• 现行
  • 正在执行有效
  • 2002-04-09 颁布
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【正版授权】 IEC 60749-10:2002 EN-FR Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock_第1页
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基本信息：

  • 标准号：IEC 60749-10:2002 EN-FR
  • 标准名称：半导体器件-机械和气候试验方法-第10部分：机械冲击
  • 英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock
  • 标准状态：现行
  • 发布日期：2002-04-09

文档简介

机械冲击是模拟设备在运输、储存和安装过程中可能经历的冲击和振动情况。IEC60749-10:2002EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part10:Mechanicalshock规定了半导体设备在机械冲击方面的测试方法和要求。

测试方法包括以下几个方面：

1.冲击设备的选择：根据设备的类型和大小选择合适的冲击设备，以确保测试结果的准确性和可靠性。

2.冲击方向和角度：根据设备的设计和预期使用环境，选择合适的冲击方向和角度进行测试。

3.冲击力度和次数：根据设备的规格和性能要求，确定冲击的力度和次数，以确保设备在各种环境下能够正常工作。

4.冲击环境条件：在冲击过程中，需要保持适当的温度、湿度和气压等环境条件，以确保测试结果的准确性。

5.测试记录：每次冲击测试后，需要记录测试数据和结果，以便后续分析和评估。

此外，该标准还规定了测试过程中的安全注意事项，以确保测试人员的安全和设备的完好。

IEC60749-10:2002EN-FRSemiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part10:Mechanicalshock标准是针对半导体设备在机械冲击方面的测试

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