RZ8644光纤通信实验系统(实验多媒体)

前言

第一页，共215页。RZ8644型光纤实验系统是为了配合《光纤通信系统》的理论教学而设计的实验系统。它一方面结合了当今光纤通信原理课程的教学与改革，另一方面结合了当今光纤通信发展方向和工程实际应用状况。这套系统采用功能模块化设计，各模块对外开放。除了配合完成理论教学外，还可以训练增强学生的实际应用能力，完成模块的二次性开发。一、结构简介本实验系统可分为电端机模块、光通信模块、管理控制模块、电源供给模块等四大功能模块，每个功能模块又是由许多子模块组成：第二页，共215页。（一）电端机模块1.电话用户接口模块此模块为电话输入、输出接口，由电话专用接口芯片PBL38710实现。它包含向用户话机恒流馈电、向被叫用户话机馈送铃流、用户摘机后自行截除铃流，摘挂机的检测及音频或脉冲信号的识别，用户线是否有话机的识别，语音信号的2/4线混合转换，外接振铃继电器驱动输出等功能。其各项性能指标符合邮电部制定的有关标准。本模块分为用户A，B两个模块，默认号码为48、49。。2.PCM编译码模块此模块采用专用芯片TP3057来实现PCM编译码功能，可完成用户A、B两路话音信号的编译码功能。3.DTMF双音多频检测模块此模块由专用芯片MT8870来完成DTMF分组滤波和DTMF译码功能，输出相应16种DTMF频率组合的4位并行二进制码。实际应用中，一片MT8870可以最多接入检测16路用户电路的DTMF信号。4.记发器模块此模块主要完成局内、局间电话用户拨叫号码的识别、交换控制功能。第三页，共215页。5.计算机通信接口模块此模块由USB和RS232串口两通信接口组成，完成计算机与本实验系统的数据交换传输功能。也为学生开发上层通信软件提供了良好的硬件平台。6.数据发送单元模块此模块主要完成各种测试信号产生、各种线路编码、数据复接及一些辅助性功能。产生的数字信号有：各种频率的时钟、方波、M序列、矩形窄脉冲等、线路编码功能有：AMI码、HDB3码、CMI码、5B6B码、5B1P码、扰码等。数据的复接：多种类型数据进行时分复接输出。7.数据接收单元模块此模块主要完成接收数据的时钟提取再生、各种线路编码的译码、复用数据的分解及一些辅助性功能。8.眼图观测模块此模块主要完成调节接收电路均衡特性、接收数字序列的眼图观测等功能。9.误码测试仪模块此功能由多个模块组成，完成通信线路的误码测试功能，各测试参数可设。10.模拟信号源模块此模块产生输出频率、幅度可调的正弦波、三角波、方波信号。第四页，共215页。（二）光通信模块1．光信道一一体化数字光端机，包括光发射端机和光接收端机。半导体激光二极管LD、工作波长1550nm，频带为DC到5MHZ，方便配套低端测量仪器使用。光端机的光输入、输出接口都由单模尾纤引出至固定于底板的法兰，方便连接其它光器件。一般情况下，一体化数字光端机的输入电平调节电位器，都右旋到底。2．光信道二及LD性能测试模块由激光管、光探测器及外围电路构成的光发射端机和光接收端机，关键电气参数都可调节。可传输模拟和数字信号，测试LD的P-I曲线，具有无光告警、自动功率控制APC等功能。激光管工作波长为1310nm，频带为DC到3MHz。激光管的输出和光探测器的输入连接至固定于地板上的法兰，方便连接其它光器件。3．LED+多模光纤传输扩展模块由发光二极管、光检测器及外围电路构成的光发射端机和光接收端机，关键电气参数都可调节。可传输模拟和数字信号，测试LED的P-I曲线，具有视频图像传输等功能。发光二极管发光波长为850nm，频带为DC到1GHZ。本模块为选配。第五页，共215页。（三）管理控制模块1.中央处理器模块此模块主要由单片机89C51/52编程实现。完成整个实验系统的控制协调功能，如测量信号的输入、输出控制、功能选择、工作状态检测等。2.液晶显示模块此模块主要完成工作状态的显示，误码测试数据的显示等功能，属字符型液晶。3.键盘模块此模块主要配合液晶显示模块工作，通过上、下、确认等键选择相应的实验参数。

（四）电源供给模块提供+12V、+5V、+3.3V、-5V、-12V、-24V-48V等直流电源。第六页，共215页。二、配套仪器最低配置仪器：20M通用双踪示波器或虚拟仪器，单模尾纤建议配置器件：计算机；光功率计、多种接口标准的光跳线（法兰）、波分复用/解复用器一对、光可调衰减器、光固定衰减器、光分路器、光隔离器等，根据学校情况选配（会影响一些光器件的测试实验）；可选配仪器：①外置误码测试仪②光缆施工工具箱、光纤熔接机、稳定光源、光时域反射仪等。第七页，共215页。三、系统结构框图电话用户APCM编译码记发器DTMF检测电话用户BPCM编译码数据发送单元数字信号发生器线路编码器数据复接数据接收单元时钟提取、再生线路译码器数据解复接USB接口RS232串口中央处理器功能扩展口模拟信号源LD光端机工作波长1550nmLD激光/探测器工作波长1310nm

键盘液晶显示电源模块图1系统结构示意图第八页，共215页。四、系统特点1．采用模块化设计信号接口开放。各模块功能既可单独做实验又可组合完成系统实验。2．自带数字信号源、模拟信号源，可外加信号，配有计算机串口、USB接口。适应各种实验需求。3．采用液晶键盘显示管理实验参数，取代原有的接插件，实验方便直观。4．电端机部分功能强大，电话交换系统，多种线路编码，完善的数字时分复接系统，功能可定制升级。5．电信号、光信号均由实验者连接。光输入、输出接口设计朝外，方便连接其它光器件。6．整板采用有机玻璃覆盖保护，便于实验室管理。第九页，共215页。五、液晶显示菜单本实验系统中，实验数据设置的菜单显示如下。按“”、“”键即可选择不同的菜单；按“确认”键，即进入箭头指向的下一级菜单；按“返回”键，即返回上一级菜单，如此类推。详细菜单显示如下：“复位”键：欢迎使用光纤通信系统平台解放军理工大学南京润众科技公司

“开始”键：1：码型变换实验2：光纤传输实验3：光纤测量实验4：光纤系统实验第十页，共215页。

子菜单：1：码型变换实验01CMI码PN（固定码型、速率的m序列，下同）02CMI码设置（由SW101拨码器设置的8比特数据，下同）035B1P码设置045B6B码设置05扰码PN06扰码设置07HDB3码PN08HDB3码设置09AMI码PN0AAMI码设置

2：光纤传输实验01窄脉冲（频率256K，脉宽：15ns）02USB数据03串口数据04PCM数据（A/D转换）05E1数据传输（标准的2.048MHZ数据）第十一页，共215页。3：光纤测量实验01平均发光功率02接收灵敏度正常/误码03误码0/10000（误码测试）

收数据：误码数：04误码1/10000（误码测试）

收数据：

误码数：4：光纤系统实验（数字复接系统）时隙1时隙2时隙3时隙4时隙5时隙6时隙7时隙8帧头PCM1PCM2空空设置信令数据第十二页，共215页。六、使用注意点1.进行铆孔连接时，务必注意铆孔标注的箭头方向：指向铆孔，说明此铆孔为信号输入孔；背离铆孔，说明此铆孔为信号输出孔。请勿将两输出铆孔短接。2.进行铆孔连接时，连接线接头插入铆孔后，轻轻旋转一个小角度，接头将和铆孔锁死；拔出时，回转一个小角度即可轻松拔出，切勿使用莽力，以免插头针断在铆孔中。使用方法可参考光盘中的影象片段。3.光器件连接：在摘掉光接口保护套前，请确保实验台板面清洁，注意收集好接口保护套；光接头连接时，请预先了解接头的结构，手持接头金属部分，按接口的轴线方向轻插轻拔，防止损坏纤芯；4.使用光纤时，注意不要过度弯曲（直径不得小于4cm）、扭曲、挤压或拉扯光纤。因为纤芯玻璃细纤维，非常的脆弱，使用时请务必注意。纤芯断开或出现伤痕，光信号的功率将严重衰耗，出现断路或增加误码等情况。5.数据发送单元的SW101红色拨码器，有8位独立的开关组合。若不作特殊说明，白色开关往上，对应的输出序列为1；白色开关往下，对应的输出序列为0。设置时需轻轻拨动。6.若不作特殊说明，本实验平台输出的串行数字序列，低位在前，高位在后。在示波器上观测到的波形即低位在窗口的左端，高位在窗口的右端。第十三页，共215页。第一章光纤通信认知实验第十四页，共215页。实验1光纤、光缆的识别实验

一、实验目的1.了解光纤结构和分类；2.掌握单模、多模光纤的识别方法；3.掌握尾纤波长的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.单模光纤3.多模光纤第十五页，共215页。三、基本原理（一）光纤的概念光纤是光学纤维的简称，它是一种横截面很小的可绕透明长丝，在长距离内具有束缚和传输光的作用。图是光纤结构示意图。从图中可以看出，一般的光纤都是由纤芯、包层和外套涂敷层三部分组成。纤心由高度透明的材料制成；包层的折射率略小于纤心，从而造成一种光波导效应，使大部分的光波被束缚在纤心中传输；涂敷层作为光纤的保护层，用于抵制外界水气的侵蚀和机械的擦伤，同时加强光纤的机械强度。在涂层外，往往加有塑料外套。外套涂敷层包层区纤芯区

图1.1.1光纤结构示意图外套涂敷层包层区纤芯区第十六页，共215页。为了便于工程上的安装和敷设，常常将若干根光纤组合成光缆。光缆的结构繁多，我国较为普遍采用层绞式和骨架式两种结构。光缆中的钢质加强心，一方面是为了提高其抵抗张力的能力；另一方面由于钢质心的热膨胀系数小于塑料，所以它能抵制塑料的伸缩从而使光缆的温度特性有所改善。见图层绞式光缆结构。外护套

图1.1.2层绞式光缆结构外护套包带光纤加强心第十七页，共215页。（二）光纤的分类光纤有很多种分类方法。按其传输光波的模式的数量来分，有单模光纤与多模光纤两大类。它们的结构不同，因而各具不同的特性与用途。在一定工作波长下，多模光纤是能够传输许多模式的介质波导，而单模光纤只传输基模。1.多模光纤用来传输多种模式光波的光纤称为多模光纤，模式的数目取决于芯径、数值孔径（接收角）、折射率分布特性和波长。将单模光纤的纤芯增大，光纤将成为多模光纤。多模光纤的纤芯直径远远大于单模光纤，一般为50-200μm。在临界角内，各个模式的入射光波分别以不同角度，在光纤内的纤芯与包层的的界面处发生全反射而沿光纤传输。突变型多模光纤的纤芯部分折射率保持不变，而在纤芯与包层的界面折射率发生突变。这种光纤模间群时延时差大，一般传输带宽为100MHz•Km。常做成大芯径（例如100μm）、大数值孔径（例如NA大于0.3）光纤，提高光源与光纤的耦合效率，适用于短距离、小容量的系统。这种光纤的使用相当广泛。第十八页，共215页。2.单模光纤用来传输单一基模光波的光纤称为单模光纤，它要求入射光的波长大于光纤的截止波长，单模光纤的纤芯直径很小，一般为5-10μm。单模光纤对于光的传输损耗将是最小的，因为光场只在光纤的中心传导。但是由于纤芯直径很小，对于光纤与光源的耦合及光纤之间的接续将带来明显困难。单模光纤可彻底消除模间色散，在波长为1.27μm时，材料色散趋近于零，或者可以使得材料色散与波导色散相抵消。因此，长距离大容量的长途通信干线及跨洋海底光缆线路全部采用单模光纤。由于1.55μm波长时单模光纤的损耗更低，人们已研究了使光纤的零色散波长移到1.55μm的技术和使激光器（LD）的频谱更窄的技术，以求同时达到最低的损耗及最宽的带宽，从而最大限度地增大中继距离及信息容量。3.识别单模光纤与多模光纤的方法识别单模光纤与多模光纤的基本方法是从光纤的产品规格代号中去了解。如我国光纤光缆型号的规格代号的第二部分用J代表多模渐变型光纤，用T代表多模阶跃型光纤，用Z代表多模准阶跃型光纤，用D代表单模光纤。第十九页，共215页。其次是从光纤的纤芯直径去识别。单模光纤的芯径很细，通常芯径小于10μm；多模光纤的芯径比单模光纤大几倍。第三种方法是从光纤外套的颜色上识别。通常黄色和白色表示单模光纤，橙色表示多模光纤。本实验系统配置的光纤外套是黄色的和白色的为单模。4.尾纤波长的测试光纤线路的两端一般是通过一段短光纤把线路与光端机连接起来的。这一段短光纤长度为3米或5米、10米，因其位置处于光纤线路的尾部，故常称为尾纤。尾纤的传输特性有工作波长、信号传输模式、带宽与损耗等，通常这些通过光纤光缆的型号标志来识别，也可以用仪表来测试。每种光纤都有特定的工作波长，当注入光信号的波长等于工作波长时，光纤损耗最小，反之光纤损耗增大。因此把不同波长的光信号注入光纤，测量光纤损耗，当光纤损耗最小时，该光信号的波长即为尾纤的工作波长。第二十页，共215页。（三）一般成品光纤的主要参数1.光纤的纤芯折射率分布纤芯折射率分布一般分为两类，即梯度型和阶跃型。阶跃型：光纤的纤芯折射率高于包层折射率，使得输入的光能在纤芯一包层交界面上不断产生全反射而前进。这种光纤纤芯的折射率是均匀的，包层的折射率稍低一些。光纤中心芯到玻璃包层的折射率是突变的，只有一个台阶，所以称为阶跃型折射率多模光纤，简称阶跃光纤，也称突变光纤。这种光纤的传输模式很多，各种模式的传输路径不一样，经传输后到达终点的时间也不相同，因而产生时延差，使光脉冲受到展宽。所以这种光纤的模间色散高，传输频带不宽，传输速率不能太高，用于通信不够理想，只适用于短途低速通讯，比如：工控。但单模光纤由于模间色散很小，所以单模光纤都采用突变型。第二十一页，共215页。渐变型光纤：为了解决阶跃光纤存在的弊端，人们又研制、开发了渐变折射率多模光纤，简称渐变光纤。光纤中心芯到玻璃包层的折射率是逐渐变小，可使高次模的光按正弦形式传播，这能减少模间色散，提高光纤带宽，增加传输距离，但成本较高，现在的多模光纤多为渐变型光纤。渐变光纤的包层折射率分布与阶跃光纤一样，为均匀的。渐变光纤的纤芯折射率中心最大，沿纤芯半径方向逐渐减小。由于高次模和低次模的光线分别在不同的折射率层界面上按折射定律产生折射，进入低折射率层中去，因此，光的行进方向与光纤轴方向所形成的角度将逐渐变小。同样的过程不断发生，直至光在某一折射率层产生全反射，使光改变方向，朝中心较高的折射率层行进。这时，光的行进方向与光纤轴方向所构成的角度，在各折射率层中每折射一次，其值就增大一次，最后达到中心折射率最大的地方。在这以后。和上述完全相同的过程不断重复进行，由此实现了光波的传输。可以看出，光在渐变光纤中会自觉地进行调整，从而最终到达目的地，这叫做自聚焦。2.光纤的尺寸一般光纤的外径是125μm,单模光纤纤芯芯径是9-10μm，多模光纤的纤芯芯径是40-50μm，同心度偏差1-5μm，这是对于光纤通信所用光纤的尺寸。第二十二页，共215页。3.光纤的传播损耗引起光纤损耗的原因主要有四方面：(1)光纤的吸收损耗，这是由于光纤材料和杂质对光能的吸收而引起的，它们把光能以热能的形式消耗于光纤中，是光纤损耗中重要的损耗，吸收损耗包括以下几种：1．物质本征吸收损耗这是由于物质固有的吸收引起的损耗。它有两个频带，一个在近红外的8～12μm区域里，这个波段的本征吸收是由于振动。另一个物质固有吸收带在紫外波段，吸收很强时，它的尾巴会拖到0.7～1.1μm波段里去。2．掺杂剂和杂质离子引起的吸收损耗光纤材料中含有跃迁金属如铁、铜、铬等，它们有各自的吸收峰和吸收带并随它们价态不同而不同。由跃迁金属离子吸收引起的光纤损耗取决于它们的浓度。另外，OH－存在也产生吸收损耗，OH－的基本吸收极峰在2.7μm附近，吸收带在0.5～1.0μm范围。对于纯石英光纤，杂质引起的损耗影响可以不考虑。3．原子缺陷吸收损耗光纤材料由于受热或强烈的辐射，它会受激而产生原子的缺陷，造成对光的吸收，产生损耗，但一般情况下这种影响很小。

第二十三页，共215页。(2)光纤的散射损耗光纤内部的散射，会减小传输的功率，产生损耗。散射中最重要的是瑞利散射，它是由光纤材料内部的密度和成份变化而引起的。光纤材料在加热过程中，由于热骚动，使原子得到的压缩性不均匀，使物质的密度不均匀，进而使折射率不均匀。这种不均匀在冷却过程中被固定下来，它的尺寸比光波波长要小。光在传输时遇到这些比光波波长小，带有随机起伏的不均匀物质时，改变了传输方向，产生散射，引起损耗。另外，光纤中含有的氧化物浓度不均匀以及掺杂不均匀也会引起散射，产生损耗。(3)波导散射损耗这是由于交界面随机的畸变或粗糙所产生的散射，实际上它是由表面畸变或粗糙所引起的模式转换或模式耦合。一种模式由于交界面的起伏，会产生其他传输模式和辐射模式。由于在光纤中传输的各种模式衰减不同，在长距离的模式变换过程中，衰减小的模式变成衰减大的模式，连续的变换和反变换后，虽然各模式的损失会平衡起来，但模式总体产生额外的损耗，即由于模式的转换产生了附加损耗，这种附加的损耗就是波导散射损耗。要降低这种损耗，就要提高光纤制造工艺。对于拉得好或质量高的光纤，基本上可以忽略这种损耗。第二十四页，共215页。4.数值孔径入射光纤端面的光并不能全部被光纤所传输,只是在某个角度范围内的入射光才可以。这个角度就称为光纤的数值孔径。数值孔径是描述光纤受光程度的参数，通常用光从空气入射到纤芯允许的最大入射角的正弦值来描述。5.带宽带宽是光纤的一个重要参数，它使渐变型光纤像一个低通滤波器一样，对光发射机的功率调制产生影响。它使光纤的传输函数的大小随调制频率升高而减小，而在整个频谱内的相关相位失真保持很小。为计算方便，这种频响可以近似为一个等效的高斯低通滤波器，最高带宽仅可能在某一个波长上发生，对于其它波长，带宽将减少下来，那带宽是波长的函数。其低通滤波器的截止频率与玻璃组成材料及剖面折射率分布有关。6.有效截止波长。这是描述单模光纤的一个重要参数。它表明，在单模光纤的波长域中仅可以传播的模，所谓截止波长是指基模。测量有效截止波长的方法有多种，一般采用挠曲法，在这种方法中，首先将一段光纤在直线状态下测量一下损耗；然后在弯曲状态下测量损耗。这样可以推算出由于弯曲增加的衰耗，而有效截止波长就是这样定义的，在截止波长下由于弯曲增加的损耗是0.1dB。当工作频率低于这个截止波长所对应的频率时，规定的传播模不能存在，大于截止波长相应频率光进入包层区域损耗掉。这个名词是从以前波导理论研究中借用来的。7.模场直径。这是单模光纤的另一重要参数，也称为光点尺寸。在单模光纤中主要传送的是基模，而模场直径与基模光斑的大小有关，它以基模场强减少到1/e处的宽度来定标，它表征入纤的光功率分布。第二十五页，共215页。（4）光纤弯曲产生的辐射损耗光纤是柔软的，可以弯曲，可是弯曲到一定程度后，光纤虽然可以导光，但会使光的传输途径改变。由传输模转换为辐射模，使一部分光能渗透到包层中或穿过包层成为辐射模向外泄漏损失掉，从而产生损耗。当弯曲半径大5～10cm时，由弯曲造成的损耗可以忽略。四、实验要求本实验要求了解和掌握光纤的结构、分类和特性参数，能够快速准确的区分单模或者多模类型的光纤。第二十六页，共215页。实验2电光、光电转换传输实验

一、实验目的1.了解本实验系统的基本组成结构；2.初步了解完整光通信的基本组成结构；3.掌握光通信的通信原理。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.FC-FC单模尾纤1根4.信号连接线2根第二十七页，共215页。三、基本原理本实验系统主要由两大部分组成：电端机部分、光信道部分。电端机又分为电信号发射和电信号接收两子部分，光信道又可分为光发射端机、光纤、光接收端机三个子部分。实验系统基本组成结构（光通信）如下图所示：图1.2.1实验系统基本组成结构光电电光电发射电接收光发射光接收P203P204

光纤

1550nmLD+单模光发射光电电光电发射电接收光发射光接收P203P204

光纤

1550nmLD+单模光电电光电发射电接收光发射光接收P203P204

光纤

1550nmLD+单模光发射第二十八页，共215页。在本实验系统中，电发射部分可以是M序列，可以是各种线路编码（CMI、5B6B、5B1P等），也可以是语音编码信号或者视频信号等，光信道可以是1550nmLD+单模光纤组成，可以是1310nm激光/探测器组成，也可以是850nmLED+多模光纤（选配）组成。本实验系统中提供的1550nmLD光端机是一体化结构，光端机包括光发射端机TX（集成了调制电路、自动功率控制电路、激光管、自动温度控制等），光接收端机RX（集成了光检测器、放大器、均衡和再生电路）。其数字电信号的输入输出口，都由铜铆孔开放出来，可自行连接。一体化数字光端机的结构示意图如下：

图1.2.2一体化数字光端机结构示意图

P204P203

TX光接收输入光发射输出光纤第二十九页，共215页。四、实验步骤1.关闭系统电源，将光跳线分别连接TX1550、RX1550两法兰接口（选择工作波长为1550nm的光信道），注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“码型变换实验—CMI码PN”。确认，即在P101铆孔输出32KHZ的15位m序列。3.示波器测试P101铆孔波形，确认有相应的波形输出。4.用信号连接线连接P101、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度，最大不超过5V。即将m序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.示波器B通道测试光收端机输出电信号的P204试点，看是否有与TX1550测试点一样或类似的信号波形。6.按“返回”键，选择“码型变换实验—CMI码设置”并确认。改变SW101拨码器设置（往上为1，往下为0），以同样的方法测试，验证P204和TX1550测试点波形是否跟着变化。7.轻轻拧下TX1550或RX1550法兰接口的光跳线，观测P204测试点的示波器B通道是否还有信号波形？重新接好，此时是否出现信号波形。8.以上实验都是在同一台实验箱上自环测试，如果要求两实验箱间进行双工通信，如何设计连接关系，设计出实验方案，并进行实验。9.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：本实验也可选择工作波长为1310nm和扩展模块的光信道。第三十页，共215页。五、实验结果1.画出实验过程中测试波形，标上必要的实验说明。2.结合实验步骤，叙述光通信的信号变换、传输过程。3.画出两实验箱间进行双工通信的连接示意图，标上必要的实验说明。第三十一页，共215页。第二章光发射端机指标测试实验第三十二页，共215页。在光纤通信中，首先要将电信号转变为光信号，最常用的光源是半导体激光器和发光二极管。之所以用半导体光源，是因为：1、半导体光源体积小，发光面积可以与光纤芯径相比较，从而有较高的偶合效率；2、发射光波长适合在光纤中低损耗传输；3、可以直接进行强度调制，即只要将信号电流注入半导体光源，就可以得到相应的光信号输出；4、可靠性较高，尤其是半导体激光器，不仅发射功率大，偶合效率高、响应速度快，而且发射光的相干性也较好，在一些高速率、大容量数字光纤通信系统中得到广泛应用。本实验系统中，提供了半导体激光器和半导体发光二极管两种光源。本章节中将对半导体激光器的指标进行测量。第三十三页，共215页。

实验1数字光发端机的平均光功率测量

一、实验目的1.了解数字光发端机平均光功率的指标要求；2.掌握光发端机输出光功率的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.光功率计（FC-FC单模尾纤）4.信号连接线1根第三十四页，共215页。三、基本原理平均光功率是指给光发端机的数字驱动电路送入一伪随机码二进制序列为测试信号，用光功率计直接测试光发端机的光功率，此数值即为数字发送单元的平均光功率。平均光功率是在额定电流下测得的，否则结果有偏差。实验测量结构示意图如下图所示：图2.1.1平均光功率测试结构示意图电光数字序列光发射端机TX1550

PFC-FC第三十五页，共215页。四、实验步骤1.关闭系统电源，按照图将1550nm光发射端机的TX1550法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好（TX1550通过尾纤接到光功率计），注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“码型变换实验--CMI码设置”确认，即在P101铆孔输出32KHZ的SW101拨码器设置的8比特周期性序列，如10001000。3.示波器测试P101铆孔波形，确认有相应的波形输出。4.用信号连接线连接P101、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将拨码器设置序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“dBm”，读取此时光功率P，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于拨码器设置32K的10001000序列的平均光功率，记录码型和光功率6.拨码器设置其它序列组合，W205保持不变，记录码型和对应的输出光功率，得出你的结论。第三十六页，共215页。7.按返回键，液晶菜单选择“码型变换实验—CMI码PN”。确认，即在P101铆孔输出32KHZ的15位m序列。以同样的方法测试，记录码型、速率和平均光功率值。8.改变W205值，以同样的方法测试，记录TX1550点信号电平值和对应的输出光功率，得出你的结论。9.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：本实验也可选择激光/探测器性能测试模块（由于此模块的好多参数都是可调节的，所以每个测试的结果可能不同）。光功率计的使用可参考其配套资料。五、实验结果1.记录数字光发射端机的平均光功率，标上必要的实验参数说明，归纳出光发射机输出的光功率与输入电信号的那些参数有关。第三十七页，共215页。

实验2数字光发端机的消光比测量

一、实验目的1.了解数字光发端机的消光比的指标要求；2.掌握数字光发端机的消光比的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.光功率计（FC-FC单模尾纤）4.信号连接线1根第三十八页，共215页。三、基本原理消光比指光发射端机的数字驱动电路送全“0”码，测得此时的光功率P0；给光发射端机的数字驱动电路送全“1”码，测得此时的光功率P1，将P0、P1代入公式：（dB）（式）即得到光发射端机的消光比。本实验平台上的1550数字光端机，由于其一体化设计时作过处理，因此输入全“0”时光功率计测不出光功率（极小），即消光比为零。1550数字光端机实验测量结构示意图如下图所示：电光自编数据序列光发射端机TX1550

PFC-FC全0全1图2.2.1平均光功率测试结构示意图第三十九页，共215页。本实验主要对激光/探测器的消光比进行测量。由于激光器的输入电路采用了隔直电容，对于输入全“1”或全“0”，其输出功率不变。如果直接输入全“1”和全“0”，将无法测出消光比。但是我们知道，当输入全“1”时，使得激光器的电流最大，输入全“0”时，激光器的电流最小。因此我们可以采用，当激光器电流最小时(对应全“0”)，测出此时的光功率P0;当激光器电流最大时(对应全“1”)，测得此时光功率P1,将P0,P1代人公式（式），即得到激光器的消光比。四、实验步骤（一）1550nm数字光端机消光比测量1.关闭系统电源，按照图将1550nm光发射端机的TX1550法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好（TX1550法兰输出通过尾纤接到光功率计），注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“码型变换实验--CMI码设置”确认，即在P101铆孔输出32KHZ的SW101拨码器设置的8比特周期性序列，如10001000。3.示波器测试P101铆孔波形，确认有相应的波形输出。第四十页，共215页。4.用信号连接线连接P101、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将拨码器设置序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“mW”，设置拨码器SW101为11111111，读取此时光功率P1，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于全1码的输出光功率，记录码型和光功率。6.拨码器SW101设置为00000000，W205保持不变，记录码型和对应的输出光功率P0。7.将P0、P1代入公式，算出此数字光端机的消光比EXT。8.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：由于1550数字光端机，其一体化设计时作过处理，输入全“0”时，光功率输出为0，光功率计测不出光功率，即P0=0。（二）1310nm激光器消光比测量1．关闭系统电源，将1310nm激光器的TX1310法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好（TX1310法兰输出通过尾纤接到光功率计），注意收集好器件的防尘帽。第四十一页，共215页。2．将K01,K02跳线器拔掉（注意保存好），用三用表红表笔接TP202,黑表笔接TP203,三用表设置直流（20mA档位）。3.打开系统电源，调节光功率计工作波长为“1310nm”单位“mw”。顺时针调整电位器W202使电流表（即通过激光器的电流）指示5mA。读出此时光功率P0,即为激光器对应于全“0”码的输出光功率。4．逆时针调整电位器W202,使电流表指示为14mA，读出此时光功率P1,即为激光器对应于全“1”码的输出功率。5．将P0、P1代入公式，算出此激光器的消光比EXT。6.关闭系统电源，拆除各光器件，电流表，套好防尘帽，插好跳线器。五、实验结果1.记录数字光发射端机的消光比，标上必要的实验说明。2.光纤通信系统中的消光比大小对系统传输特性有何影响？为什么？第四十二页，共215页。

实验3半导体LD光源的P-I曲线绘制实验

一、实验目的1．了解半导体激光器平均输出光功率与注入电流的关系；2．掌握半导体激光器P-I曲线的测试及绘制方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱（激光/探测器性能测试模块）2.20M双踪示波器3.光功率计4.电流表。5.小平口螺丝刀6.信号连接线1根第四十三页，共215页。三、实验原理1．半导体激光器的功率特性示意图：pIthI自发辐射受激辐射输入电信号输入光信号图2.3.1激光器的功率特性示意图半导体激光器的输出光功率P与驱动电流I的关系如图所示，该特性有一个转折点，相应的驱动电流称为门限电流（或称阀值电流），用Ith表示。在门限电流以下，激光器工作于自发辐射，输出荧光，功率很小，通常小于100pw；在门限电流以上，激光器工作于受激辐射，输出激光，功率随电流迅速上升，基本上成直线关系。激光器的电流与电压的关系相似于正向二极管的特性，但由于双异质结包含两个PN结，所以在正常工作电流下激光器两极间的电压为1.2V。第四十四页，共215页。P-I特性是选择半导体激光器的重要依据，在选择时，应选阀值电流Ith尽可能小，Ith对应P值小的半导体激光器，这样的激光器工作电流小，工作稳定性高，消光比大，而且不易产生光信号失真。且要求P-I曲线的斜率适当。斜率太小。则要求驱动信号太大，给驱动电路带来麻烦：斜率太大，则会出现光反射噪声及使自动光功率控制环路调整困难。半导体激光器具有高功率密度和极高量子效率的特点，微小的电流变化会导致光功率输出变化，是光纤通信中最重要的一种光源，激光二极管可以看作为一种光学振荡器，要形成光的振荡，就必须要有光放大机制，也即激活介质处于粒子数反转分布，而且产生的增益足以抵消所有的损耗。将开始出现净增益的条件称为阀值条件。一般用注入电流值来标定，也即阀值电流Ith，当输入电流小于Ith时，其输出光为非相干的荧光，类似于LED发出光，当电流大于Ith时，则输出光为激光，且输入电流和输出光功率成线性关系。该实验就是对该线性关系进行测量，以验证P-I的线性关系。在实验中所用到半导体激光器其输出波长为1310nm,带尾纤及FC型接口。实验中半导体激光器电流的确定通过测量串联在光端机信号输入电路中电流表的电流值。第四十五页，共215页。电光测试数据光发射端机P201

PFC头细尾纤图2.3.2P-I曲线测试连接示意图IK02TP2020TP203第四十六页，共215页。四、实验步骤1.关闭系统电源，按照图将激光/探测器性能测试模块、光功率计、电流表连接好。2．将电流表（直流档）接TP202，TP203，正表笔接TP202，负表笔接TP203，将K02跳线器拔掉。用尾纤将光功率计与TX1310法兰输出相连。3．用锚孔连接线将P201信号输入口接地。4．将K01跳线器拔掉，加电后即可开始实验。5.按照下表调整W202，达到相应的电流值（顺时针调激光管输入电流减小），测出与电流相对应的光功率。电流I（mA）4.65.05.56.06.57.07.58.08.59.0功率P（dB）电流I（mA）9.510.010.511.011.512.013.013.514.015.0功率P（dB）7．以横轴为为电流I，纵轴为功率P，按照上表画出其相应的P-I曲线。另外，如果配置了LED扩展模块（选配），可以测试LED光源的P-I曲线。8．测试完毕后，关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽，插好K01、K02跳线器。第四十七页，共215页。五、实验结果1.整理P、I数据，绘制P-I曲线。2.若配置的LED的850nm光传输系统模块，测试LED光源的P-I曲线，对比测试的1310nmLD的P-I曲线有什么不同，得出你的结论。第四十八页，共215页。

实验4自动光功率控制（APC）测试

一、实验目的1.了解自动光功率控制的目的；2.掌握自动光功率控制的测量方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱（激光/探测器性能测试模块）2.光功率计3.电流表第四十九页，共215页。三、实验原理在光纤通讯系统中，光发送电路主要由光源驱动器、光源（主要是半导体光源，包括LED、LD等）、光功率自动控制电路（APC）、检测器、温度自动控制（ATC）以及告警电路等部分组成。

要使半导体激光器克服供电电源波动、器件老化等因素的影响，确保激光器输出功率稳定，就必须设计自动功率控制（APC）电路。如上图，光发射机发出的光经光电检测器将光信号转换为电信号。该电信号控制着APC电路，APC电路控制驱动电路的电流。当光发端机发出的功率变小时，光检测器输出的电流减小，经APC电路控制后使驱动电路电流增大，从而使输出光功率增大。反之，当光发端机输出功率增大时，光检测器输出电流增大，经APC电路控制后，使驱动电路电流减小，从而使输出光功率减小，达到自动光功率控制的目的。电信号输入接口电路驱动电路APC电路图2.4.1LD自动功率控制（APC）结构框图光发端机光信号输出光检测器第五十页，共215页。四、实验步骤1．将光功率计与激光器输出TX1310法兰相连。2．电流表（直流档）插入TP202，TP203，正表笔接TP202，负表笔接TP203，将K02跳线器拔掉。3．加电后即可开始实验。4．要测出自动光功率控制（APC）的结果，需要将无APC和有APC进行比较。按照下表进行测试：无APC（K03跳线插入右侧）有APC（K03跳线插入左侧）K01断开（拔掉跳线器），调整W202，使电流指示为:7mA7mA测出K01断开时的功率:接通K01（增加光端机电流），测出此时的电流:测出接通K01时的功率:第五十一页，共215页。5．将所测数据填入上表，从上表看出，有APC时，接与不接K01，电流和功率变化较小，而无APC时，电流和功率变化比较大。所以，可以看出当激光器输出光功率突然变化时，APC电路将自动调整其输出功率，确保激光器输出功率稳定。上面实验参数，验证了APC电路对光功率突然变大的影响。另外，也可验证APC电路对光功率突然变小的影响，请实验者自行设计实验方案，写出实验步骤。6．测试完毕后，关闭系统电源，拆除电流表及光功率计，套好防尘帽，插好K01、K02跳线器。五、实验结果1.对比测试的1310nmLD的有APC和无APC测试数据，得出你的结论。第五十二页，共215页。

第三章常用光无源器件测试实验第五十三页，共215页。在光纤传输系统中，使用的光无源器件大体上可分下面两类。（1）连接部件可用于光纤与光纤之间、光纤与设备之间、设备与设备之间或者设备与测试仪器之间的活动连接；连接部件也可以组成功能部件，成为设备的一部分。（2）功能部件功能部件包括光波分复用解复用器、光衰减器、光分路耦合器、光隔离器、光开关等。用这些部件完成光纤传输系统中的有关功能。在光纤传输系统中，设计光无源器件时，应注意下面四个问题：第一、使用方便。光无源器件要像一般电气无源器件一样，容易操作、使用、维护。第二、适应光纤系统要求。光无源器件应当有适当接口，以便于连接到系统中使用。第三、高可靠性。光无源器件性能应当稳定可靠，能经受多次重复插拔、温度循环变化以及冲击振动等环境的考验。第四、体积小重量轻。光无源器件的体积与重量应与其它光线路有源器件、光纤相匹配；体积要小，重量要轻。在本章节中，将对下列常用光无源器件的指标进行测量，实验内容根据实际配置的光器件有所调整。1)光衰减器2)光隔离器3)波分复用解复用器4)光分路器第五十四页，共215页。

实验1光纤活动连接器

一、实验目的1.了解光活动连接器结构和分类；2.掌握活动连接器的正确使用方法；3.掌握活动连接器的主要特性参数的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.光功率计（FC单模尾纤）4.FC-FC活动连接器（待测）5.FC-Y型分路器（1:1，1310nm或1550nm）6.FC-FC单模尾纤7.信号连接线1根第五十五页，共215页。三、基本原理在安装任何光纤系统时，都必须考虑以低损耗的方法把光纤或光缆相互连接起来，以实现光链路的接续。光纤链路的接续，又可以分为永久性的和活动性的两种。永久性的接续，大多采用熔接法、粘接法或固定连接器来实现；活动性接续，一般采用活动连接器来实现。本章节将对活动连接器做一简单的介绍。光纤活动连接器，俗称活接头，一般称为光纤连接器（法兰），是用于连接两根光纤或光缆形成连续光通路的可以重复使用的无源器件，已经广泛应用在光纤传输线路、光纤配线架和光纤测试仪器、仪表中，是目前使用数量最多的光无源器件。（一）光纤连接器的性能如下：光纤连接器的性能，首先是光学性能，此外还要考虑光纤连接器的互换性、重复性、抗拉强度、温度和插拔次数等。（1）光学性能：对于光纤连接器的光性能方面的要求，主要是插入损耗和回波损耗这两个最基本的参数。插入损耗（InsertionLoss）插入损耗定义为光纤中的光信号通过活动连接器之后，其输出光功率相对输入光功率的比率的分贝比。第五十六页，共215页。其表达式为：（式）其中P1—输入端的光功率，P2—输出端的光功率。插入损耗越小越好。从理论上讲影响插入损耗的主要因素有以下几种：纤芯错位损耗、光纤倾斜损耗、光纤端面间隙损耗、光纤端面的菲涅耳反射损耗、纤芯直径不同损耗、数值孔径不同损耗。不管那种损耗都和生产工艺有关，因此生产工艺技术是关键。回波损耗（ReturnLoss,ReflectionLoss）回波损耗又称反射损耗，是指在光纤连接处，后向反射光相对于输入光的比率的分贝数，其其表达式为：（式）其中P1—输入光功率，P3—后向反射光功率。

反射损耗愈大愈好，以减少反射光对光源和系统的影响。改进回波损耗的途径只有一个，即将插头端面加工成球面或斜球面。球面接触，使纤芯之间的间隙接近于“0”，达到“物理接触”，使端面间隙和多次反射所引起的插入损耗得以消除，从而使后向反射光大为减少。斜球面接触除了实现光纤端面的物理接触以外，还可以将微弱的后向光加以旁路，使其难以进入原来的纤芯，斜球面接触可以使回波损耗达到60dB以上，甚至达到70dB。

第五十七页，共215页。（2）互换性、重复性光纤连接器是通用的无源器件，对于同一类型的光纤连接器，一般都可以任意组合使用、并可以重复多次使用，由此而导入的附加损耗一般都在小于0.2dB的范围内。（3）抗拉强度对于做好的光纤连接器，一般要求其抗拉强度应不低于90N。（4）温度一般要求，光纤连接器必须在-40oC~+70oC的温度下能够正常使用。（5）插拔次数目前使用的光纤连接器一般都可以插拔l000次以上。（二）光纤连接器的性能如下：光纤通信使用的光连接器按纤芯插针、插孔的数目不同分有单芯活动连接器和多芯活动连接器两类；单芯活动连接器的基本结构是插针和插孔。由光纤连接损耗的计算可知，影响损耗的主要外在因素是相互连接的两根光纤的纤芯之间的错位和倾斜，所以在连接器的结构中，要求插针中的纤芯与插孔有很高的同心度，相连的两根插针在插孔中能精确的对准。按结构不同分有FC型、PC型、ST型、SC型等等。1.FC型活动连接器FC型（平面对接型）光连接器。这种连接器插入损耗小，重复性、互换性和环境可靠性都能满足光纤通信系统的要求，是目前国内广泛使用的类型。第五十八页，共215页。FC型连接器结构采用插头－转接器－插头的螺旋耦合方式。两插针套管互相对接，对接套管端面抛磨成平面，外套一个弹性对中套筒，使其压紧并且精确对中定位。FC型光连接器制造中的主要工艺是高精度插针套管和对中套筒的加工。高精度插针套管有毛细管型、陶瓷整体型和模塑型三种典型结构。对中套筒是保证插针套管精确对准的定位机构。FC型单模光纤连接器一般地分螺旋耦合型和卡口耦合型两种。FC型单模光纤连接器所连接的两根光纤端面是平面对接，端面间的空气气隙会产生菲涅尔反射。反射光反射到激光器会引起额外的噪声和波形失真，而端面间的多次反射还会引起插入损耗的增加。本实验系统中，右边四个对外活动连接器就是为FC型。2.PC型光纤连接器。PC型（直接接触型）单模光纤连接器。这种连接器是为克服FC型连接器平面对接的缺点而设计的。它是将插针套管端面抛磨成凸球面，使被连接的两根光纤的端面直接接触。这样，它的插入损耗小、反射损耗大、性能稳定可靠。PC型光纤连接器用于高速数字传输系统。FC型连接器插针套管端面也可研磨抛光成凸球面，此时称为FC－PC型光纤连接器。第五十九页，共215页。3.SC型光纤连接器SC型（矩形）光纤连接器。SC型矩形光纤连接器采用新型的直插式耦合装置，只需轴向插拔，不用旋转，可自锁和开启，装卸方便。它体积小，不需旋转空间，能满足高密封装的要求。它的外壳是矩形的，采用模塑工艺，用增强的PBT的内注模玻璃制造。插针套管是氧化锆整体型，将其端面研磨成凸球面。插针体尾入口是锥形的，以便光纤插入到套管内。SC型矩形连接器的装配一般分：选择套管、光纤处理、光连接器与光纤的连接、套管端面处理等各步骤。4.ST型光纤连接器ST型连接器是一种卡口式的连接器，它采用带键的卡口式紧锁机构，确保每次连接均能准确对中。插针直径为Φ2.5mm，其材料可为陶瓷或金属。它可在现场安装，也可在工厂预装成光纤组件。本实验系统中，一体化数字光端机为ST型接口，通过ST-FC转接尾纤连接至右边的FC型活动连接器。目前ST型活动连接器的插入损耗典型值为0.3dB，最大值为0.5dB；其后向反射损耗在一般情况下为≤-31dB，但在端面作精细处理后，可≤-40dB。单模光纤连接器产品，一般地应标明连接器名称、型号、接光纤类型、工作波长、光纤尺寸、光纤根数、首次使用插入损耗、温度范围、耦合方式（螺旋、卡口、插拔式）以及端面处理、装配方式等等。第六十页，共215页。（三）活动连接器的特性测量框图：1.测试活动连接器插入损耗向光发射端机的数字驱动电路送入一周期性数字信号（如方波），保持注入电流的恒定。首先测量光发射端机的光功率，记为P1；此时，在光发射端机与光功率计之间连接活动连接器，记下此时光功率P2。将P1、P2代入公式即可计算出其插入损耗。其测量原理框图如下：光发射机

P1

P2光发射机光功率计待测活动连接器FCFC-FC（a）（b）图3.1.2活动连接器插入损耗的测量原理框图第六十一页，共215页。2.测试活动连接器回波损耗如图（a）连接好测量器件。向光发射端机的数字驱动电路送入一周期性数字信号（如方波），保持注入电流的恒定。首先测量光发射端机的光功率，记为P1；此时，按照图（b）连接好光功率计和待测活动连接器，记下此时光功率P3。将P1、P3代入公式即可计算出其回波损耗（本测量方法忽略了分路器的插入损耗和回波损耗）。其测量原理框图如下：光发射机

P1

P3光发射机光功率计待测活动连接器Y分路器Y分路器（a）（b）遮光帽遮光帽图3.1.3活动连接器回波损耗的测量原理框图第六十二页，共215页。四、实验步骤（一）活动连接器的插入损耗测量1.关闭系统电源，按图（a）将光发射端机（TX1550）、光跳线、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“光纤测量实验—平均光发功率”确认，即在P103（P108）铆孔输出32KHZ的31位m序列。3.示波器测试P103（P108）铆孔波形，确认有相应的波形输出。4.用信号连接线连接P103（P108）、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将32KHZ的31位m序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“mW”，读取此时光功率，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于31位m序列的平均光功率，记录光功率P1。6.将待测活动连接器按图（b）串入其中。测得此时光功率P2。7.代入公式，计算活动连接器的插入损耗（dB）。 8.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：本实验也可选择工作波长为1310nm光信道。第六十三页，共215页。（二）活动连接器的回波损耗测量（该实验测试效果不明显，学生可不做，只需了解测试方法）1.关闭系统电源，按图（a）将光发射端机（TX1550）、Y型光分路器（1550nm）、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“光纤测量实验—平均光发功率”确认，即在P103（P108）铆孔输出32KHZ的31位m序列。3.示波器测试P103（P108）铆孔波形，确认有相应的波形输出。4.用信号连接线连接P103（P108）、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将32KHZ的31位m序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“mW”，读取此时光功率，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于31位m序列的平均光功率，记录光功率P1。6.将待测活动连接器按图（b）串入其中。测得此时光功率P3。7.代入公式，计算活动连接器的回波损耗（dB）。 8.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：本实验也可选择工作波长为1310nm光信道，但需选择1310nm工作波长的Y型光分路器。第六十四页，共215页。五、实验结果1.记录实验数据，根据实验数据算出活动连接器的插入损耗、回波损耗。2.分析活动连接器插入损耗、回波损耗产生的原因。3.本实验中涉及Y型光分路器的使用，查询有关资料或参考后续有关章节，了解光分路器的原理和有关性能指标。

第六十五页，共215页。

实验2光衰减器的性能指标测量

一、实验目的1.了解光衰减器的指标要求；2.掌握光衰减器的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.光功率计（FC-FC单模尾纤）4.光衰减器(1310nm/1550nm)5.信号连接线2根第六十六页，共215页。三、基本原理（一）一般地光衰减器可分为两类，即固定光衰减器和可变光衰减器。1.固定光衰减器固定光衰减器是一种可根据工程需要提供不同衰减量的精密器件，可分为在线式和法兰式。主要的用途是：（1）调整光中继器之间的增益，以便建立适当的光输出；（2）光传输系统设备的损耗评价及各种实验测试要求。2.可变光衰减器 （1）可对光强进行连续可变和步进调节的衰减，主要用途和设计目标：评价光纤传输系统中作为误码率函数的信噪比S/N。光功率计制造中标志刻度。光纤传输设备损耗的评价。光端机中作为光接收机接口扩大接收机动态范围。用于光纤测量仪器，做光线路试验与测试用。为此，可变光衰减器应有高的精度和宽的可调衰减范围。第六十七页，共215页。（2）结构与工作原理 可变光衰减器的结构原理图如图所示：光纤透镜反射光束可旋转衰耗板

图3.2.1可变光衰减器的原理结构图第六十八页，共215页。（二）光固定/可调衰减器测量结构示意图，如下图所示：电光伪随机码序列光发射端机TX1550

P光固定/可调衰减器图3.2.2平均光功率测试结构示意图第六十九页，共215页。四、实验步骤1.关闭系统电源，按照前面实验中的图3.1.2(a)将1550nm光发射端机的TX1550法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。2.打开系统电源，液晶菜单选择“光纤测量实验—平均光发功率”确认，即在P103（P108）铆孔输出32KHZ的31位m序列。3.示波器测试P103（P108）铆孔波形，确认有相应的波形输出。4.用信号连接线连接P103（P108）、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将32KHZ的31位m序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5.调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“mW”，读取此时光功率，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于31位m序列的平均光功率，记录光功率P1。6.关闭系统电源，按照图将固定（可调）衰减器串入光发射端机与光功率计之间，注意收集好器件的防尘帽。第七十页，共215页。7.重复步骤2、4，测得衰减后的光功率P2，按公式计算即为衰减器的衰减量。若为固定衰减器，则将测得值与其标注的衰减量进行比较，算出其衰减精度（一般±10%）。若为可调衰减器，慢慢调节其衰减量，记下P2的变化范围，算出此可调衰减器的衰减范围。8.关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。注：本实验也可选择工作波长为1330nm的LD光发射端机。五、实验结果1.通过测试得出待测固定衰减器的衰减量，计算出其衰减精度，标上必要的实验说明。2.若为可调衰减器，记录其衰减量范围。3.查找资料,陈述固定衰减器和可变衰减器主要的用途和指标。第七十一页，共215页。

实验3光隔离器的性能指标测量

一、实验目的1.了解光隔离器的指标要求；2.掌握光隔离器的测试方法。二、实验仪器1.光纤通信实验箱2.20M双踪示波器3.光功率计（FC-FC单模尾纤）4.光隔离器（中心波长1310/1550）1个5.单模尾纤1根6.信号连接线2根第七十二页，共215页。三、基本原理光隔离器（opticalisolator）又称为光单向器，在光路中，只允许单向通过光信号，是一种非互易光学器件。它主要用于光隔离。用光隔离的方法去掉无用的反射光等。光隔离器更广泛用于相干光通信的相干光检测之中；光隔离器也用于有关的光学测试仪器以及科学试验系统。在光纤传输系统中，由于光纤活动连接器、光纤熔接点、光学器件的存在和光纤本身瑞利散射的作用，总是存在着反射光波，对系统性能产生有害的影响。例如，反射光进入半导体激光器，会使激光振荡产生不稳定现象，导致光谱变化，噪声增加，对整个光纤传输系统性能会造成特别大损害。在这种情况下，就必须采用光隔离器来消除反射光的影响。光隔离器由起偏器、旋光器和检偏器三部分组成。起偏器是一种光学器件，当光束入射到它上面时，其输出光束变成了某一方向的线性偏振光，该方向就是起偏器透光轴或称偏振轴。当入射光的偏振方向与起偏器的偏振轴一致时，光全部通过；而当入射光的偏振方向与起偏器的偏振轴垂直时，光不能通过，因此起偏器又可作检偏器用。旋光气由旋光性材料和套在外面的永久磁铁（或电流线圈）组成。借助磁光效应，使通过它的光的偏振方向发生一定程度的旋转。旋光材料种类很多，如钇石榴石（YIG）晶体对波长在1～2um间的红外光有良好的旋光性。光隔离器的工作原理如下图所示。第七十三页，共215页。图中起偏器与检偏器的偏振轴相差45度角，而旋光器能使通过的光线的偏振方向旋转45度。设起偏器的偏振轴为垂直方向，则垂直偏振光入射时，它顺利地通过起偏器。在通过旋光器后偏振方向旋转45度，正好与检偏器的偏振轴一致，于是就获得低损耗传输。如果有反射光出现，它在通过检偏器和旋光器后，偏振方向变成了水平方向，不能通过起偏器，这样达到了阻碍反射光的目的。光隔离器在结构上有块型、光纤型、波导型几种，以块型结构应用最多。在块型结构中，除了起偏器、旋光器和检偏器，两侧尚有自聚焦透镜以把入射光变成平行光，以及把平行光汇集到输出光纤。光隔离器的主要指标是：工作波长、带宽、对正向入射光的插入损耗、对反向反射光的隔离度、偏振依赖性（包括损耗和色散）、反射损耗和工作温度范围等。在本实验中，我们只对插入损耗和隔离度进行测量。正向插入损耗是经过光隔离器时入射光与出射光的功率之比（分贝），应越小越好。反向隔离度是入射光与经过光隔离器后反射光的功率之比，应越大越好。现优良的光隔离器以能在围绕中心波长的±20nm的带宽内达到插入损耗小于1dB，而隔离度大于40dB。第七十四页，共215页。

起偏器旋光器检偏器电光伪随机码序列光发射端机TX1550

P光隔离器AB4545图3.3.1光隔离器工作原理示意图光隔离器测量结构示意图，如下图所示：图3.3.2光隔离器性能测试连接示意图第七十五页，共215页。四、实验步骤（一）光隔离器正向插入损耗的测量1．关闭系统电源，按照前面实验中图3.1.2(a)将1550nm光发射端机的TX1550法兰接口、FC-FC单模尾纤、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。2．打开系统电源，液晶菜单选择“光纤测量实验—平均光发功率”确认，即在P103（P108）铆孔输出32KHZ的31位m序列。3．示波器测试P103（P108）铆孔波形，确认有相应的波形输出。4．用信号连接线连接P103（P108）、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即改变送入光发端机信号（TX1550）幅度最大（不超过5V），记录信号电平值。即将32KHZ的31位m序列电信号送入1550nm光发端机，并转换成光信号从TX1550法兰接口输出。5．调节光功率计工作波长“1550nm”、单位“mW”，读取此时光功率，即为1550nm光发射端机在正常工作情况下，对于31位m序列的平均光功率，记录光功率P1。6．关闭系统电源，按照图将光隔离器（正向：A到B）串入光发射端机与光功率计间，注意收集好器件的防尘帽。7．重复步骤2、3、4、5，测得衰减后的光功率P2，按公式计算其值即为光隔离器正向的插入损耗量。8．关闭系统电源，拆除各光器件并套好防尘帽。第七十六页，共215页。注：本实验也可选择工作波长为1310nm的LD光发射端机，注意选择对应中心波长的光隔离器。（二）光隔离器反向隔离度的测量1．关闭系统电源，参照图，将1550nm光发射端机的TX1550法兰接口、FC-FC单模尾纤、光隔离器、光功率计连接好，注意收集好器件的防尘帽。2．打开系统电源，液晶菜单选择“光纤测量实验—平均光发功率”确认，即在P103（P108）铆孔输出32KHZ的31位m序列。3．示波器测试P103（P108）铆孔波形，确认有相应的波形输出。4．用信号连接线连接P103（P108）、P203两铆孔，示波器A通道测试TX1550测试点，确认有相应的波形输出，调节W205即