YDB 025-2008 光通信用半导体激光器组件技术条件 2.5Gbs电吸收调制半导体激光器组件

I 1 1 14技术要求 45测试方法 6 87其它要求 98产品检验 9 附录A(资料性附录)密集波分复用光传输系统中心波长 附录B(资料性附录)封装尺寸及管脚定义 Ⅱ本技术报告规定了2.5Gb/s电吸收调制半导体激光器组件的术语和定义、技术要求、测试方法、可靠性试验分类和试验方法、产品检验和产品管理等。下列文件中的条款通过本技术报告的引用而成为本技术报告的条款。凡是注日期的引用文件，其随成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本技GB/T9771.1通信用单模光纤系列第1部分：非色散位移单模光纤特性YD/T701-1993半导体激光二极管组件测试方法YD/T834-1996分布反馈激光二极管检测方法YD/T1766-2008光通信用光收发合一模块的可靠性试验失效判据ITU-TG.957SDH系统和设备的光接口ITU-TG.694.1(2002)密集波分复用系统光源频率间隔MIL-STD-883G(2006)微电子器件试验方法标准TelcordiaGR-468-CORE(2004)用于通信设备中的光电子器件的一般可靠性保证要求下列缩略语适用于本技术报告。自动光功率控制自动温度控制比特差错率ofLife寿命开始2EOLEndofLifeESD中文名称OperatingLaserChipTempOperatingCaseTemp阀值电流PhotodiodeForwardCurPhotodiodeMonitorDarkCurPhotodiodeMonitorCurPhotodiodeMonitorOutputOpticalPModulatorForwardVoltaModulatorBlasVoltageof"1"coPhotodiodeReverseVoB3中文名称OpticalOutputPowe出纤光功率OperatingRelativeHLaserEmissionCentralSpectralWav中心波长CenterWavelengthDriftwithCaseTempe中心波长随管壳温度变化率SpectralWidthwithM调制谱宽上升/下降时间下列术语和定义以及YD/T701-199中确立的术语和定义均适用于本技术报告。属于强度调制器，它利用Franz-Keldysh效应和量子约束Stark效应，工作在调制波长。当调制器无偏压时，该波长光束处于通状态。随着调制器上偏压的增加，原波长光束吸收系数变大，该波长光束成为断状态。电吸收调制半导体激光器组件electro-absorptionmodulatedlaserassembly光监测二极管、光隔离器、微透镜等。在集成电吸收调制器的半导体激光器中，调制器的频率啁啾是主要的。由于在高速调制时调制电压的急剧变化，将导致调制器有源层中的激光吸收峰和吸收边发生变化，从而产生吸收波长的瞬时动态偏移，这种波长的瞬时动态偏移(亦即频率的瞬时动态偏移)称为频率啁啾。频率啁啾可用啁啾系数a来衡量，其定义为：a=(dO/dt)/[(1/2P)×(dP/dt)]正啁啾参数相应于脉冲上升边的正频率漂移(蓝移),而负啁啾参数相应于脉冲下降边的负频率漂帕尔帖致冷器peltirethermoelectriccooler利用帕尔帖效应工作的半导体双向热泵浦器件，安装在激光器芯片和金属封装主体之间。给半导体激光器组件施加直流偏置电流，并叠加交流正弦调制电流。保持交流调制电流恒定，增加调制频率，直到交流输出信号幅度下降3dB,此时所对应的频率为截止频率。4一℃一℃一一2V1V1一V-一V一一A一一-—管芯温度设定C阀值电流一一一V2一中心波长随管壳温度变 1移一一 调制谱宽(-20dB)一一一啁啾系数a 1一5表3(续)电压0V一一2RF回损一一7-3一消光比带内平坦度一上升/下降时间10%到90% 背光监测二极管监测电流 VRp=5.0V背光监测二极管等效电容C 一 一AVW一2RB 一K —a寿命终了指标，一般可采用加速老化的试验方法来测试。b2.48832Gb/s,NRZ码，PRBS2²-1,In=Iop,T₁=T,V=Vm6O(75.7.1测量框图啁啾参数测量框图如图2所示。图2啁啾参数测量框图5.7.2测量步骤b)开启电源，调节被测激光器组件功率到适当数值；c)调节干涉仪，记录高速宽带示波器采集的数据；d)根据采集的数据自动计算啁啾参数。5.8眼图、消光比的测试5.9跟踪误差的测试5.10中心波长和平均输出光功率的温度变化测试5.10.1测量框图中心波长和平均输出光功率的温度变化测量框图如图3所示。图3中心波长和平均输出光功率的温度变化测量框图5.10.2测量步骤b)开启驱动电源，调节驱动电流到适当数值，加入脉冲图形发生器；c)开启多波长计，输入被测光，调节光可变衰减器到适当值，记录波长信息和输出功率值；d)将被测激光器组件放入温度循环箱中并设置相应温度值；e)当设定温度稳定后，再次记录波长信息和输出功率值；f)比较两次测量数据，计算结果。86.1可靠性试验分类C条件A:5次/轴向04个循环/轴向0条件A:△T=100℃0光纤拉力00耐久性(高温)00100次循环通过/失效00+85℃相对湿度85%,00表4(续)C0内部水汽含量最大5000ppm水汽0一60aLTPD(用%表示)表示批容许不合格品率，SS表示最小可接收样品数，C表示允许的失效数。c如优先采用加电的温度循环，则不加电的试验可以不d对应于中心局环境应用的半导体光电子器件。e对应于非受控环境应用的半导体光电子器件。GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测试技术静电放电8.3型式检验a)不能正常工作：c)外壳封装破裂或有裂纹、器件有错位。a)名称、型号；d)应贮存于通风干燥(相对湿度小于80%)、洁净和温度适宜(0℃~40℃)的环境中。间隔50