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文档简介

氚钛薄膜靶外表氚分布二维扫描成像检测系统研制杨磊

兰州大学核科学与技术学院主要内容

1、争论意义及现状2、检测方法与试验系统3、试验结果与分析4、总结与下一步争论打算争论意义及现状氚钛薄膜靶粒子密封中子管低能β辐射源轫致辐射源氚在靶膜材料中的迁移行为包括吸附、集中等多个物理过程，氚及其衰变产物3He随时间的积存，会导致靶膜材料力学性能发生显著变化，而且随靶膜材料种类和使用温度、压力等环境变化，氚在其中的空间分布会呈现不均匀性。生疏氚在靶膜材料中的分布，对于氚钛薄膜靶的生产、使用、性能评估具有重要意义。争论意义及现状氚是低能β放射性核素，最大能量18.6KeV，是一种连续谱输出，平均能量5.7KeV。半衰期为12.323年。氚分析方法破坏性方法电化学蚀刻法〔Electrochemicaletching〕热解吸分析法〔Thermaldesorption)非破坏性方法射线照相法〔Radiography〕β衰变诱发X射线谱测量法(BIXS)离子束分析(IBA)

争论意义及现状检测方法与试验系统

Geant4模拟布局1、钛膜2、钼衬底3、探测器123模拟结果试验结果β粒子与靶膜和衬底材料相互作用，产生0~18.6KeV连续的轫致辐射X射线和特征X射线，由于X射线的半吸取厚度远大于β粒子的半吸取厚度，所以可以认为，在外表测量中，既有浅表层的β粒子，也有肯定深度分布的X射线。检测方法检测方法与试验系统检测方法与试验系统氚钛薄膜靶外表电子放射示意图氚化钛薄膜金属衬底氚的β衰变电子xdx氚钛薄膜靶外表出射β电子数估算：：靶的比放射性活度：靶的面积：靶的质量厚度：β电子在靶膜材料中的射程模拟能量5.7keV,18.6keV的β电子在钛膜中的径迹和在不同深度的能量沉积比例轮廓图检测方法与试验系统Geant4模拟模型

1、钛膜；2、钼衬底；3、准直器；4、探测器4321氚β粒子能谱检测方法与试验系统真空室电流探针氚靶伺服系统分子泵涡旋干泵真空波纹管上位计算机静电计KEITHLEY6517A控制数据获取检测方法与试验系统检测系统构造检测方法与试验系统检测系统试验装置样机检测方法与试验系统上位机掌握及数据猎取界面试验结果与分析试验结果与分析(a)〔a〕氚钛靶样品，〔b〕氚钛靶样品外表电子放射通量X轴一维扫描图〔c〕二维图像，(d)三维图像(b)(c)(d)试验结果与分析直接测量电子电流的方式，避开了轫致辐射和特征X射线对外表电子测量的影响，对氚钛薄膜靶外表氚分布的测量是有利的。为氚钛薄膜靶的检测和质量评估供

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