11所示。表11试验后阻值要求5.8基板弯曲强度（端面镀层结合强度）外观无可见损伤，试验后阻值要求应符合表11的规定。5.9过载外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值要求如表12所示。表12试验后阻值要求5.10剪切力（附着力）外观无可见损伤。5.11温度快速变化外观无可见损伤，试验后阻值要求如表13所示。表13试验后阻值要求8T/ZEIIA05—2024表13试验后阻值要求（续））：5.12气候顺序外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值要求如表14所示。表14试验后阻值要求5.1370℃耐久性外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值应符合表14的要求。5.14阻值随温度变化电阻温度系数应符合表8、表9或表10的要求。5.15稳态湿热外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值要求如表15所示。表15试验后阻值要求）：5.16上限类别温度耐久性9T/ZEIIA05—2024外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值要求如表16所示。表16试验后阻值要求）：5.17耐电压无击穿或飞弧。5.18耐溶剂外观无可见损伤且标记清晰，试验后阻值应符合表17的要求。表17试验后阻值要求FGJ5.19硫化试验外观无可见损伤，试验后阻值应符合表18的要求。表18试验后阻值要求/FGJ方法一△R≤±(1.0%R+0.05Ω)5.20盐雾外观端面镀层不出现氧化生锈、脱落，试验后阻值应符合表19的要求。表19试验后阻值要求FGJT/ZEIIA05—20246试验方法6.1试验条件6.1.1试验环境条件试验环境条件为：a)温度：15℃~35℃;b)相对湿度：25%RH～75%RH;c)气压：86kPa～106kPa。6.1.2恢复条件产品试验后，进行阻值测量前应放置在5.1.1条件下恢复1h～2h。6.2外观用精度不低于30倍的显微镜进行检查。6.3外形尺寸按照GB/T5729-2003的4.4.2条的规定，用精度不低于0.02mm的游标卡尺和0.025mm的显微镜测量。6.4电阻值按照GB/T5729-2003的4.5条的规定进行，测量电压应符合表20的规定：表20测量电压测量电压U-0%,V131MΩ≤R注：标称阻值小于10Ω时，选择的测量电压应使电阻器的功耗小于其额定功耗的10%,但不6.5可焊性方法一：焊槽法，按照GB/T5729-2003的4.17条的规定进行，且试验条件应符合表21的规定：表21焊槽法试验条件注：用焊槽法进行可焊性试验，用Sn-Ag方法二：回流焊法，按照IEC60068-2-58：2015规定进行，且试验条件应符合表22的规定：表22回流焊试验条件150℃~180℃230℃~250℃--注：用回流焊法进行可焊性试验，用Sn96.5Ag3Cu0.T/ZEIIA05—20246.6耐焊接热按照GB/T5729-2003的4.18条的规定进行，且试验条件应符合表23的规定：表23耐焊接热试验条件注：用焊槽法进行耐焊性试验，用Sn-Ag6.7基板弯曲强度（端面镀层结合强度）按照GB/T5729-2003的4.33条执行，且试验条件应符合表24的规定：表24基板弯曲强度试验条件注：电阻器安装在1.6mm厚环氧玻璃层6.8过载按照GB/T5729-2003的4.13条执行，其中：跨接电阻施加最大过负荷电流，持续时间5s。其他电阻施加2.5倍额定电压或最大过负荷电压(取较小者)，持续时间5s。6.9剪切力按照GB/T5729-2003的4.32条执行，且试验条件应符合表25的规定:表25剪切力试验条件T/ZEIIA05—2024表25剪切力试验条件（续）注：电阻器安装在1.6mm厚环氧玻璃层6.10温度快速变化按照GB/T5729-2003的4.19条执行，且试验条件应符合表26的规定：表26温度快速变化试验条件0201、0402、0603、0805、1注：每个极限温度下的暴露时间为30min，转移过程暴露于室温下6.11气候顺序按照GB/T5729-2003的4.23条执行，且试验条件应符合表27的规定：表27气候顺序试验条件），6.1270℃耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.1条执行，且试验条件应符合表28的规定：表2870℃耐久性试验条件②其他电阻：额定电压或元6.13阻值随温度变化按照GB/T5729-2003的4.8条执行，其中：T/ZEIIA05—2024依次在下列各温度保持热稳定后进行阻值测量:（20+-）℃、（-55±3）℃、（20+-）℃、（1256.14稳态湿热按照GB/T5729-2003的4.24条执行，且试验条件应符合表29的规定：表29稳态湿热试验条件6.15上限类别温度耐久性按照GB/T5729-2003的4.25.3条执行，且试验条件应符合表30的规定：表30上限类别温度耐久性试验条件6.16耐电压按照GB/T5729-2003的4.7条执行，其中：在电极与基片间以大约100V/s的速率施加有效值为最大过负荷电压（各型号产品试验电压值参考表7中规定）的交流电压，保持60s±5s。6.17耐溶剂按照GB/T5729-2003的4.29条执行，其中：异丙醇(IPA)，23℃±5℃,浸10h。6.18硫化试验试验条件应符合表31的规定：表31硫化试验条件方法一按照ASTM-B-809-95规定进行，把待6.19盐雾试验按GB/T2423.17规定进行试验，其中，温度35℃±2℃、Nacl浓度5%、PH值6.5～7.2。试样要求：试样按正常使用状态放置，试样不能相互接触，并确保其他试样上的盐溶液不滴落在试样上。试验时间：48h。T/ZEIIA05—20247检验规则7.1检验分类分为逐批检验和周期检验两种。7.2逐批检验逐批检验按GB/T2828.1-2012和GB/T9546.8-2015执行，采用正常检验一次抽样方案，具体方案如表32所示。表32逐批检验方案1II2////37.3周期检验7.3.1样品抽取按GB/T2829-2002和GB/T9546.8-2015执行,具体抽样方案、各试验项目性能判定要求符合表33的规定。表33周期检验方案D或NDpncD30D30D30D30D0D0D0T/ZEIIA05—2024表33周期检验方案（续）D030DD30注：p：周期，月；n：样本大小；c：合格判定数（允许不合格品）；7.3.2应进行周期检验的情况a)产品定型鉴定；b)停产半年以上重新生产或转厂生产时；c)当设计、工艺、材料有重大改变足以影响产品的质量时；d)当出现质量事故或重大质量波动时；e)法定机构或主管部门提出进行周期检验要求时；f)每三个月进行一次周期检验。8标志、包装、运输、贮存8.1标志8.1.1标签每个包装应贴上标签，标签上应标明以下内容：a)型号规格b)标称电阻值c)电阻值误差精度d)额定功率e)包装数量f)出厂日期g)商标、制造者名称8.1.2外包装纸箱标志外包装纸箱应标明以下内容：a)客户名称b)产品名称c)型号规格d)数量e)出厂日期f)制造者名称、地址和商标g)执行的标准号8.1.3标记8.1.3.11Ω≤R≤500MΩ的标记方法8.1.3.1.1E24系列的标记方法T/ZEIIA05—2024当10Ω≤R≤500MΩ时，电阻值标记与电阻值代号相同：用三位数字表示，前两位为E-24系列电阻值有效数，最后一位为10的幂数N，阻值为：有效数×10NΩ。当1Ω≤R＜10Ω时，电阻值标记与电阻值代号相同：用三位数字表示，其中两位为E-24系列电阻值有效数，小数点用“R”表示。01005、0201、0402型号无标记表示。E24系列见附录A。8.1.3.1.2E96系列的标记方法对于0805、1206、1210、1218、1812、2010、2512型号，当100Ω≤R≤500MΩ时，标记与电阻值代号相同：用四位数字表示，前三位为E96系列电阻值有效数，最后一位为10的幂数N，阻值为：有效数×10N