校准术语-涂层测厚仪

第第页校准术语—涂层测厚仪以下讨论供应了与DeFelsko涂层测厚仪相关的计量术语的定义、解释、限制和实际示例。用于编写本文档的资源紧要包含SSPC、ISO、ANSI和ASTM等国际组织发布的技术文章和标准。目的是为DeFelsko文档开发一个通用参考平台，包含文献、手册、技术文章、通信和网络料子。类型1PullOff测厚仪在1型PullOff（PosiTest或PosiPen）测厚仪中，永磁体与涂层表面直接接触。测量将磁铁从表面拉出所需的力，并将其解释为刻度或仪表显示的涂层厚度值。将磁体保持在表面上的磁力与磁体和钢之间的距离（即干涂层的厚度）的非线性函数成反比。从厚涂层上移除磁铁所需的力较小。类型2电子测厚仪2型电子测厚仪（PosiTector）使用电子电路将参考信号转换为涂层厚度。电子铁质测量仪依据两种不同的磁性原理工作。有些使用永磁体，当靠近钢时，会加添磁体极面的磁通密度。涂层厚度是通过测量磁通密度的这种变更来确定的，磁通密度的变更与磁铁和钢基材之间的距离成反比。位于极面的霍尔元件和磁阻元件是测量这种磁通密度变更的常用方法。但是，这些元件的响应取决于温度，因此需要进行温度弥补。其他铁质电子测厚仪依据电磁感应原理工作。包含软铁棒的线圈由交流电流供电，从而在探头处产生变更的磁场。与永磁体一样，当探头靠近钢基材时，杆内的磁通密度会加添。这种变更由第二个线圈检测到。第二个线圈的输出与涂层厚度有关。由于线圈参数的温度倚靠性，这些应变计还需要温度弥补。表征表征是一个过程，通过该过程教会仪器将从其探头尖端接收到的信号与实际涂层厚度测量值相关联。表征过程的结果是仪器内置的校准曲线。基于曲线的多而杂性，它还可能包含其他影响的余量，例如环境温度。每台DeFelsko仪器都使用覆盖仪器全部范围的可追溯校准标准进行的测量来单独表征。正是这一特性使DeFelsko仪器能够为大多数应用直接进行有意义的测量。参考标准参考标准是已知厚度的样品，用户可以依据它来验证其测厚仪的精准性。参考标准通常是涂层厚度标准或垫片。假如合同双方同意，已知（或可接受）厚度的样本部分可用作特定工作的厚度标准。涂层厚度标准对于大多数仪器，涂层厚度标准通常是光滑的金属基材，其具有可追溯到国家标准（NIST）的已知厚度的非磁性（环氧树脂）涂层。用于磁力计的基材是铁（钢）或用于涡流计的有色金属（铝）。作为制造过程的一部分，高公差涂层厚度标准用于表征和校准测厚仪。客户可以购买相同的标准，用作校准试验室的校准标准，或用作现场或工厂车间的检查标准。与超声波测厚仪一起使用的涂层厚度标准是经过机械加工成平坦光滑表面的实心塑料（聚苯乙烯）块。除了可追溯到国家标准的已知厚度外，这些标准还具有已知的声速。校准标准品作为附件购买，以帮助充足客户日益增长的需求，以充足ISO/QS9000和内部质量掌控要求。很多客户发觉在内部校准他们自身的测厚仪比使用DeFelsko的校准服务更应用。为了便利这些客户，供应了标称值的校准标准集，以涵盖每个DeFelsko测厚仪的整个范围。全部标准都带有校准证书，显示对NIST的可追溯性。垫片垫片是已知厚度的扁平非磁性（塑料）部件。虽然垫片通常能够接受待测基材的形式，但垫片的精度比涂层厚度标准更受限制。因此，当使用垫片对2类（电子）测厚仪进行校准调整时，在确定测量精度之前，将垫片的公差与测厚仪的公差结合起来特别紧要。不建议将垫片与类型1（机械拉断）测厚仪一起使用。这种垫片通常相当坚硬和弯曲，即使在光滑的钢测试表面上也不会完全平放。在机械测厚仪测量的拉断点相近，垫片常常从钢表面弹回，使磁铁过早升起并导致错误读数。校准校准是测量可溯源校准标准并验证结果是否在测厚仪规定精度范围内的受控和记录过程。校准通常由测厚仪制造商或合格试验室在受控环境中使用文件化流程进行。校准中使用的涂层厚度标准必须使得测量结果的综合不确定性小于测厚仪规定的精度。校准间隔校准间隔是仪器重新校准之间的既定时间段。依据ISO17025的要求，DeFelsko不将校准间隔作为我们的PosiPen、PosiTest、PosiTector6000和100涂层测厚仪颁发的校准证书的一部分。对于寻求帮助订立自身的校准间隔的客户，我们共享以下阅历。与保质期无关的因素在确定校准间隔时更为关键。这些因素紧要是使用频率、相关应用以及在使用、处置和储存过程中的注意程度。例如，频繁使用测厚仪、在磨蚀表面上测量或粗暴使用测厚仪（即掉落测厚仪、未能更换探头尖端的盖子进行存放或常常将测厚仪扔进工具箱进行存放）的客户）可能需要相对较短的校准间隔。从理论分析和实践阅历来看，温度和湿度对应变片的影响是微乎其微的。另外，制造过程旨在更大限度地削减测厚仪性能的校准后变更。即使在漂移的情况下，测厚仪测量通常也是线性的，因此在使用前通过测厚仪的“零”功能进行弥补。尽管DeFelsko建议客户依据自身的阅历和工作环境建立测厚仪校准间隔，但客户反馈建议将一年作为典型的起点。另外，我们的阅历表明，购买新仪器的客户可以安全地将仪器购买日期作为他们第一次校准间隔的开始。保质期的更小影响降低了实际校准证书日期的紧要性。校准证书校准证书是记录实际测量结果和全部其他相关信息以成功校准仪器的文件。DeFelsko在每台新的、重新校准的或维护和修理过的仪器中都附有校准证书，清楚地表明对国家标准的可追溯性。可追溯性可追溯性是通过不间断的比较链跟踪测量结果的本领，一直追溯到公认正确的固定国际或国家标准。该链通常由几个适当的测量标准构成，每个标准的值都比其后续标准具有更高的精准性和更少的不确定性。重新校准（重新认证）重新校准，也称为重新认证，是对使用过的仪器进行校准的过程。在仪器的整个生命周期中都需要定期重新校准，由于探头表面会受到磨损，这可能会影响测量的线性度。理论上，拥有可追溯的厚度参考标准和可从DeFelsko网站获得的校准程序副本的客户可以重新校准他们自身的测厚仪。客户还受到他们自身的质量体系要求以及他们掌控重新校准条件的本领的限制。验证（校准验证）校准验证是仪器用户依据覆盖预期涂层厚度范围的已知参考标准执行的精准性检查。该过程旨在验证测厚仪是否仍按预期运行。通常执行验证是为了防止在轮班开始或结束时使用不精准的测厚仪进行测量，在进行关键测量之前，当仪器掉落或损坏时，或者每当怀疑有错误读数时。假如合同双方认为合适，可以就验证测厚仪精度的细节和频率达成初步协议。假如读数与参考标准不一致，则自上次精度检查以来进行的全部测量都是可疑的。假如显现物理损坏、磨损、高使用率或经过既定的校准间隔，则应停止使用测厚仪并返回制造商进行维护和修理或校准。检查测量标准的使用不能替代仪器的定期校准和确认，校准调整（调整、优化）校准调整是校准测厚仪的厚度读数（除去偏差）以匹配已知样品的厚度读数，以提高测厚仪在特定表面或其测量范围的特定部分的精准性。在大多数情况下，只需要在未涂层的基材上检查零位并开始测量。然而，基板（成分、磁性、形状、粗糙度、边沿效应）和涂层（成分、表面粗糙度）以及环境和表面温度等特性的影响可能需要对仪器进行调整。大多数2型测厚仪都可以依据已知的参考标准进行调整，例如涂层零件或垫片。但是，PosiPen和PosiTest等类型1测厚仪具有非线性刻度。由于它们的调整功能是线性的，因此不应进行任何调整。相反，用户应当读取贱金属读数（BMR）。对于未指定校准调整方法的2型测厚仪，通常首先进行1点校准调整。假如碰到不精准的情况，则应进行2点校准调整。1点校准调整1pt校准调整涉及在对已知样品或参考标准进行多次读数后将仪器的校准曲线固定在一点。假如需要，可以将垫片放置在裸基板上以建立这样的厚度。该调整点可以位于仪器测量范围内的任何位置，但为获得更佳结果，应选择接近预期测量厚度的位置。归零是简单的1点调整形式。它涉及未涂层样品或板的测量。在简单的零位校准调整中，进行一次测量，然后将读数调整为零位。在平均零校准调整中，进行多次测量，然后测厚仪计算平均读数并自动将该值调整为零。2点校准调整2pt校准调整与1pt仿佛，只是仪器的校准曲线在对已知样品或参考标准进行多次读数后固定在两个已知点。这两个厚度必须在仪器的测量范围内。通常在预期涂层厚度的任一侧选择点。PosiTector6000的一个优势是其整个测量范围内的精度。这通常使零（未涂层）成为2点校准中使用的两个点之一、基本金属读数基底金属读数（BMR）是一种归零技术，用于粗糙表面上的1类（机械拉断）测厚仪。对1类测厚仪的调整本质上是线性的，但测厚仪的刻度是非线性的。因此，紧要的是不要将测厚仪调整到裸基板上的读数为零。建议计算未涂层部件的BMR，并从涂层部件获得的实际读数中减去它