标准解读

《GB/T 42208-2022 纳米技术 多相体系中纳米颗粒粒径测量 透射电镜图像法》是一项国家标准,旨在为通过透射电子显微镜(TEM)图像分析方法测定多相体系内纳米颗粒的尺寸提供指导。该标准适用于各种类型的纳米材料,包括但不限于金属、陶瓷和聚合物等,在不同介质如液体或固体基质中的应用。

根据此标准,首先需要准备样品,并确保其适合于TEM观察。这通常涉及到将待测样品制备成足够薄的切片或者分散在支持膜上,以便电子束能够穿透并形成清晰的图像。接着使用透射电子显微镜获取高质量的图像。对于图像采集而言,重要的是选择合适的放大倍数以保证可以准确区分单个纳米颗粒及其边界。

在获得TEM图像后,接下来是关键的数据处理步骤。利用专门软件对所拍摄到的纳米颗粒进行识别与勾勒,然后计算每个颗粒的最大直径作为其粒径值。此外,还需要统计分析所有测量得到的粒径数据,比如计算平均粒径、标准偏差等参数来描述样本的整体特征。

该标准还强调了实验过程中需要注意的一些事项,例如避免样品污染、保持良好的仪器校准状态以及采用适当的对比度调节技术等,这些都是为了提高测试结果的准确性与可靠性。同时,也提到了如何报告最终结果,包括详细记录实验条件、使用的具体方法及任何可能影响结果的因素。


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....

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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2022-12-30 颁布
  • 2023-07-01 实施
©正版授权
GB/T 42208-2022纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法_第1页
GB/T 42208-2022纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法_第2页
GB/T 42208-2022纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法_第3页
GB/T 42208-2022纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量透射电镜图像法_第4页
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文档简介

ICS1718001

CCSN.33.

中华人民共和国国家标准

GB/T42208—2022

纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量

透射电镜图像法

Nanotechnologies—Measurementofnanoparticlesizeinmultiphasesystem—

Imagemethodoftransmissionelectronmicrosopy

2022-12-30发布2023-07-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T42208—2022

目次

前言

…………………………Ⅲ

引言

…………………………Ⅳ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

原理

4………………………2

概述

4.1…………………2

透射电子显微镜的成像原理

4.2………………………2

图像处理

4.3……………2

样品

5………………………2

样品要求

5.1……………2

样品制备方法

5.2………………………2

试验步骤

6…………………3

总体要求

6.1……………3

装样

6.2…………………3

仪器准备

6.3……………3

图像的获取

6.4…………………………4

粒径测量

7…………………4

概述

7.1…………………4

图像分析

7.2……………4

结果表示

7.3……………5

测量不确定度

8……………5

测试报告

9…………………5

附录资料性固态金属多相体系实例

A()………………7

附录资料性纳米复合材料实例

B()……………………10

参考文献

……………………13

GB/T42208—2022

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由中国科学院提出

本文件由全国纳米技术标准化技术委员会归口

(SAC/TC279)。

本文件起草单位国家纳米科学中心国标北京检验认证有限公司北京市科学技术研究院分析

:、()、

测试研究所北京市理化分析测试中心深圳市德方纳米科技股份有限公司中国计量大学北京粉体

()、、、

技术协会

本文件主要起草人常怀秋付新齐笑迎李婷杜志伟白露韩小磊高原郑强孙言张淑琴

:、、、、、、、、、、。

GB/T42208—2022

引言

纳米材料由于表面效应量子尺寸效应体积效应和量子隧道效应等使材料表现出传统固体不具

、、,

有的化学电学磁学光学等特异性能同时受到尺寸的限制纳米材料单独使用的场合有限往往存

、、、。,,,

在于材料基体中形成多相体系来增加整个材料特性

,。

由于纳米颗粒粒径较小比表面积较大表面能较大极易团聚致使其在多相体系中很难表征和评

、、,,

价而透射电子显微镜是采用透过薄膜样品的电子束成像来显示样品内部形态与结构的一种表征设

备它不仅可以观察样品微观形态还可以对所观察区域的内部结构进行表征因此透射电镜配合图

。,。

像分析技术可进行纳米颗粒在多相体系中的粒径测量

对多相体系中纳米颗粒的粒径测量在优化材料结构改善材料的性能方面有着极大的促进作

,,

用对推动纳米材料的应用和发展具有重要的意义

,。

GB/T42208—2022

纳米技术多相体系中纳米颗粒粒径测量

透射电镜图像法

1范围

本文件描述了利用透射电子显微镜图像处理和分析技术进行纳米颗粒在多相体系中分散的粒径测

量方法

本文件适用于固相多相体系中纳米颗粒的粒径测量和粒径分布

本文件也适用于在样品制备满足透射电子显微镜观察要求时的胶体和生物组织中纳米颗粒粒径

测量

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

粒度分析图像分析法第部分静态图像分析法

GB/T21649.11:

纳米科技术语第部分纳米结构材料

GB/T30544.44:

3术语和定义

界定的以及下列术语和定义适用于本文件

GB/T30544.4。

31

.

纳米颗粒nanoparticles

粒度为范围的固体颗粒

1nm~1

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