通用电子元件进料检验规范

通用电子元件进料检查规范（一）贴片元件检查规范(电容,电阻,电感)1.目的便于IQC人员检查贴片元件类物料。2.合用范围合用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感…）之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5.参考文献《LCR数字电桥操作指引》《数字万用表操作指引》检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检查MAa.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAMarking错或模糊不清难以辨认不可接受；来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；目检10倍以上的放大镜检查时，必须佩带静电带。电性检查MA元件实际测量值超过偏差范围内.LCR测试仪数字万用表检查时，必须佩带静电带。二极管类型检测方法LED选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与规定相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注：有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注：有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明：对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。检查方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指引＂。（二）插件用电解电容.1.目的作为IQC人员检查插件用电解电容类物料之依据。2.合用范围合用于本公司所有插件用电解电容之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5.参考文献《LCR数字电桥操作指引》、《数字电容表操作指引》。检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。目检数量检查MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAa.极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；b.电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；c.本体变形，破损等不可接受；d.Pin生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检查MAa.Pin上锡不良，或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；假如不是则拒收)实际操作每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性尺寸规格检查MAa.外形尺寸不符合规格规定不可接受。卡尺若用于新的Model，需在PCB上相应的位置进行试插电性检查MA电容值超过规格规定则不可接受。用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测（三）晶体类检查规范1.目的作为IQC人员检查晶体类物料之依据。2.合用范围合用于本公司所用晶体之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5.参考文献《数字频率计操作指引》检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。目检数量检查MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAa.字体模糊不清，难以辨认不可接受；b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；元件变形，或受损露出本体等不可接受；Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。目检每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性电性检查MAa.晶体不能起振不可接受；b.测量值超过晶体的频率范围则不可接受。测试工位和数字频率计电性检测方法晶体检测方法32.768KHz16.934MHz25.000MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。24.576MHz在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。（四）三极管检查规范1.目的作为IQC人员检查三极管类物料之依据。2.合用范围合用于本公司所有三极管之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5.参考文献无检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检查MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAa.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10倍以上的放大镜检查时，必须佩带静电带。1.目的作为IQC人员检查。2.合用范围合用于本公司所有之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5.参考文献无检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。目检数量检查MA实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAMarking错或模糊不能辩认；塑料与针脚不能紧固连接；c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;e.针脚拧结，弯曲，偏位,缺损，断针或缺少；f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;g.针脚端部成蘑菇状影响安装.目检焊锡性检查MAPIN上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；(将零件脚插入现使用之合格松香水内，所有浸润，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；假如不是则拒收)实际操作每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性安装检查MAa.针脚不能与标准PCB顺利安装;b.针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0卡尺针脚露出机板长度的标准为0.5mm~2.0mm1.目的作为C人员检查CABLE类物料之依据。2.合用范围合用于本公司所有之检查。3.抽样计划依MIL-STD-105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。4.允收水准（AQL）严重缺陷(CR):0;重要缺陷(MA):0.4;次要缺陷(MI):1.5;5参考文献无检查项目缺陷属性缺陷描述检查方式备注包装检查MAa.根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都对的,任何有误,均不可接受。目检数量检查MAa.数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；b.料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检查MAa.五金件变形、划伤、生锈、起泡、发黄或其它电镀不良；b.塑料体变形、划伤、毛边、破（断）裂、异色等不良；c.排线破损、断裂、变形、异色、露铜丝、切口不齐等均不可接受；d.排线与支架等组装不牢，易松脱；e.标记CABLE接插方向的颜色不能明确分辩；f.排线接头的颜色不符合规格规定;g.排线表面的丝印错.1.目检2.按前后左右上下各轻摇3次排线接头处，看有无松脱现象参考MechanicalDrawingofCable尺寸检查MAa.长度不符合规格规定不可接受.卷尺尺寸参考MechanicalDrawingofCable电性测试检查MAa.排线的接线方式错不可接受;b.排线接触不良或不能运营不可接受;c.IDE排线的传输速率不符合规定不可接受.每批取10pcs送QA,请QA的同事帮助测试拉力测试检查MA与公端对插,插拔力不符合规格规定的不可接受.(拉力测试:用标准BoxHeader与排线对插好，用拉力计测出其CABLE完全被拉出后的最大拔出力。)实际操作备注1.规定如下(低于20PIN的不作规定)：80PIN:4.0~7.0Kgf;40PIN:3.