与非门电路的测试课件

每次实验请注意1请按指定桌号就坐。2

实验结束后请整理实验台,恢复原样；关闭仪器电源及电源接插板开关；椅子推入实验桌面。3实验结束时间一到，即刻拉闸结束实验。每次实验请注意1请按指定桌号就坐。实验目的加深对与非门基本特性和主要参数的理解，掌握主要参数的测试方法。

与非门电路的测试

实验目的加深对与非门基本特性和主要参数的理解，掌握主要数字逻辑实验箱数码管（带译码）数码管（无译码）向上输出高电平向下输出低电平接高电平灯亮，接低电平灯灭按下是“0”数字逻辑实验箱数码管（带译码）数码管（无译码）向上输出高电平CD4011四2输入与非门

CD4011芯片CD4011四2输入与非门

CD4011芯片74LS00四2输入与非门

芯片74LS00

74LS00四2输入与非门

芯片74LS00

集成电路：引脚和电源引脚号排列：正读双列直插式集成电路型号，左下角引脚为1，按逆时针方向依次增加，左上角引脚号最大。把集成电路引脚垂直插入插座（到底）。VDD（或VCC）接5V电源，GND接地。输入不允许有负电压。不用的输入端应接确定电平，不得悬空。集成电路：引脚和电源引脚号排列：正读双列直插式集成电路型号，实验内容必做：测量CMOS与非门CD4011的平均延迟时间实验内容中的（1）选做一：测量CMOS与非门CD4011的电压传输特性实验内容中的（2）注意：只要求测出电压传输特性曲线，VOFF、VON等具体值不要求测量。选做二：测量TTL与非门74LS00的平均延迟时间和电压传输特性。实验内容中的（3）和（4）实验内容必做：测量CMOS与非门CD4011的平均延迟时CMOS与非门平均延迟时间的测量vI1MHz方波取自信号发生器的“TTL“输出端口vO用示波器的CH1和CH2通道双踪显示输入、输出波形；探头用“x10”档。50%50%CMOS与非门平均延迟时间的测量vI1MHz方波vO用示平均延迟时间的测量1信号发生器的“TTL“输出端口，探头用“x10”档（注意：同时在示波器上要设置探头衰减常数为10:1）2调出频率为1MHz的方波（调好后接到实验电路中）3按下Auto

Scale4按测量Meas按键->在测量菜单里，按类型软键->选延迟时间；按设置软键，在测量设置菜单里，源1选1，选上升沿；源2选2，选下降沿->按

Back按钮返回上一级测量菜单，按添加测量软键，即可得到tPHL5按设置软键，在测量设置菜单里，源1选1，选下降沿；源2选2，选上升沿

->按Back按钮返回上一级测量菜单，按添加测量软键，即可得到tPLH

平均延迟时间tpd＝(tpHL＋tpLH)/2平均延迟时间的测量1信号发生器的“TTL“输出端口，探头用TTL与非门平均延迟时间的测量

输入Vi为2MHz方波TTL与非门平均延迟时间的测量输入Vi为2MH电压传输特性的测量VOHVIVOHminVOLmaxVOLmaxVOFFVONVOHminVNLVNHVOVOL0实际的曲线很陡，VOFF和VON非常接近。4.95V0.05V高电平噪声容限电压VNH=VOHmin-VON低电平噪声容限电压VNL=VOFF-VOLmax电压传输特性的测量VOHVIVOHminVOLmaxVOLm电压传输特性的测量vIvORL10K100Hz，0-5V的三角波取自信号发生器的”50Ω“输出端口探头用“x1”档。信号发生器的波形选择按钮选择“三角波”先用示波器监测输入信号，通过调节信号发生器的APML和OFFSET旋钮，保证输入没有负电压.所施加给电路信号的幅值都以示波器测量为准。.三角波信号未调好前，不能接入芯片。电压传输特性的测量vIvORL100Hz，0-5V的三角波

图1电压传输特性的测试电路

vIvORL10kCH1CH20V5VvI＋2.5V-2.5V0VvI×t图1图2

图1电压传输特性的测试电路vIvORLCH1CH20V电压传输特性的测量vIvORL10K

vI和vO分别接示波器的CH1和CH2通道

把示波器切换到XY显示方式（按Horiz按键->按软键中的时基模式，选XY），即可得电压传输特性曲线。示波器、信号发生器和被测电路共地。CH1CH20电压传输特性的测量vIvORLvI和vO分别接示波器的C×10×1注意事项把集成电路引脚垂直插入插座（到底）不要忘记给芯片接电源和地不许带电接插线及更换元件电路工作不正常时，首先测试芯片的电源和地引脚。测试点应是集成电路的管脚处×10×1注意事项把集成电路引脚垂直插入插座（到底）写入实验报告的思考题：P824.1.8(3)提交实验报告时间：

网络学堂中指定的时间窗口，过期酌情减分。