• 现行
  • 正在执行有效
  • 2017-01-24 颁布
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【正版授权】 IEC 62435-2:2017 EN-FR Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 62435-2:2017 EN-FR
  • 标准名称：电子元器件——电子半导体装置的长期贮存——第2部分：劣化机理
  • 英文名称：Electronic components - Long-term storage of electronic semiconductor devices - Part 2: Deterioration mechanisms
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2017-01-24

文档简介

IEC62435-2:2017EN-FR“电子元件-电子半导体装置的长期储存-第2部分:衰退机制”是一个电气和电子设备的电子存储标准和规则。这部分规定了长期储存中电子半导体设备如何由于不同的化学和物理变化而逐渐衰退。

以下是IEC62435-2:2017EN-FR电子元件-电子半导体装置的长期储存-第2部分:衰退机制的详细内容：

1.氧化：电子设备在储存过程中，其金属和塑料等材料可能会被氧化，导致设备性能下降或失效。

2.电导率变化：电子设备的电导率可能会随着时间的推移而变化，这可能影响其电气性能。

3.湿度敏感性：电子设备对环境湿度非常敏感。在高湿度环境下，设备可能会受到腐蚀和霉菌生长的影响。

4.温度变化：温度变化可能导致电子设备结构的变化，进而影响其性能。

5.机械应力：过度的机械应力可能导致电子设备的结构损坏，进而影响其性能。

6.辐射影响：辐射，如紫外线、X射线和伽马射线，可能对电子设备造成损害，导致性能下降。

7.化学物质的影响：储存环境中存在的某些化学物质可能对电子设备造成损害，如酸、碱和某些溶剂。

这些衰退机制并非孤立存在，而是可能同时发生，加剧设备的性能下降。通过了解这些衰退机制，制造商和存储设施可以采

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