(高清版)GBT 12274.4-2021 有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分：分规范 能力批准

有质量评定的石英晶体振荡器第4部分：分规范能力批准国家标准化管理委员会国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 I 1.2规范性引用文件 2优先额定值和详细规范制定指南 2.2详细规范中应给出的内容(适用于标准产品和定制产品) 2 3.1能力批准资格 23.2结构相似 2 33.4能力手册 3 3 53.7能力批准计划 3.8能力批准报告 5 53.10可能影响能力批准的更改 3.11初始能力批准 53.12能力批准的维持 3.14质量一致性检验 3.15筛选程序 4试验和测量程序 附录A(规范性附录)描述能力批准摘要的格式示例 附录B(规范性附录)工艺控制CQC规范首页的格式 附录C(规范性附录)证实边界和极限CQC规范首页的格式 I——第4部分：分规范能力批准；本部分为GB/T12274的第4部分。——GB/T12273.1—2017有质量评定的石英晶体元件第1部分：总规范(IEC60122-1:2002,——GB/T12274.1—2012有质量评定的石英晶体振荡器第1部分：总规范(IEC60679-1:1GB/T12274.4—2021/IECGB/T12274的本部分适用于质量评定以能力批准为基础的、按定制产品或标准产品制作的石英本部分规定了总规范IEC60679-1中给出的优先额定值和特性以及试验和测量方法，并给出了石IEC60122-1:2002有质量评定的石英晶体元件第1部分：总规范(Quartzcrystalunitsofas-IEC60679-1:2007有质量评定的石英晶体振荡器第1部分：总规范(Quartzcrystalcontrolledoscillatorsofassessedquality—PartIEC60679-4-1有质量评定的石英晶体振荡器第4-1部分：空白详细规范能力批准(Quartzcrystalcontrolledoscillatorsofassesseproval)IECQ02:2013IEC电子元器件质量评定体系(IECQ)Procedure—Generalrequirementsfortheacce2.1优先额定值和特性详细规范中给出的值应从IEC60679-1:2007的2.3中选取。2每一个详细规范中应当给出检验所需的所有试验和测量方法。对于标准产品，至少应包括当石英晶体振荡器的结构与以上结构不同时，详细规范应规定充分表明石英晶体振荡器的尺寸详细规范中应按IEC60679-1:2007的2.4的要求规定石英晶体振荡器和初级包装要求的标志初始制造阶段应按IEC60679-1:2007中的3.1确定。3GB/T12274.4—2021/IEC60 b)表面贴装技术4GB/T12274.4—2021/IECc)厚薄膜技术d)引线键合技术b)CQCs应是下列之一： 5GB/T12274.4—2021/IEC60 a)工艺CQCs;b)工艺/极限CQCs;c)极限CQCs。6除并且采取了所有的纠正措施，包括文件的修改。当这些完成并获得NSI认同后，应采用新的CQCsCQCs的选取方案见图1。7GB/T12274.4—2021/IEC60679-4:193.11.3工艺CQC试验方案每一种电极材料和镀覆方法要求8个代表样品。样品应经受图2所示的试验方案。厚度对于待批准的晶体装配时所用的键合方法和基板的每一种组合都应准备8个样品。这些样品应经受图3所示的试验方案。8GB/T12274.4—2021/IEC对于需要批准的振荡器所用结构每一种组合都应准备8个样品。这些样品应经受图4所示的试验方案。如果谐振器的频率和晶体振荡器的输出频率相同时，选择最高频率的4个样品和最低频率的4个这些样品应经受图5所示的试验方案。9GB/T12274.4—2021/IEC60679-4:193.11.4工艺/极限CQC试验方案每一种外壳材料和密封方式都应选择8个样品，包括最大外壳的4个样品和最小外壳的4个样品。样品经受图6所示的试验方案。样品应经受试验组7的试验，经受试验组8和试验组9的样品至少包含最大外壳的2个样品和最小外壳的2个样品。 每一种结构要准备8个样品。当使用非密封晶体元件时，每个装配结构应包括最大质量的4个样品和最小质量的4个样品。这些样品应经受图7所示的试验方案。GB/T12274.4—2021/IEC 样品应能代表外壳的尺寸范围，应包括外壳最大尺寸的2个样品和最小尺寸的2个样品。这些样品应经受图8所示的试验方案。GB/T12274.4—2021/IEC60679-4:19这些样品应经受图9所示的试验方案。每个外壳材料的8个样品应经受图10的试验方案。用于试验组15的样品最好未经受试验组14的试验。每个试验组至少包括2个最大外壳的样品和2个最小外壳的样品。试验组15图10气候类别CQCs试验方案样品应能代表外壳的尺寸范围，应包括外壳最大尺寸的2个样品和最小尺寸的2个样品。这些样品应经受图11所示的试验方案。试验组16应至少包括以上每个选择频率的一个样品，还应至少包括2个最大和2个最小外壳的老化表1初始能力批准的试验表章条号、试验项目和试验顺序1AB电极膜厚度控制DC电极膜牢固度D2ABD3目检4D5电测试和检验6A目检(仅适用于使用挑选出来的或者是整齐排列的元器件时)B电测试(适用时)或4.5.15或4.5.16基准温度下输出74.6.2.2细检漏(适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(适用于密封外壳)84.6.2.2细检漏(适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(适用于密封外壳)GB/T12274.4—2021/表1(续)章条号、试验项目和试验顺序94.6.3.1可焊性(仅适用于线状引出端)4.3.2目检B4.6.2.2细检漏(适用于密封外壳)4.6.2.1粗检漏(适用于密封外壳)D按制造厂的规定按制造厂的规定4.3.2目检BD按制造厂的规定4.3.2目检BD按制造厂的规定4.5.17基准温度下和温度范围内4.5.3基准温度下和温度范围内按制造厂的规定按制造厂的规定按制造厂的规定按制造厂的规定GB/T12274.4—2021/章条号、试验项目和试验顺序4.5.6基准温度下和温度范围内4.5.7基准温度下和温度范围内4.5.11基准温度下和温度范围内4.5.23基准温度下和温度范围内按制造厂的规定按制造厂的规定按制造厂的规定按制造厂的规定4.6.17气候类别4.3.2目检B或D或或按制造厂的规定4.3.3目检C或D或或按制造厂的规定4.7.2延长老化(仅供参考)按制造厂的规定试验组1的章条号见IEC60122-1:200试验组6～16的章条号见IEC60679-1:2007的第4章。表中：D———破坏性的；ND——非破坏性的。GB/T12274.4—2021/IEC60679-4:19能力批准维持试验的周期应按表2规定，保证所有声明的极限每隔2年得以验证。——根据IECQ02:2013的11.7.3.5中的规定，能力手册中规定的工艺(包括自初始批准后的经试验组(见表1)晶片电极材料的镀覆1周84周44周834526周826周788498频率、输入、输出以及温度范围78频率/负载特性、频率/电源电压特性、气候类别788788GB/T12274.4—2021/IEC表2(续)试验组(见表1)72年(OCXOs应为1年)对于3.11.3.1和3.11.4.1,周期较短的试验所用的样品应是每周试验合格的样品。每种振荡器的老化周期至少为2年。已批准涵盖各类振荡器的老化试验计划，应在两年内分阶段进行。定制石英晶体振荡器的检验要求按照用户的详细规范规定(CDS),其内容由制造厂和用户按制造厂希望提供其能力批准范围内的石英晶体振荡器和石英晶体振荡器的范围作为标准产品时，应根据IEC60679-4-1制定详细规范。所有试验和测量程序应从IEC60679-1:2007的第4章中选取。IEC60679-1:2007中未包括的试(规范性附录)描述能力批准摘要的格式示例日期振荡器的种类(例如普通晶体振荡器、压控晶体振荡器、温补晶体振荡器、恒温晶体振荡器)频率范围外壳类型温度范围调整范围气候类别注：以上极限可能不能同时满足，可参见制GB/T12274.4—2021/IECCQC规范号：1.图包括外形图和轮廓图(适用时),